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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > for burnの意味・解説 > for burnに関連した英語例文

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for burnの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 759



例文

To provide a method for manufacturing and measuring a capacitor, with which a high-temperature insulating resistance sorting device and a burn-in device can be made compact.例文帳に追加

高温絶縁抵抗選別装置やバーンイン装置等を小型化することができるコンデンサの製造方法および測定方法を提供する。 - 特許庁

For a moment after Mr. and Mrs. Darling left the house the night-lights by the beds of the three children continued to burn clearly. 例文帳に追加

パパとママが家を後にしてしばらくの間、3人のコドモのベッドのそばのナイトライトは、あたりをこうこうと照らしていました。 - James Matthew Barrie『ピーターパンとウェンディ』

Oxygen, as you will immediately imagine, exists in the atmosphere; for how should the candle burn to produce water without it? 例文帳に追加

酸素は、すぐに想像がつくでしょうが、空気の中にもあります。だって、それがなかったら、ロウソクが燃えて水ができるはずもないですから。 - Michael Faraday『ロウソクの科学』

We will take one which relates to iron, for instance, as you have already seen iron burn a little in the atmosphere. 例文帳に追加

たとえば鉄に関してそれを見てやりましょう。もうふつうの空気の中で、鉄が多少燃えるのを見ましたね。 - Michael Faraday『ロウソクの科学』

例文

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路2とDRAM3が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路4を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路2についてはスキャン試験モードに設定させ、DRAM3についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁


例文

To provide a temperature measuring resistor input device, which shortens the time necessary for detecting a breakage of a multi-wire type temperature measuring resistor or a disconnection of each connection wire, and makes the measurement result into a wave form suitable for a burn up or burn down process, when the disconnection arises.例文帳に追加

測温抵抗体入力装置の多線式測温抵抗体の破損または各接続線の断線検出に要する時間を短縮する機能を持たせると共に、断線時等の測定結果を、バーンアップ、バーンダウン処理に適した波形にする。 - 特許庁

Each of the burn-in device bodies 10-1 and 10-2 calculates a modulus being set to the number of a number of fitted semiconductor devices, and at the same time allowing the semiconductor devices to be collectively subjected to burn-in for generating measurement data for indicating the quality of each semiconductor device.例文帳に追加

各バーンイン装置本体10-1,10-2は、装着された多数の半導体装置の個数である母数を計算すると共に、半導体装置を一括してバーンインして個々の半導体装置の良否を示す測定データを生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory that optimum burn-in operation is performed to realize shortening of a process burn-in time and a selection test time by providing plural test modes improving access duty for a memory array system.例文帳に追加

メモリアレイ系へのアクセスデューティを上げるテストモードを複数搭載することで、最適なバーンインオペレーションを行い、工程バーンイン時間の短縮、選別試験時間の短縮を実現できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a composition for a woody material treatment, in which the composition itself does not only turn to a cause of an alkali burn of a woody material, but also the alkali burn can be prevented even when an alkaline composition is used in a pretreatment, and which can give a mildew resistance and good appearance to the woody material.例文帳に追加

それ自体が、木質材料のアルカリ焼けの原因とならないだけでなく、前処理でアルカリ性組成物を用いた場合にも、そのアルカリ焼けを防止することができ、尚かつ、木質材料に、防カビ性及び美観を与えることのできる、木質材料処理用組成物を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor device and a wafer burn-in method, wherein wafer burn-in test having reliability can be executed with alignment precision to some degree, in the case that the number of terminals which make contact in batch in the state of wafer is increased, and the cost for test is low.例文帳に追加

ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても、ある程度の位置合わせ精度で信頼性のあるウェハバーンイン試験が実施でき、安価なテストコストで済む半導体装置及びウェハバーンイン方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a fully on-chip wafer level burn-in test circuit and a method thereof, which enables wafer burn-in to be tested by using an external supply voltage and an external signal (WBI) and generating a voltage for a stress screen within the chip.例文帳に追加

本発明は、外部供給電圧と外部信号(WBI)を利用してストレススクリーン用電圧をチップ内部で発生してウェハバーンインテストを行うことを可能にしたフーリオンチップ・ウェハレベル・バーンインテスト回路及びその方法を提供することである。 - 特許庁

Even in the case of burn-in test for which the test signal T4 becomes 'H' level, concerning a redundant row selector circuit 2, the word line selection inhibit signal RDE becomes 'L' level, a redundant cell and a normal cell are simultaneously selected and the burn-in test is performed at the same time.例文帳に追加

テスト信号T4が「H」レベルとなったバーンインテストの場合にも、冗長行選択回路2は、ワード線選択禁止信号RDEが「L」レベルとなり、冗長セルとノーマルセルとは一括して選択され、バーンインテストが同時に行われる。 - 特許庁

The burn-in method comprises a process that is provided corresponding to each of a plurality of devices on a burn-in board and performs the heat transfer contact of a plurality of members connected mutually by a flexible heat-conducting material to the plurality of devices; and a process for controlling the temperature of the plurality of members collectively.例文帳に追加

バーンインボード上の複数のデバイスそれぞれに対応して設けられ、かつ可撓性のある熱伝導部材で互いに結合された複数の部材を、複数のデバイスに伝熱接触させる工程と、複数の部材を一括的に温度制御する工程とを具備する方法である。 - 特許庁

To realize a burn-in test simply even by a beginner by forming a waveform forming file and a schedule file and performing the burn-in test of an IC to be tested in an apparatus and a method for testing which supplies a testing waveform to the IC to be tested and performing the test.例文帳に追加

本発明は、試験波形を被試験ICに供給して試験を行う試験装置および試験方法に関し、波形成形ファイルおよびスケジュールファイルを作成してこれらをもとに被試験ICのバーイン試験を行い、初心者でも簡易にバーイン試験を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

The circuit scale of the logic circuit 2 is reduced thereby, and the number of input signals to a semiconductor device 1 is thereby reduced in the burn-in test, to allow the burn-in tests for both the logic circuit 2 and the DRAM 3 to be carried out concurrently.例文帳に追加

従って、ロジック回路2の回路規模が縮小されるとともに、バーンイン試験時における半導体装置1に対する入力信号の数が減少して、ロジック回路2とDRAM3の双方に対するバーンイン試験を同時に行うことが可能となる。 - 特許庁

A plurality of burn-in boards 20 having a plurality of integrated circuits 44 each of which is tested in a heated condition are arranged at fixed intervals and stacked, and a plurality of valve trays 22 for controlling air flow are arranged between two adjacent burn-in boards 20.例文帳に追加

各々が加熱された条件下でテストされている複数の集積回路44を有する複数のバーンインボード20を一定間隔で配置し積み重ね、隣接する二つのバーンインボード20の間に複数の空気流量を制御するバルブトレイ22を配置する。 - 特許庁

To provide a wafer level burn-in device and a wafer level burn-in method for preventing a probe from being exhausted and burned, by reducing an electric load applied to a wafer simultaneously and suppressing the transitional rise of the temperature of the wafer.例文帳に追加

ウエーハに同時に印加される電気的負荷を低減し、ウエーハ温度の過渡的な上昇を抑制することで、プローブの消耗、焼けを防止するウエーハレベルバーンイン装置およびウエーハレベルバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁

To shorten test time and reduce cost required for a burn-in test by removing a factor causing a failure when a failure rate increases during the burn-in test to continue the test continuously.例文帳に追加

バーンイン試験の途中で不良率が上がった場合に不良要因を排除して、継続してバーンイン試験を継続することができることにより、試験時間の短縮化がはかれると共に、試験に要するコストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an exhaust emission control device for a lean-burn internal combustion engine which carries out lean burn operation on the side leaner than a stoichiometric air fuel ratio, under a desired operating condition, and which can effectively purifying NOx during lean mixture operation without worsening of driveability.例文帳に追加

所要の運転条件下ではストイキオよりもリーン側での希薄燃焼運転を行なう希薄燃焼式内燃機関の排ガス浄化装置に関し、リーン運転時におけるNOx浄化をドライバビリティを悪化させることなく効果的に行なえるようにする。 - 特許庁

In order to continuously form a layer A for ventilating to burn the fowl droppings and a layer B for ventilating to cool the rest of combustion generated by combustion of the fowl droppings with ventilation, a particles carrying and ventilating mechanism 15 is provided, and structured so that at least one part of the discharging air from the layer B for ventilating to cool the rest of combustion passes the layer A for ventilating to burn the fowl droppings.例文帳に追加

鶏糞を通気燃焼する層Aと,その鶏糞の通気燃焼によって生じた燃焼残渣を通気冷却する層Bと,が連続して形成されるよう、粒状物の搬送兼通気機構15が設けられる共に、前記燃焼残渣を通気冷却する層Bからの排空気の少なくとも一部が前記鶏糞を通気燃焼する層Aを通過するよう構成されている。 - 特許庁

In the fabrication process of a rewiring structure, electric connection of an element electrode 11bi for use in burn-in screening and a common interconnect line for use in burn-in screening is interrupted selectively only for a semiconductor chip 10b judged rejective in electrical characteristics inspection by using a negative photosensitive material.例文帳に追加

再配線構造の製造工程において、ネガ型の感光性材料を使用することにより、電気特性検査にて不良と判定された半導体チップ10bについてのみ、バーンインスクリーニングで使用するための素子電極11biとバーンインスクリーニングで使用する共通配線との電気的接続を選択的に遮断する。 - 特許庁

The burn-in board is provided with both a mounting substrate to which the device to be tested is mounted and a positioning substrate mounted to the mounting substrate for positioning the temperature adjusting board by fitting the rocket pins provided for the temperature adjusting board lowered from above at burn-in test.例文帳に追加

また、バーンインボードは、被試験デバイスが取り付けられる取り付け基板と、前記取り付け基板に取り付けられた位置決め基板であって、バーンイン試験の際に、上方から下降してくる前記温度調整ボードに設けられた前記ロケットピンが嵌入し、温度調整ボードの位置決めをするための位置決め基板と、を備えている。 - 特許庁

The integrated circuit system (IC) 100 include a RAM 120, a serial interface 150, a means for downloading a burn-in test program to the RAM 120 of the integrated circuit system by the serial interface 150, and a means for reading the burn-in test program downloaded from the RAM 120 and allowing the CPU 110 to execute it.例文帳に追加

集積回路装置(IC)100は、RAM120、シリアルインターフェース150を含み、前記シリアルインターフェース150でバーインテストプログラムを集積回路装置の前記RAM120にダウンロードする手段と、前記RAM120からダウンロードされたバーインテストプログラム読み出して、前記CPU110に実行させる手段とを含む。 - 特許庁

A metallic yarn-like element is used as a burner combustion element, a mixture of a gas and the primary air for pressure combustion is supplied to the burner combustion element to burn the burner combustion element, and the primary air for combustion is heated by utilizing the waste heat to burn out the dust and the oil content attached to an inner face of the burner combustion element.例文帳に追加

金属の糸状加工品をバーナ燃焼体とし、前記バーナ燃焼体にガスと加圧燃焼用一次空気を混合して供給し燃焼させ、前記燃焼用一次空気を排熱を利用して加熱し、前記バーナ燃焼体内の内面に付着するほこり、油分を焼ききる構成としたガスバーナ。 - 特許庁

To enable switching of an operation method from a lean burn operation method wherein hydrogen is added to gasoline to the operation method for performing operation in air-fuel ratio made richer than that in the lean burn operation method by an increase in gasoline supply quantity and a decrease in hydrogen supply quantity without causing excessive torque shock with regard to a control device for a hydrogenated internal combustion engine.例文帳に追加

水素添加内燃機関の制御装置に関し、ガソリンに水素を添加したリーンバーンによる運転方法から、ガソリン供給量の増量と水素供給量の減量によりリーンバーンによる運転方法よりもリッチ化された空燃比で運転を行う運転方法へ、過大なトルクショックを招くことなく運転方法を切り替えることを可能にする。 - 特許庁

By changing the level of the first control signal C1 under the test mode to redirect output of a first selection circuit 12 and change over the operation of a program counter 11, a first burn-in mode for activating the flash EEPROM 20 and second burn-in mode for activating the function part 10 are alternately executed.例文帳に追加

そして、テストモード下で、前記第1の制御信号C1のレベルを変えることによって、第1の選択回路12の出力先及びプログラムカウンタ11の動作を切り替え、フラッシュEEPROM20を活性化する第1のバーインモードと機能部10を活性化する第2のバーインモードとを交互に実行する。 - 特許庁

The burn-in testing device 300 is provided with a test pattern generation means 301 for generating a test pattern for performing a burn-in test, a semiconductor device 302 to be tested, a scan judgement means 303, and a time measurement means 305 controlled by the output signals of the scan judgement means 303 and the output signals of a memory judgement means 304.例文帳に追加

バーンイン試験装置300は、バーンイン試験を行うためのテストパターンを発生するテストパターン発生手段301と、被試験半導体装置302と、スキャン判定手段303と、スキャン判定手段303の出力信号およびメモリ判定手段304の出力信号によって制御される時間計測手段305を備える。 - 特許庁

Moreover, the cable 11 in the tank 10 is constituted of a heat-resistant material, is connected with the unit 21 via a diagnostic unit connecting connector 14 by a connector 12 for the unit 21 and is connected with the circuits 26 via burn-in board connecting connectors 15 by a connector 13 for a burn-in board.例文帳に追加

また、恒温槽10内の接続ケーブル11は、耐熱性材料により構成され、診断ユニット用コネクタ12により診断ユニット接続コネクタ14を介して診断ユニットと接続され、バーンインボード用コネクタ13によりバーンインボード接続コネクタ15を介してドライバ/コンパレータ回路26と接続される。 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING VOLTAGE GENERATOR ADAPTED FOR USE IN WAFER BURN-IN TEST, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING CONTROL CIRCUIT FOR OPERATIONAL CONTROL OF VOLTAGE GENERATOR例文帳に追加

ウェハバーンインテストに用いるに適合した電圧発生器制御方法及び電圧発生器の動作制御のための制御回路をもつ半導体メモリ装置 - 特許庁

To provide an inspection method for a semiconductor integrated circuit including an equalization process for generating a burn-in test pattern for equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化するバーンインテストパターンを生成する平準化工程を含む半導体集積回路の検査方法の提供。 - 特許庁

To propose the structure of a contact sheet for inspecting a semiconductor wafer that is suitable for reliably performing a plurality of burn-in inspections, and is effective for avoiding inspection failure accompanied by the oxidation of a contactor pad in inspection.例文帳に追加

複数回のバーンイン検査を高い信頼性を維持して行うのに好適であり、また、検査時の導体パッドの酸化に伴なう検査不良を回避するの有効な半導体ウエハー検査用接触シートの構造を提案する。 - 特許庁

The external preparation for skin care is useful as an external preparation for skin care for prevention or treatment of chloasma, senile pigment freckle, and pigmentations caused by UV ray irradiation, an operation, an injury, a burn, an acne or the like.例文帳に追加

本発明の皮膚外用剤は、例えば、肝斑や老人性色素斑、紫外線照射や手術、外傷、熱傷、にきびなどを原因とする色素沈着を予防または治療するための皮膚外用剤として有用である。 - 特許庁

To provide critical safety design program for a transportation cask for spent fuel and a storage rack for the spent fuel adopting a rational burn-up credit.例文帳に追加

合理的な燃焼度クレジットを採用した、使用済燃料の輸送キャスクおよび使用済燃料の貯蔵ラックの臨界安全設計プログラムを提供する。 - 特許庁

This carrier for storing the dies divided individually (bare chips) for the test and/or the burn-in, and for connecting electrically them is provided with the first contact parts arranged lattice-likely to correspond to the dies.例文帳に追加

個々に分割されたダイ(裸のチップ)を、その試験および/またはバーンインのために収容するとともに電気接続する担体であって、接触するダイに対応する格子状に配置されている第1接触部を備えるものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for reducing the number of input terminals for applying a stress for burn-in to a circuit where no operation tests by a BIST circuit are to be made.例文帳に追加

BIST回路による動作テストを行わない回路に対してバーンインのストレスをかけるための入力端子を削減できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a negative resist for forming a protrusion for liquid crystal alignment which hardly makes burn-in of a liquid crystal produced and excels also in heat resistance, and to provide a protrusion for liquid crystal alignment, a photospacer, a color filter and a liquid crystal display which use the negative resist.例文帳に追加

液晶の焼きつきをほとんど発生させることがなく、耐熱性にも優れる液晶配向用突起を形成することができるネガ型レジストを提供する。 - 特許庁

For a burn-in test that energizes a semiconductor device 5 in a high-temperature atmosphere for a specific amount of time, the semiconductor device 5 is supplied to a substrate 4 for testing where a number of sockets 3 are arranged on an insulating substrate l.例文帳に追加

そのため、半導体装置を試験用基板に装着する前に実施しているが、少数の不良品のために全数短絡試験をすることは無駄であった。 - 特許庁

To provide a thermal insulation mat for a pet animal free from the possibility of burn on the skin of the pet animal and capable of sustaining a temperature comfortable for the pet animal for a long time through utilizing the latent heat of a heat storage material.例文帳に追加

動物の皮膚の火傷の恐れがなく、蓄熱剤の潜熱を利用して動物に快適な温度を長時間持続できるペット用保温マットを提供する。 - 特許庁

To enable execution of a burn-in test for a wafer formed with a large number of dies by decreasing the number of control signals required for power-source control dies formed on a wafer for smaller device scale.例文帳に追加

ウェーハ上に形成されたダイの電源制御に必要となる制御信号の本数を減らして装置規模を小さくし、多数のダイが形成されたウェーハのバーンイン試験を実施可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling voltage generators adapted for use in wafer burn-in test, and to provide a control circuit for operation control of the voltage generators.例文帳に追加

ウェハバーンインテストに使用するに適合した電圧発生器の制御方法及びその電圧発生器の動作制御のための制御回路を提供すること。 - 特許庁

To burn and remove deposits accumulating on an injector for cylinder injection, in an internal combustion engine having the injector for cylinder injection and an injector for intake passage injection.例文帳に追加

筒内噴射用インジェクタおよび吸気通路噴射用インジェクタを備えた内燃機関において、筒内噴射用インジェクタに堆積したデポジットを焼失させる。 - 特許庁

To obtain a bleaching agent for teeth having higher safety to the human body and a.shorter bleaching time without causing a chemical burn and to provide a method for producing the bleaching agent and a method and an apparatus for bleaching teeth.例文帳に追加

ケミカルバーンを生じることなく、より人体への安全性が高く、かつ、漂白時間のより短い歯の漂白剤、この漂白剤の製造方法、歯の漂白方法及び漂白装置を提供する。 - 特許庁

A controller alternately switches a first burning state that the burning surface 17a and the burning surface 18b burn and a second burning state that the burning surface 17b and the burning surface 18a burn by switching the supply destination to which the burning gas for each burning surface is supplied.例文帳に追加

そして、コントローラは、各燃焼面への燃焼ガスの供給先を切換えることにより、左上段燃焼面17aおよび右下段燃焼面18bが燃焼する第1の燃焼状態と、左下段燃焼面17bおよび右上段燃焼面18aが燃焼する第2の燃焼状態とを交互に切り換える。 - 特許庁

To provide a low NOx combustor for a gas turbine, wherein problems of spontaneous firing, back fire, oscillatory burning and the like of air-fuel mixture in a premixing lean burn system are basically solved pressure loss is small, controlling an air flow rate and a fuel flow rate is easy, construction is simple, and low NOx equaling the premixing lean burn system is achieved.例文帳に追加

予混合希薄燃焼方式の混合気の自発点火、逆火、振動燃焼等の問題点を本質的に解決でき、かつ、圧損が小さく、空気流量と燃料流量の制御が容易であり、構造が簡潔であり、予混合希薄燃焼方式に匹敵する低NOx化ができるガスタービン用低NOx燃焼器を提供する。 - 特許庁

The wafer level burn-in device and the wafer level burn-in method have an electric load application apparatus 105 for distributing each chip on the semiconductor wafer 101 into at least two groups, and giving an electric load to the chip of each group asynchronously, thus screening the semiconductor chip.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明のウエーハレベルバーンイン装置およびウエーハレベルバーンイン方法は、半導体ウエーハ101上の各チップを少なくとも2組のグループに分配し、各グループのチップへの電気的負荷を非同期で与える電気的負荷印加装置105を有し、半導体チップのスクリーニングを行う。 - 特許庁

This detoxifying device for detoxifying an exhaust gas discharged from a semiconductor manufacturing device, comprises a first treatment portion 10 to which an exhaust gas is introduced to burn or thermally decompose the exhaust gas, and a second treatment portion 30 to burn or thermally decompose the exhaust gas treated in the first treatment portion 10, at a temperature higher than that in the first treatment portion.例文帳に追加

本発明に係る除害装置は、半導体製造装置から排出される排気ガスを除害する除害装置であって、排気ガスが導入され、該排気ガスを燃焼処理又は加熱分解処理する第1の処理部10と、第1の処理部10で処理された排気ガスを、第1の処理部より高い温度で燃焼処理又は加熱分解処理する第2の処理部30とを具備する。 - 特許庁

By operating the switch circuit SW1 through a decoder circuit TD by a mode change signal MODE1-n inputted from the outside, the burn-in test reference voltage VrefB can be applied to the memory element through a sense circuit SC in a burn-in test, instead of the reference voltage VrefN for the the normal read out.例文帳に追加

外部からモード移行用信号MODE1〜nを与えてデコード回路TDを介しつつ切り換え回路SW1を操作することにより、バーンインテスト時には、通常読み出し動作時の参照電圧VrefNに代えてバーンインテスト用参照電圧VrefBを、センス回路SCを介してメモリ素子に印加することができる。 - 特許庁

In this method and device for purifying exhaust gas from an internal combustion engine, a cylinder which is actuated in a stoichiometric air-fuel ratio or fuel rich condition, and a cylinder in which the stoichiometric air-fuel ratio or fuel rich condition and lean burn are alternately conducted are provided, thereby NOx in lean burn exhaust gas is eliminated by ammonia denitration and NOx arresting.例文帳に追加

内燃機関からの排ガス浄化方法において、理論空燃比または燃料リッチ状態で動作する気筒と、理論空燃比または燃料リッチ状態と希薄燃焼を交互に行わせる他の気筒を備え、希薄燃焼排ガス中のNOxをアンモニア脱硝とNOx捕捉により除去することを特徴とする排ガス浄化方法及び装置。 - 特許庁

To provide a lightweight heating element for an electromagnetic cooking vessel, and a lightweight electromagnetic cooking vessel using the heating element and extremely low in the danger such as a burn, even if a hand is directly in contact with the external wall part of the electromagnetic cooking vessel body, such a high temperature as a burn is caused is not caused independent of the material and structure of the electromagnetic cooking vessel.例文帳に追加

電磁調理容器の材質や構造に関わりなく、電磁調理容器本体の外壁部を直接手で触れても火傷をするような高温となることがなく、軽量な電磁調理容器用発熱体、および同発熱体を使用した軽量で、火傷などの危険性の極めて低い電磁調理容器の提供。 - 特許庁

例文

To prevent generation of spatters due to an unstable phenomenon of an arc, generation of bead irregularity due to excessive concentration of an arc, and generation of bead discoloration and wrinkles due to oxidation of the surface of a bead, and further prevent burn through or burn separation due to generation of a gap or target missing, in a gas-shielded arc brazing method for a steel plate.例文帳に追加

鋼板のアークブレージング方法において、アークの不安定現象に起因するスパッタの発生やアークの過度な集中によるビード不整の発生、ビード表面の酸化によるビードの変色並びにシワの発生を防止すると共に、ギャップや狙いズレ発生による溶け落ちや溶け分れを防止することを目的とする。 - 特許庁

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この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の集積したものであり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。
  
原題:”PETER AND WENDY”

邦題:『ピーターパンとウェンディ』
This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.

(C) 2000 katokt
本翻訳は、この版権表示を残す限りにおいて、訳者および著者にたいして許可をとったり使用料を支払ったりすることいっさいなしに、商業利用を含むあらゆる形で自由に利用・複製が認められる。
  
原題:”THE CHEMICAL HISTORY OF A CANDLE”
邦題:『ロウソクの科学』
This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.
(C) 1999 山形浩生
本翻訳は、この版権表示を残す限りにおいて、訳者および著者にたいして許可をと
ったり使用料を支払ったりすることいっさいなしに、商業利用を含むあらゆる形で
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プロジェクト杉田玄白 正式参加作品。詳細はhttp://www.genpaku.org/を参照のこ
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