| 例文 |
To sampleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 18250件
To provide a method for testing concrete capable of molding a sample with secured parallelism in both ends, without requiring end face finishing of the sample, and capable of executing a compression test of the concrete under the condition where the quality of the molded sample is maintained, and to provide further a mold for the sample used favorably in the testing method for the concrete.例文帳に追加
供試体の端面仕上げを要することなく、両端の平行度が確保された供試体を成型し、成型された供試体の品質を維持した状態で、コンクリートの圧縮試験を行うことを可能としたコンクリートの試験方法を提案すること。 - 特許庁
The sample gas passing through the gas sensor chamber s1 is distributed to a sample gas flow passage 1b and a discharge flow passage 11a, mixed with the air at a merging point B of the sample gas flow passage lb, and dilated to 1/4 time the original concentration of the sample gas, and introduced in the gas sensor chamber s2.例文帳に追加
ガスセンサ室s1を通過した試料ガスを試料ガス流路1bと排出流路11aへ分配し、試料ガス流路1bの合流点Bで空気を混合して元の試料ガス濃度の4分の1倍に希釈してガスセンサ室s2に導入する。 - 特許庁
The present invention provides the method for holding the solid sample for the secondary ion mass analysis, which is capable of easily securing the solid sample to the solid sample holder, in order to accurately measure the fragile solid sample at high reproducibility with a secondary ion mass analyzer.例文帳に追加
本発明は、脆い固形試料を二次イオン質量分析装置で再現性よく正確に測定するために、固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供するものである。 - 特許庁
When a negative voltage is applied to the sample base 7 and the outer magnetic pole 5b by a power source 9, the sample base 7, the sample 6 and the outer magnetic pole 5b are set at the same potential; and the symmetry of an electric field with respect to the optical axis of an electron beam is kept even if the sample is tilted.例文帳に追加
試料台7と外側磁極5bに電源9により負電位が印加されると、試料台7及び試料6と外側磁極5bは同電位となり、試料を傾斜させても、電子線の光軸に対して電界の対称性が保たれる。 - 特許庁
This sample holder having a sample holding space 55 arranged between an electron beam-permeable film 11 and a base 12 facing to the film, and supply passages 54 used for supplying a sample to the sample holding space 55 is provided, in at least either of the supply passages 54 and the sample holding space 55, with a filter structure separating a constituent in the sample.例文帳に追加
電子線が透過する膜11と該膜に対向するベース12との間に設けられた試料保持空間55と、該試料保持空間55に試料を供給するための供給路54とを有する試料保持体において、該供給路54及び該試料保持空間55のうちの少なくとも一方に試料中の構成物を分別するフィルター構造を備える。 - 特許庁
The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加
電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁
The scanning electron microscope for two-dimensionally scanning an electron beam on a sample to form an image with signals obtained from the sample and sent to display means comprises a means for controlling pressure in a sample cell and a means for sending signals obtained from the sample to the display means by controlling in accordance with the pressure in the sample cell.例文帳に追加
試料上で電子線を2次元的に走査し試料から得られる信号を表示手段に送って像を形成する走査電子顕微鏡において、試料室の圧力を制御する手段と、前記試料から得られる信号を前記試料室の圧力に応じて制御して表示手段に送る手段とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁
The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加
試料11が貼付される試料貼付面5aを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡(SEM)に挿入可能な観察用ブロック2と、観察用ブロック2が位置決めされる段差ガイド部6を有する試料マウント3と、試料マウント3が固定される試料マウントホルダ4とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具1である。 - 特許庁
To provide a sample condensing method and device, for easily and accurately condensing a material to be measured in a sample in a designated area on a sample table without large labor efficiently when the condensing of the material to be measured is required, and a sample analyzing method and device for efficiently analyzing the sample using the above.例文帳に追加
試料中の被測定物質の濃縮が求められる場合、試料台上の所定領域に容易にかつ正確に、しかも大きな労力を要することなく効率よく濃縮できるようにした試料濃縮方法及び装置と、それらを使用して効率よく試料を分析できるようにした試料分析方法及び装置を提供する。 - 特許庁
The area where the sample image exists is extracted from the image obtained by photographing the entire sample, and automatic focus position detection operation following to the horizontal movement of the sample image is started in the case of horizontally moving to a position where the sample image exists, and the automatic focus position detection operation is stopped in the case of horizontally moving to a position where the sample image does not exist.例文帳に追加
また、標本全体を撮影した画像から標本像の存在する領域を抽出し、標本像の存在する位置に水平移動するときには標本像の水平移動に追従した自動的焦点位置の検出動作を開始し、標本像の存在しない位置に水平移動するときには自動焦点位置検出動作を停止する。 - 特許庁
METHOD FOR SPECIFYING MANUFACTURING ABNORMAL PART IN MANUFACTURED ABNORMAL SAMPLE DUE TO CCM AND METHOD FOR DISPLAYING MANUFACTURED ABNORMAL PART IN MANUFACTURED ABNORMAL SAMPLE DUE TO CCM例文帳に追加
CCMによる作製異常サンプル中の作製異常分の特定方法及びCCMによる作製異常サンプル中の作製異常分の表示方法 - 特許庁
To one of electrodes of a sample switching device 1 in an open circuit state, a direct current voltage equivalent to the rated voltage peak value of the sample switching device is applied.例文帳に追加
開路状態の供試開閉装置1の電極の片側に供試開閉装置定格電圧波高値相当の直流電圧を印加する。 - 特許庁
To easily exchange a sample and to surely reproduce a focusing position obtained before the sample is exchanged.例文帳に追加
標本の交換を容易にできるとともに、標本交換前の焦準位置を確実に再現することができる顕微鏡の焦準装置を提供する。 - 特許庁
The reference light source 4 emits light to the sample S for focus detecting.例文帳に追加
基準光源4は焦点検出用の光を標本Sへ照射する。 - 特許庁
The sample solution is quickly diffused to a reaction part 21 by capillary phenomenon.例文帳に追加
試料溶液は毛管現象により反応部21に速やかに拡散する。 - 特許庁
Furthermore, one end has a sample rod 7 to house a coolable heat conductive rod 6, and has an opening part 4 to eject the gas into the sample holder.例文帳に追加
一端が冷却可能な熱伝導棒6を収納する試料棒7をさらに有し、前記試料ホルダに気体を噴出するための開口部4を有する。 - 特許庁
To provide a liquid sampling device preventing the damage of an analyzer caused by a high-pressure sample liquid and supplying the high-pressure sample liquid to the analyzer in a required flow rate.例文帳に追加
高圧サンプル液による分析計の破損を防止するとともに所要の流量を分析計に供給することのできるサンプリング装置を提供する。 - 特許庁
To provide a technique for easily measuring a depth-directional element of a sample.例文帳に追加
試料の深さ方向の元素を容易に測定する技術を提供する。 - 特許庁
To enable an evaluation value accurately matched with determination of conditions of a sample daily observed by researchers or the like to be obtained from an image of the sample.例文帳に追加
研究者等が日常的に観察している試料の状態の判断に正確に対応した評価値が試料の画像から得られるようにする。 - 特許庁
For the air blower to neutralize electrified charges with high efficiency, a groove for blowing air to a sample disc retaining the sample container 2 is provided.例文帳に追加
さらに、送風気が効率よく帯電電荷を中和できるように、サンプル容器2を保持するサンプルディスク等に送風のための溝を設けたものである。 - 特許庁
To improve the precision of position control over optical-axis directional scanning of a sample more.例文帳に追加
より試料の光軸方向走査の位置制御の精度を向上する。 - 特許庁
To efficiently irradiate a sample flow channel with a laser beam.例文帳に追加
レーザ光を試料流路に効率よく照射することを目的としている。 - 特許庁
To prevent artificial mistakes, such as, taking another biological sample by mistake which occurs, when a biological sample in a vessel for amplification is transferred to a vessel for detection.例文帳に追加
増幅用容器内の生体試料を検出用容器へ移し替える際に生じる生体試料の取り間違い等の人為的ミスを防止すること。 - 特許庁
The interface facilitates delivery of the sample to the tubule through the opening.例文帳に追加
接合部により、開口部を通じて細管に試料を容易に送達できる。 - 特許庁
To provide a laser microscope capable of generating video data for the cross section of a sample.例文帳に追加
試料断面のビデオデータ生成可能なレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To perform measurement of high precision by preventing the non-specific bonding of a sample.例文帳に追加
試料の非特異的な結合を防止して、高精度な測定を行う。 - 特許庁
To provide a culturing container simply performing the collection of a sample and culturing and that will not adversely affect an examination surface due to the action of sample collection.例文帳に追加
試料の採取と培養を簡便に行い得る培養容器であって、試料採取行為が検査面に悪影響を及ぼさないものを提供する。 - 特許庁
To detect a specimen in a sample to be tested obtained by diluting a biological sample with a specimen extract with high sensitivity by an immunity measurement method.例文帳に追加
生体試料を検体抽出液で希釈して得られた被験試料中の検体を免疫測定法によって高感度に検出できるようにする。 - 特許庁
To properly separate a sample such as a laminating substrate or a composite member.例文帳に追加
貼り合わせ基板等の試料或いは複合部材を適切に分離する。 - 特許庁
This set of sample data is a group of data similar to the set of data as the analysis object.例文帳に追加
このサンプルデータセットは、分析対象データセットと類似のデータ群である。 - 特許庁
To provide the subject laser ICP(inductively coupled plasma) analyzing method for sampling a fine particle sample from a high temperature sample such as a hot piece or the like to analyze the same.例文帳に追加
熱片等の高温の試料から微粒子試料を採取して分析を行う、高温試料のレーザーICP分析方法を提供する。 - 特許庁
STANDARD SAMPLE TO BE USED FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING STANDARD SAMPLE TO BE USED FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線装置に用いられる標準試料,荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置に用いられる標準試料の製造方法 - 特許庁
To provide a filter apparatus extended in the maintenance cycle of a sample liquid treatment part.例文帳に追加
サンプル液処理部のメンテナンス周期を長くしたろ過装置を提供する。 - 特許庁
To analyze the characteristics of periodic structures formed on a sample on a real time basis.例文帳に追加
試料に形成された周期構造の特性を実時間で分析する。 - 特許庁
To evaluate a sample at a high throughput by reducing on-axis chromatic aberration.例文帳に追加
軸上色収差を小さくして、高スループットで試料の評価を行う。 - 特許庁
To provide a method in which the composition of a solid sample or a liquid sample can be analyzed quickly and with high sensitivity and to provide an analyzer favorable for the method.例文帳に追加
迅速に、かつ高感度で固体試料や液体試料の組成を分析することができる方法を、その有利な分析装置と共に提案する。 - 特許庁
To provide a method for separating a minute sample 1 from a work piece 2.例文帳に追加
本発明は、試験片(2)から微小サンプル(1)を分離する方法に関する。 - 特許庁
To provide a method and a device of testing a semiconductor wafer or a sample.例文帳に追加
半導体ウエハまたはサンプルを検査する方法と装置を提供する。 - 特許庁
To prevent a bubble from being contaminated in a liquid arranged between an objective lens and a sample to analyze the sample precisely.例文帳に追加
本発明は、対物レンズと試料との間に配置される液体中に気泡が混じるのを防止し得るようにして、高精度な試料解析を実現することにある。 - 特許庁
To adsorb, remove and recover arsenic contained in a sample in a simple operation.例文帳に追加
簡便な操作で、試料中のヒ素を吸着および除去回収する。 - 特許庁
A surface potential shift of the sample 20 is determined to determine whether the sample 20 and the contact pin 3 are conductive to each other.例文帳に追加
試料20の表面電位シフトを判断する事によって、試料20とコンタクトピン3との導通、非導通を正しく判定する事が可能となる。 - 特許庁
To provide a device for focusing a microscope objective on a sample.例文帳に追加
顕微鏡対物レンズをサンプルに合焦させるための装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for narrowing a sample group having close correlation by removing a stray sample in order to improve a two-group determination system of a biological phenomenon.例文帳に追加
生物学的事象の2群判定制度の向上を目的に外れサンプルを排除して、相関の高いサンプル群を絞り込む方法を提供する。 - 特許庁
After pre-cooling of a sample down to 2°C, temperature drop transition is continuously measured.例文帳に追加
試料を2℃まで予冷した後、温度降下推移を連続的に測定した。 - 特許庁
To provide a holding container for a biological fluid sample for analysis.例文帳に追加
分析のための生物学的流体標本の保持容器を提供する。 - 特許庁
A sample whose abdominal girth and skin temperature are approximate to those of the patient is selected (ST 110).例文帳に追加
患者と腹囲や皮膚温度が近似しているサンプルを選択する(ST110)。 - 特許庁
In this scratch machining method, a work (a sample 1) is fixed to a support bed 2, a polishing turning tool is confronted with the sample 1, and a magnetic polishing liquid 4 is supplied to a narrow gap between them.例文帳に追加
支持台2に加工対象(試料1)を固定し、試料1には研磨バイト3を対面させ、両者の狭間へ磁気研磨液4を供給する。 - 特許庁
To provide a vacuum processing apparatus having a function for removing particles on the surface of the sample stage in order to improve the yield of the sample being processed.例文帳に追加
処理対象の被処理試料の歩留まりを向上させるため、試料台表面の異物除去機能を備えた真空処理装置を提供する。 - 特許庁
To precisely adjust the emission position of a laser beam on a sample.例文帳に追加
標本上におけるレーザ光の照射位置の調整を精度良く行う。 - 特許庁
To provide a method for inspecting a sample by using a charged particle microscope.例文帳に追加
荷電粒子顕微鏡を用いて試料を検査する方法を提供する。 - 特許庁
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