「sample analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample analysis device and a calibration method allowing the accurate calibration of a radiation limiting diaphragm.例文帳に追加

放射線制限絞りのキャリブレーションを正確に行うことができる試料分析装置およびキャリブレーション方法を提供すること。 - 特許庁

Before analysis, an operator inputs characters and symbols for specifying a sample or its engraving position from an input part 21.例文帳に追加

分析前にオペレータは入力部２１より試料を特定するための文字記号やその彫刻位置などを入力しておく。 - 特許庁

The example retrieval part 4 retrieves an example from an example corpus 6 and a sample interactive model 7 by using the result of input analysis.例文帳に追加

例文検索部４は入力解析結果を用いて、例文コーパス６や見本対話モデル７から例文検索を行う。 - 特許庁

The concentration of nitrite nitrogen in sample water is measured by a combination of a flow injection analysis method and an electrochemical detection method.例文帳に追加

フローインジェクション分析法と電気化学検出法とを組合せ、試料水中の亜硝酸性窒素濃度を測定する。 - 特許庁

When the flag is set, a start permission signal outputting means outputs a signal indicating the analysis start permission of the sample.例文帳に追加

フラグの設定を条件に、開始許可信号出力手段は試料の分析開始許可を示す信号を出力する。 - 特許庁

DIFFERENT-SHAPE SAMPLE HOLDER FOR UNDERFACE IRRADIATION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND UNDERFACE IRRADIATION TYPE FLUORESCENCE X-RAY SPECTROMETER EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

下面照射蛍光Ｘ線分析用の異形試料保持具およびそれを備えた下面照射型蛍光Ｘ線分析装置 - 特許庁

The invention relates to peptide nucleic acid (PNA) probes for the analysis of certain Staphylococcus species (optionally present in a sample).例文帳に追加

本発明は、（必要に応じてサンプル中に存在する）特定のＳｔａｐｈｙｌｏｃｏｃｃｕｓ種の分析のためのペプチド核酸（ＰＮＡ）プローブに関する。 - 特許庁

To minimize the time to the calculation of analysis data to be obtained from scan image data from the scanning of a sample.例文帳に追加

標本に対する走査から走査画像データから得られる解析データの算出までの時間を最小限に短くする。 - 特許庁

To provide a temperature-programmed desorption gas analyzing apparatus capable of highly accurately analyzing only analysis object gas which is desorbed from a sample.例文帳に追加

試料から脱離した分析対象のガスのみを高精度に分析できる昇温脱離ガス分析装置を提供する。 - 特許庁

This multiple capillary device is suitable for being mounted on a pipette, a micropipette, a syringe or other analysis or sample preparation equipment.例文帳に追加

このマルチキャピラリー装置は、ピペット、マイクロピペット、シリンジ、または他の分析もしくは試料調製機器への取り付けに適している。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample for analyzing ruthenium powder of high purity by a glow discharge mass spectrometric analysis method (GDMS).例文帳に追加

高純度のルテニウム粉末をグロー放電質量分析法（GDMS）で分析する試料を作製する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for thermomechanical analysis that can easily exchange a sample support tube without disassembling the vessel of the apparatus.例文帳に追加

装置の容器カバーを分解することなく、試料支持管を容易に交換することのできる熱機械分析装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING ANALYSIS SAMPLE OF CHLORINE CONTAINED IN OXIDE SINTERED BODY, AND METHOD FOR ANALYZING CHLORINE IN OXIDE SINTERED BODY例文帳に追加

酸化物焼結体に含まれる塩素の分析用試料の作製方法、並びに酸化物焼結体の塩素の分析方法 - 特許庁

This ionization analyzer for ionizing and analyzing a sample selectively is equipped with an ionization part 20 and analysis detection parts 30, 40.例文帳に追加

試料を選択的にイオン化して分析するイオン化分析装置は、イオン化部２０と分析検出部３０，４０とを具備する。 - 特許庁

To provide a reaction device for nucleic acid analysis which has less channel content, higher sample fixing ratio and causes no liquid spill.例文帳に追加

流路内容量が少なく、サンプル固定率が高く、且つ液漏れが生じない核酸分析用反応デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a device for laser plasma X-ray spectroscopic analysis capable of identifying and measuring a quantity of a minute element in a sample.例文帳に追加

試料中の微量な元素を迅速に同定・定量することのできるレーザプラズマＸ線分光分析装置を提供する。 - 特許庁

In this sample introduction device 3, switching from introduction of the sample solution S to introduction of cleaning liquid W is performed at the point of time retroactive as long as a time required for the sample solution S to reach a mass analyzer 2 from a sample container 4 on the basis of the analysis finish point of time operated based on an analysis condition in the ICP mass analyzer 2.例文帳に追加

試料導入装置３によれば、試料溶液Ｓの導入から洗浄液Ｗの導入への切り替えは、ＩＣＰ質量分析装置２における分析条件に基づいて演算された分析終了時点を基準として、試料溶液Ｓが試料容器４から質量分析装置２に達するのに要する時間を遡った時点において行われる。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁

The dispensing device, the dispensing method, and the automatic analysis apparatus have a step of sucking the liquid sample by a dispensing nozzle, moving between a suction position for sucking the liquid sample, containing a sample or a reagent and a discharge position for discharging the liquid sample sucked, and dispensing by discharging the liquid sample sucked into a container, located at the discharge position.例文帳に追加

検体または試薬を含む液体試料を吸引する吸引位置と、吸引した液体試料を吐出する吐出位置との間を移動する分注ノズルによって液体試料を吸引し、吸引した液体試料を吐出位置に配置された容器に吐出して分注を行う分注装置、分注方法及び自動分析装置。 - 特許庁

The delay profile analysis circuit is provided at least with e.g. a sample point extract circuit 15 that samples is a pilot carrier having a pilot signal and decreases number of sample points at a decreased sample point interval and with a fast Fourier transform(FFT) circuit 17 that applies inverse Fourier transform to the pilot carrier with a small number of sample points from the sample point extract circuit 15.例文帳に追加

遅延プロファイル解析回路が、パイロット信号を有するパイロット搬送波をサンプルし且つサンプルポイント位置をつめてサンプルポイント数を少なくする例えばサンプルポイント抽出回路１５と、サンプルポイント抽出回路からのサンプルポイント数の少ないパイロット搬送波を逆フーリエ変換するＦＦＴ回路１７とを少なくとも備えたことを特徴とする。 - 特許庁

In this separation and analysis method, both the separating operation of adding the solvent of the mixture to the mixture on a sample base, to perform the separating operation of the mixture and the instrumental analysis of instrumentally analyzing an arbitrary separated part, after the separating operation have been carried out on the same sample base.例文帳に追加

試料台上の混合物に該混合物の溶媒を加え該混合物の分離操作をし、次いでその分離操作後の任意の分離部分を機器分析する分離操作と機器分析を同一の試料台上で行うことを特徴とした分離分析法。 - 特許庁

To provide a dynamic behavior analysis system capable of simply analyzing dynamic behavior of a microscopic region of a sample to be analyzed such as a material or a structure even if the dynamic behavior is accompanied with a macroscopic motion of the sample to be analyzed, and to provide a dynamic behavior analysis method.例文帳に追加

被解析試料の巨視的な動きを伴った場合であっても材料や構造物などの被解析試料の微視的な領域の力学挙動を簡便に解析可能な新規な力学挙動解析システム、及び力学挙動解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement sample preparation method for a MALDI mass analysis method for preparing a measurement sample for the MALDI mass analysis method having a high ion generation amount to efficiently obtain a high quality MS spectrum in short time, and the MALDI mass analysis method with high throughput is attained, for allowing high sensitivity MS^n (2≤n) analysis required for structure identification and allowing application to automatic analysis.例文帳に追加

高いイオン生成量を有するＭＡＬＤＩ質量分析法用の測定試料を調製し、短時間で効率良く質の高いＭＳスペクトルが得られるようにし、また、構造同定に必要な高感度ＭＳ^ｎ（２≦ｎ）解析を可能とし、自動分析への応用を可能にする高スループットのＭＡＬＤＩ質量分析法の実現が可能になるＭＡＬＤＩ質量分析法用測定試料調製方法を提供すること。 - 特許庁

To improve waveform resolution in a device for performing spectroscopic analysis of an X-ray generated from a fine domain on a sample such as EPMA, and to enable selection between the waveform resolution and analysis sensitivity corresponding to an analysis purpose or the like.例文帳に追加

ＥＰＭＡ等、試料上の微小領域から発生するＸ線を分光分析する装置における波長分解能を向上させるとともに、分析目的等に応じて波長分解能と分析感度とを選択することを可能とする。 - 特許庁

Hereby, the thermal analysis is performed, while maintaining thermal analysis accuracy similar to hitherto, and since the gas generated from a sample gas can be collected in high concentration, the flow measurement or the composition analysis of the generated gas can be performed highly accurately.例文帳に追加

これにより、従来と同等の熱分析精度を維持しながら熱分析を行うと同時に、試料ガスから発生するガスを高濃度で採取できるために発生ガスの流量測定や組成分析を高精度で行うことが可能である。 - 特許庁

To provide a sample holder, capable of carrying out high-sensitivITY X-ray detection and of attaching to and detaching from a sample and an X-ray detector in an electron beam device conducting an X-ray analysis, by having electron beams irradiated on a sample.例文帳に追加

試料に電子線を照射してＸ線分析を行なう電子線装置において、高感度のＸ線検出を行なうと共に、試料とＸ線検出器の装置への脱着を簡易に行なうことのできる試料ホルダを提供する。 - 特許庁

After an analytical sample is fixed to a support substrate, a uniform thin film having a thickness equal to an intended analysis depth is formed on the analytical sample and the support substrate surface, and the analytical sample is thinned up to a thickness where the thin film on the support substrate is ground.例文帳に追加

分析試料を支持基板に固定した後、分析試料と支持基板表面に目的の分析深さと同等の厚さの均一な薄膜を形成し、支持基板上の薄膜が研磨される厚さまで分析試料を薄片化する。 - 特許庁

To provide an analysis device for accurately measuring a constituent in a sample by accurately detecting the concentration of a reactive substance that is generated by reaction with the sample regarding the device for measuring the concentration or quantity of a specific constituent in the material sample.例文帳に追加

素材試料中の特定成分の濃度または量を測定する装置に関して、試料との反応によって発生する反応物質の濃度を正確に検出し、試料中の正確な成分測定を行う分析装置を供給する。 - 特許庁

To provide a sample analyzer capable of selecting a proper detection condition by detecting a predetermined component on the basis of a plurality of detection conditions at the time of measurement of one sample to perform precise analysis, and a sample analyzing method.例文帳に追加

一の試料に対する測定時に、複数の検出条件により所定の成分を検出することにより、適切な検出条件を選択して精度良く分析することができる試料分析装置及び試料分析方法を提供する。 - 特許庁

X rays are applied from the EDS analysis device 7 to a sample in the sample container 6, and characteristic X rays peculiar to an element being radiated from the element in the sample are detected by a detection element for analyzing an electrolyte.例文帳に追加

サンプル容器６１内の試料に対して、ＥＤＳ分析装置７からＸ線が照射され、試料中の元素から放射される元素固有の特性Ｘ線が検出素子によって検出されて、電解質の分析が行われる。 - 特許庁

To provide a sample introducing holder having a sample table and a lid for covering the same which is capable of, when carrying out analysis, removing the lid to release the sample without necessity of operation from the outside of the analyzer.例文帳に追加

試料台とその上に被せられる蓋体を有する試料導入用ホルダーであって、分析の際に、分析装置の外部からの操作を要せずに、蓋を取外して試料を開放することができる試料導入用ホルダーを提供する。 - 特許庁

When an analysis is performed by a flame method, a sampling nozzle 1 having a long length is moved onto a sample container 12 having a large volume as a target, an arm 8 is lowered, and the tip of the sampling nozzle 1 is put into a sample solution in the sample container 12.例文帳に追加

フレーム法により分析を行う場合は、長さの長いサンプリングノズル１を目的とする容量の大きな試料容器１２上に移動させ、アーム８を降下して、サンプリングノズル１の先端を試料容器１２中の試料溶液の中に入れる。 - 特許庁

To perform spectral analysis of an sample without being affected by a culture medium, without sucking out the culture medium from a culture vessel.例文帳に追加

培養容器内から培養液を吸い出す作業を行うことなく、培養液の影響を受けずに試料の分光分析を行う。 - 特許庁

To provide a particle analyzer, a particle analysis method, and a computer program capable of classifying and more accurately counting particles in a sample.例文帳に追加

試料中の粒子をより精度良く分類・計数できる粒子分析装置、粒子分析方法およびコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a plate for biological sample measurement capable of highly accurate analysis by suppressing irregular reflection which is a noise when detecting.例文帳に追加

検出時のノイズとなる乱反射を抑え、精度の良い分析を行なうことが出来る生体サンプル測定用プレートを提供する。 - 特許庁

Then, the sample storage member 46 and the second closing member 50, which are now integrated, are pulled up out of the container and provided to measurement and analysis.例文帳に追加

そして、一体化した試料収容部材４６および第二の閉塞部材５０を容器から引き上げて、測定、分析に供する。 - 特許庁

To provide a surface analysis device capable of analyzing a state of a surface sample from the surface to a depth of submicrons, while cutting.例文帳に追加

切削しながら表面からサブミクロンの深さにおける表面サンプルの状態を分析できる表面分析装置を提供する。 - 特許庁

It is therefore possible to prevent the distance between the sample and a fluorescent X-ray detector from varying and perform highly accurate fluorescent X-ray analysis.例文帳に追加

従って、試料と蛍光Ｘ線の検出器との距離が変動することが無く、高精度な蛍光Ｘ線分析が可能となる。 - 特許庁

To securely sample a blood cell constituent and to achieve automation in the measurement of Hb (hemoglobin) A1c using an automatic chemical analysis device.例文帳に追加

自動化学分析装置を用いたＨｂＡ_1C測定などにおいて、血球成分の採取を確実にし、かつ自動化を実現する。 - 特許庁

Accordingly, analysis can be carried out, simply and quickly without the labor of preparing the magnetic substance particles as another sample.例文帳に追加

このようにすることで、磁性体粒子を別試料として用意するなどの手間もなく、簡便かつ迅速に分析を行うことができる。 - 特許庁

To provide a sample analyzer capable of realizing superior precision control by enhancing the traceability of analysis results.例文帳に追加

分析結果のトレーサビリティーを向上させて、装置の優れた精度管理を実現させることができる試料分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample analyzer capable of indicating finish of analysis, an abnormality of the device or the like to a place apart from the analyzer.例文帳に追加

装置の前から離れていても、分析の終了や装置の異常等を知ることができる試料分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for a prenatal diagnosis of a chromosomal abnormality in a predetermined DNA region, based on analysis of a maternal blood sample.例文帳に追加

母系血液試料の分析に基づく、所定のDNA領域における染色体異常の出生前診断のための方法の提供。 - 特許庁

Metamodels are then used for setting the sample responses to facilitate a global sensitivity analysis of all design variables versus the response functions.例文帳に追加

そして、メタモデルが、サンプルの応答を設定し、すべての設計変数対応答関数のグローバル感度解析を容易にするよう、用いられる。 - 特許庁

To simultaneously provide an unevenness image of a sample surface in the same visual field for an EPMA analysis image or an SEM observation image in an electron beam analyzer.例文帳に追加

電子線分析装置において、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時に得る。 - 特許庁