「source test」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The system 110 also includes an alternating current (AC) source 118 for supplying a current through the probe 112, wherein the AC source 118 and the probe 112 are configured to generate a controlled plasma channel 120 between a tip of the probe 112 and the test object 114.例文帳に追加

システム（１１０）はまたプローブ（１１２）を介して電流を供給するための交流（ＡＣ）電源（１１８）も含み、ＡＣ電源（１１８）およびプローブ（１１２）はプローブ（１１２）の先端と検査対象（１１４）の間に制御されたプラズマチャネル（１２０）を生成するように構成される。 - 特許庁

When a command (positions of SW1-SW4) acquired at the time of switching on a power source is 1110, a sound source substrate is set in a test mode, and when the switches SW1-SW4 are made ON after commanded to start testing, they start to pronounce a scale corresponding to them.例文帳に追加

電源投入時に取得したコマンド（スイッチＳＷ１〜４のポジション）が１１１０であるとテストモードになり（Ｓ１０１：ＹＥＳ）、テスト開始のコマンド（Ｓ１０２：ＹＥＳ）の後、スイッチＳＷ１〜４がオンにされると（Ｓ１０３：ＹＥＳ）、それに対応する音階の発音を開始する（Ｓ１０４）。 - 特許庁

This method of the pressure resistance test of the AC element applies an AC voltage from an AC power source to the AC element, detects a current supplied from the AC power source to the AC element by a detector, and determines the pressure resistance value of the AC element on the basis of the detected result.例文帳に追加

交流電源から交流素子へ交流電圧を印加し、交流電源から交流素子へ供給される電流を検出器により検出し、その検出結果に基づいて交流素子の耐圧値を判定する交流素子の耐圧テスト方法により上記の課題を解決する。 - 特許庁

In an electrical test device of a wafer, a light source 46 is incorporated in a laminate of a ceramic substrate 36 and a sheet-like substrate 38 facing an inspection stage, and a mark member 44 for making a portion of light of the light source 46 pass therethrough is installed on the facing surface of the laminate.例文帳に追加

ウエーハの電気的試験装置において検査ステージに対向しているセラミック基板３６とシート状基板３８との積層体中に光源４６を内蔵させ、前記対向面にはこの光源４６の光の一部を通過させるマーク部材４４を設置する。 - 特許庁

In pull-down circuits 3.1-3.n of a SRAM chip 1, an external power source voltage Vcc is kept at the minimum standard voltage Vr at the time of data retention, while an internal voltage Vi of power source wiring L1-Ln is pulled down in response to a test signal TE1 made a 'H' level.例文帳に追加

ＳＲＡＭチップ１のプルダウン回路３．１〜３．ｎは、外部電源電圧Ｖｃｃがデータリテンション時の最小規格電圧Ｖｒにされるとともにテスト信号ＴＥ１が「Ｈ」レベルにされたことに応じて、電源配線Ｌ１〜Ｌｎの内部電圧Ｖｉを最小規格電圧Ｖｒにプルダウンする。 - 特許庁

The alignment test tape may be used to generate an output signal indicative of optical servo system alignment, and this signal may be used to align the light source outputs of the optical servo system.例文帳に追加

整列検査テープは、光サーボシステム整列を示す出力信号を生成するために使用されてもよく、この信号は、光サーボシステムの光源出力を整列させるために使用されてもよい。 - 特許庁

A device includes a mounting part 30 on which a chip 100 is mounted, a light source 80a for emitting light having a prescribed wavelength, and a light receiving element 44 for receiving light reflected by the test paper 107.例文帳に追加

チップ１００が装着される装着部３０と、所定の波長の光を出射する光源８０ａと、試験紙１０７から反射された光を受光する受光素子４４とを備えている。 - 特許庁

The system receives a data slice (18) from a transmission source (12) and subjects the data slice to random delay and known delay (14) and transmits the delayed data slice to a test object chip (16) and thus emulates the propagation delay.例文帳に追加

システムは、送信元(12)からデータスライス(18)を受信して、データスライスにランダム遅延又は既知の遅延を施し(14)、遅延したデータスライスを被試験チップ(16)に送信することにより、伝搬遅延をエミュレートする。 - 特許庁

To improve circuit simulation accuracy by extracting parasitic capacitance (overlapping capacitance value) of overlapped portions of a gate electrode and source/drain regions of a MOS transistor by using a small-area test pattern and precision is improved.例文帳に追加

ＭＯＳトランジスタのゲート電極とソース／ドレイン領域の重なり部分の寄生容量（オーバーラップ容量値）を小面積のテストパターンにより高精度に抽出して回路シミュレーション精度を向上する。 - 特許庁

When a source file management program, a language processing program and a test supporting program are carried out, the execution results notifying functions 100 to 102 of each program notify a management server 110 of the execution results.例文帳に追加

ソースファイル管理プログラム、言語処理プログラム、試験支援プログラムが実行されると、その実行結果が、各プログラムの実行結果通知機能１００，１０１，１０２から管理サーバ１１０に通知される。 - 特許庁

Further, the source apparatus 1 wirelessly transmits test data with the resolution R1 at a lapse of a prescribed period of time after the resolution of the video data wirelessly transmitted is changed from the resolution R1 to the resolution R2.例文帳に追加

さらに、ソース機器１は無線送信するビデオデータの解像度を解像度Ｒ１から解像度Ｒ２に切り替えてから一定期間の経過後に解像度Ｒ１のテストデータを無線送信する。 - 特許庁

Light L emitted from a light source 31 is reflected by a half mirror 35, converted into parallel light L_1 by a collimator lens 36, and then irradiated onto a convex surface 1a of a test lens 1 and transmitted therethrough.例文帳に追加

光源３１から出射した光Ｌをハーフミラー３５によって反射し、コリメータレンズ３６によって平行光Ｌ_1 に変換した後、被検レンズ１の凸面１ａに照射し、透過させる。 - 特許庁

An endoscope inspecting method is designed to perform inspection with a cap mounted on the tip, having a test chart and sealing the tip of an electronic endoscope 10 light-tightly, by operating a solid-state imaging device 50 and a light source device 12.例文帳に追加

テストチャートを有し、電子内視鏡１０の先端部を光密に封止するキャップを該先端部に装着した状態で、固体撮像素子５０及び光源装置１２を動作させて検査を行う。 - 特許庁

To provide a weatherproof test accelerating device having a discharge lamp used as a concentration light source for accelerating discoloration and deterioration of a composition and structure of a sample and improved in control, calibration structure and operating method.例文帳に追加

試料の退色、組成、構造の劣化を促進する集中光源である放電ランプを有し、制御、較正構造及び動作方法の改良された耐候性試料促進装置の提供。 - 特許庁

Continuous light outputted from a variable wavelength light source 120 is randomly polarized by a polarization scrambler 121 and converted into pulsed light by an AO switch 122 for output as test light.例文帳に追加

波長可変光源１２０から出力された連続光は、偏波スクランブラ１２１により偏波状態がランダムとされ、ＡＯスイッチ１２２によりパルス光とされて試験光として出力される。 - 特許庁

To provide a wavelength selection switch module in which the correction time of a primary value voltage is shortened, one light source is enough for test light, which achieves cost-reduction and miniaturization of an apparatus.例文帳に追加

本発明は、初期値電圧の補正時間を短縮でき、試験光の光源が１つで済み、装置の低コスト化及びサイズの小型化が可能な波長選択スイッチモジュールを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a program development support system for automatically generating a form of source code from one piece of design information obtained by collecting dynamic design information and static design information, an external file, and a test item.例文帳に追加

動的設計情報と静的設計情報とをまとめた１つの設計情報からソースコードの雛型、外部ファイル、テスト項目を自動生成するプログラム開発支援システムを提供する。 - 特許庁

To efficiently create test specifications when an ECU software is created by compiling only the program components necessary from a program source constructed of multiple kinds of program components.例文帳に追加

ＥＣＵソフトウエアが、多種類のプログラム部品からなるプログラムソースから必要なプログラム部品のみをコンパイルすることによって生成されるような場合に、その検査仕様を効率的に生成すること。 - 特許庁

The clock pulse CKP is applied to a gate terminal of a transistor to which the voltage of the intermediate level between power source voltage Vcc and ground voltage GND is applied in normal mode, thereby performing the stress-applied test.例文帳に追加

このクロックパルスＣＫＰをノーマルモード時に電源電圧Ｖｃｃと接地電圧ＧＮＤとの中間レベルの電圧が印加されるトランジスタのゲート端子に印加することによってストレス印加テストを行う。 - 特許庁

Consequently, the trouble of inspecting the radiographic image photographing device can be eliminated by automatically performing the inspection, for example, right after the power source is turned on without specially taking a test photograph like before.例文帳に追加

従って、従来のごとくわざわざテスト撮影をすることなく、放射線画像撮影装置の検査を自動的に、例えば電源投入直後などに行うようにすることで、検査の手間が解消される。 - 特許庁

A charging and discharging control circuit is formed which is shifted to a test mode to shorten the delay time of the internal control circuit, when a voltage higher than the prescribed value is applied to the charger connecting terminal of a charging power source device.例文帳に追加

充電式電源装置の充電器接続端子に規定以上の電圧がかかった場合、内部制御回路の遅延時間を短くするテストモードに入る充放電制御回路を形成する。 - 特許庁

By driving the test transistors 145 without mounting the source driver IC14, an image can be displayed on a display screen 22, and defects such as a point defect, a line defect and color slippage can be easily detected.例文帳に追加

テストトランジスタ１４５を動作させることにより、ソースドライバＩＣ１４を実装せずとも、表示画面２２に画像を表示でき、点欠陥、線欠陥、色ずれなどを容易に検出することができる。 - 特許庁

Based on the obtained call dependency relation, FU conversion from the old language into a new language and a test of an internal level (a source code level) as to whether the FU is correctly converted or not are performed.例文帳に追加

そして、把握された呼出し依存関係に基づいて、旧言語のＦＵから新言語のＦＵへのＦＵ変換と、正しくＦＵ変換が行われたかどうかの内部レベル（ソースコードレベル）のテストが行われる。 - 特許庁

Also, at the time of an operation test before shipping, the number of write and erase pulses and an optimum value of drain voltage and source voltage in a range in which over-stress is not given to a memory cell are measured.例文帳に追加

また、工場出荷前の動作試験時に、書き込みまたは消去パルス数の測定と、メモリセルに過剰ストレスを与えない範囲でのドレイン電圧やソース電圧の最適値の測定と、を行う。 - 特許庁

To reduce dispersion of measurement in failure detection and the like for a DUT (device under test) and to carry out measurement based on a fine power source current spectrum so as to improve a failure detection rate for the DUT.例文帳に追加

ＤＵＴの故障検出等における測定のばらつきを低減すると共に、精細な電源電流スペクトルによる測定を可能としてＤＵＴの故障検出率向上を図る。 - 特許庁

The recording wavelengths of reference and signal lights generated by a laser light source 12 to output a plurality of test recording wavelengths λt at adjacent cycles λa are shifted to record interference patterns.例文帳に追加

隣接周期λａを隔てた複数の試験記録波長λｔが出力されるようレーザ光源１２が生成する参照光と信号光の記録波長をシフトさせて、干渉パターンを記録する。 - 特許庁

Also, at test mode, the switch circuit 702 is turned on, the power source voltage supply circuit 70 supplies ground voltage GndT supplied from the pad 41 to the memory cell array 110 through impedance.例文帳に追加

また、テストモード時、スイッチ回路７０２はオンされ、電源電圧供給回路７０は、パッド４１から供給された接地電圧ＧｎｄＴをメモリセルアレイ１１０にインピーダンスを介して供給する。 - 特許庁

・If an appropriate information source based on data cannot be easily obtained, classification can be performed based on comments related to skin corrosion/irritation, such as Severe, Moderate, and Mild, in test reports or existing MSDSs.例文帳に追加

・データに基づく適切な情報源が容易に入手できない場合は、試験報告書あるいは既存のMSDSの皮膚腐食性／刺激性に関するSevere, Moderate, Mildなどの所見を参考とすることができる。 - 経済産業省

The function switchable external terminal 153 is connected to the power source 156 of the internal circuit via a path switch 155 so that these are not conductive in the ordinary mode, while conductive in the test mode.例文帳に追加

機能切り替え可能な外部端子１５３と内部回路の電源１５６との間はパススイッチ１５５を介して接続し、通常モードでは非導通に、テストモードでは導通にするように制御する。 - 特許庁

After a test pattern image is displayed on the screen from the DMD 4 for a period when the light from the light source 1 transmits through an R transmission region of the color wheel 3, a full black image is displayed.例文帳に追加

カラーホイール３のＲの透過領域に光源１からの光が通過している期間にて、ＤＭＤ４によりスクリーン６にテストパタン画像が表示された後、全黒画像が表示される。 - 特許庁

In this combined degradation accelerator 1, a holding table 30 for a testing body and a salt spray device 40 are provided in a test chamber 11 with temperature and humidity controllable while a light source unit 33 is installed outside a partition board 32 attached to one surface of the test chamber 11 so as to right confront a surface of the holding table 30.例文帳に追加

複合劣化促進装置１は、温湿度の制御可能な試験室１１内に、試験体の保持台３０と塩水噴霧装置４０とが設けられるととともに、この試験室１１の一面に取り付けられた仕切り板３２の外側に、保持台３０の表面に正対するようにして光源ユニット３３が設置される。 - 特許庁

Address information needed to analyze the memory test pattern operation is read out of a memory test pattern source 2 to calculates address operation and a pattern operation analytic log 5 for the pattern operation analysis is generated; and address operation in command performance is extracted from the pattern operation analytic log 5 to generate a pattern operation grasping log 7.例文帳に追加

メモリテストパターンソース２よりメモリテストパターン動作の解析に必要なアドレス情報を読み取り、アドレス動作を計算により求め、パターン動作解析のためのパターン動作解析ログ５を生成し、パターン動作解析ログ５より、コマンド実行時のアドレス動作を抽出し、パターン動作把握ログ７を生成する。 - 特許庁

The voltage supply circuit 70 receives a test mode signal TE of a H level and supplies the threshold value voltage of the N channel MOS transistor 73 to the node 38 connected to a cell Vcc line of a memory cell MC 11, and receives a test mode signal TE of a L level, and supplies external power source voltage to the node 38.例文帳に追加

電圧供給回路７０は、Ｈレベルのテストモード信号ＴＥを受けてメモリセルＭＣ１１のセルＶｃｃ線に接続されたノード３８にＮチャネルＭＯＳトランジスタ７３のしきい値電圧を供給し、Ｌレベルのテストモード信号ＴＥを受けてノード３８に外部電源電圧を供給する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 2 includes an internal circuit 3, a power source terminal 4, a ground terminal 5, the input/output terminal 6 and a protection diode 8, and also includes a test terminal 10 to which a current or a voltage is applied at an inspection time, and an inspection diode 9 connected between the test terminal 10 and the input/output terminal 6.例文帳に追加

半導体集積回路２は、内部回路３、電源端子４、グランド端子５、入出力端子６、および保護ダイオード８の他、検査時に電流または電圧が印加されるテスト端子１０と、テスト端子１０と入出力端子６との間に接続された検査用ダイオード９とを備える。 - 特許庁

In this method, under use of at least one spatial arrangement of the radiation source 11, the detector 13, and a test object 58 substituted for a subject 18 to be scanned, a filter for providing optimum filter processing and back projection of the projection data of the test object for tomographic image display in a given arrangement and by means of repeated reconstruction technique and test projection is determined.例文帳に追加

本発明の方法においては、放射線源（１１）と検出器（１３）と走査すべき対象（１８）の代わりの試験対象（５８）との少なくとも１つの同じ空間的配置の使用下で、試験投影および反復式の再構成技術によって、与えられた配置において断層撮影表示のための試験対象の投影データの最適なフィルタ処理および逆投影を与えるフィルタが決定される。 - 特許庁

This web test module is provided with a light source for illuminating a part of the web, a contact-type imaging sensor which has a plurality of sensing elements, and a processor for receiving and processing image data which indicate printed webs.例文帳に追加

ウェブ検査モジュールは、ウェブの一部分を照明する光源と、複数の検出要素を有する接触式画像センサと、印刷済みウェブを示す画像データを受け取って処理するための処理器とを備えている。 - 特許庁

To provide a compact integrated circuit in which a data storing function (or a latch function), a level shifting function, and a decoding function are integrated, and also to provide a source driver apparatus having a small-sized chip and reducing the time of a reliability test.例文帳に追加

データ保存機能（またはラッチ機能）、レベルシフト機能、およびデコード機能が統合されたコンパクトな集積回路を提供し、チップサイズが小さく信頼性テストの時間を減らすことができるソースドライバ装置を提供する。 - 特許庁

Reflected light from another sample or the inner wall of a test chamber is shielded by installing a partition and a sample fixing frame, to thereby enable to fix a sample to a place at a different distance from a light source to the sample face.例文帳に追加

隔壁及び試料取付枠を取り付けることにより、他の試料や試験槽内壁からの反射光を遮光して、光源から試料面までの距離の異なるところに試料を取り付けられるようにする。 - 特許庁

The optical disk test device is also equipped with a laser power measuring circuit 43 and a pulse width measuring circuit 44 which measure light intensity and pulse width of the laser beam outgoing from the laser light source 21 and output to a controller 50.例文帳に追加

また、光ディスク検査装置は、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅を測定してコントローラ５０に出力するレーザパワー測定回路４３およびパルス幅測定回路４４を備える。 - 特許庁

To give artificial weather change to each thermostat with an atmosphere and a cycle according to a test condition, by centralizing the heat source for feeding to the plural thermostats to one spot, and executing separately cold switching control of each thermostat.例文帳に追加

複数の恒温槽に供給する熱源を一カ所にし、それぞれを個別に冷熱切替制御することにより、それぞれの恒温槽を試験条件に応じた雰囲気、サイクルで人工気象変動させる。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..例文帳に追加

半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁

The cogeneration system 1 is formed to continuously conduct test runs for a heat recovery part 4 of the heat recovery device 3, an auxiliary heat source 6, and a power generating device 2.例文帳に追加

コージェネレーションシステム１は、上記したように熱回収装置３の熱回収部４および補助熱源部６の試運転と発電装置２の試運転を連続的に行う連続試運転を実施可能な構成とされている。 - 特許庁

To provide a current limiting circuit which can shorten the test time of a measured sample by shortening the time needed to raise a source voltage applied to the measured sample up to a set value.例文帳に追加

本発明の課題は、被測定試料に印加する電源電圧が設定値に達するまでの時間を短縮し、被測定試料の試験時間を短縮することができる電流制限回路を提供することである。 - 特許庁

A test circuit 100 includes current sources 11-14, a reference current source 21, an input initial stage circuit 31, an OR circuit 35, selector circuits 41-44 and a terminal capacity countermeasure transistor (N-channel type MOS transistor Mn31).例文帳に追加

テスト回路１００は、電流源１１〜１４、基準電流源２１、入力初段回路３１、ＯＲ回路３５、セレクタ回路４１〜４４及び端子容量対策トランジスタ（Ｎチャネル型ＭＯＳトランジスタＭｎ３１）を備える。 - 特許庁

The site operation staff records the winning numeral on a site source in a test style for every determination of the winning numeral based on information transmitted from the field reporting staff and immediately uploads it on the site 6 of the Web server 2.例文帳に追加

サイト運営スタッフは現地取材スタッフから伝達された情報に基づいて当選本数字決定ごとにテキスストスタイルで当選本数字をサイトソースに記入し、直ちにＷｅｂサーバー２のサイト６にアップロードする。 - 特許庁