「source test」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

ALIGNMENT APPARATUS FOR ALIGNING MULTIPLE LIGHT SOURCE OUTPUTS OF OPTICAL SERVO SYSTEM, ALIGNMENT TEST TAPE, ALIGNMENT TEST TARGET AND METHOD FOR ALIGNING OPTICAL SERVO SYSTEM例文帳に追加

光サーボシステムの複数の光源出力を整列させるための整列機器、整列検査テープおよび整列検査対象、ならびに光サーボシステムを整列させる方法 - 特許庁

To efficiently conduct a test by an inexpensive facility, and to quickly obtain a test result, when testing a light resistance of an optical component for coping with a specified short wavelength light source.例文帳に追加

特定の短波長光源に対応する光学部品の耐光性試験を行う場合に、廉価な設備で効率的な試験を行い、迅速に試験結果を得る。 - 特許庁

At wafer level burn-in test, the test terminals 6 and 7 are applied with, respectively, stress power-source electric potential SVCC and ground electric potential GND, so that all tips 2 are provided with voltage stress at the same time.例文帳に追加

ウェハレベルバーンインテスト時は、テスト端子６，７にそれぞれストレス電源電位ＳＶＣＣおよび接地電位ＧＮＤを与えて全チップ２に同時に電圧ストレスを与える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can test a memory circuit by only a logic test device by providing a power source voltage control means of a memory circuit in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置にメモリ回路の電源電圧制御手段を持たせることで、ロジック試験装置のみでのメモリ回路のテストを可能とする半導体装置を提供すること。 - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION PROGRAM, MODEL BASE DEVELOPMENT PROGRAM, DEVICE AND PROGRAM FOR DIAGNOSING VALIDITY OF SOURCE CODE GENERATION, AND METHOD FOR DEVELOPING MODEL BASE例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、モデルベース開発プログラム、ソースコード生成妥当性診断装置、ソースコード生成妥当性診断プログラム、およびモデルベース開発方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can accurately set nodes at inner power source potential to external test potential.例文帳に追加

内部電源電位のノードを外部テスト電位に正確に設定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS FOR GENERATING TEST STIMULATION SIGNAL WITH CURRENT SOURCE IRRELEVANT TO INTERNAL IMPEDANCE CHANGE OF DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

被試験装置の内部インピーダンス変化に関係ない電流ソースを有するテスト刺激信号を発生させる装置 - 特許庁

The presence of the test gas is detected by the change in the current to the vacuum pump supplied from an electric power source.例文帳に追加

テスト気体の存在は、電源から供給された真空ポンプへの電流の変化により検出される。 - 特許庁

In an inspection drum 1, a test pressure supplied from an air pressure source is inputted into one end of a double filter cigarette C.例文帳に追加

インスペクションドラム１において、空圧源から供給されるテスト圧をダブルフィルタシガレットＣの一端に入力する。 - 特許庁

A mode is shifted to an internal power source applying mode in accordance with a test mode signal TE being made a H level due to malfunction.例文帳に追加

誤動作によりＨレベルとなったテストモード信号ＴＥに応じて、内部電源印加モードに移行する。 - 特許庁

A light source 1 irradiates a test object 7 having glossiness with circular polarized light through a first polarizing element 4.例文帳に追加

光源１は、第１の偏光要素４を通して光沢を有する検査対象７に円偏光を照射する。 - 特許庁

To more reflect model developer's intention to a test case for a source code generated on the basis of a model.例文帳に追加

モデルに基づいて生成されたソースコードのためのテストケースを、よりモデル開発者の意図を反映したものにする。 - 特許庁

CORRECTION METHOD, LIGHT SOURCE APPARATUS, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, OPTICAL SCANNING APPARATUS, IMAGE FORMING DEVICE, TESTING DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

補正方法、光源装置、プログラム、記録媒体、光走査装置、画像形成装置、試験装置及び試験方法 - 特許庁

Consequently, the yield is improved and the need for an expensive test signal source is eliminated to lower the cost.例文帳に追加

これによって、歩留りを向上し、また高価なテスト信号源が不要になり、低コスト化を図ることができる。 - 特許庁

To provide an automatic inspecting device capable of shortening a time required for the power source test of an on-vehicle electronic controller.例文帳に追加

車載電子制御装置の電源試験の時間短縮を実現できる自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To enable normal tests of LSIs and continuity tests of power source terminals and GND terminals by the same test board.例文帳に追加

ＬＳＩの通常の試験と電源端子及びＧＮＤ端子の導通試験を同一のテストボードで可能にする。 - 特許庁

When the power source is turned on, a toner image for test is formed on a photosensitive drum 34 corresponding to each color.例文帳に追加

電源が投入されたら、各色に対応する感光ドラム３４に対してテスト用のトナー像が形成される。 - 特許庁

To surely and stably set the test mode of a semiconductor integrated circuit device without depending on the source voltage.例文帳に追加

電源電圧に依存せず、確実に安定して半導体集積回路装置におけるテストモードの設定を行う。 - 特許庁

We'll also demonstrate some neat NetBeans features that help you track down errors and move between source code and test cases. 例文帳に追加

また、エラーの追跡や、ソースコードとテストケース間の移動を簡単にする NetBeans の優れた機能もいくつか示します。 - NetBeans

An ultraviolet ray generation source 6 is arranged on a proper position, and a fluorescent screen 7 for emitting visible light by the ultraviolet ray from the ultraviolet ray generation source 6 is arranged on the back of the test object component 2A, and the test object component 2A is irradiated therewith.例文帳に追加

紫外線発生源６を適宜位置に配置し、紫外線発生源６から紫外線により可視光を発光する蛍光板７を検査対象部品２Ａの背後に配置して検査対象部品２Ａを照射する。 - 特許庁

A switching part 157 applies a test signal applied to the signal pin from a DC parametric test executing part 148 to any of the source 152, the resistance 153, the source 154 and the resistances 155 and 156.例文帳に追加

切替部１５７はＤＣパラメトリック試験実行部１４８から信号ピンに印加される試験信号を電圧源１５２及び純抵抗１５３、電圧源１５４及び純抵抗１５５、入力純抵抗１５６のいずれかに印加する。 - 特許庁

In a package test, only a leakage current between a drain and a source of a MOS transistor 28 can be measured without being affected by the resistor 29, by applying a test voltage across the output terminal 26 and the power source terminal 25.例文帳に追加

一方、パッケージテストにおいて、出力端子２６と電源端子２５との間にテスト電圧を印加することにより、抵抗２９の影響を受けることなくＭＯＳトランジスタ２８のドレイン・ソース間のリーク電流のみを測定可能となる。 - 特許庁

A first measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a first test signal from the test signal source 10, and a second measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a second test signal obtained by shifting the first test signal by a known frequency value.例文帳に追加

試験信号供給源１０からの第１試験信号を周波数分析装置２０に供給して第１測定データを測定すると共に、第１試験信号を既知の周波数だけシフトした第２試験信号を周波数分析装置２０に供給して第２測定データを測定する。 - 特許庁

And the test mode circuit 280 detects power source voltage Vcc2 having a higher voltage level than a voltage level at normal operation in accordance with a test mode shift signal MRS2 and generates a test mode signal TM of a H level.例文帳に追加

そして、テストモード回路２８０は、テストモード移行信号ＭＲＳ２に応じて通常動作時の電圧レベルよりも高い電圧レベルを有する電源電圧Ｖｃｃ２を検出してＨレベルのテストモード信号ＴＭを発生する。 - 特許庁

To provide a fire detector which minimizes the sticking of soil factor materials to a test light transmissive window that transmits the test light projected from a test light source and can satisfactorily compensate the detecting sensitivity of a detection sensor.例文帳に追加

試験光源から投光される試験光が透過する試験用透光性窓への汚れ原因物質の付着を極力抑制して、検知センサの検知感度を良好に補償することができる火災検知器を提供する。 - 特許庁

In a test operation, a test signal is inputted from the analog-used terminal 301, and the digital circuit 110 controls the NAND circuit 340 so as to pass the test signal and the switching means 130 so as to select the digital power source 120.例文帳に追加

テスト動作時は、アナログ用端子３０１からテスト信号を入力し、デジタル回路１１０はＮＡＮＤ回路３４０がテスト信号を通過するように、また、スイッチ手段１３０がデジタル電源１２０を選択するように制御する。 - 特許庁

The circuit 490 collects the transfer source node number of fault data and notifies a test execution circuit 480 of fault occurrence and the transfer source node number.例文帳に追加

障害情報収集回路４９０は障害データの転送元ノード番号を収集し、テスト実行回路４８０へ障害発生および転送元ノード番号を通知する。 - 特許庁

A voltage switcher 11 and a transformer 12 switch the control power source of the simulated test device in a desired voltage regardlessly of the difference of the voltage classes of the power source of the delivery valve.例文帳に追加

電圧切替器１１とトランス１２は吐出弁の動力電源の電圧階級の違いにも所期の電圧に切換え、かつ自己装置の制御電源を得る。 - 特許庁

A test light source is made to illuminate with a specified duty ratio and a current video signal is monitored (steps S1 to S3).例文帳に追加

試験光源を所定の点灯デューティ比で点灯させて、そのときのビデオ信号のモニタを行なう（ステップＳ１〜Ｓ３）。 - 特許庁

To provide a fire source probing system that allows an operation test for reliably and rapidly determining whether an infrared camera has failed.例文帳に追加

赤外線カメラの異常の有無を確実にかつ迅速に判定する動作試験を可能とした火源探査システムを得る。 - 特許庁

To test whether or not a common component is appropriately used without using a method such as a source review and a debugger.例文帳に追加

ソースレビューやデバッカ等の方法を用いることなく、適切に共通部品が使用されているか否かをテストすること。 - 特許庁

In the equalizing unit 8b, the power source current signals corresponding to the same test pattern in each time are added up and equalized.例文帳に追加

平均化処理部８ｂでは、各回の同一テストパタンに対応する電源電流信号を加算して平均化する。 - 特許庁

At the time of a self-refresh mode, power source voltage is supplied to only a test refresh system circuit and refresh operation is performed.例文帳に追加

セルフリフレッシュモード時テストリフレッシュ系回路に対してのみ電源電圧を供給してリフレッシュ動作を実行させる。 - 特許庁

The client simulator source code for server program load test is compiled and a resulting client simulator object is executed.例文帳に追加

サーバプログラムの負荷試験用クライアントシミュレータソースコードをコンパイルし、コンパイル結果であるクライアントシミュレータオブジェクトを実行する。 - 特許庁

To easily perform a test for arbitrarily setting the distance from a light source to a sample surface in a weathering light property-testing apparatus.例文帳に追加

耐候光性試験装置において、光源から試料面までの距離を任意とする試験を容易に行うこと。 - 特許庁

To select a mode and to evaluate the limit of the operation of an internal circuit only with a testing source voltage applied in test mode.例文帳に追加

テストモード時に印加するテスト用電源電圧だけでモード選択と内部回路の動作限界評価を可能にする。 - 特許庁

The repetitive screen generation device 100 replaces the extracted display tag information in the display code 107 with the source tag information so as to set the source tag information as a source code 101 and the divided input data as test data 102.例文帳に追加

反復型画面生成装置１００は、表示コード１０７のうち抽出した表示タグ情報を、ソースタグ情報に置き換えてソースコード１０１とし、分離した入力データをテストデータ１０２とする。 - 特許庁

A test mode is set in this D/A converter 100 and a current switch 50 for a test is turned ON and OFF in linkage with the current switch 20-1 of the constant current source 10-1 of a lowest order.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータ１００でテストモードに設定し、テスト用の電流スイッチ５０が最下位の定電流源１０−１の電流スイッチ２０−１と連動してオン、オフする。 - 特許庁

The radioactive source and the image detectors perform a plurality of parallel linear scans over all areas of the test object to acquire the images of the test object under different viewing angles.例文帳に追加

放射線源および影像検出器は、試験物体の全領域に亘り複数の平行な線形走査を実行して、異なる視角のもとでの試験物体の影像を獲得する。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor integrated circuit and a test method which can collectively measure the resistances of transistors of a plurality of output buffers connected to the same power source.例文帳に追加

同一電源に接続された複数の出力バッファのトランジスタの抵抗値を一括して測定することができる半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁

Generation of moisture is prevented by thus blocking heat from a light source of a light beam to be used for the test to the chip under test cooled to a low temperature via a chuck 13.例文帳に追加

このようにテストに用いる光線の光源からの熱をチャック１３で低温に冷却されているテスト対象チップに対して遮断することによって、水気の発生を防止する。 - 特許庁

To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time.例文帳に追加

電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。 - 特許庁

To solve the problem that malfunction occurs since changing of a scan test signal becomes a noise occurrence source during a normal mode in a semiconductor integrated circuit having a scan test signal wiring.例文帳に追加

スキャンテスト信号配線を有する半導体集積回路において、ノーマルモード時にスキャンテスト信号が変化することでノイズの発生源となり、半導体集積回路が誤動作してしまう。 - 特許庁

To provide a burn-in test circuit which can perform an inexpensive burn-in test concerning a wafer and a package level and with high efficiency by driving a word line controlling a level of external power source voltage.例文帳に追加

外部電源電圧のレベルを制御してワードラインを駆動させ、ウエハ及びパッケージレベルにおいて廉価で高効率のバーンインテストを行い得るバーンインテスト回路を提供する。 - 特許庁

A P-test enable terminal 515 is provided, the terminal is brought into a low level to bring a VCL-MIN test mode, and the internal power source voltage VCL of a desired level is supplied to internal logic circuits 501-504 from an LSI tester via a VCL power source terminal 512, in the test mode.例文帳に追加

Ｐ検イネーブル端子（５１５）を設け、この端子をローレベルにすることでＶＣＬ−ＭＩＮ試験モードにすることができ、この試験モードにおいて、ＬＳＩテスタからＶＣＬ電源端子（５１２）を介して所望レベルの内部電源電圧（ＶＣＬ）を内部論理回路（５０１〜５０４）に供給することができる。 - 特許庁