「for burn」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a burn-in board from which the mounted state of a semiconductor device can be confirmed easily before impressing a voltage for burn-in test upon the device even when the device has no input protective circuit, and to provide a method for burn-in test.例文帳に追加

入力保護回路を持たない半導体デバイスであっても、バーンインの試験用電圧を印加する前に半導体デバイスの装着状態を容易に確認することができるバーンインボードおよびバーンイン試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ＩＣを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor transfer tray for tests capable of collectively handling a plurality of semiconductors (IC packages etc. ) during the tests and provide a burn-in board using the same, an inspection apparatus for burn-in tests, a burn-in test method, and a semiconductor manufacturing method.例文帳に追加

複数の半導体（ＩＣパッケージ等）を試験中一括して取り扱えるようにした試験用の半導体搬送トレイ、これを用いたバーンインボード、バーンイン試験用の検査装置及びバーンイン試験方法並びに半導体の製造方法を提供する。 - 特許庁

The locking control device for the valve-timing adjusting device and the lock control system is applied for a V-type engine or a horizontal opposed engine in which right and left banks alternately burn so that a plurality of cylinders constituting one of the banks which burn serially and then a plurality of cylinders constituting the other bank which burn serially.例文帳に追加

そして、Ｖ型エンジン又は水平対向型エンジンであって、一方のバンクを構成する複数の気筒が順次燃焼した後、他方のバンクを構成する複数の気筒が順次燃焼するよう、左右のバンクが交互に燃焼するエンジンに適用する。 - 特許庁

This burn-in test system is provided with a control circuit 6 for selecting a terminal corresponding to the burn-in pattern out of the plurality of terminals 7α, 7β, 7γ of a semiconductor device 5, and for connecting selected terminal electrically to an external terminal 3 of the burn-in board 1, in the burn-in test system for the semiconductor device 5.例文帳に追加

半導体装置５のバーンイン試験システムであって、前記半導体装置５の複数の端子７α、７β、７γの中からバーンインパターンに対応した端子を選択し、選択した端子を前記バーンインボード１の外部端子３と電気的に接続する制御回路６を備えることを特徴とするバーンイン試験システム。 - 特許庁

The frequency of the signal output from the signal generator 1 is converted by the converter 3, the burn-in signal of higher frequency is supplied to the semiconductor device in the burn-in vessel, and the dynamic burn-in is allowed thereby even for the fast and highly functional semiconductor device to be conducted in a short time.例文帳に追加

信号発生器１が出力するバーンイン信号の周波数を変換器３により変換し、周波数が高いバーンイン信号を、バーンイン槽内の半導体装置に供給しているので、高速、高機能な半導体装置に対しても、短時間でダイナミック・バーンインを行うことができる。 - 特許庁

To provide an inspection method of decarbonization or burn mark of a steel component capable of inspecting the decarbonization or the burn mark of the steel component simply, inexpensively and safely, without performing a breaking test of the steel component and without restricting a place for inspecting the decarbonization or the burn mark of the steel component.例文帳に追加

鋼製部品の脱炭または研磨焼の検査を行う場所が限定されす、かつ、鋼製部品の破壊検査をせずに鋼製部品の脱炭または研磨焼を簡単安価かつ安全に検査できる鋼製部品の脱炭または研磨焼の検査方法を提供すること。 - 特許庁

The voltage controller includes a signal generation means of outputting a burn-in control signal and a burn-in precharge signal in response with an all bank precharge instruction and a voltage control means for supplying any one of a first voltage or a second voltage lower than the first voltage in response to the burn-in control signal and the burn-in precharge signal.例文帳に追加

オールバンクプリチャージ命令に応答してバーンイン制御信号およびバーンインプリチャージ信号を出力する信号生成手段と、前記バーンイン制御信号と前記バーンインプリチャージ信号に応答して、第１電圧又は前記第１電圧より低い第２電圧のうちいずれか１つをワード線に供給する電圧制御手段とを含む。 - 特許庁

To impress a boost voltage to plural word lines at the time of burn-in test without increasing a chip area, to simultaneously perform the burn-in test to a lot of cells in a short time, to shorten time required for the burn-in test and to improve the processing efficiency of the burn-in test in production.例文帳に追加

チップ面積を増加させることなく、バーンインテスト時に複数のワード線に昇圧電圧を印可でき、より短時間に多数を同時にバーンインテスト可能とし、バーンインテストに必要な時間を短縮させ、製造におけるバーンインテストの処理効率を向上させることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for lessening burn-in which a bright image can be displayed for a dynamic image causing no burning of phosphor and burn-in of phosphor can be lessened by lowering the luminance only for a still image.例文帳に追加

蛍光体の焼き付きを発生させない動画像に対しては明るい画像を表示すると共に、静止画像に対してのみ輝度を下げて蛍光体の焼き付きを軽減することができる焼き付き軽減装置を提供する。 - 特許庁

A burn-in test device includes a test substrate for mounting a semiconductor device and a control part for supplying a control signal and test data for controlling the motion of the burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト装置は、半導体装置を搭載する試験基板と、バーンインテストの動作を制御する制御信号及びテストデータを供給する制御部とを具備する。 - 特許庁

The waveform shaping circuit 1b converts the signal for burn-in input from the connection terminal 4 into a signal for burn-in synchronized with the clock signal.例文帳に追加

波形整形回路１ｂは、接続端子４から入力される上記バーンイン用の信号を、上記クロツク信号に同期したバーンイン用の信号に変換する。 - 特許庁

The contact pin 1 is adapted to contact with each IC terminal of IC sockets to be used for a burn-in test, and electrically connects each of the IC terminal with a substrate mounting the IC socket for the burn-in test.例文帳に追加

このコンタクトピン１をバーンイン試験のための使われるＩＣソケットのＩＣの各端子に対応して装着し、ＩＣの各端子とバーンイン試験にためのＩＣソケットを搭載した基板との電気的接続を行う。 - 特許庁

To obtain a preparation for external use for remedying a burn promptly eliminating redness or pigmentation of the skin caused from the burn with a lapse of time and excellent in stability as well as conventional medications without causing an uncomfortable feeling and an irritation when used.例文帳に追加

やけどに伴う皮膚の発赤、色素沈着が経時的に早く消失し、かつ従来の製剤と同様に安定性に優れ、かつ使用時の違和感や刺激性がないやけど治療用外用製剤を提供する。 - 特許庁

A circuit for generating an input signal exclusive to the burn-in test is not provided in the logic circuit 2, and the burn-in test is carried out using an input signal for the scanning test.例文帳に追加

ロジック回路２は、バーンイン試験専用の入力信号を生成するための回路を具備せず、スキャン試験用の入力信号を用いてバーンイン試験が行われる。 - 特許庁

A wire excellent in burn through resistance for the arc welding of a sheet steel iron which is prescribed in an ingredient, resistivity and a diameter, and arc welding method for the sheet iron excellent in burn through- resistance of the weld using the wire are provided.例文帳に追加

成分、比抵抗、直径を規定した薄鋼板のアーク溶接用の耐溶け落ち性に優れたワイヤおよびそれを用いることにより溶接部の溶け落ちを防止する耐溶け落ち性に優れた薄鋼板のアーク溶接方法。 - 特許庁

The catalyst for purifying the lean burn automobile exhaust gas purifies the lean burn exhaust gas using the composite catalyst comprised of a catalyst keeping a platinum group element carried by a mesoporous material and a cation exchange clinoptilolite and/or a cation exchange erionite.例文帳に追加

メソポーラス材料に白金族元素を担持した触媒と陽イオン交換クリノプチロライト及び又は陽イオン交換エリオナイトとを複合した触媒を用いて、リーンバーン排ガスを浄化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can sufficiently activate the inside of a circuit at burn-in test, and to reduce the overhead of the circuits required for the burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト時に回路内部を十分に活性化させることができる上に、そのバーンインテストに必要な回路のオーバヘッドを小さくできる半導体集積回路の提供。 - 特許庁

To provide a monitored burn-in test device for executing a monitored burn-in test without increasing the load of software or improving the function of the test device.例文帳に追加

ソフトウェアの負荷の増加やテスタ装置の機能を向上させることなくモニタードバーンインテストが実施できるモニタードバーンインテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive burn-in apparatus capable of adjusting a low level of drive signals supplied for circuit parts to be inspected to a desired level at burn-in tests.例文帳に追加

バーンイン試験時に被検査回路部品に供給される駆動信号のローレベルを、所望のレベルに調節することのできる安価なバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simulation device and method for calculating a grinding burn depth, further correctly calculating the grinding burn depth of a workpiece in a grinding process.例文帳に追加

研削加工における工作物の研削焼け深さをより正確に算出できるシミュレーション装置および研削焼け深さ算出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.例文帳に追加

本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in method for effectively preventing ESD to a semiconductor device when fitting the semiconductor device to a socket by removing an electrical charge electrified on the substrate of a burn-in board.例文帳に追加

バーンインボードの基板に帯電した電荷を除去し、半導体装置をソケットに装着する際の半導体装置へのＥＳＤを効果的に防止できるバーンイン方法を提供する。 - 特許庁

To provide a purge control method for a lean burn engine with a supercharger capable of grasping purge fuel quantity by learning even during lean burn operation and capable of carrying out purge processing, while restricting fluctuation of air-fuel ratio.例文帳に追加

リーンバーン運転時においてもパージ燃料量を学習により把握し、パージ処理を空燃比の変動を抑制しつつ実行することのできる過給機付きリーンバーンエンジンのパージ制御方法を提供する。 - 特許庁

To improve yield of a semiconductor device 25 by suppressing row failure generated during burn-in, especially wafer level burn-in, for screening a defective product of the semiconductor device 25 produced in the primary stage of manufacture.例文帳に追加

製造初期に発生する半導体装置２５の不良品をスクリーニングするために行うバーンイン、特にウェーハレベルバーンイン中に発生する列不良を抑え、半導体装置２５の歩留まりを向上させるようにする。 - 特許庁

To provide a heating cooker without risk of burn injury when a water supply tank is supplemented with water and without needing a label for warning a user against the risk of burn injury.例文帳に追加

水を給水タンクに補充する際に、火傷の危険性がなく、火傷の危険性をユーザーに警告するラベルが必要ない加熱調理器を提供すること。 - 特許庁

This burn-out finished fabric is obtained by perforating the prescribed part of the fabric by performing the burn-out finishing process and then performing a shrinkage treatment for shrinking the part of the fabric including the hole.例文帳に追加

抜食加工を行って生地の所定部分に穴をあけた後に、少なくとも当該穴を含む生地部分を収縮させる収縮処理を行って成る。 - 特許庁

A control circuit 110 generates burn-in test signals BI, BI_-0, BI_-1 and a signal Get add2, and output them to a pre-decoder 120 according to an address ADB for shifting a semiconductor memory device to a burn-in test mode.例文帳に追加

制御回路１１０は、半導体記憶装置をバーンインテストモードへ移行させるためのアドレスＡＤＢに基づいてバーンインテスト信号ＢＩ，ＢＩ＿０，ＢＩ＿１および信号Ｇｅｔ ａｄｄ２を生成してプリデコーダ１２０へ出力する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.例文帳に追加

動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

To provide a D/A converter that realizes a wafer-level burn-in test without externally connecting resistor elements and the like for the burn-in test.例文帳に追加

一般に、Ｄ／Ａコンバータは、使用条件に汎用性をもたせるため、ＬＳＩ外部より、出力負荷用抵抗器，電流値設定用抵抗器を接続し、さらに電流値設定用リファレンス電圧を入力する構成となっている。 - 特許庁

Therefore, for example, a high electric field can be applied between the word lines WL0 and WL2 by giving potential difference at the time of burn-in test, a fault eliminating rate at the time of burn-in test can be improved.例文帳に追加

したがって、たとえば、ワード線ＷＬ０、ＷＬ２の間にもバーンイン試験時に電位差を与えて高電界をかけることができ、バーンイン試験時における不良の除去率を向上させることができる。 - 特許庁

Thus, a function for expanding the input interface is attained, and even a memory burn-in device structure with an existing hardware facility enables chip burn-in, and thereby cost is saved on, and a convenient advantages is acquired at high speed.例文帳に追加

こうして入力インタフェース拡充の機能を達成し、既存のハードウエア設備を改修せずにメモリバーンイン装置構造でチップバーンインを可能とし、コストを節約し、快速で、便利な長所を具備するようにした。 - 特許庁

To provide a burn-in system, capable of reducing the time needed for storing determination result in a determination result memory and of shortening the burn-in test time.例文帳に追加

判定結果を判定結果メモリに格納するのに要する時間を短縮し、バーンイン試験時間の短縮化を図ることのできるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, a sufficient burn-in test can be executed for the digit line being a current line, while a test time of the burn-in test can be shortened.例文帳に追加

したがって、電流線であるデジット線に対して十分なバーンイン試験を実行することができるとともに、いわゆるバーンイン試験の試験時間も短縮することができる。 - 特許庁

A test in which the number of times of burn-in is decided with a test object device unit contacting to a prober for tester before performing burn-in at the time of wafer test (step SP4).例文帳に追加

ウェハテスト時において、バーンイン実施前に、テスタ用のプロ-バに接触するテスト対象デバイス単位でバーンイン回数を決定するテストを行なう（ステップＳＰ４）。 - 特許庁

To provide a wafer to be inspected together with a method for wafer level burn-in test using it, wherein with the supply of a voltage to a defective chip being limited, a normal wafer level burn-in test is conducted with other satisfactory chips.例文帳に追加

故障が生じたチップへの電圧の供給を制限し、他の良品チップに関して正常なウェハレベルバーンイン試験を実行し得る被検ウェハ、及びそれを用いたウェハレベルバーンイン試験方法を得る。 - 特許庁

Additionally, the burn-in apparatus comprises the plurality of members capable of performing heat transfer contact with the plurality of devices on the burn-in board; and the flexible heat-conducting material for connecting the plurality of members.例文帳に追加

また、バーンインボード上の複数のデバイスそれぞれに対応して伝熱接触し得る複数の部材と、複数の部材間を結合する可撓性のある熱伝導部材とを具備する装置である。 - 特許庁

Consequently, the wafers for which burn-in inspection is performed in the final test process can be collected, and burn-in simplification can be performed efficiently.例文帳に追加

したがって、ファイナルテスト工程においてバーンイン検査を行なうべきウェハを１つのロットに集めることができ、バーンイン簡略を効率的に行なうことが可能となる。 - 特許庁

To provide flux for solder paste excellent in burn through property and low in reactivity with Zn solder powder, to provide solder paste excellent in burn through property, to provide a circuit board packed with electronic parts using the solder paste and to provide its production method.例文帳に追加

版ぬけ性に優れ、かつＺｎ系ハンダ粉との反応性の低いハンダペースト用フラックス、版ぬけ性に優れたハンダペースト、並びに該ハンダペーストを用いて電子部品を実装した回路板およびその製造法の提供。 - 特許庁

A shield 2 provided by an electromotive device 10 which generates voltage for burn in test is stuck on a surface while corresponding to the semiconductor wafer 1 which is to be burn in tested in the state of wafer.例文帳に追加

ウエハ状態でバーンイン試験対象である半導体ウエハ１に対応して、表面にバーンイン試験のための電圧を発生する起電デバイス１０が設けたシールド２を貼り付ける。 - 特許庁

For defective wafers, the protection film is attached onto the entire chip surface including the terminals, burn-in inspection is performed under the condition, power supply and application of a signal are blocked to the defective chips that are found before burn-in inspection is performed on them.例文帳に追加

不良品には、端子も含むチップ表面全体に保護膜を付加し、その状態でバーンイン検査を行い、バーンイン投入前に判明した不良品チップへの電源供給、信号印加を遮断する。 - 特許庁

To provide a holder for burn-in of a wafer, wherein a pressure of at least 1 kgf/cm2 is applied, while no vacuum conditions are required to be kept during the burn-in.例文帳に追加

バーンイン中に真空状態を保つ必要がなく、かつ１ kgf／cm^2 以上の圧力をかけることができるウェハのバーンイン用保持具を提供する。 - 特許庁

To efficiently and accurately execute burn-in even when the total number of semiconductor devices for carrying out burn-in is large.例文帳に追加

本発明はバーンイン装置及びバーンイン制御方法に関し、バーンインを行う半導体装置の総数が多い場合であっても高効率で正確なバーンインを実施することを課題とする。 - 特許庁

Thus, it is possible to easily prepare/connect the external connection elements for the analog circuit without using any expensive burn-in board, and to realize burn-in in a wafer level.例文帳に追加

これにより、高価なバーンインボードを使用せずに、簡単にアナログ回路用外付け素子を作成・接続し、ウェハーレベルのバーンインを実現することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having an interline burn-in function of main word lines for applying a stress voltage across the main word lines in a state of wafer burn-in.例文帳に追加

ウェーハバーンイン状態において、メインワード線の線間ヘストレス電圧を印加するメインワード線の線間バーンイン機能を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁