「source test」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

In a test container 1 inserted to a container holding means 2, by a lighting circuit 5, a first light emitting source LD1 and a second light emitting source LD2 are alternately lighted by synchronizing signals originated by a built-in clock and infrared light and red visible light are alternately projected to a simple S (fluid to be measured containing blood) inside the test container 1.例文帳に追加

容器保持手段２に挿入された試験容器１に点灯回路５により、内蔵するクロックが発する同期信号でもって、第１の発光源ＬＤ１と第２の発光源ＬＤ２とを交互に点灯し、試験容器１内のサンプルＳ（血液を含む被測定液）に赤外光と赤色可視光とを交互に投射させる。 - 特許庁

One end of a power source line for each memory cell arranged in the direction of row of a memory cell group arranged in a matrix state is connected to two first and second power source supply ends each independent of the other through two switching means on-off-controlled by inverse logic based on a test mode switching signal for switching a test mode or a normal mode.例文帳に追加

マトリックス状に配置されたメモリセル群の行方向に配列された各々のメモリセル用電源線の一端は、テストモードと通常モードを切り替えるためのテストモード切替信号に基づき互いに反転論理でオン／オフ制御される２つのスイッチング手段を介してそれぞれ独立した２つの第１と第２の電源供給端に接続する。 - 特許庁

A pump circuit 310 constituting a boosting power source (Vpp) generating circuit is provided with a first pump 311 generating a boosting power source, a second pump 312, and a test circuit 400 controlling stress applied to the first pump 311 and the second pump 312 by a signal Φ2 inputted from a ring oscillator, test signals TM1 and TM2.例文帳に追加

昇圧電源（Ｖｐｐ）発生回路を構成するポンプ回路３１０は、昇圧電源を発生する第１のポンプ３１１，第２のポンプ３１２およびリングオシレータから入力される信号Φ２とテスト信号ＴＭ１とＴＭ２とにより第１のポンプ３１１，第２のポンプ３１２にかかるストレスを制御するテスト回路４００を備える。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

A test processing part 35 flashes or blinks a test light source at prescribed frequencies, dirty states of a translucent window is detected by a light reception detecting signal of the test light received by a detecting sensor via the translucent window to be outputted to the outside, and circuit conditions are adjusted for compensating the light reception detecting signal for the dirt.例文帳に追加

試験処理部３５は、試験時に、試験光源を所定周波数で点滅又は明滅し、透光性窓を介して検知センサで受光した試験光の受光検知信号により、透光性窓の汚損状態を検出して外部に出力すると共に、受光検知信号を汚損補償するための回路条件を調整する。 - 特許庁

To provide a test jig for a test apparatus of devices for high frequencies and high speeds etc. capable of facilitating the insertion of a capacity loaded probe for a power source and a probe for grounding in a metal block and securing electric connection to the metal block.例文帳に追加

容量装荷型の電源用プローブや接地用プローブを金属ブロック内に挿入しやすくすると共に、金属ブロックとの電気的接続を確実にすることができる構造の高周波・高速用デバイスなどの検査装置用の検査治具を提供する。 - 特許庁

After a support means and a guide pipe are mounted inside the tubular member, beforehand, the radiolucence test for a newly peripheral welded part is conducted by inserting a radiation source for the test into the guide pipe after the completion of the newly peripheral welding on the tubular member.例文帳に追加

筒状部材の内側に支持手段およびガイドパイプを予め装着しておき、筒状部材の新規周溶接が完了してからガイドパイプの内部に試験用の放射線源を挿入して新規周溶接部分の放射線透過試験を行う。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁

In this test method of the semiconductor device, a drain is connected to a storage node in SRAM, and a functional test is performed for applying a potential lower than a GND potential to a back gate of an n-type MOS transistor of which the GND potential is connected to the source, and for reading out data.例文帳に追加

本発明の半導体装置のテスト方法では、ＳＲＡＭにおいて、記憶ノードにドレインが接続され、ソースにＧＮＤ電位が接続されるｎ型ＭＯＳトランジスタのバックゲートにＧＮＤ電位より低い電位を印加しデータを読出す機能テストを行なう。 - 特許庁

The weight determining device has the plurality antenna elements 114, 116 that receive test radio waves radiated from at least one test wave source 104 provided outside a phantom 122 for simulating a medium for allowing the radio waves to be lost, and are provided at the mobile terminal 102.例文帳に追加

ウエイト決定装置は、電波を損失させる媒体を模擬するファントム１２２の外側に設けられた１以上の試験波源１０４から放射された試験電波を受信する、移動端末１０２に設けられた複数のアンテナ素子１１４，１１６を有する。 - 特許庁

To implement charge-discharge tests of high accuracy, the current value detected is allowed to approach to a constant current set value efficiently in a controller 31 for charge-discharge test controlling a DC power source apparatus 13 and an electronic load apparatus 14 for implementing charge-discharge test for an object to be tested.例文帳に追加

被試験物の充放電試験を行うために、直流電源装置１３および電子負荷装置１４を制御する充放電試験用コントローラ３１において、効率よく定電流設定値に近づけ、高精度の充放電試験を実施する。 - 特許庁

A flow chart production part 20 analyzes a test target source code, and a state analysis part 40 extracts state transition information from an analysis result of the source code on the basis of a state variable supplied through a state variable editing part 60.例文帳に追加

フローチャート作成部２０が試験対象ソースコードを解析し、状態解析部４０は、状態変数編集部６０を介して供給される状態変数に基づいて、ソースコードの解析結果から状態遷移情報を抽出する。 - 特許庁

Next, the current flowing through an electric source line for supplying a driving electric source to the output buffer circuit for a certain time is measured under the condition that the test potential established on the signal terminal is maintained, while making the output buffer circuit inactivation state.例文帳に追加

次いで、出力バッファ回路を非作動状態とし、前記信号端子に設定されたテスト電位が保持される状況下で、一定時間の間に前期出力バッファ回路に駆動電源を供給する電源線を流れる電流を計測する。 - 特許庁

This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.例文帳に追加

ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁

As a result, among external circuits from 11-1 to 11-n, the external circuit corresponding to the transistor executing the on-operation becomes invalid, and the current path to a test power source 22 will not be established.例文帳に追加

その結果、外付け回路１１−１〜１１−ｎのうち、オン動作をしているトランジスタに対応する外付け回路が無効となり、試験用電源２２への電流路は形成されない。 - 特許庁

To provide an AC magnetic field application device for applying an AC magnetic field to a test target article such as an MR head by using a permanent magnet or an electromagnet of a DC application driving type as a magnetic field source.例文帳に追加

永久磁石または直流印加駆動型の電磁石を磁界源として、ＭＲヘッド等の被試験体に交流磁界を印加する交流磁界印加装置を提供する。 - 特許庁

A coverage information generating part calculates weighted coverage information 113 based on the source information 111, and based on test passing information 112 recorded by the passing information recording part 102.例文帳に追加

カバレッジ情報生成部１０３は、ソース情報１１１と、通過情報記録部１０２により記録されたテスト通過情報１１２に基づき、重み付けカバレッジ情報１１３を算出する。 - 特許庁

A light output from a light source 102 of an optical sender 101 is modulated by using repetition signals of "0011" from a test pattern generator 105 and a data modulator 103.例文帳に追加

光送信部１０１の光源１０２から出力された光を、試験パターン発生器１０５からの“００１１”の繰り返し信号と、データ変調器１０３を用いて変調する。 - 特許庁

To provide a protection device repeatedly absorbing striking energy of shock waves from an explosion source a plurality of times and also reducing the facility cost, and a combustion test facility.例文帳に追加

爆発源からの衝撃波の衝撃エネルギーを複数回繰り返して吸収することができ、さらに設備コストを低減することが可能な防護装置及び燃焼試験設備を提供する。 - 特許庁

To enable the consideration of the direction of drift, comparison between light sources different from each other in color temperature, and the determination of the color rendering property of a light source lacking arbitrariness by test colors, by using indexes corresponding to color rendering properties.例文帳に追加

演色性に対応した指標で、ずれの方向の考慮、色温度の異なる光源の比較を可能とし、試験色による任意性のない光源の演色性判定を可能とする。 - 特許庁

An optical disk test device is equipped with a laser power setting circuit 45 and a strategy setting circuit 48 which specify light intensity and pulse width of the laser beam outgoing from a laser light source 21.例文帳に追加

光ディスク検査装置は、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅を規定するレーザパワー設定回路４５およびストラテジ設定回路４８を備える。 - 特許庁

To provide constitution of a semiconductor integrated circuit device which can perform efficient detection of a fault by arbitrarily adjusting internal power source voltage in accordance with a purpose of an operation test.例文帳に追加

動作テストの目的に応じて、任意に内部電源電圧を調整することによって、効率的な不良検出が可能な半導体集積回路装置の構成を提供する。 - 特許庁

A test terminal 4 sends the Etherframe(R), in which a destination MAC address is a MAC address of the present terminal and a source MAC address of a MAC address of a loop-back testing apparatus 2, onto a network.例文帳に追加

試験用端末４は、宛先ＭＡＣアドレスが自端末のＭＡＣアドレス、送信元ＭＡＣアドレスがループバック試験装置２のＭＡＣアドレスであるイーサフレームをネットワーク上に送出する。 - 特許庁

To provide a testing method for egg capable of judging the deterioration of the lamp of a light source and precisely executing the internal test of an egg, and a testing device for egg used for the execution of this method.例文帳に追加

光源のランプの劣化の有無を判断し、精度良く卵の内部検査を実施することができる検卵方法及びその実施に使用する検卵装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test time for guaranteeing the minimum power source voltage previously determined, by which data are normally held can be shortened.例文帳に追加

データを正常に保持することが可能な予め定められた最小の電源電圧を保証するためのテストのテスト時間を短縮することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The test of a drive inverter 60 is conducted by controlling a motor simulator 70 that falsely functions as the drive inverter 60 for driving a motor that is a power source of a vehicle, and as the motor.例文帳に追加

車両の動力源であるモータを駆動するための駆動インバータ６０とモータの機能を擬似的に実現するモータシミュレータ７０を制御して、駆動インバータ６０の試験を行う。 - 特許庁

In shadow reading facilities A being the destination of request for diagnostic reading and a hospital D being the request source for diagnostic reading, diagnostic reading reports are classified depending on kind of test and category of tested part and name of disease and are evaluated.例文帳に追加

読影の依頼先である読影機関Ａ、読影の依頼元である病院Ｄにおいて、読影レポートを検査種別、検査部位、及び病名のカテゴリ別に分類して評価を行う。 - 特許庁

The device also includes a condensing lens 53 allowing light emitted from the light source 80a to enter and condensing the light onto the test paper 107, and an optical path block 26.例文帳に追加

そして、光源８０ａから出射された光が入射されると共にその光を試験紙１０７に集光させる集光レンズ５３と、光路ブロック２６とを備えている。 - 特許庁

At the time of applying a power source or the like, test-write is performed for the prescribed region on a magneto-optical disk 6, next, optimum memory length is detected by reading out data and measuring an error rate.例文帳に追加

電源投入時等において、光磁気ディスク６上の所定の領域にテストライトを行い、次にデータを読出して、エラーレートを測定することによって、最適なメモリ長が分かる。 - 特許庁

At the time of loss measurement, a test light from the laser light source 3 is transmitted to the light receiver 2 through the incident side optical fiber 6a, the optical fiber device 6 and the emitting side optical fiber 6b.例文帳に追加

損失測定時には、レーザ光源３からの検査光を入射側光ファイバ６ａ、光ファイバデバイス６、出射側光ファイバ６ｂを介して受光器２に入射させる。 - 特許庁

The infrared lens alignment device includes a difference temperature blackbody furnace 2 which has a plane blackbody furnace 21 radiating an infrared ray and a test chart 22 intercepting an infrared ray as a light source.例文帳に追加

赤外線レンズ調芯装置は、赤外線を放射する平面黒体炉２１及び赤外線を遮蔽するテストチャート２２を有する差温度黒体炉２を光源として備える。 - 特許庁

A system 10 includes a source for providing the scan-in sequence 14 of the state data as the input simulation to test object devices DUT 18, and the scan-out sequence 16 of the predicted state data.例文帳に追加

システム(10)は、テスト対象装置(DUT)(18)への入力刺激としての状態データのスキャンインシーケンス(14)と予測された状態データのスキャンアウトシーケンス(16)を提供するためのソースを含む。 - 特許庁

To provide an assembling method of a light source device, which simply reduces deviation, if any, even at test lighting, of an arc position of a lamp and thereby improves light utilization efficiency.例文帳に追加

ランプのアークの位置が試験的点灯でずれた場合にも簡易にずれを低減することができ、光利用効率を高めることができる光源装置の組立方法を提供すること。 - 特許庁

A light source device 2 of this semiconductor test device 1 is provided with a pressing part 4 provided in an opposed position to a semiconductor device 5 and moved toward the semiconductor device 5 during the test to press the semiconductor device 5 to thereby perform electrical connection between the semiconductor device 5 and a socket 7.例文帳に追加

半導体検査装置１の光源装置２が、半導体デバイス５と対向する位置に設けられるとともに、検査時に半導体デバイス５の方向に移動し、半導体デバイス５を押さえることにより半導体デバイス５とソケット７との電気的接続を行わせる押さえ部４を備えている。 - 特許庁

To relieve the potential fluctuation of power sources and GNDs in the vicinity of a package which occurs in the case of a test at high frequencies at the time of testing an LSI with an extremely large number of input/output signals and power source and GND electrodes especially in the case of performing the test in a package state.例文帳に追加

ＬＳＩの入出力信号や、電源及びＧＮＤ電極が非常に多いＬＳＩをテストするに際し、特にパッケージの状態でテストする場合において、高周波でテストする場合に起こるパッケージの近傍での電源及びＧＮＤの電位変動を緩和する。 - 特許庁

To provide a frequency variable fatigue testing device using an electrically operated vibration generator targeting a mold material of a ground coil for a superconducting magnetically levitated railroad, and making a fatigue test by applying a bend fatigue load to a material test piece by an electrically operated vibration generator as a drive source.例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルのモールド材を対象に、駆動源として動電型振動発生装置を用いて材料試験片に曲げ疲労負荷を与えて疲労試験を実施する、動電型振動発生装置を用いた周波数可変疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

A system S includes the optical fiber 10; an elliptical tube 20, in which a pressure sensor section 11 of the optical fiber 10 is fit; a light source 30 into which test light is made incident from the one end 101 side of the optical fiber 10; an optical circulator 40; and a heterodyne receiver 50 for measuring reflected light of the test light.例文帳に追加

システムＳは、光ファイバ１０、光ファイバ１０の圧力センサ部１１に被嵌される楕円管２０、光ファイバ１０の一端１０１側から検査光を入射する光源装置３０、光サーキュレータ４０、及び前記検査光の反射光を計測するヘテロダイン受信機５０を含む。 - 特許庁

The fuse 12 for discrimination belonging to a chip region CHIPf specified through a pre-test SORT 1 before the fuse-cut process is cut by the fuse-cut process, after that, at the time of post test SORT 2, abnormality of the power source supply system in this specified chip region CHIPf is detected.例文帳に追加

ヒューズカット工程以前のプリテストＳＯＲＴ１を経て特定されたチップ領域ＣＨＩＰｆに属する判定用ヒューズ１２をヒューズカット工程にてカットし後のポストテストＳＯＲＴ２に際しこの特定のチップ領域ＣＨＩＰｆにおける電源供給系の異常を検出させる。 - 特許庁

The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.例文帳に追加

ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁

An IC 8 for control is loaded on an ECU 6 for vehicle control and provides a source voltage supplied from a battery 1 to a power line 3, similar to the case where IG main switch 5 is turned on by closing a relay 2 in the case shifted to the test mode by a test mode circuit 12.例文帳に追加

制御用ＩＣ８は、車両制御用のＥＣＵ６に搭載され、テストモード回路１２によりテストモードに移行した場合にリレー２を閉じてＩＧメインスイッチ５がＯＮされた場合と同様に、電源線３にバッテリ１より供給される電源電圧を与える。 - 特許庁

A server 100 has a source code file 2, a code clone output file 3, a test result file 4 and a code clone merging file 7, and includes a data setting part 8, a code clone detection/merge processing part 9 and a test result setting part 10 as function blocks implemented by hardware resources in the server 100.例文帳に追加

サーバ100内に、ソースコードファイル２、コードクローン出力ファイル３、テスト結果ファイル４、コードクローンマージファイル７を備え、またサーバ100内のハードウェア資源により実現される、機能ブロックとしての、データ設定処理部８、コードクローン検出・マージ処理部９、テスト結果設定処理部10を備える。 - 特許庁

To eliminate installation of an exhaust duct of a low-frequency noise generating source to provide a noise-suppressed type facility for an engine ground test of simple structure excellent in noise-suppressing effect, in the noise-suppressed type facility for conducting the engine ground test in the condition where an aircraft is parked on the ground.例文帳に追加

航空機を駐機したままエンジン地上試験を行うための消音型設備において、低周波騒音の発生源となる排気ダクトの設置を不必要とし、構造簡単で消音効果の優れたエンジン地上試験の消音型設備を提供すること。 - 特許庁

When defect detection is performed by measuring a standby current without limiting to an IDDQ test, and influence of the off-leak can be reduced even if a memory cell array having much off-leak coexists by turning off the switch for supplying and cutting off a power source by a test signal ITEST.例文帳に追加

ＩＤＤＱテストに限らず、スタンバイ電流を測定して不良検出する際に、テスト信号ＩＴＥＳＴにより上述の電源供給遮断用スイッチをオフにすれば、オフ・リークが多いメモリセル・アレイが混在していても、該オフ・リークの影響を低減することができる。 - 特許庁

For example, the control computer 40 controls the power source supply/ disconnection of the information processor 10 by outputting power source supply/ disconnection control data P, and starts a test program in the information processor 10 by outputting key data K.例文帳に追加

一例としては、制御コンピュータ４０は、電源投入／切断制御データＰを出力することで、情報処理装置１０の電源投入／切断を制御し、またキーデータＫを出力することで情報処理装置１０におけるテストプログラムを起動させる。 - 特許庁

Thereby, even if temperature of the light source when information is recorded in the information recording medium is different from the temperature of the light source when recording condition is set last time, a optimum recording condition can be set newly without consuming a test writing region.例文帳に追加

それにより、情報記録媒体に情報を記録する際の光源の温度が、前回記録条件を設定したときの光源の温度と異なっていても、試し書き領域を消費することなく、新たに最適な記録条件を設定することができる。 - 特許庁