「source test」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

The bidirectional photothyristor test device 21 serially connects a second connection terminal 27, a power source V, a first switch SW1, a resistor R, a second switch SW2 and a first connection terminal 26, and is constituted to interpose a capacitor C between the second connection terminal 27 and a node 25.例文帳に追加

双方向フォトサイリスタテスト装置２１を、第２接続端子２７，電源Ｖ，第１スイッチＳＷ１，抵抗Ｒ，第２スイッチＳＷ２，第１接続端子２６を直列に接続し、第２接続端子２７とノード２５との間にコンデンサＣを介設して構成する。 - 特許庁

Concretely, at the time of a test mode, defective cut off parts left in the fuse elements to be cut off are dissolved by applying higher boosting voltage Vpp than power source voltage Vcc applied normally, and the fuse elements can be cut off completely.例文帳に追加

具体的には、テストモード時には、通常時に印可される電源電圧Ｖｃｃよりも高い昇圧電圧Ｖｐｐを印可することにより、切断されるべきヒューズ素子に残存した切断不良箇所を解消して、当該ヒューズ素子を完全に切断することができる。 - 特許庁

In the observation device, when a timing generating means 2 generates a timing signal every application period of a test signal, a sampling means 3 samples a current observation signal of the power source electric current based on the timing signal and stores it in a data storing means 5.例文帳に追加

本発明にかかる観測装置では、タイミング発生手段２が、テスト信号の印加周期毎にタイミング信号を発生させると、サンプリング手段３が、タイミング信号に基づいて電源電流の電流観測信号をサンプリングしてデータ格納手段５に格納する。 - 特許庁

When the drive circuit 3 starts applying the test driving signal to the organic EL panel 2, it monitors if a clock signal applied to the organic El panel 2, a power source voltage for output, and cathode voltage of the organic EL element are applied by sequence of this order.例文帳に追加

駆動回路３が有機ＥＬパネル２に対して検査駆動信号の印加を開始する際には、有機ＥＬパネル２に対して印加するクロック信号、出力用電源電圧、有機ＥＬ素子のカソード電圧について、この順のシーケンスで印加しているかを監視する。 - 特許庁

The storage device is structured in that pads 80, 90 capable of being electrically contacted from outside are connected to a drain and a gate of a field effect transistor PQ1, respectively, in which a power supply voltage Vcc1 in a sense amplifier circuit SA is supplied to a source in a test mode.例文帳に追加

テストモード時、外部から電気的にコンタクト可能なパッド８０およびパッド９０が、センスアンプ回路ＳＡ内の電源電圧Ｖｃｃ１がソースに供給される電界効果型トランジスタＰＱ１のドレインおよびゲートにそれぞれ接続される構成を有する。 - 特許庁

The method includes a step of generating a polymerization rate curve for the photosensitive element from a step exposure test by measuring a cure response, such as floor thickness or one or more relief image characteristic/s, of the element relative to an energy density of a source of actinic radiation.例文帳に追加

この方法は、化学線源のエネルギー密度に対する素子の床部の厚さまたは１つまたは複数のレリーフ画像特性などの硬化応答性を測定することによってステップ露光テストから感光性素子の重合率曲線を作成するステップを含んでいる。 - 特許庁

The heat medium is heated by the heat source machine 1 in a state of opening the water supply valve 14 and the heat medium valve 13, and a test operation is performed by operating the circulation pump 7 to discriminate the presence or absence of internal leakage on the basis of a detected temperature by the mist temperature sensor 16.例文帳に追加

給水弁１４と熱媒弁１３とを閉弁した状態で熱源機１により熱媒体を加熱すると共に循環ポンプ７を作動させて検査運転を行い、ミスト温度センサ６１の検出温度に基づいて内部漏れの有無を判別する。 - 特許庁

A heat treatment method irradiates emission light from a Xe flash lamp, which serves as a heat source, to a test sample having an interface of a semiconductor substrate 15 including an insulating film containing oxygen, and Si, while at least part of ultra violet rays in the emission light is removed to carry out heat treatment.例文帳に追加

加熱源となるＸｅフラッシュランプの放出光を、前記放出光の内の紫外線の少なくとも一部を除去した状態で酸素を含む絶縁膜とＳｉを含む半導体基体との界面を有する試料に照射して熱処理を行う。 - 特許庁

The monitor 12 monitors measured voltage values and measured temperature values in time series at the time of the battery test mode of the built-in standby power source, letting alone monitoring the state of the high-voltage power receiving apparatus 11, and informs the controller 14 of the measured results through a communication line 13.例文帳に追加

監視装置１２は、高圧受電設備１１の状態を監視するだけでなく、内蔵する予備電源のバッテリテストモード時における時系列の電圧測定値および温度測定値も監視し、通信回線１３を介して制御装置１４に通知する。 - 特許庁

The test device includes a laser source (20) intended to direct an incident laser beam (21) towards the optical storage medium (10), the incident laser beam (21) pass through a focusing objective lens (22) before reaching the optical storage medium (10) and before being reflected thereat as a reflected laser beam (25).例文帳に追加

この試験装置は、入射レーザビーム(21)を光記憶媒体(10)に導くように意図されたレーザ源(20)を備え、入射レーザビーム(21)は、光記憶媒体(10)に到達する前にかつ反射レーザビーム(25)としてそこで反射する前に、焦点調節用対物レンズ(22)を通過する。 - 特許庁

The driving circuit 100 includes: an electric charge discharging circuit 33 which connects a first terminal 4 supplied with the high negative voltage VGL to a second terminal 2 of a ground voltage GND in response to a drop of a power source voltage VDC; and a test external terminal 6.例文帳に追加

表示装置用駆動回路１００は、電源電圧ＶＤＣの低下に応じて、高圧負電圧ＶＧＬが供給される第１端子４を接地電圧ＧＮＤの第２端子２に接続する電荷放電回路３３と、テスト用外部端子６とを具備する。 - 特許庁

Information regarding the debugging which is generated by the compiling and linking processes and information program rearrangement by an object process are connected by using the recognition numbers as media and then debugging information for the source code debugging in the test operation of the object processor is generated.例文帳に追加

コンパイル・リンク処理で生成するデバッグに係る情報と、対象プロセッサでのプログラム再配置情報とを、上記の認識番号を媒介として結び付け、それによって、対象プロセッサでのテスト動作におけるソースコードデバッグのためのデバッグ情報を作成する。 - 特許庁

When power supply is stopped from an outer power source Vo due to power failure caused by an earthquake or the like, a coercive breaking switch 71 is put ON as electricity is stopped from flowing to a electromagnetic coil, just as in the state of pseudo electric leakage similar to a state when a test switch 51 is put ON.例文帳に追加

地震などに伴う停電により外部電源Ｖｏからの電力供給が停止した場合には、電磁コイル６１に通電されなくなって強制遮断スイッチ７１がＯＮになり、テストスイッチ５１をＯＮにしたと同様の疑似漏電状態となる。 - 特許庁

In LT previous-state return mode, a signal LTB goes up to 'H' level and the N channel MOS transistor 47 turns on; and then the same state as a state wherein none of the fuses 48 to 51 is cut is entered and the internal source potential intVCC returns to the level at wafer test time.例文帳に追加

ＬＴ前状態復帰モード時は、信号ＬＴＢが「Ｈ」レベルになってＮチャネルＭＯＳトランジスタ４７が導通し、ヒューズ４８〜５１が全く切断されていない状態と同じ状態になって内部電源電位ｉｎｔＶＣＣがウェハテスト時のレベルに戻る。 - 特許庁

To provide a white film for reflection plate of surface light source which does not cause such a problem as to deteriorate the reflectance of a part treated by organic solvent, after a backlight durability test, that is, hardly deteriorates the reflectance even when used for a long term.例文帳に追加

本発明は、バックライト耐久試験後、有機溶媒で処理した部分の反射率が低下する問題が生じることのない、つまり長期間使用しても反射率の低下が少ない面光源反射板用白色フィルムを提供せんとするものである。 - 特許庁

Since the luminescent device 24 is directly driven by use of the outer power source without using a drive IC22 in this manner, current, ranging from minute one to large one, can be stably supplied to the luminescent device 24, thus making it possible to perform the acceleration test of the luminescent device 24 in a stable manner.例文帳に追加

このように、駆動ＩＣ２２を用いずに、外部電源を用いて発光素子２４を直接駆動するので、発光素子２４に微小電流から大電流までを安定して供給でき、発光素子２４の加速試験を安定して行える。 - 特許庁

To provide a flame-retardant power source cord by coating on a conductor a nonhalogen flame-retardant composition which is free of a halogen element, does not generate a harmful gas such as dioxins on incineration, and has high flame retardance passing both of the 60° inclining combustion test of JIS C3005 and the vertical combustion test UL Standards VW-1 and, simultaneously, has excellent pliability (flexibility).例文帳に追加

ハロゲン元素を含まず焼却時にもダイオキシン等の有害ガスを発生することがないと共に、ＪＩＳ規格Ｃ３００５の６０度傾斜燃焼試験並びにＵＬ規格ＶＷ−１の垂直燃焼試験のいずれにも合格する高度な難燃性を有し、かつ優れた柔軟性（可撓性）を有するノンハロゲン難燃性組成物を導体上に被覆することによって、目的とする難燃性電源コードを提供することにある。 - 特許庁

This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加

干渉計１０は、ソースビーム１４を試験ビーム４０及び基準ビーム４２に分割するビームスプリッタ３２と、干渉パターンを検出する結像デバイス２４と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー３８と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー４４と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構３４と、を含む。 - 特許庁

The CPU 7, when executing the test program 81, compares the data prepared in the write source data area 82 in the main storage device 8 with the data in the readout data area 83 sent back by the FIFO 5 in the PCI data bus returning mechanism 2 connected to a PCI bus 101.例文帳に追加

ＣＰＵ７は試験プログラム８１の実行時に、主記憶装置８内の書込み元データエリア８２に用意されているデータと、ＰＣＩバス１０１ヘ接続されているＰＣＩバスデータ折返し機構２内のＦＩＦＯ５で折返された読出しデータエリア８３内のデータとを比較する。 - 特許庁

A control part 30 allows the light source, the deflector, the photoreceptor drums 4 and the developing devices 7 to detect a plurality of test patterns for detecting the displacement of the plurality of toner images in the sub-scanning direction with respect to the intermediate transfer belt 11 during accelerating the rotation of the polygon mirror.例文帳に追加

制御部３０は、ポリゴンミラーの回転の加速中において、光源、偏向器、感光体ドラム４及び現像装置７に、中間転写ベルト１１に対して副走査方向における複数のトナー画像の位置ずれを検知するための複数のテストパターンを検知させる。 - 特許庁

Besides a bonding pad 11 to bond an electrical source lead, a ground lead, or a signal lead, a non-bonding pad used only to check a structure defect of its chip 10, i.e., a plurality of test pads 12 are connected to a required circuit point in the IC chip.例文帳に追加

電源線、接地線及び信号線のいずれかにボンディングするためのボンディングパッド１１の他に、そのチップ１０の構造不良を検査するためにのみ使用される非ボンディングパッド、すなわちテストパッド１２を、ＩＣチップ中の所要の回路ポイントに接続して複数設ける。 - 特許庁

Switching arms for a small current and a large current are provided in parallel between the positive and negative terminals of a DC power source, and one end of the test specimen is connected via reactor to the series junction between switching elements constituting the arm, and the other end is connected to one end of a voltage accumulating circuit.例文帳に追加

直流電源の正，負端子間に小電流用と，大電流用のスイッチングアームを並列に設け，該アームを構成するスイッチング素子の直列接続点にリアクトルを介して被試験体の一端を接続し，他端を電圧蓄積回路の一端に接続する。 - 特許庁

The method and device for improving angiography images are used with a radiation imaging device (100) which is provided with an X-ray source (103), a device (102) for recording images and a test object (200) positioned in such a way that an interested area (104) of an object of imaging is presented.例文帳に追加

Ｘ線源（１０３）と、画像を記録するためのデバイス（１０２）と、撮像対象の関心領域（１０４）を提示するように位置決めした被検体（２００）とを備える放射線撮像デバイス（１００）と共に使用される、アンギオグラフィ画像を改善させるための方法及び装置である。 - 特許庁

A burn-in device 1 sets an electric power source and a GND at 0 V, a control signal-1 (IN1 terminal) at 5 V, and a control signal-2 (IN2 terminal) at 0 V respectively, in a pretest before a burn-in test, to be output to a burn-in substrate 2, and monitors a monitor output (Monitor terminal).例文帳に追加

バーンイン試験行う前のプリテストにおいて、バーンイン装置１は電源及びＧＮＤを０Ｖ、制御信号１（ＩＮ１端子）を５Ｖ、制御信号２（ＩＮ２端子）を０Ｖに設定してバーンイン基板２に出力し、モニター出力（Ｍｏｎｉｔｏｒ端子）を監視する。 - 特許庁

The circuits in such a configuration are connected in parallel as many as the number of capacitors to be tested, the terminal of each circuit connecting the anode of the diode 4 and a terminal connecting the cathode side of the capacitor 2 while sandwiching each measuring terminal 3b are used as power supply terminals, and a test voltage is impressed by a power source 5.例文帳に追加

この構成の回路を、被試験コンデンサ個数分並列に接続し、各回路におけるダイオード４のアノードを接続した端子と、コンデンサ２の陰極側を各測定端子３ｂを挟んで接続した端子とを電源端子とし、電源５により試験電圧を印加する。 - 特許庁

Measuring terminals 9a and 9b bonded on the fracture toughness test piece 20 putting the notch 21 inbetween are connected to a microvolt meter 15 via a conductor 13 and measuring terminals 11a and 11b are connected to a constant voltage source 19 by way of a conductor 17.例文帳に追加

切欠２１を挟んで破壊靭性試験片２０の側面に貼付された測定端子９ａ、９ｂは導線１３を介して微小電圧測定計１５に接続され、測定端子１１ａ、１１ｂは導線１７を介して定電流電源１９に接続されている。 - 特許庁

To provide a visual examination device of a film, which successively performs reflection and transmission tests by one device, automatically performs an alteration of testing attitude and a change over of a light source, and automatically protrudes a black screen to an underlay part of the reflection test for optimizing the examination environment.例文帳に追加

一台の装置で反射及び透過検査を順次行うことができ、しかも検査姿勢の変更及び光源切換えを自動的に行うと共に、さらに反射検査の下敷き部に黒色スクリーンを自動的に張り出して、検査環境を最適にできるフィルム目視検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an active material for a nonaqueous electrolyte secondary battery which can be used for a backup power source or the like and has a large battery capacity and can control an increase in an internal resistance after a storage test, and to provide a nonaqueous electrolyte secondary battery using the active material.例文帳に追加

バックアップ用電源などとして用いることができる非水電解質二次電池用の活物質であって、電池容量が大きく、かつ保存試験後の内部抵抗の上昇を抑制することができる活物質及びそれを用いた非水電解質二次電池を得る。 - 特許庁

To provide a heat source system which enables checking of a trial effect of a heat pump by temporarily installing the heat pump and enabling a test operation, which enhances customer satisfaction and which can promote the introduction of the heat pump, and to provide a heat supply method.例文帳に追加

ヒートポンプを一時的に設置して試運転可能にすることにより、ヒートポンプの試用効果を確認することができ、顧客満足度を向上させ、ひいてはヒートポンプの導入促進を図ることが可能な熱源システムおよび熱供給方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a semiconductor test method, which allow the control of power source supply to each block and the detection of a failure of a power switch inside LSI while suppressing the reduction in performance of LSI operation as a whole.例文帳に追加

ＬＳＩの全体動作のパフォーマンス低下を抑えながら各ブロックに対する電源供給の制御を行うことができ、且つＬＳＩ内部のパワースイッチの故障を検出することが可能な半導体装置及び半導体テスト方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

Before a load test, a transmission time between a processor element and a processor element is measured with one set at a time as an expected value on the basis of results obtained by combining processor elements PE0 to PE3 without excess and deficiency while the processor element of a transmission source and the processor element of a transmission destination are defined as one set.例文帳に追加

負荷試験の前においては、送信元のプロセッサエレメントおよび送信先のプロセッサエレメントを１組としてプロセッサエレメントＰＥ_0 〜ＰＥ____3 を過不足なく組み合わせた結果に基づいて、プロセッサエレメント−プロセッサエレメント間の伝送時間が期待値データとして１組づつ測定される。 - 特許庁

The controller 14 judges the degree of deterioration of the backup battery 24 on the basis of the measured voltage value and the measured temperature value in time series at the time of the battery test mode of the backup power source 24 which are informed by the monitor 12 and E-mails the judged results to the portable telephone 17.例文帳に追加

制御装置１４は、監視装置１２から通知された予備電源２４のバッテリテストモード時における時系列の電圧測定値および温度測定値に基づき、予備電池２４の劣化の程度を判定し、判定結果を電子メールで携帯電話機１７宛に送信する。 - 特許庁

A CPU 7 executes a test program 81 stored in a main storage device 8 to write data in a write source data area 82 prepared in the main storage device 8 to a first-in first-out(FIFO) 5 in a PCI bus data returning mechanism 2 via a host PCI bridge 6.例文帳に追加

ＣＰＵ７が主記憶装置８内に格納されている試験プログラム８１を実行し、ホストＰＣＩブリッジ６を介してＰＣＩバスデータ折返し機構２内のＦＩＦＯ５に、主記憶装置８内に予め用意されている書込み元データエリア８２内のデータを書込む。 - 特許庁

The test control voltage signal TC flows through resistors R1 and R2 when the NPN transistor Q0 is turned on, the operation of a voltage controlled oscillator V1 and a buffer B10 is stopped because the current from a current source I1 is not supplied, and the output impedance of the buffer B10 becomes high.例文帳に追加

テスト制御電圧信号ＴＣは、抵抗Ｒ１、Ｒ２を流れ、ＮＰＮトランジスタＱ０がオンとなることで、電圧制御発振器Ｖ１およびバッファＢ１０は、電流源Ｉ１からの電流が供給されず動作を停止し、バッファＢ１０の出力インピーダンスは高くなる。 - 特許庁

At the time of reflection loss measurement, by switching the optical switch 5, a test light from a laser light source in the reflection measurement module 4 is transmitted to the optical fiber device 6 through the incident side optical fiber 6a, and the reflected light is transmitted to a light receiver in the reflection measurement module 4.例文帳に追加

反射減衰量測定時には、光学スイッチ５を切り替え、反射測定用モジュール４内のレーザ光源からの検査光を入射側光ファイバ６ａから光ファイバデバイス６に入射させ、その反射光を反射測定用モジュール４内の受光器に入射させる。 - 特許庁

Moreover, the apparatus can determine whether a flaw is a protruded flaw or a recessed flaw from the surface, by detecting and determining if there is a shadow of the flaw on the opposite direction to the incident light from the light source to the test object.例文帳に追加

また、被検査物表面の傷部分の周囲において、被検査物への光源からの光の入射方向と反対方向に傷部分の影が生じているか否かを検知、判定することにより、傷部分が表面から出っ張った傷なのか、引っ込んだ傷なのかを判断することができる。 - 特許庁

The inspection system includes a test signal source, a signal detection part, a signal process part, an analysis unit, and an integration circuit provided with a boundary scanning function and can be used for inspecting whether the pins of an inspecting object, e.g. integrated circuit are surely connected to the printed substrate assembly.例文帳に追加

本発明の検査システムは、テスト信号源、信号検出部、信号処理部、分析ユニット、およびバウンダリスキャン機能を有する集積回路を含み、たとえば集積回路のような被検体のピンが確実にプリント基板アセンブリに接続しているかどうかを検査するのに用いることができる。 - 特許庁

To provide a leak test method used for the respective filters for purifying a dialyzate in a dialysis system in which the dialyzate fed from its source into a dialysis means is purified with purification means each of which has a built-in filter for purifying the dialyzate and simplified in equipment and in operation.例文帳に追加

透析液供給源から透析手段に供給される透析液を、それぞれに透析液浄化フィルタが内臓された浄化手段で浄化してなる透析システムにおけるそれぞれの透析液浄化フィルタの、装備的に簡素化され、かつ、操作が簡素化されたリークテスト方法の提供。 - 特許庁

A charging voltage of a charging device 2 and a developing bias voltage of a developing bias power source 11 are so set that when a latent image potential value of a test latent image and a developing current integral value are detected, the difference (potential difference) between the latent image potential value and developing bias voltage is varied in steps.例文帳に追加

テスト潜像の潜像電位値と現像電流積分値を検出する際に、潜像電位値と現像バイアス電圧の差（電位差）を段階的に変化させるように、帯電装置２の帯電電圧と現像バイアス電源１１の現像バイアス電圧を設定する。 - 特許庁

An evaluation PC (personal computer) 40 obtains packets including content of communication between a printer 20 and user's PC 30 and creates, by using the content of the obtained packet, a first evaluation source code 54 to be executed when performing communication between the evaluation PC 40 and the user's PC 30 as a test target.例文帳に追加

評価ＰＣ４０は、プリンタ２０及びユーザＰＣ３０の通信内容を含むパケットを取得し、取得したパケットの内容を用いて、テスト対象としての評価ＰＣ４０とユーザＰＣ３０との間の通信を実行する際に実行する第１評価ソースコード５４を作成する。 - 特許庁

The test circuit includes: a contact chain 50 which contains a plurality of serially-connected contact resistances R; transistors TR in which a source region 17a is electrically connected to a connection point P of the adjacent contact resistances R; and a fuse 22 whose one end is electrically connected to a drain region 17b.例文帳に追加

直列に接続された複数のコンタクト抵抗Rを含むコンタクトチェーン５０と、隣り合うコンタクト抵抗Rの接続点Pに、ソース領域１７ａが電気的に接続されたトランジスタTRと、ドレイン領域１７ｂに一端が電気的に接続されたヒューズ２２とを有する試験回路による。 - 特許庁

The resin molding is obtained by molding the resin material, has ≤4.0% total light transmittance of D65 light source at 3mm thickness of test piece and ≥80 gloss value measured at 60 degree incident angle (12) and 62 degree light receiving angle (14).例文帳に追加

樹脂成形品は、この樹脂材料を用いて成形したものであって、試験片肉厚３ｍｍでＤ６５光源の全光線透過率が４．０％以下で、且つ入光角（１２）６０度、受光角（１４）６２度で測定した光沢値が８０以上であることを特徴とする。 - 特許庁

Based on the results obtained by driving the light source of the reader by a plurality of different driving electric currents and by detecting the amounts of reflected light on respective electric current values respectively in a test pattern for calibration printed on a medium and the blank region of the medium, a correction factor for correcting the detection by the reader is obtained.例文帳に追加

メディアにプリントされたキャリブレーション用のテストパターンとメディアのブランク領域のそれぞれにおいて、読取器の光源を複数の異なる駆動電流により駆動して電流値毎に反射光量を検出した結果に基づいて、前記読取器による検出を補正するための補正係数を求める。 - 特許庁

To provide an indoor chemical material measuring apparatus having a small facility, supporting a JIS small chamber method, measuring instantaneous value in the field, easily identifying a generation source, accurately measuring by a sampler, and quickly measuring by implementing an accelerated test.例文帳に追加

小型の設備で、ＪＩＳ小形チャンバー法に対応して現場における瞬時値の測定を行なうことができ、発生源の特定が容易であると共に、サンプラによる高精度な測定ができ、しかも加速試験を行なって短時間に測定することができる室内化学物質測定装置を提供するものである。 - 特許庁

The sample surface 1a of a test piece 1 is irradiated with a measuring light from a light source 2 through a slit 3 and the first lens 4, and reflected light thereof is condensed onto the light-receiving surface of a CCD camera 6 by the second lens 5, and a light quantity distribution on a spot 6a which is a slit image is measured by the CCD camera 6.例文帳に追加

光源２からスリット３および第１のレンズ４を経て試験片１のサンプル面１ａに測定光を照射し、その反射光を第２のレンズ５によってＣＣＤカメラ６の受光面に集光し、スリット像であるスポット６ａの光量分布をＣＣＤカメラ６によって計測する。 - 特許庁