「diffracted」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, a reference light reversed dark and bright and the DC component of the signal light are applied, the diffracted light by the recorded hologram and the DC component of the signal light are combined, and the reverse Fourier transform image of a second combined light is detected to obtain a second reproduction image.例文帳に追加

次に、明暗を反転させた参照光と信号光の直流成分とを照射し、記録されたホログラムによる回折光と信号光の直流成分とを合成し、第２合成光の逆フーリエ変換像を検出して第２再生画像を取得する。 - 特許庁

Thus, the laser beams are output in the respective wavelengths, to parallel laser beams via a first concave mirror 30a, diffracted by a planar diffraction grating 31 having a chromatic dispersion in response to the temperature gradient, multiplexed and converged by a second concave mirror 30b.例文帳に追加

これにより、レーザ光は、各々の波長で出力され、第一凹面鏡３０ａにより平行なレーザ光とされ、温度勾配に応じた波長分散を有した平面回折格子３１により回折され合波されて、第二凹面鏡３０ｂによって集光される。 - 特許庁

To solve the problem that word line and data line ends are short-circuited or broken at boundary parts between a memory array and a sub-word driver or a sense amplifier due to interference of diffracted light generated at a pattern end part when a fine word line and a data line having a line width less than a wavelength are patterned in a memory.例文帳に追加

メモリーにおいて波長以下の線幅を有する微細なワード線やデータ線をパターニングする際、メモリーアレーとサブワードドライバやセンスアンプの境界部において、パターン端部で生ずる回折光が干渉するためワード線やデータ線端がショートしたり、断線を起こす問題を解決する。 - 特許庁

Red colored light of not shorter than 610 nm and not longer than 700 nm sensing the pitch "d", and blue colored light of approximately not shorter than 431 nm and not longer than 495 nm sensing e=d/√2 are diffracted by the diffraction lattice 13, and taken out in a direction vertical to a surface of a figure respectively.例文帳に追加

６１０ｎｍ以上７００ｎｍ以下の赤色の光はピッチｄを感じ、およそ４３１ｎｍ以上４９５ｎｍ以下の青色の光はピッチｅ＝ｄ／√２を感じ、回折格子１３によって回折され、それぞれ図面に垂直な方向に取り出すことができる。 - 特許庁

The device has a prism provided between the semiconductor laser and the diffraction grating for enlarging the beam shape of the light from the semiconductor laser in the groove arrangement direction of the diffraction grating, emitting the light to the diffraction grating, and reflecting diffracted light from the diffraction grating to provide the output light.例文帳に追加

本装置は、半導体レーザと回折格子との間に設けられ、半導体レーザからのビーム形状を回折格子の溝の配列方向に拡大して回折格子に出射し、回折格子からの回折光を反射して出力光とするプリズムを設けたことを特徴とするものである。 - 特許庁

Light outputted from the front end of an optical fiber type collimator 80 is inputted to a first diffraction grating 111 formed on a first surface 110 of a transparent member 10 and is branched by wavelengths by being diffracted in the first diffraction grating 111 by diffraction angles corresponding to wavelengths.例文帳に追加

光ファイバ型コリメータ８０の先端より出力された光は、透明部材１０の第１面１１０に形成された第１回折格子１１１に入力し、この第１回折格子１１１において波長に応じた回折角で回折されることにより波長分岐される。 - 特許庁

To provide a method which generates an ideal output so that an electromechanical grating device can be operated with a higher frequency by opening a ribbon element of the device so that the quantity of diffracted light may be free from undesired temporary variance caused by resonance of the ribbon element.例文帳に追加

回折光量がリボン素子の共鳴によって生じる望まれない一時的な変動を一切含まないように電気機械格子装置のリボン素子を作動させ、よって装置がより高い周波数で作動できるようにより理想的な出力を生成する方法を提供すること。 - 特許庁

This X-ray analyzer has an X-ray source F for generating the characteristic X-ray of Cr emitted to the sample S, a stimulable phosphor plate for receiving the diffracted rays emitted from the sample S, and a helium path 13 arranged between the sample S and the stimulable phosphor plate.例文帳に追加

試料Ｓに照射するＣｒの特性Ｘ線を発生するＸ線源Ｆと、試料Ｓから出る回折線を受光する蓄積性蛍光体プレートと、試料Ｓと蓄積性蛍光体プレートとの間に配置されたヘリウムパス１３とを有するＸ線分析装置である。 - 特許庁

The diffused light of a light source 11 is collimated to parallel beams by a convex lens 12, and the parallel beams are transmitted through a half mirror 13, condensed to the light (incident angle i=0) going toward the center axis O of a cylinder by a convex type cylindrical lens 14, and made incident on and reflected and diffracted by a hologram surface.例文帳に追加

光源１１の拡散光は凸レンズ１２により平行化され、この平行光はハーフミラー１３を透過した後、凸型シリンドリカルレンズ１４により円筒形の中心軸Ｏに向かう光（入射角ｉ＝０）に集光され、この光がホログラム面に入射して反射、回折される。 - 特許庁

A first device condition regarding the angle between the advancing direction of diffracted light L2 and the direction of the optical axis O2 of an optical condenser system 27, and a second device condition regarding the output levels of image signals outputted from an image picking-up means 28, are set to the optimum conditions.例文帳に追加

回折光Ｌ２の進行方向と集光光学系２７の光軸方向Ｏ２との間の角度に関わる第１装置条件、および、撮像手段２８から出力される画像信号の出力レベルに関わる第２装置条件を最適条件に設定する。 - 特許庁

Reference light 3 of an S-polarized plane wave is reflected by 8 to irradiate the optical recording medium 1, an image of the object light 2 is recorded as a hologram in the optical recording medium 1, and the hologram generates diffracted light having a polarizing direction orthogonal to the polarizing direction of readout light.例文帳に追加

Ｓ偏光の平面波の参照光３を、８で反射させて、光記録媒体１に照射し、光記録媒体１中に物体光２の画像がホログラムとして記録され、そのホログラムは、読み出し光の偏光方向と直交する偏光方向の回折光が得られる。 - 特許庁

The base plate includes a thin-film waveguide and a diffraction grating means, combines the region of incident light, by entering the thin-film waveguide at the lower portion of the well and generates a region of diffracted light, thus detecting changes in the effective refractive index in the thin-film waveguide.例文帳に追加

基材プレートは、薄膜導波路及び回折格子手段を含んでいて、入射光の領域をウエルの下方の薄膜導波路中に入り結合して回折光の領域を発生させ、よって、薄膜導波路の有効屈折率の変化の検出を可能とする。 - 特許庁

The space intensity distribution of the diffracted and scattered light obtained by irradiating the dust collecting electrode 4 with laser beam is measured, whereby the particle size distribution of the floating particulate matter P can be measured with high resolution in a wide particle size range on the basis of laser diffraction and scattering method.例文帳に追加

また、その集塵電極４に対してレーザ光を照射して得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定することにより、レーザ回折・散乱法に基づいて浮遊粒子状物質Ｐの粒度分布を広い粒径範囲で高分解能のもとに測定することを可能とする。 - 特許庁

This reflective exposure method comprises for the reflective mask the steps of selecting a specified pattern, e.g., a pattern having a minimum dimension, computing the electromagnetic field near the mask with respect to the pattern, and obtaining the propagation direction having a maximum intensity in the distribution of diffracted light acquired from the computed electromagnetic field near the mask.例文帳に追加

反射型露光方法は、反射型マスクにおいて、特定のパターン、例えば、最も寸法の小さいパターンを選択するステップと、該パターンについてマスク近傍の電磁界を計算するステップと、計算されたマスク近傍の電磁界から求まる回折光の分布から最も強度が強い伝播方向を求めるステップを含む。 - 特許庁

A return light flux SP1 from a recording surface is inputted to a hologram element 57 which has a diffraction area equal to or smaller than a diameter of an opening matching wavelength of an output light flux obtained at a diffraction objective lens, and a photodetector receives a diffracted light from the diffraction areas of the hologram elements 57a to 57c.例文帳に追加

記録面からの戻り光束ＳＰ１は、回折型の対物レンズで得られる出射光束の波長に対応した開口径に対応する径以下の外径を有する回折領域を備えるホログラム素子５７に入射され、ホログラム素子の回折領域５７ａ〜５７ｃからの回折光は光検出器で受光される。 - 特許庁

The optical pickup device is provided with a first laser emitting a light beam of first wavelength, a second laser emitting a light beam of second wavelength, a hologram 14 diffracting reflected return light from an optical recording medium, and a photodetector 16 receiving the diffracted light beam and detecting a focus error signal and a tracking error signal.例文帳に追加

第１の波長の光ビームを出射する第１のレーザと、第２の波長の光ビームを出射する第２のレーザと、光記録媒体からの反射戻り光を回折するホログラム１４と、回折された光ビームを受光し、フォーカス誤差信号およびトラッキング誤差信号を検出する光検出器１６とを備えている。 - 特許庁

Probe light from a monochromatic light source 1 is incident to a transient lattice generated in a substance 10 to be measured so as to satisfy Bragg conditions, and hence signal light diffracted by the substance to be measured is spectrally resolved by a spectroscope 4, and the wide wavelength region is simultaneously measured by a detector 5.例文帳に追加

そして、被測定物質１０中で生じた過渡格子に単色光源１からのプローブ光をブラッグ条件を満足するように入射することにより、分光器４で被測定物質により回折された信号光をスペクトル分解し、検出器５により広い波長領域を同時に測定する。 - 特許庁

A plurality of the capillary crystal bodies 22 function as a diffraction grating and can emit a plus primary or a minus primary diffracted light of the light entering into the interface in an angle not less than the critical angle between the body 21 and the media at the side with a light from the body 21 emitted.例文帳に追加

複数の針状結晶体２２は、回折格子として機能し、臨界角度以上の角度で前記針状結晶配列体２１と、針状結晶配列体２１から光が放射される側の媒体との界面に入射する光の、＋１次または−１次の回折光を出射することができる。 - 特許庁

Polarization detection is achieved by allowing the polarized light diffracted by the hologram color switch 12 to be incident on a reflective spatial optical modulator 19 as illumination light, and allowing the modulated light from the optical modulator 19 to be incident on the hologram color switch 12.例文帳に追加

この偏光選択性ホログラムカラースイッチ１２にて回折された偏光光を照明光として反射型空間光変調素子１９に入射させ、この反射型空間光変調素子１９からの変調光を再び偏光選択性ホログラムカラースイッチ１２に入射させることにより、偏光検波をする。 - 特許庁

At this time, the first cladding layer 4a kept in contact with the core layer 2 is made of a photorefractive material whose refractive index rises upon irradiation with access light B2 different from the reference light B1, so that diffracted light according to the hologram pattern 5 can be emitted to the outside only in the irradiated region.例文帳に追加

このとき、コア層２と接する第１クラッド層４ａを上記参照光Ｂ１とは別のアクセス光Ｂ２の照射に応じて屈折率の上昇するフォトリフラクティブ材料で構成することにより、その照射領域でのみホログラムパターン５に応じた回折光を外部に放射させることができる。 - 特許庁

To provide a method for monitoring the state of a pattern drawing apparatus, precisely discriminating a pattern change production place from the contrast caused by the difference in the quantity of diffracted light in a pattern having periodicity, and also monitoring the state of the pattern drawing apparatus by simply leading out the change production period of the pattern change production place.例文帳に追加

周期性のあるパターンにおいて、回折光量差によるコントラストからパターン変動発生箇所を精度良く識別し、かつ、その変動発生周期を簡便に導出することによってパターン描画装置の状態監視を実施できるパターン描画装置の状態監視方法を提供する。 - 特許庁

This rare earth-iron-nitrogen-based magnet powder has a Th2Zn17 type crystal structure, and the integral width of a diffracted line of its crystal structure (113) is 0.06 degrees or less, and the powder orientation exceeds 1.44.例文帳に追加

Ｔｈ_２Ｚｎ_１７型結晶構造を有する希土類−鉄−窒素系磁石粉末であって、Ｔｈ_２Ｚｎ_１７型結晶構造（１１３）回折線の積分幅が０．０６度以下であり、かつ粉末配向度が１．４４を超えることを特徴とする希土類−鉄−窒素系磁石粉末、及びその製造方法により提供。 - 特許庁

With this constitution, a blast angle and a rotary angle can be respectively optimized independently, and the crystal azimuth 12 is accurately and easily adjusted, with respect to the respective directions of incident X rays 2A and diffracted X rays 3A and enables measurement of the X-ray diffraction pattern of the lattice surface 11 of the single-crystal substrate 10 with high accuracy.例文帳に追加

これにより、あおり角と回転角とをそれぞれ独立して最適化することができ、入射Ｘ線２Ａおよび回折Ｘ線３Ａの各方向に対して結晶方位１２を正確かつ容易に調整し、単結晶基板１０の格子面１１におけるＸ線回折パターンを高精度に測定することができる。 - 特許庁

Since the refractive indexes of the double refraction medium layer and of the homogeneous refractive index transparent material are different when the abnormal ray polarization is incident to the objective optical element OBJ1, the abnormal ray polarization is diffracted at a saw-tooth uneven section, and the transmission wave surface is changed in accordance with this diffraction, then a divergent angle or convergent angle is changed.例文帳に追加

対物光学素子ＯＢＪ１に異常光偏光が入射すると複屈折媒質層と均質屈折率透明材料の屈折率が異なるので、異常光偏光は鋸歯状の凹凸部で回折され、それに応じて透過波面が変化し発散角もしくは収束角が変化する。 - 特許庁

In the second region disposed between the first and third regions, diffraction is not performed, and the converging positions, on an optical disk, of a luminous flux diffracted through the first and third regions are spaced respectively by (2n-1)×t/2 in an optical disk radial direction when n is an integer and the guide groove interval of the optical disk is t.例文帳に追加

第２の領域は回折しない領域であり、それを挟む第１の領域と第３領域を回折した光束の光ディスク上での集光位置はｎを整数、光ディスクの案内溝間隔をｔとしたとき、光ディスク半径方向に（２ｎ−１）×ｔ／２だけ各々間隔を空け配置させる。 - 特許庁

Further, by diffractingly separating the visible light with a color having a specified wavelength among light incident in an optical decorative layer 13 through the base material 11 with the optical decorative layer 13, the light and dark pattern of light of the decorative pattern 12 is so constituted as to be colored in the color having the specified wavelength using the resultant diffracted light.例文帳に追加

さらに、光学加飾層１３により、基材１１を透過して光学加飾層１３に入射される光のうち、特定波長の色の可視光を回折分離し、この回折光を用いて装飾模様１２の光の明暗模様を特定波長の色に着色するように構成した。 - 特許庁

A body casing 4 is provided with a sample liquid circulation system 1 having a dispersion bath 11 connected to a flow cell 15 through a circulating passage 14 and a measuring system 2 for emitting laser beam to a sample liquid carried in the flow cell 15 to measure the particle size distribution of the sample on the basis of the diffracted light pattern at that time.例文帳に追加

分散バス１１とフローセル１５とを循環流路１４を介して接続した試料液循環系１と、フローセル１５内を流れる試料液に対してレーザ光を照射し、そのときの回折光パターンに基づいて試料の粒度分布を測定する測定系２とを本体筐体４に設ける。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device for enhancing flaw detecting sensitivity with respect to a flaw being unstable in flaw detecting sensitivity by an observation direction of a focus matching defective flaw or the like in the observation of the diffracted light of a substrate wherein any one side of a substrate pattern is parallel to a feed direction, and a substrate inspection program.例文帳に追加

基板パターンの何れか一辺が搬送方向と平行となっている基板の回折光観察において、合焦不良欠陥などの観察方向によって欠陥検出感度が不安定である欠陥に対して、欠陥検出感度を向上させるための基板検査装置および基板検査プログラムを提供すること。 - 特許庁

Also, in a manner of the first-order diffracted light being generated in the diffractive structure 5a advancing along or in parallel with the optical axis of the lens 5, the diffracting structure 5a is irradiated with a light beam of a wavelength λ1, in a state of being inclined to the optical axis of the lens 5, so that the optical transmissivity can be maintained high.例文帳に追加

又、回折構造５ａで発生した１次回折光が、レンズ５の光軸に沿って或いは平行に進行するように、波長λ１の光は、レンズ５の光軸に対して傾いた状態で、回折構造５ａに照射されるので、上述したように光透過率を高く維持できる。 - 特許庁

Also, reflected luminous flux from the recording surface is transmitted through the objective lens 5 and the 1/4 wavelength plate 4, made converged luminous flux of a direction being orthogonal to a forward path, after it is transmitted through the coupling lens 3 and made converged luminous flux, diffracted by the polarization diffraction lattice 10 of the optical element 2 and made incident on a light receiving element 7.例文帳に追加

また記録面からの反射光束は、対物レンズ５と１／４波長板４を透過して、往路とは直交する方向の直線偏光とされて、カップリングレンズ３を透過して集光光束となった後、光学素子２の偏光性回折格子１０で回折されて受光素子７に入射する。 - 特許庁

Infrared detectors 100 to 104 comprise diffraction gratings 20, 21, and 22 to diffract an infrared ray and an infrared detecting element 3 to detect the infrared ray, both of which are installed in a package 4, and detects the infrared ray with the specific wavelength diffracted by the diffraction gratings 20, 21, and 22 using the infrared detecting element 3.例文帳に追加

赤外線を回折する回折格子２０，２１，２２と、赤外線を感知する赤外線検出素子３とを、同一パッケージ４内に備え、回折格子２０，２１，２２により回折された特定波長の赤外線を、赤外線検出素子３により検出する赤外線検出器１００〜１０４とする。 - 特許庁

The waveguide type optical frequency shifter using the surface acoustic wave has a waveguide shape of a light diffraction part to increase a photo-acoustic interaction length of a part undergoing the surface acoustic wave diffraction and has a waveguide after diffraction constituted of a tapered waveguide condensing diffracted light at 1.55 μm band.例文帳に追加

弾性表面波による回折を受ける部位の光音響相互作用長を長くするような光回折部の導波路形状を有し、回折後の導波路を１．５５μｍ帯の回折光を集光可能なテーパ導波路で構成したことを特徴とする弾性表面波を用いた導波路型光周波数シフタ。 - 特許庁

The optical multiplexer/demultiplexer is basically composed of the diffraction gratings, the optical waveguide for input, the optical waveguide for output and the slab optical wave guide which expands the light in the plane and characterized by providing a lens which compensates displacement of diffracted light by wavelength variation in the slab optical waveguide.例文帳に追加

回折格子、入力用光導波路、出力用光導波路及び光を面内で広げるスラブ光導波路を基本構成とする光合分波器であって、波長変動による回折光の位置ずれを補正するレンズを前記スラブ光導波路に設けたことを特徴とする光合分波器。 - 特許庁

A semiconductor layer 103 is covered with a gate electrode 104 and a second shading part 106, so as to be completely shaded from light 117 diffracted at the end of a third shading layer 108, with a TFT being capable of avoiding variations in the characteristics, and realizing a superior display image.例文帳に追加

第３の遮光層１０８の端部で回折した光１１７を完全に遮光するため、半導体層１０３をゲート電極１０４と第２の遮光部１０６とで覆うことによって、回折した光の照射を防止し、ＴＦＴ特性の変動を回避でき、良好な表示画像を得る事ができる。 - 特許庁

This measuring instrument for measuring a parameter of fine structure on a substrate is provided with a supercontinuum light source constituted to generate a measurement beam, an optical system constituted to emit the measurement beam onto the substrate, and a sensor for detecting radiation reflected and/or diffracted by the structure.例文帳に追加

基板上の微細構造のパラメータを測定する計測装置であって、測定ビームを生成するように構成されたスーパコンティニューム光源と、測定ビームを基板上に送るように構成された光学系と、構造によって反射された、かつ／又は、回折された放射を検出するセンサとを備える計測装置。 - 特許庁

Then, two luminous fluxes L04 and L40 having different frequencies are made incident on the mark WM at prescribed incident angles which are different from those of the luminous fluxes L03 and L30 and the ±4th order diffracted light generated from the mark WM is detected by means of the photoelectric detector 33.例文帳に追加

次に、２光束Ｌ０３及びＬ３０の入射角とは異なる所定の入射角で、互いに周波数が異なる２光束Ｌ０４及びＬ４０を回折格子状マークＷＭに対して入射させ、回折格子状マークから発生する±４次回折光を光電検出器３３により検出する。 - 特許庁

The position of the alignment mark WMY formed on the wafer 9 in the Y-direction is detected by projecting alignment light rays LA and LB upon the mark WMY through chromatic aberration correcting systems 15a-15d and 16 and the projection optical system and detecting the ±1st order diffracted light rays LA(1) and LB(-1) generated from the mark WMY.例文帳に追加

アライメント光ＬＡ，ＬＢを色収差補正系１５ａ〜１５ｄ，１６及び投影光学系を介してウエハ９上のアライメントマークＷＭＹに照射し、アライメントマークＷＭＹから発生する±１次回折光ＬＡ（１），ＬＢ（−１）を検出し、アライメントマークＷＭＹのＹ方向の位置を検出する。 - 特許庁

In this case, the hologram element 23 controls a shift quantity at a focal position in a direction corresponding to a direction (spot size detection direction) with respect to a spot group formed by a diffracted light of the reflected light beam formed on the photo detection element 24 so as to increase more than a shift quantity in a direction orthogonal to the direction above as its control.例文帳に追加

この場合、ホログラム素子２３は、反射光ビームの回折光が光検出素子２４上に形成されるスポット群に対し、ある一方向（スポットサイズ検出方向）に対応する方向の合焦位置のシフト量を、それに直交する方向の合焦位置のシフト量よりも大きくなるように制御する。 - 特許庁

When a laser emission pointer 101 is fitted into a recess 22 of a glass bottle 20 and light is emitted and radiated to computer generated hologram(CGH) pellets 100 while the CGH pellets 100 are sealed in the glass bottle 20, the laser light is transmitted and diffracted by the pellets 100, and its diffraction image 'A' is projected onto a label sheet 21.例文帳に追加

ＣＧＨペレット１００をガラス瓶２０に封入した状態で、レーザ発光ポインタ１０１をガラス瓶２０の凹部２２に嵌合して発光させてＣＧＨペレット１００に照射すると、レーザ光がＣＧＨペレット１００により透過、回折し、その回折像「Ａ」がラベルシート２１上に投影される。 - 特許庁

The respective holograms recorded on the medium 10 function as Hough conversion filters and the light peak diffracted light is obtained on the optical path of the reference light 6 during recording in the spatial positions meeting the positions of the segments in the objective images at the polarization angles meeting the segment directions in the objective images as the hologram deffracted light beam 7.例文帳に追加

媒体１０に記録の各ホログラムはＨｏｕｇｈ変換フィルタとして機能，記録時の参照光６の光路上に、ホログラム回折光７として、対象画像中の線分方向に応じた偏光角で対象画像中の線分の位置に応じた空間的位置で光ピーク回折光を得る。 - 特許庁

The optical head device is provided with: a radiation light source; a condensing optical system which converges an emitted light beam on a micro spot of a recording medium; an aberration generation means which gives astigmatism to a light beam which is reflected and diffracted by a recording medium; and a photodetection means which receives a light beam which is given with the astigmatism by the aberration generation means.例文帳に追加

放射光源と、放射される光ビームを記録媒体へ微小スポットに収束する集光光学系と、記録媒体で反射、回折した光ビームに非点収差を与える収差発生手段と、収差発生手段で非点収差を与えられた光ビームを受光する光検出手段を備える。 - 特許庁

The polarization diffraction element 1 for the optical head apparatus is provided with a polarization diffraction body 11 having different diffraction efficiencies with respect to diffracted light of each order according to oscillation directions of incident light and a 1/4 or 5/4 wavelength plate 12 provided between the polarization diffraction body 11 and an optical recording medium 2.例文帳に追加

本発明にかかる光ヘッド装置用偏光回折素子１は、入射光の振動方向によって、各次回折光に対する回折効率が異なる偏光回折体１１と、前記偏光回折体１１と前記光記録媒体２の間に設けられた１／４又は５／４波長板１２とを備えている。 - 特許庁

To measure the thickness of a thin film by an X-ray diffraction method by performing the parameter fitting of a theoretical rocking curve of diffracted X-ray intensity considering orientation to a measured rocking curve, even when film thickness measurement by an X-ray reflectivity method can not be performed because of a reason as existence of a contiguous layer having an approximate density or the like.例文帳に追加

密度が近い隣接層が存在するなどの理由でＸ線反射率法による膜厚測定ができない場合でも，配向性を考慮した回折Ｘ線強度の理論ロッキングカーブを測定ロッキングカーブにパラメータフィッティングすることで，Ｘ線回折法によって薄膜の膜厚を測定可能にする。 - 特許庁

When the volume of the infrared light Lir, detected by the first focus detecting part 6, is the standard value or smaller, and the focus detection by the infrared light Lir cannot be conducted, hologram function of a liquid crystal hologram 8 is set to on state, and focus detection is carried out with the use of a light L2 diffracted by the liquid crystal hologram 8.例文帳に追加

第１焦点検出部６で検出される赤外光Lirの光量がその基準値以下となって、赤外光Lirによる焦点検出ができなくなった場合には、液晶ホログラム８のホログラム機能をオン状態とし、液晶ホログラム８で回折された光L2を用いて焦点検出を行う。 - 特許庁

The unit and the device are provided with an LD chip 3 exiting a laser beam, a diffraction grating 7 dividing the exited laser beam into the plural, a hologram 6 in which an optical disk is irradiated with a plurality of laser beams and which guides light by diffracting reflected light from the optical disk, and a photodetector 4 which receives light diffracted by the hologram 6.例文帳に追加

レーザ光を出射するＬＤチップ３と、出射されたレーザ光を複数に分割する回折格子７と、複数のレーザ光を光ディスクに照射し、光ディスクからの反射光を回折させて光を導くホログラム６、及びこのホログラム６で回折された光を受光する光検出器４とを備える。 - 特許庁