「sample analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

The chromatograph analysis method includes the step of selecting a to-be-used column among a plurality of the columns to set each separation condition; the step of respectively injecting the same sample into the to-be-used columns on different separation conditions, and the step of combining obtained analysis results into single analysis data, and recording it.例文帳に追加

複数のカラムのそれぞれを使用カラムとして選択して、分離状態をそれぞれ設定するステップと、同一の試料を異なる分離条件でそれぞれの使用カラムに注入して分析するステップと、得られた分析結果を１つの分析データとして記録するステップとを含む。 - 特許庁

To provide a graphite crucible of using for analysis by alkaline fusion method which is composed with inexpensive material, even if sample contains platinum and alloying component, and to provide an analysis method, capable of performing efficient analysis with high precision by alkaline fusion method by using the graphite crucible concerned.例文帳に追加

安価な材料からなり、試料が白金と合金化する成分を含んでいても、アルカリ溶融法による分析に使用することが可能な黒鉛坩堝、および該黒鉛坩堝を使用してアルカリ溶融法により効率よく精度の高い分析を行うことが可能な分析方法を提供する。 - 特許庁

An analysis bank 5 as the corrected DFT modulation analysis bank generates a subchannel signal by an analysis filter 12 and a decimator 13 for decimation to a ratio M/2 from a quadrature-demodulated equivalent baseband signal and an equivalent baseband signal delayed by one sample through a delay unit 11.例文帳に追加

修正ＤＦＴ変調分析バンクである分析バンク５は、直交復調された等価ベースバンド信号および遅延器１１により１サンプル遅延させた等価ベースバンド信号から、それぞれ分析フィルタ１２および比Ｍ／２にデシメートするデシメータ１３によってサブチャネル信号を生成する。 - 特許庁

When set analysis energy levels E0, E1 are determined, a display control means 11 controls a deflection signal generation means 13 so that an electron beam is scanned on a sample, and controls an analysis energy setting means 12 so that the analysis energy of an electron spectroscope 10 is set to the energy levels E0, E1.例文帳に追加

表示制御手段１１は設定分析エネルギーＥ_0、Ｅ_1を決めると、電子線が試料上で走査されるように偏向信号発生手段１３を制御すると共に、電子分光器１０の分析エネルギーが前記Ｅ_0、Ｅ_1に設定されるように分析エネルギー設定手段１２を制御する。 - 特許庁

Then, the outer surface 15 of the specimen 10 where the Newton rings are observed is fixed on a sample holder 50 of an analysis device, and in this condition the analysis region is set inside the most inner Newton ring on the ground surface 16 of the specimen 10, and then the analysis of the profile of element is carried out.例文帳に追加

そして、ニュートンリングが観測された試料１０の表の面１５を分析装置のサンプルホルダ５０に固定し、この状態で当該試料１０の研磨面１６の最内周ニュートンリングの内部に分析領域を設定して、元素プロファイルの分析を行う。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a fluororesin molded object which is almost free from causing a contamination to a sample etc. and best-suited for application to high precision element analysis, a resin container for analysis manufactured by the method and an element analytical method using the resin container for analysis.例文帳に追加

試料等への汚染がほとんど無く、高精密な元素分析に用いるのに好適なフッ素樹脂成形品を製造する方法、その製造方法により製造された分析用樹脂容器、及びそれを用いた元素分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a spectroscopic analysis photometer, capable of enhancing measurement precision, widening the flexibility for a light source, compactifying the size and quickening a speed, in the spectroscopic analysis photometer for conducting wavelength calibration and analysis of a secondary light generated by irradiating a sample with an energy line for excitation, using a reference light.例文帳に追加

試料に励起用エネルギ線を照射して生じる二次光を、参照光を用いて波長校正し分析する分光分析光度計において、測定精度を向上させ、光源の選択自由度を広げ、コンパクト化及び高速化を可能とする分光分析光度計を提供する。 - 特許庁

To provide a minute sample processing/observing device and a minute sample processing/observing method, which execute cress section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a system for analyzing a transport sample capable of analyzing a sample in a sample container being sealed, for a time shorter than that in the conventional analysis, and capable of reducing contamination possibility of a worker and an amount of waste; and a method therefor.例文帳に追加

試料容器を開封せずにそのまま試料分析を行うことができ、従来に比べて短時間で試料分析を行うことができるとともに、作業員の汚染可能性の低減と廃棄物量の低減とを図ることのできる輸送試料分析システム及び分析方法を提供する。 - 特許庁

The analyzer 1 is equipped with a refractive index measuring part 18 for measuring the wavelength dependence of the refractive index of the sample and an analysis operation part for calculating the absorption coefficient of the sample, on the basis of the wavelength dependence of the refractive index and analyzing the sample, on the basis of the absorption coefficient.例文帳に追加

分析装置１は、試料の屈折率の波長依存性を測定する屈折率測定部１８と、屈折率の波長依存性をもとに試料の吸収係数を算出し、この吸収係数に基づいて試料を分析する分析演算部と、を備える。 - 特許庁

The first image with an observed magnification in a sample is recorded, the second image with an unknown magnification in the sample is recorded, and the magnification of the second image to the first image is analyzed using image analysis to observe the magnification of the second image in the sample.例文帳に追加

試料に対する倍率を実測した第１の画像を記録し、試料に対する倍率が未知の第２画像を記録し、画像解析を用いて第１の画像に対する第２の画像の倍率を解析することによって、試料に対する第２の画像の倍率を実測する。 - 特許庁

To enable high accuracy analysis in a simple device structure, in a sensor having, in a sample cell, a light reflection type sensor device for detecting a sample in contact with a measuring light incident surface by making the sample emit the incoming measuring light as outgoing light having different physical characteristics.例文帳に追加

測定光入射面上に接触させた試料によって、入射した測定光を異なる物理特性を呈する出射光として出射させて検出する光反射型センサデバイスを試料セル内に有するセンサにおいて、簡単な装置構成で、高精度分析を可能にする。 - 特許庁

To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

This standard sample of the inclusion or the like in the metal sample for spark discharge emission analysis is prepared by distributing a sample of a prescribed non-metal inclusion and/or a deposit (hereafter referred to as 'inclusion or the like' simply in a lump) on the surface of a metal base material, and covering thereon with metal foils.例文帳に追加

金属基材の表面に所定の非金属介在物及び／又は析出物（以下、まとめて単に「介在物等」という。）のサンプルを分布させ、その上に金属箔を覆ってなるスパーク放電発光分析用金属試料中介在物等標準試料。 - 特許庁

The optical axis of the poly-capillary X-ray half lens 13 is orthogonal to the sample placing surface 141, and the fine part of the sample S is surely irradiated with the X-ray regardless of the height of the sample S, and the fluorescent X-ray from the fine part is detected, to thereby perform stable fluorescent X-ray analysis.例文帳に追加

ポリキャピラリＸ線ハーフレンズ１３の光軸は試料載置面１４１に直交しており、試料Ｓの高さに拘わらずに、確実に試料Ｓの微小部分にはＸ線が照射され、微小部分からの蛍光Ｘ線は検出され、安定した蛍光Ｘ線分析が行われる。 - 特許庁

To accurately perform luminous stimulus and photobleach in the corresponding area of a sample by specifying an optional three-dimensional area in a stereoscopic sample image, and to accurately perform the analysis of the behavior of the sample having a stereostructure after the luminous stimulus is performed.例文帳に追加

標本の三次元像中の任意の三次元領域を指定することにより、光刺激やフォトブリーチを、標本中の対応する領域に正確に行うことができ、立体構造を有する標本の光刺激後の挙動解析を正確に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide an NMR sample tube capable of measuring NMR by replacing a sample with the other without replacing a standard substance, and performing quantitative determination even if a volatile standard substance is used, and to provide an analysis method using the NMR sample tube.例文帳に追加

本発明は、標準物質を入れ替えずに試料を入れ替えてＮＭＲを測定すると共に、揮発性の標準物質を用いても定量することが可能なＮＭＲ試料管及び該ＮＭＲ試料管を用いる分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the silicone analyzing method for pyrolyzing a sample to separate the obtained pyrolyzed product by gas chromatography and subsequently analyzing the amount of silicone in the sample by mass analysis, the sample is pyrolyzed in the presence of hyaluronic acid.例文帳に追加

試料を熱分解し、得られる熱分解生成物をガスクロマト法により分離し、次いで質量分析法により該試料中のシリコーン量を分析する方法であって、前記熱分解をヒアルロン酸の存在下に行うことを特徴とするシリコーンの分析方法を構成とする。 - 特許庁

According to the present sample analysis method, because a membrane 20 consisting of materials with optical absorptivity of laser beam L higher than the sample 10 is formed on one surface of the sample 10, absorptivity of laser beam L can be enhanced by irradiating laser beam L to the membrane 20.例文帳に追加

この試料分析方法によれば、レーザ光Ｌについての光吸収率が試料１０より高い材料からなる膜２０を試料１０の一表面に形成するため、その膜２０にレーザ光Ｌを照射することで、レーザ光Ｌの吸収率を高くすることができる。 - 特許庁

To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To uniformly and electrically neutralize the surface of a sample which is charged nonuniformly and positively by the effects of photoelectrons, when the sample made of an insulator or a sample, in which insulators and conductors are arranged in a matrix is irradiated with X-rays in X-ray photoelectron spectroscopic analysis.例文帳に追加

Ｘ線光電子分光分析において、絶縁体からなる試料、または絶縁体と導電体がマトリックスに配列した試料にＸ線を照射した際に光電子効果により表面が不均一にプラス帯電した試料の該表面を均一に電気的に中和する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a sample for a fluorescent X-ray analysis capable of forming a uniform molded body of the sample of coarse and hard powder that is conventionally difficult to be produced as a measured sample, and to provide a pressurizing and molding fixture used for the production.例文帳に追加

従来では測定試料として作製することが困難であった粗くて硬い粉体を試料についても、均一な成形体とすることができる蛍光Ｘ線分析用試料の作製方法及びその作製に用いる加圧成形治具を提供することである。 - 特許庁

To provide a sample treatment device for ion chromatograph that collects, in an absorbing liquid, sulfur and/or halogen which are components to be analyzed in a sample gas obtained by heat-decomposing a sample, that can be simplified in its device configuration, and that allows more highly accurate analysis by ion chromatograph.例文帳に追加

試料を加熱分解して得られた試料ガス中の分析対象成分である硫黄および／またはハロゲンを吸収液に回収するイオンクロマトグラフ用試料処理装置であって、装置構成を簡素化でき、イオンクロマトグラフによる一層高精度な分析が可能な試料処理装置を提供する。 - 特許庁

In this analysis method, a complex-forming reagent is added to a liquid sample to produce a colored complex of hexavalent chromium, and then the liquid sample is brought into contact with an adsorbent, and a layer thickness of a colored adsorbent layer is measured, to thereby determine hexavalent chromium in the liquid sample.例文帳に追加

液体試料に錯体形成用試薬を加えて６価クロムの有色錯体を生成させた後、その液体試料を吸着体に接触させ、着色した吸着体層の層厚を測定することにより液体試料中の６価クロムを定量する分析方法である。 - 特許庁

This analyzer is is provided with a light-emitting part for emitting a light beam toward a sample to be analyzed, a photoreceiving part for receiving the light beam from the light-emitting part via the sample, and a processing means for analysis-processing the sample based on a detection signal in response to a photoreception quantity of the photoreception part.例文帳に追加

分析対象である試料に光線を照射する発光部と、前記試料を介した発光部からの光線を受光する受光部と、この受光部の受光量に応じた検出信号により試料を分析処理する処理手段と、を備えた分析装置に関する。 - 特許庁

To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

Inside an analysis chamber 3, an electron beam irradiation part 4 is provided to generate electron beams B made to irradiate a sample S, an X-ray spectral detector 5 which spectrally detects X rays R generated from the sample, an electron detector 6 which detects electrons E generated from the sample and the like.例文帳に追加

分析室３の内部には試料Ｓに照射するための電子ビームＢを発生する電子線照射部４や試料から発生するＸ線Ｒを分光して検出するＸ線分光検出部５、試料から発生する電子Ｅを検出する電子検出部６などを備えている。 - 特許庁

In this analysis method of iron by chemiluminescence of a sample including iron, an iron-including sample is mixed with hydrogen peroxide to generate chemiluminescence, and iron included in the sample is detected and determined based on a change with time of the intensity of the generated chemiluminescence.例文帳に追加

鉄を含有する試料の化学発光による鉄の分析方法であって、該鉄含有試料と過酸化水素とを混合して化学発光させ、発生する化学発光強度の経時変化に基づき試料中に含有される鉄を検知・定量することを特徴とする鉄の分析方法。 - 特許庁

The second passage switching valve 20 can switch a passage between a position for connecting the second sample loop 22 between the sample carrying passage 4b and a discharge passage 38 and a position for connecting the second sample loop 22 between an analyzing mobile phase supply passage 6a and an analysis passage 6b.例文帳に追加

第２流路切換バルブ２０は、第２サンプルループ２２を試料搬送流路４ｂと排出流路３８との間に接続するポジションと、第２サンプルループ２２を分析用移動相供給流路６ａと分析流路６ｂとの間に接続するポジションの間で切り換えることができる。 - 特許庁

A biopolymer analysis method includes: (1) a step for allowing a biopolymer recognition board, which has a target biopolymer recognition site and includes an artificial polymer without containing nitrogen, to have contact with a sample; and (2) a step for providing the sample and the board after contact to mass analysis and performing mass analysis in the biopolymer which is selectively bonded to the artificial polymer.例文帳に追加

（１）標的生体高分子認識部位を有し、かつ窒素を含有しない人工高分子を備える生体高分子認識基板を試料と接触させる工程と、（２）試料と接触後の基板を質量分析に供し、前記人工高分子に選択的に結合した生体高分子の質量分析を行う工程と、を包含する生体高分子分析方法。 - 特許庁

To easily and visually judge the direction and the quantity of deviation by a SEM image obtained at the time point and two SEM images of the first SEM image used in determining a point of analysis when the positional relationship of the electron beam to the point of analysis of a sample is returned to the initial condition by manually moving a sample stage by an operator during the point analysis.例文帳に追加

点分析を行っている場合において、オペレータが手動により試料ステージを移動させて、電子ビームと試料の分析点の位置関係を最初の状態に戻そうとする際、その時点で得たＳＥＭ像と、分析点を定める際に用いた最初のＳＥＭ像の二つのＳＥＭ像とから、目視により、どの方向にどれだけずれているかを容易に判断できるようにする。 - 特許庁

To provide an analysis method capable of analyzing simultaneously element components in a liquid sample aiming at many elements by simple operation in comparison with an ICP (Inductively Coupled Plasma) analysis method which is performed usually as an analysis method for element components in the liquid sample, and capable of analyzing even a chemical state such as a valence or the like of the detected element component.例文帳に追加

本発明は、液体試料の元素成分の分析方法として通常行われるＩＣＰ分析方法に比べ、多くの元素を対象に簡便な操作で液体試料中の元素成分を同時分析することが可能であり、検出された元素成分の価数等の化学状態についても解析することが可能な分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a concentrating method for a sample liquid, permitting accurate quantitative analysis in a short time and is capable of preventing danger exposing a worker to an organic substance or a toxic substance, in place of a conventional concentration method due to spraying of nitrogen, in a field requiring the accurate quantitative analysis of a very small amount of an object to be analyzed, such as analysis of an environmental sample.例文帳に追加

環境試料分析などのように、ごく微量の分析対象物を正確に定量分析する必要がある分野において、従来の窒素吹き付けによる濃縮法に代わる、短時間で正確な定量分析が可能で、且つ作業者の有機溶媒や有毒物質への曝露の危険性をも防ぐことのできる試料液の濃縮法を提供する。 - 特許庁

The above problems are solved by a filter equipped with (1) a filer paper, (2) one or more membrane filters and (3) a sintered filter and a liquid chromatograph comprising a step of eluent feed means for feeding an eluent, sample introduction means for introducing a sample, an analysis column for separating the introduced sample from the filter, and detection means for detecting the components eluted from the analysis column.例文帳に追加

（１）濾紙、（２）１枚以上のメンブレンフィルター、（３）焼結フィルター、を設けたフィルター、および溶離液を送液する溶離液送液手段と、試料を導入する試料導入手段と、前記フィルターと、導入された試料を分離する分析カラムと、分析カラムから溶出した成分を検出する検出手段と、を備えた液体クロマトグラフにより前記課題を解決する。 - 特許庁

A device includes a light source 14 for irradiating a sample 30 with light; a camera 32 for detecting fluorescence from the sample 30; and a means for determining degreasing uniformity and a degreasing condition of the sample 30 by using at least two indexes, namely, a first index acquired by subjecting a fluorescence intensity distribution to space pattern analysis and a second index acquired, by subjecting the fluorescence intensity distribution to statistical analysis.例文帳に追加

試料３０に光を照射する光源１４と、試料３０からの蛍光を検出するカメラ３２と、蛍光の強度分布を空間パターンの解析で得られる第１の指標と、蛍光の強度分布を統計解析して得られる第２の指標の少なくとも２つの指標を用いて、試料３０の脱脂の均一性及び脱脂の度合いを判定する手段を有する。 - 特許庁

The group of the Fourier descriptors of each sample are analyzed by principal component analysis part 208 and determined each principal component points of the each sample and a visceral fat amount of the each sample otherwise determined by X-ray CT or the like are analyzed by a regression analysis part 210, which allows estimated calculation information 229 for estimating the visceral fat amount from a group of principal component points to be determined.例文帳に追加

そして、各サンプルのフーリエ記述子の組を主成分分析部２０８で主成分分析し、求められた各サンプルの各主成分得点と、別途Ｘ線ＣＴ等で求められた各サンプルの内臓脂肪量とを回帰分析部２１０が回帰分析することで、主成分得点群から内臓脂肪量を推定する推定計算式情報２２９を求める。 - 特許庁

In the measuring process, using a glow discharge light emission analysis method, concentration distribution of a component element in the depth direction from the surface of the sample S is measured.例文帳に追加

測定工程では、グロー放電発光分析法を用いて、試料Ｓの表面からの深さ方向における成分元素の濃度分布を測定する。 - 特許庁

To provide an analyzer capable of measuring a trace quantity of inspection material in a sample quickly, simply and accurately, and an analysis device used therefor.例文帳に追加

迅速かつ簡便に試料中の微量の被検査物質を正確に測定することが可能な分析装置およびそれに使用する分析デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for evaluating reliability of a spectrum and correcting it, in X-ray analysis of a microfine region part of a sample.例文帳に追加

試料の極微小領域部分のＸ線分析において、スペクトルの信頼性を評価し、補正することができる方法および装置を提供する - 特許庁

In the immunochromatographic analysis method, a test material in a sample is labeled by a labeling substance, captured by an immobilized capture antibody, and detected.例文帳に追加

試料中の被検物質を標識物質により標識するとともに固定化された捕捉物質により捕捉して検出するイムノクロマト分析法である。 - 特許庁

To provide a capillary electrophoretic device which simultaneously measures fluorescence lights of a large number of capillaries with high sensitivity and of automating continuous analysis of a sample.例文帳に追加

高感度に多数本のキャピラリーの同時蛍光計測が可能で、かつ試料の連続分析の自動化が可能となるキャピラリーアレイ電気泳動を提供する。 - 特許庁

The user carries the analysis kit 1 to a location, where the user wants to analyze a sample for vanadium and obtains a reactor 6 by opening a column 2, by cutting off both end sections of the column 2 at the location.例文帳に追加

バナジウムを分析したい場所まで分析キット１を携帯し、その場所でカラム２の両端部を切断して開口して反応器６とする。 - 特許庁

To accurately and quantitatively determine oxide type inclusions present in trace amounts in a metallic material, in a method for manufacturing a sample solution for analysis.例文帳に追加

分析用試料溶液の作製方法において、金属材料中に極微量に存在する酸化物型介在物を精度良く定量できるようにする。 - 特許庁

This sample holder for fluorescent X-ray analysis has a flat plane, formed of a metal ring and a powder-like filter paper that is filled into the ring and pressed.例文帳に追加

金属リングと該リングの中に充填され、かつプレスされたパウダー状濾紙からなるフラットな面を備えた蛍光Ｘ線分析用試料ホルダー。 - 特許庁