「diffracted」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

This measuring instrument for measuring a parameter of fine structure on a substrate is provided with a supercontinuum light source constituted to generate a measurement beam, an optical system constituted to emit the measurement beam onto the substrate, and a sensor for detecting radiation reflected and/or diffracted by the structure.例文帳に追加

基板上の微細構造のパラメータを測定する計測装置であって、測定ビームを生成するように構成されたスーパコンティニューム光源と、測定ビームを基板上に送るように構成された光学系と、構造によって反射された、かつ／又は、回折された放射を検出するセンサとを備える計測装置。 - 特許庁

Then, two luminous fluxes L04 and L40 having different frequencies are made incident on the mark WM at prescribed incident angles which are different from those of the luminous fluxes L03 and L30 and the ±4th order diffracted light generated from the mark WM is detected by means of the photoelectric detector 33.例文帳に追加

次に、２光束Ｌ０３及びＬ３０の入射角とは異なる所定の入射角で、互いに周波数が異なる２光束Ｌ０４及びＬ４０を回折格子状マークＷＭに対して入射させ、回折格子状マークから発生する±４次回折光を光電検出器３３により検出する。 - 特許庁

The position of the alignment mark WMY formed on the wafer 9 in the Y-direction is detected by projecting alignment light rays LA and LB upon the mark WMY through chromatic aberration correcting systems 15a-15d and 16 and the projection optical system and detecting the ±1st order diffracted light rays LA(1) and LB(-1) generated from the mark WMY.例文帳に追加

アライメント光ＬＡ，ＬＢを色収差補正系１５ａ〜１５ｄ，１６及び投影光学系を介してウエハ９上のアライメントマークＷＭＹに照射し、アライメントマークＷＭＹから発生する±１次回折光ＬＡ（１），ＬＢ（−１）を検出し、アライメントマークＷＭＹのＹ方向の位置を検出する。 - 特許庁

In this case, the hologram element 23 controls a shift quantity at a focal position in a direction corresponding to a direction (spot size detection direction) with respect to a spot group formed by a diffracted light of the reflected light beam formed on the photo detection element 24 so as to increase more than a shift quantity in a direction orthogonal to the direction above as its control.例文帳に追加

この場合、ホログラム素子２３は、反射光ビームの回折光が光検出素子２４上に形成されるスポット群に対し、ある一方向（スポットサイズ検出方向）に対応する方向の合焦位置のシフト量を、それに直交する方向の合焦位置のシフト量よりも大きくなるように制御する。 - 特許庁

When a laser emission pointer 101 is fitted into a recess 22 of a glass bottle 20 and light is emitted and radiated to computer generated hologram(CGH) pellets 100 while the CGH pellets 100 are sealed in the glass bottle 20, the laser light is transmitted and diffracted by the pellets 100, and its diffraction image 'A' is projected onto a label sheet 21.例文帳に追加

ＣＧＨペレット１００をガラス瓶２０に封入した状態で、レーザ発光ポインタ１０１をガラス瓶２０の凹部２２に嵌合して発光させてＣＧＨペレット１００に照射すると、レーザ光がＣＧＨペレット１００により透過、回折し、その回折像「Ａ」がラベルシート２１上に投影される。 - 特許庁

The respective holograms recorded on the medium 10 function as Hough conversion filters and the light peak diffracted light is obtained on the optical path of the reference light 6 during recording in the spatial positions meeting the positions of the segments in the objective images at the polarization angles meeting the segment directions in the objective images as the hologram deffracted light beam 7.例文帳に追加

媒体１０に記録の各ホログラムはＨｏｕｇｈ変換フィルタとして機能，記録時の参照光６の光路上に、ホログラム回折光７として、対象画像中の線分方向に応じた偏光角で対象画像中の線分の位置に応じた空間的位置で光ピーク回折光を得る。 - 特許庁

The optical head device is provided with: a radiation light source; a condensing optical system which converges an emitted light beam on a micro spot of a recording medium; an aberration generation means which gives astigmatism to a light beam which is reflected and diffracted by a recording medium; and a photodetection means which receives a light beam which is given with the astigmatism by the aberration generation means.例文帳に追加

放射光源と、放射される光ビームを記録媒体へ微小スポットに収束する集光光学系と、記録媒体で反射、回折した光ビームに非点収差を与える収差発生手段と、収差発生手段で非点収差を与えられた光ビームを受光する光検出手段を備える。 - 特許庁

The polarization diffraction element 1 for the optical head apparatus is provided with a polarization diffraction body 11 having different diffraction efficiencies with respect to diffracted light of each order according to oscillation directions of incident light and a 1/4 or 5/4 wavelength plate 12 provided between the polarization diffraction body 11 and an optical recording medium 2.例文帳に追加

本発明にかかる光ヘッド装置用偏光回折素子１は、入射光の振動方向によって、各次回折光に対する回折効率が異なる偏光回折体１１と、前記偏光回折体１１と前記光記録媒体２の間に設けられた１／４又は５／４波長板１２とを備えている。 - 特許庁

With this constitution, a blast angle and a rotary angle can be respectively optimized independently, and the crystal azimuth 12 is accurately and easily adjusted, with respect to the respective directions of incident X rays 2A and diffracted X rays 3A and enables measurement of the X-ray diffraction pattern of the lattice surface 11 of the single-crystal substrate 10 with high accuracy.例文帳に追加

これにより、あおり角と回転角とをそれぞれ独立して最適化することができ、入射Ｘ線２Ａおよび回折Ｘ線３Ａの各方向に対して結晶方位１２を正確かつ容易に調整し、単結晶基板１０の格子面１１におけるＸ線回折パターンを高精度に測定することができる。 - 特許庁

Since the refractive indexes of the double refraction medium layer and of the homogeneous refractive index transparent material are different when the abnormal ray polarization is incident to the objective optical element OBJ1, the abnormal ray polarization is diffracted at a saw-tooth uneven section, and the transmission wave surface is changed in accordance with this diffraction, then a divergent angle or convergent angle is changed.例文帳に追加

対物光学素子ＯＢＪ１に異常光偏光が入射すると複屈折媒質層と均質屈折率透明材料の屈折率が異なるので、異常光偏光は鋸歯状の凹凸部で回折され、それに応じて透過波面が変化し発散角もしくは収束角が変化する。 - 特許庁

In the second region disposed between the first and third regions, diffraction is not performed, and the converging positions, on an optical disk, of a luminous flux diffracted through the first and third regions are spaced respectively by (2n-1)×t/2 in an optical disk radial direction when n is an integer and the guide groove interval of the optical disk is t.例文帳に追加

第２の領域は回折しない領域であり、それを挟む第１の領域と第３領域を回折した光束の光ディスク上での集光位置はｎを整数、光ディスクの案内溝間隔をｔとしたとき、光ディスク半径方向に（２ｎ−１）×ｔ／２だけ各々間隔を空け配置させる。 - 特許庁

This invention relates to a dual function optical element capable of both diffracting laser light into beamlets and converging the beamlets (acting as a virtual lens for the laser light), thereby eliminating the need for a plurality of physical lenses to transfer the diffracted laser beams to a focusing lens.例文帳に追加

本発明は、レーザ光をビームレットに回折することと、（レーザ光に関して仮想のレンズとして働いて）ビームレットを収束させることとの両方が可能であり、それによって回折されたレーザビームをフォーカスレンズに転送するための複数の物理的なレンズの必要をなくす二重の機能を有する光学素子に関連する。 - 特許庁

To provide a method for forming a pattern that can solve problems of short-circuit or breaking of word lines and data line ends caused by interference of diffracted light produced at a pattern end on a boundary part between a memory array and a sub-word driver or sense amplifier when fine word lines and data lines having linewidth smaller than a wavelength are patterned on a memory.例文帳に追加

メモリーにおいて波長以下の線幅を有する微細なワード線やデータ線をパターニングする際、メモリーアレーとサブワードドライバやセンスアンプの境界部において、パターン端部で生ずる回折光が干渉するためワード線やデータ線端がショートしたり、断線を起こす問題を解決するパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The transmission type X-ray diffraction device is equipped with a sample chamber 100 forming a closed space for arranging the sample 10, a heating means 900 for heating the sample 10 in the sample chamber 100, and an X-ray detecting part 200 for detecting diffracted X rays which are generated by irradiating the sample 10 with X rays outside the sample chamber 100.例文帳に追加

試料10を配置するための閉鎖された空間を構成する試料室100と、試料室100内の試料10を所定温度に加熱する加熱手段900と、Ｘ線が試料10に照射されて生じる回折Ｘ線を試料室100の外部で検出するＸ線検出部200とを備える透過型Ｘ線回折装置である。 - 特許庁

A positional change in intensity of a diffracted X-ray from the sample crystal 6 is detected via an X-ray image magnifying crystal 10 fixed within a diffraction angle range, using an optical system of an X-ray topograhpy arranged with the X-ray image magnifying crystal 10 in a rear stage of the sample crystal 6 of which the strain is measured.例文帳に追加

ひずみを測定すべき試料結晶６の後段にＸ線像拡大用結晶１０を配置したＸ線トポグラフィの光学系を用いて、試料結晶６からの回折Ｘ線強度の場所的変化を、回折角度範囲に固定されたＸ線像拡大用結晶１０を介して検出する。 - 特許庁

An X-ray mask 1 and the member 2 are arranged at such a distance D that X-rays passing through different regions of the X-ray mask 1 are diffracted to cause interference, and the member 2 which has at least its structure forming surface made of a photosensitive material is exposed to the X rays through the X-ray mask 1.例文帳に追加

Ｘ線マスク１と部材２とを、Ｘ線マスク１の異なる領域を通過したＸ線同士が回折により干渉を生じる距離Ｄだけ離して配置し、Ｘ線マスク１を介して、少なくとも構造体形成面が感光性材料からなる部材２に向けてＸ線を露光する。 - 特許庁

A characteristic X-ray emitted from a micro area 3 on the sample 2 in response to irradiation of an electron beam is collected efficiently by the X-ray lens 4 to be converted into a parallel beam, and the X-rays of the same wavelength are diffracted by the plane crystal 6 to be brought into a parallel beam, and is analyzed by an X-ray detector 8.例文帳に追加

電子線の照射に応じて試料２上の微小領域３から放出された固有Ｘ線をＸ線レンズ４で効率良く収集して平行線束に変換し、平板結晶６により同一波長のＸ線が平行線束となるように回折してＸ線検出器８により検出する。 - 特許庁

The telephone set 1 is provided with: a main body cabinet 2; a sound hole 8 formed on a bottom wall 3 of the main body cabinet 2; and the microphone 10 arranged to an upper part of the sound hole 8 inside the main body cabinet 2, and has a configuration including a diffracted part (L-shaped recessed part) 4 formed around the sound hole 8.例文帳に追加

本発明の電話機１は、本体キャビネット２と、本体キャビネット２の底壁３に形成された音孔８と、本体キャビネット２内部の音孔８の上部に配設されたマイクロホン１０と、を備えた電話機１であって、音孔８の周囲に形成された回折部（Ｌ字状凹部）４を備えた構成を有する。 - 特許庁

To provide a hologram reflector capable of generating image display light based on (non-colored) diffracted light having wide diffraction wavelength width over the whole visible area and high degree of white in the wide visible area without providing reflected light reflected by a hologram reflector for generating the image display light with a specific color tone.例文帳に追加

画像表示光を生成することになるホログラム反射板による反射光に特定の色調を与えることなく、可視域全体に渡る広い回折波長幅を持った白色度合いの高い（無彩色の）回折光による画像表示光を、広い視覚領域で生成できるホログラム反射板を提供する。 - 特許庁

In the method of manufacturing the optical master disk for forming projecting and recessed patterns by developing an exposed photoresist, the photoresist layer is irradiated with the second harmonic of solid laser as reference beam in the development and the developing process is finished based on the level of a diffracted light in the projecting and recessed pattern.例文帳に追加

露光されたフォトレジスト層を現像し凹凸パターンを形成する光ディスク原盤の製造方法において、上記現像の際にフォトレジスト層に対して固体レーザの第２高調波を参照光として照射し、上記凹凸パターンにおける回折光のレベルに基づいて現像工程を終了させる。 - 特許庁

The mask is provided with a transparent substrate and ring-like patterns concentrically formed at equal pitches on the transparent substrate, and the pattern is selected so as to generate first-order diffracted light in all azimuth directions in a prescribed angle direction to the normal direction of the substrate for light having a prescribed wavelength and made incident vertically on the substrate.例文帳に追加

マスクは、透明基板と、前記透明基板上に等ピッチで同心円状に形成されたリング状パターンと、を有し、所定波長を有し、基板に対して垂直に入射する光に対して、基板の法線方向に対して所定角度方向に、全方位角方向に、１次回折光を発生するように前記パターンが選択されている。 - 特許庁

The x-ray diffraction apparatus includes: an x-ray emitter 13 for applying an x-ray to a measuring object OB; a table 27 for receiving the x-ray diffracted by the measuring object OB and fixing an imaging plate 28 for recording a diffraction ring; and a laser detection device PUH for applying a laser beam to the imaging plate 28 and reading out a shape of the diffraction ring.例文帳に追加

測定対象物ＯＢにＸ線を照射するＸ線出射器１３、測定対象物ＯＢにて回折したＸ線を受光して回折環を記録するイメージングプレート２８を固定するテーブル２７及びレーザ光をイメージングプレート２８に照射して、回折環の形状を読み取るレーザ検出装置ＰＵＨを設ける。 - 特許庁

To detect defects in a minute wiring pattern formed on a sample by improving the contrast of an optical image of the sample formed by the interference between the zeroth and higher-order diffracted light of reflected light arising from illuminating light reflected by the sample surface, in a defects detecting optical system which detects defects in a pattern formed on the sample surface.例文帳に追加

試料表面に形成したパターンの欠陥を検出する欠陥検出光学系において、照明光により試料表面で反射した反射光の０次光と高次回折光の干渉により形成される試料の光学像のコントラストを向上させることにより、試料上に形成された微細な配線パターンの欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁

When the light of specific wavelength is used, 0-order light of the first diffraction optical element 22 is received by the first main light receiving part 241a, +1 order light diffracted by the first diffraction optical element 22 is received by the second main light receiving part 242a, and an output signal from the second main light receiving part 242a is used to generate a tracking error signal.例文帳に追加

前記特定の波長の光が使用される場合には、第１の回折光学素子２２の０次光が第１のメイン受光部２４１ａで受光され、第１の回折光学素子２２で回折された＋１次光が第２のメイン受光部２４２ａで受光され、第２のメイン受光部２４２ａからの出力信号を用いてトラッキングエラー信号が生成される。 - 特許庁

The measuring method for the valid optical path comprises: (a) a process of using the mask and projecting the light passed through a projection lens on a photosensitive element in a defocus state in the aligner; and (b) a process of detecting at least one of the pupil shape of the aligner and a diffracted light distribution on a pupil surface from an image projected on the photosensitive element.例文帳に追加

有効光路の測定方法は、（ａ）露光装置において、上述のマスクを用い、投影レンズを通った後の光をデフォーカスの状態で感光素子上に投影する工程と、（ｂ）前記感光素子上に投影された像から露光装置の瞳形状、瞳面上の回折光分布の少なくとも一方を検出する工程と、を含む。 - 特許庁

In retrieval in the optical information recording/reproducing device which reproduces the optical information recording medium recorded by angle multiplex recording, the medium is irradiated with a desired information as signal light, and the desired information is searched from the multiplex recorded information by using intensity of a plurality of diffracted rays having a different emission angle with respect to the medium.例文帳に追加

角度多重で記録された光情報記録媒体を再生する光情報記録再生装置での検索処理において、所望の情報を信号光として媒体に照射し、媒体との出射角度の異なる複数の回折光の強度を用いて多重記録された情報の中から該当情報を探し出すことで解決する。 - 特許庁

A method for measuring the warpage on a single crystal substrate includes a generation step to generate an X ray with an angle spread, an irradiation step to irradiate the single crystal substrate with the X ray with the angle spread, and a detection/measurement step that detects the X ray diffracted from the single crystal substrate to measure the warpage on the single crystal substrate.例文帳に追加

単結晶基板の反り測定方法であって、角度広がりを持つＸ線を発生させる発生ステップと、前記角度広がりを持つＸ線を単結晶基板に照射する照射ステップと、前記単結晶基板からの回折Ｘ線を検出して、前記単結晶基板の反りを測定する検出・測定ステップと、を含むようにする。 - 特許庁

This light guide panel 20 emits an incident light after scattered or/and diffracted in the plurality of light scattering diffraction areas 22, while guiding the light within a thickness range thereof, and the light scattering diffraction areas 22 are constituted to make a light non-scattering non-diffraction clearance of forming a clearance with respect to the adjacent light scattering diffraction area 22 less than 90 μm.例文帳に追加

入射した光を厚み内で導光しながら、複数の光散乱回折領域２２で散乱或いは／及び回折させて出射させる導光板２０であって、前記光散乱回折領域２２は、隣接する光散乱回折領域２２との間隙をなす光非散乱非回折間隙を９０μｍ未満としてある。 - 特許庁

The reflection grating 1 changes the incident angle of light and achieves a high diffraction efficiency for a wide wavelength range by diffracting incident light IL by a transmission type volume hologram layer 2 and reflecting diffracted light (DLr, DLb, DLg) from the volume hologram layer 2 by a reflection member (mirror 3) in contact with the volume hologram layer 2.例文帳に追加

反射型回折格子１は、入射光ＩＬを透過型の体積ホログラム層２で回折させ、体積ホログラム層２からの回折光（ＤＬｒ、ＤＬｂ、ＤＬｇ）を体積ホログラム層２と接している反射部材（ミラー３）で反射することによって光の入射角を変更し、広い波長域で高い回折効率を実現する - 特許庁

This constitution makes the wall-like portion 51 of the vibration-proof material 5 effectively interrupt vibrations V1 horizontally propagated toward the vibration reception-side ground 2 from the excitation-side ground 1, and makes the floor-like portion 52 of the vibration-proof material 5 effectively interrupt vibrations V2 diffracted to the vibration reception-side ground 2 on the downside of the wall-like portion 51 from the excitation-side ground 1.例文帳に追加

この構成によれば、防振材５における壁状部５１が、加振側地盤１から受振側地盤２へ向けて水平方向へ伝播する振動Ｖ１を有効に遮断し、防振材５における床状部５２が、加振側地盤１から壁状部５１の下側で受振側地盤２へ回折される振動Ｖ２を有効に遮断する。 - 特許庁

The hologram recorded with the image added with the recorded image for angle detection and correction is irradiated with the object light of the retrieval image for angle detection and correction consisting of the cruciform graphics similar to the cruciform graphics of the recorded image for angle detection and correction and the inclination of the optical recording medium is detected from the correlation peak position in the correlation image obtained as diffracted light.例文帳に追加

角度検出補正用記録画像の十字の図形と同様の十字の図形からなる角度検出補正用検索画像の物体光を、角度検出補正用記録画像が付加された画像が記録されているホログラムに照射し、回折光として得られる相関像中の相関ピーク位置から、光記録媒体の傾きを検出する。 - 特許庁

In a diffracted optical element composed of a structure in which a first region and second region 6 and 7 each having different temperature dependency in the refractive index with each other are arranged alternatively, the element temperature at which diffraction efficiency for incident light in a specific polarization direction becomes minimal is set within the limits of 25 to 70 degrees C.例文帳に追加

屈折率異方性及び屈折率の温度依存性がそれぞれ互いに異なる第１の領域と第２の領域６，７とが交互に配列された構造を有し、特定の偏光方位の入射光に対する回折効率が極小値をとる素子温度が、摂氏２５度以上摂氏７０度以下の範囲内であることとした。 - 特許庁

This composite material consisting of the resin and the inorganic filler is characterized in that, when the resin is dissolved with a solvent capable of dissolving the resin, and the solution is measured with a laser diffraction scattering type particle size distribution meter, an average diameter, a mode diameter, a median diameter, a maximum diameter, a maximum diffracted intensity and 98 % particle diameters satisfy specific conditions.例文帳に追加

樹脂と無機物充填材からなる複合材料であって、該樹脂が溶解可能な溶媒に、該複合材料を溶解し、該溶液をレーザ回折散乱式粒度分布計により測定したときに、平均径、モード径、メディアン径、最大径、最大回折強度および９８％粒子径が特定の条件を満たすことを特徴とする複合材料。 - 特許庁

The light beam Lp being linearly polarized light made incident on a light intensity modulator 16 is transmitted through a polarizing beam splitter 30 and diffracted at a specified diffraction angle by an AOM 36, reflected by a reflector 40 after it is changed to the light beam Lc being circularly polarized light by a 1/4 wavelength plate 38, and transmitted through the plate 38 again.例文帳に追加

光強度変調装置１６に入射された直線偏光の光ビームＬｐは、偏光ビームスプリッタ３０を透過してＡＯＭ３６で所定の回折角度をもって回折され、１／４波長版３８で円偏光の光ビームＬｃに変換された後に反射板４０で反射され、再度１／４波長版３８を透過する。 - 特許庁

A high molecular polarizing substrate is a planar body, made of a transparent resin constituting a substrate of the liquid crystal display element and is distinguished such that when natural light is made incident perpendicularly on the planar body, respective diffraction efficiency of orthogonally crossed polarized light components of zero-th-order transmitted diffracted light is ≥60% for one and ≤40% for another.例文帳に追加

液晶表示素子の基板を構成する透明樹脂からなる板状体であって、自然光を該板状体に垂直に入射したとき、ゼロ次透過回折光の互いに直交する偏光成分について、それぞれの回折効率が、一方が６０％以上、他方が４０％以下であることを特徴とする高分子偏光性基板。 - 特許庁

Measurement light beams Lx1 and Ly2 are made incident on a grating provided on an upper surface of the table WTB through one side face thereof from light sources 16Xa and 16Ya constituting an encoder system, and optical detectors 16Xb and 16Yb receive diffracted light beams Lx2 and Ly2 originating from those measurement light beams to measure position information on the table WTB.例文帳に追加

エンコーダシステムを構成する光源１６Ｘａ，１６Ｙａから、テーブルＷＴＢの一側面を介してその上面に設けられたグレーティングに計測光Ｌｘ１，Ｌｙ２を入射させ、これらの計測光に由来する回折光Ｌｘ２，Ｌｙ２を光検出器１６Ｘｂ，１６Ｙｂを用いて受光して、テーブルＷＴＢの位置情報を計測する。 - 特許庁

The point light source generation member 26 is a transparent thin plate-shaped optical member which is composed of: first diffraction gratings 30 to 32 which diffract the substantially parallel luminous fluxes; light guiding parts 33 to 35 which guide the diffracted luminous fluxes; second diffractive gratings 36 to 38 which diffract the luminous fluxes; and a light emission part 39 which emits the luminous fluxes.例文帳に追加

ここで、点光源発生部材２６は、透明薄板状の光学部材であって、略平行光を回折する第１の回折格子３０〜３２と、回折された光束を導く導光部３３〜３５と、この光束を回折する第２の回折格子３６〜３８と、この光を射出する光射出部３９と、を有して構成される。 - 特許庁

The information recording medium 1 having an information recording part 10 wherein a plurality of phase diffraction gratings 20 are disposed with a two-dimensional pattern corresponding to the information to be recorded, is irradiated with linear laser beams emitted from a two-dimensional semiconductor laser array 71, then the diffracted light generated in the information recording part 10 is detected by a CCD array 76.例文帳に追加

記録する情報に応じた２次元パターンで複数の位相回折格子２０が配設された情報記録部１０を有する情報記録媒体１に対して、２次元半導体レーザアレイ７１から出射した直線状のレーザ光を照射し、情報記録部１０で生じた回折光をＣＣＤアレイ７６によって検出する。 - 特許庁

To provide a high performance X-ray absorption fine structure measuring cell using an X-ray transmitting window that can resist to high temperature and high pressure, is safeness without venomousness, is inoxidizable in oxidation environment, can perform XAFS measuring with high reliability becouse of less effect from diffracted X-rays, is planarizable and is inexpensive.例文帳に追加

高温高圧に耐えることができ、毒性がなく安全で、酸化雰囲気で酸化されにくく、回折Ｘ線の影響が少なくＸＡＦＳ測定を高い信頼性で行うことができ、Ｘ線透過性に優れ、平坦な形状とすることができ、しかも安価なＸ線透過窓を用いた高性能なＸ線吸収微細構造測定用セルを提供する。 - 特許庁

The laser beam machining apparatus includes: a laser beam source 1 for emitting a laser beam LB; an optical element 3 that utilizes diffraction for diffracting the laser beam LB in a direction parallel to a planned cutting line SL; and a condensing lens 4 that condenses, inside a workpiece 10, the laser beam LB diffracted by the optical element 3 utilizing diffraction.例文帳に追加

レーザ光LBを出射するレーザ光源１と、レーザ光LBを割断予定ラインSLに平行な方向に回折させる回折を利用した光学素子３と、回折を利用した光学素子３で回折されたレーザ光LBを加工対象物１０の内部に集光する集光レンズ４と、を有することを特徴とするレーザ加工装置。 - 特許庁

The basis weight measuring method of the powder is characterized in that the powder placed on a planar base material is irradiated with light, the emission intensity of the light scattered, diffracted or reflected by the powder or the fluorescence from the powder and this measured value is compared with a preformed calibration value to measure the basis weight of the powder.例文帳に追加

平面基材上に載置された紛体に光を照射し、前記紛体により散乱、回折もしくは反射された光または前記粉体からの蛍光発光の強度を測定し、この測定値と予め作成しておいた検量値と比較することにより粉体の目付を測定することを特徴とする紛体の目付測定方法。 - 特許庁

An array laser 5 of which the plurality of light emitting parts are arrayed at an equal space is used as a light source, a diffraction grating 7 is provided in the optical path between a first lens 6 and a second lens 8 and a part which is not irradiated with a laser beam and created on the prescribed face due to the use of the array laser 5, is irradiated with a diffracted light.例文帳に追加

光源として、複数の発光部が等間隔で並設されているアレイレーザ５を使用し、且つ前記第一のレンズ６と前記第二のレンズ８との間の光路中に回折格子７を設け、前記アレイレーザ５の使用により前記所定面に生じるレーザ光の未照射部分を回折光により照射するよう構成する。 - 特許庁

To provide an optical system having a diffraction optical device which can be applied to the optical system for which extremely high image-forming performance is required such as the projection optical system of a projection aligner for manufacturing a semiconductor especially by minimizing influence exerted on image-forming by generated unnecessary diffracted light in the optical system using a diffraction optical device.例文帳に追加

回折光学素子が使われている光学系において、発生する不要回折光が結像に与える影響を最小限にすることができ、従って特に半導体製造用投影露光装置の投影光学系など極めて高い結像性能を要求される光学系に適用することができる回折光学素子を有する光学系を提供する。 - 特許庁

Light L2 comprising Raman scattered light emitted from the sample 111 and background light emitted from the substrate 110 is spectrally diffracted by a diffraction grating 155, and a spectrum intensity signal is measured by a photodiode 157, and a signal synchronized with 1 kHz is detected from the spectrum intensity signal by a lock-in amplifier 160.例文帳に追加

試料１１１から発せられるラマン散乱光および光電場増強基板１１０から発せられるバックグランド光からなる光Ｌ２を回折格子１５５により分光して、フォトダイオード１５７によりスペクトル強度信号を測定し、ロックインアンプ１６０により、このスペクトル強度信号から、１ｋＨｚに同期した信号を検出する。 - 特許庁

To provide an objective lens which can suppress fluctuation of diffraction efficiency due to a change of a using wavelength to a minimum, in an objective lens for an optical pickup device which collects diffracted light generated by an optical path difference giving structure onto the information recording surface of an optical information recording medium as a spot, and to provide an optical pickup device using such an objective lens.例文帳に追加

光路差付与構造によって生じる回折光を、光情報記録媒体の情報記録面にスポットとして集光する光ピックアップ装置用の対物レンズにおいて、使用波長の変化による回折効率の変動を小さく抑えることができる対物レンズ及びそれを用いた光ピックアップ装置を提供する。 - 特許庁