「source test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To perform the evaluation of the noise resisting performance resulted from a DC power source in the noise test of an electric applied device loaded with a switching type DC power source which could not be performed by the application of a noise from an external noise testing device.例文帳に追加

スイッチング方式の直流電源を搭載した電気応用装置のノイズ試験に、外部のノイズ試験装置からノイズを印加するのでは、直流電源に起因する耐ノイズ性能評価ができない。 - 特許庁

At self-test execution, the processing means determines the fault or faultlessness of all power supply voltages A-D generated in the power source part 26, and executes information for suggesting a fault of the power source part 26 based on the determination result.例文帳に追加

該処理手段は、前記セルフテスト実行時に、前記電源部２６で作られたすべての電源電圧Ａ〜Ｄの良否を判定してその判定結果に基づいて前記電源部２６の故障を示唆する報知を行う。 - 特許庁

Thus, when the current switch 20-1 of the lowest order is ON (that is at the time of an odd number), the constant current source 10-1 and the constant current source 40 for the test are synthesized and output is performed through the current switch 50.例文帳に追加

したがって、最下位の電流スイッチ２０−１のオン時（すなわち奇数時）には、定電流源１０−１とテスト用の定電流源４０が合成され、電流スイッチ５０を介して出力される。 - 特許庁

This electrostatic breakdown test device has a main body device 3 having both a dc power source V generating a predetermined dc voltage and having its negative electrode connected to ground and a resistance R1 connected to the positive electrode of the dc power source V.例文帳に追加

所定の直流電圧を発生しかつ負極がグランドと接続された直流電源Ｖと、この直流電源Ｖの正極に接続された抵抗Ｒ１とを有した本体装置３を備える。 - 特許庁

For conducting a development test, etc. on an electric vehicle which employs a motor as a power source, a test measuring system for the electric vehicle 1 reproduces a driving state of the electric vehicle to be tested by using a reproduction object testing device 10.例文帳に追加

モータを動力源とする電動車両の開発試験等を行うために試験対象電動車両の走行状態を再現対象試験装置１０において再現する電動車両用試験測定システム１である。 - 特許庁

In a test mode, the current supply from a power supply voltage Vcc to the power source nodes 43a and 43b is stopped by current switches 102a and 102b and an externally adjustable test current is supplied.例文帳に追加

テストモード時には、電源ノード４３ａ，４３ｂに対しては、電流スイッチ１０２ａ，１０２ｂによって電源電圧Ｖｃｃからの電流供給が停止される一方で、外部から調整可能なテスト電流Ｉｔが供給される。 - 特許庁

When there exists a macro function (read_bit_01) for calculating variables x related with the conditional expression (x==0) of a branch included in a test target source file, the CUP of a computer device which executes the test of a program rewrites the macro function into external variables "dummy_BIT_A_1".例文帳に追加

プログラムのテストを実行するコンピュータ装置のＣＰＵは、テスト対象のソースファイルに含まれる分岐の条件式（ｘ＝＝０）に関する変数ｘを求めるマクロ関数（read_bit_01）がある場合には、外部変数「dummy_BIT_A_1」に書き換える。 - 特許庁

The OTDR device 1, the wavelength filter 2, the WDM coupler 3, and the exciting light source 4 are provided to one end of a test fiber 10, and the WDM coupler 5 and the power meter 6 are provided to another end of the test fiber 10.例文帳に追加

ＯＴＤＲ装置１と、波長フィルタ２と、ＷＤＭカプラ３と、励起光源４とは、テストファイバ１０の一方端側に設けられ、ＷＤＭカプラ５と、パワーメータ６とはテストファイバ１０の他方端側に設けられる。 - 特許庁

Then, by connecting the titanium ribbon mesh electrode as an anode material 7f to the anode side of the external power source and by connecting the stirrup iron rod, not shown in the figure, to the cathode side, an energization test or depolarization test is carried out to determine the appropriate energization amount.例文帳に追加

そして外部電源の陽極側に陽極材７ｆとしてのチタンリボンメッシュ電極を、陰極側に図示しないスターラップ鉄筋を接続して通電試験や復極試験を行い適正な通電量を決定する。 - 特許庁

To provide an ion beam processing-observing technology in which, in a technology for observing a cross-section of an electronic component, a test piece is processed and an observation of the processed portion of the test piece can be made possible by using ion beam taken out of a same ion source.例文帳に追加

電子部品の断面を観察するための技術において、同一のイオン源から引き出したイオンビームを用いて、試料を加工し、試料の被加工部分の観察を可能にするイオンビーム加工・観察技術を提供する。 - 特許庁

To attain an evaluation environment equivalent to a vehicle to evaluate performance accurately, even when evaluating the performance of an electronic equipment system by carrying out an electric surge test, a switching test for a vehicular electric power source line, or the like.例文帳に追加

電気的サージ試験や車両電源系のスイッチング試験等を行って車両用電子電装システムの性能を評価する場合にも、車両と同等の評価環境を実現して、正確な性能評価を行えるようにする。 - 特許庁

To supply a frequency analysis system with a test signal which is sent from a test signal source and expressed by a first transfer function G(w), and to obtain a second transfer function F(w), independently of the first transfer function G(w).例文帳に追加

第１伝達関数Ｇ（ｗ）で表される試験信号供給源からの試験信号を周波数分析装置に供給し、周波数分析装置の第２伝達関数Ｆ（ｗ）をＧ（ｗ）とは独立に求めるようにする。 - 特許庁

In a test mode, a reference container La is connected to a pressure supply line 10A, a container Lb to be inspected is connected to a pressure supply line 10B, a test pressure is given to the pressure supply lines 10A, 10B from an air pressure source 1, and a valve 12A and a valve 12B are then closed.例文帳に追加

テストモードにおいて、圧力供給ライン１０Ａ，１０Ｂに基準容器Ｌａ，被検査容器Ｌｂを接続し、エア圧源１から圧力供給ライン１０Ａ，１０Ｂにテスト圧を付与した後、弁１２Ａ，１２Ｂを閉じる。 - 特許庁

This laminography inspection system is equipped with a radioactive source, a plurality of linear image detectors to demarcate an image plane, a fixed table to dispose the test object at a fixed position between the radioactive source and the image detector, and a computer device to process a plurality of the images of the test object which are acquired from the image detectors.例文帳に追加

断層撮影検査システムが、放射線源、影像平面を画定する複数の線形影像検出器、放射線源と影像検出器の間の固定された位置に試験物体を配置する固定式テーブル、および影像検出器から獲得された試験物体の複数の影像を処理するコンピュータ装置を備える。 - 特許庁

To provide a load test support system, connected with a power source being a test sample as a load for testing of response to the load of the power source, which can be adapted to the actual load current value for enabling the minimum width of the load resistance, adjustable in each electric power range, to be set as small as possible.例文帳に追加

本発明は、試料である電力源に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答の試験に供される負荷試験支援装置に関し、実際の負荷電流の値に適応し、各電力レンジにおいて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できることを目的とする。 - 特許庁

To provide an LED light source which is suitable as a replacement or substitution light source such as an incandescent lamp, a halogen lamp, and an HID lamp which are used as the light source of a vehicular lighting fixture, an optical device such as a projector, an industrial apparatus such as a test device, and a semiconductor manufacturing device or the like.例文帳に追加

車両用灯具や、プロジェクター等の光学装置、検査装置・半導体製造装置等の産業用機器等の光源として使用される、白熱電球、ハロゲン電球及びＨＩＤランプ等の交換用又は代替用光源として好適なＬＥＤ光源を提供する。 - 特許庁

A power source IC chip 3 which generates power source voltage for operations applied to the microcomputer chip 2 mounted on a common integrated circuit substrate, is equipped with an overvoltage applying circuit 4 which elevates the power source voltage VDD, and the elements making up the microcomputer chip 2 are applied with overvoltage stresses in the test.例文帳に追加

同一の集積回路基板上に搭載されるマイコンチップ２に供給する動作用電源を生成する電源ＩＣチップ３に、動作用電源電圧ＶＤＤを昇圧する過電圧印加回路４を備え、マイコンチップ２を構成する素子に過電圧ストレスを与えて試験を行う。 - 特許庁

Further, the incorporated test signal source 39 generates the test signal by using signals from a VCO 35 and an oscillator 36 needed to generate a local oscillation signal for frequency conversion, so while an increase in circuit scale is minimized, a test can be conducted in the integrated circuit.例文帳に追加

また、内蔵したテスト信号源３９は、周波数変換のための局部発振信号を作成するのに必要となるＶＣＯ３５および発振器３６からの信号を用いて前記テスト信号を作成するので、回路増加を最小限に留めつつ、集積回路の内部でテストを行うことができる。 - 特許庁

The multivalent ion irradiation device 30 comprises a multivalent ion generating source 1, a multivalent ion guide 33 for introducing the multivalent ions to a test piece, a movable testpiece table 36 for mounting a test piece 35, and a secondary electron detector 38, and irradiates multivalent ions 34 on a prescribed position of the test piece 35 by controlling the movable testpiece table 36.例文帳に追加

多価イオン照射装置３０は、多価イオン発生源１と、多価イオンを試料に導くための多価イオンガイド３３と、試料３５を搭載する可動の試料台３６と、二次電子検出器３８と、を含み、多価イオン３４を可動の試料台３６の制御により試料３５の所定位置に照射する。 - 特許庁

In the accelerated weatherability test method for arranging a sample inside a case and performing accelerated weatherability test by irradiation from an artificial light source, illumination value is measured with time, integrated light quantity is continuously calculated with time based on the data of the temporal illumination value, and the artificial light source is turned off with reference to the completion of the test when the integrated light quantity reaches a certain value set previously.例文帳に追加

筐体の内部に試料を配置して人工光源からの照射によって促進耐候性試験を行う促進耐候性試験方法において、経時的に照度値を測定し、該経時的な照度値のデータより積算光量を経時的に算出し続け、試験の完了に係る該人工光源の消灯を、事前に設定した一定値に該積算光量が至った際に行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a burn-in test method capable of keeping stable temperature in short time, keeping the temperature which does not become estranged from a usual load condition, and performing a screening test of non-defectives and defectives of light source unit chips, without damaging an element.例文帳に追加

短い時間で安定した温度を保って、通常の負荷条件に対して乖離しない温度を維持でき、素子にダメージを与えずに光源ユニットチップの良品と不良品との選別試験を行なうことができるバーンイン試験方法を提供する。 - 特許庁

Before that, the fuse 19 for test is irradiated with a laser beam making the power variable, voltage is supplied from a power source pad 11, and optimum laser power to cut off a fuse is detected by an output signal from a test output pad 15.例文帳に追加

その前に、テスト用ヒューズ１９に対してレーザー光線のパワーを異ならせて照射して、電源パッド１１から電圧を供給し、テスト出力パッド１５からの出力信号によって、ヒューズを切断するために最適なレーザーパワーを検出する。 - 特許庁

An ac signal is applied from an ac signal source 1 to the both ends of an impedance series circuit including a test impedance 2 and at least a first known impedance 3, in which the test impedance 2 is connected to the lower potential side than the first known impedance 3.例文帳に追加

供試インピーダンス２と少なくとも第１の既知インピーダンス３を含み、供試インピーダンス２が第１の既知インピーダンス３よりも低い電位側に接続されたインピーダンス直列回路の両端に交流信号源１から交流信号を印加する。 - 特許庁

A support rotating body 43 which rotates along with a driving wheel of a vehicle 20 to be tested, while supporting the driving wheel at the lower side, is disposed on the test machine 1 side, and the support rotating body 43 is rotated by a rotational driving force of a test machine-side power source 42.例文帳に追加

試験機１側には、試験車両２０の駆動輪を下側で支持しつつ該駆動輪と連れ回る支持回転体４３が設けられ、この支持回転体４３は試験機側動力源４２の回転駆動力により回転する。 - 特許庁

To provide a device for testing drain-up function of an air conditioner, which can test the drain-up function of the air conditioner before power source construction applied to the air conditioner, and thus can efficiently conduct the relevant test before busy season for interior construction.例文帳に追加

空調機に対する電源工事前に当該空調機のドレンアップ機能の試験を行うことができ、よって内装工事の煩雑期前に、効率的に当該試験を行うことが可能となる空調機のドレンアップ機能の試験装置を提供する。 - 特許庁

In the IC tester, including the electronic load part connecting a current source on both ends of a diode bridge, the diode bridge and the current source are synchronized with the test pattern signal to be connected via an on/off control switch.例文帳に追加

ダイオードブリッジの両端に電流源を接続した電子負荷部を含むＩＣテスタにおいて、 これらダイオードブリッジと電流源とを、テストパターン信号に同期してオンオフ制御するスイッチを介して接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁

On the other hand, when the character recognition part 20a cannot correctly recognize the character string, the controller 20 issues an instruction to the light source controller 28 to increase (brighten) the light source luminance only by one level, and causes the imaging part 26 to capture the test image and causes the character recognition part 20a to recognize the character string again.例文帳に追加

一方、正しく認識できなかった場合には、制御部２０は、光源制御部２８に指示をして光源輝度を１段階だけ高く（明るく）させ、再びテスト画像の撮像と文字列の認識を行わせる。 - 特許庁

Therefore, compared with a conventional method in which voltage drop is performed according to the external power source voltage Vcc through wiring resistance R1-Rn, newly provided internal voltage Vi of power source wiring L1-Ln can be dropped in a short time so that the test time is shortened.例文帳に追加

したがって、配線抵抗Ｒ１〜Ｒｎを介して外部電源電圧Ｖｃｃに従って降圧させていた従来に比べ、電源配線Ｌ１〜Ｌｎの内部電圧Ｖｉを短時間で降圧でき、テスト時間が短くて済む。 - 特許庁

In this MCM M1, a test is performed by successively repeating a procedure of supplying the power source to only a testing object bare chip among plural bare chips and of not supplying the power source to the other bare chips by changing the testing object bare chip.例文帳に追加

このＭＣＭにおいて、複数のベアチップのうち、被試験ベアチップのみに対しては電源供給を行い、その他のベアチップに対しては電源供給を行わない手順を、被試験ベアチップをかえて順次繰返し、試験を行う。 - 特許庁

A DC power source is formed by a battery corresponding part 11 to be supplied to an inverter 15 as a test body and the a drive power source from the inverter 15 is supplied to a motor corresponding part 12 to perform testing of the inverter 15.例文帳に追加

バッテリ相当部１１で直流電源を形成し、この直流電源を供試体としてのインバータ１５に供給し、インバータ１５からの駆動電源をモータ相当部１２に供給して、インバータ１５の試験を行う。 - 特許庁

A current probe which is used for implantation of bulk current to a transmission line in a BCI test is considered as a voltage source which directly implants the bulk current to the transmission line, and modeled.例文帳に追加

ＢＣＩ試験で伝送線にバルク電流の注入に用いるカレントプローブは、伝送線にバルク電流を直接、注入する電圧源と見なし、モデル化する。 - 特許庁

Because nMOS transistors 141 to 143 are turned off when all the test signals, TCLK, TWE, and TRE are in low level, the electric potential of pads 134 is pulled-up to the constant current source 144.例文帳に追加

試験用信号ＴＣＬＫ，ＴＷＥ，ＴＲＥがすべてローレベルのときには、ｎＭＯＳトランジスタ１４１〜１４３がオフしているので、パッド１３４の電位は定電流源１４４にプルアップされている。 - 特許庁

A method and a device for verifying the function design of a response of a system (10) to the propagation delay from the input of the transmission source synchronous link during a test are disclosed.例文帳に追加

テスト中における送信元同期リンクの入力からの伝搬遅延に対するシステム(10)の応答の機能設計を検証するための方法及び装置が開示される。 - 特許庁

The calibration light source is then installed in a client test apparatus and operated at the fixed power level in order to collect the full spectrum power distribution and generate a second data set.例文帳に追加

次に、校正光源は顧客の試験装置に設置され、全スペクトルパワー分布を収集するために一定のパワーレベルで運転され、第２のデータセットを生成する。 - 特許庁

You can also run a single test file rather than testing the entire project.Select the LibClass.java tab in the Source Editor and choose Run Run File TestLibClass.java from the Run menu.例文帳に追加

プロジェクト全体をテストするのではなく、1 つのテストファイルを実行することもできます。 ソースエディタで「 LibClass.java 」タブを選択し、「実行」メニューから「実行」「ファイルを実行」「LibClass.java をテスト」を選択します。 - NetBeans

A plurality of the same test patterns are connected together to be impressed to the DUT 2, and then, a power source current signal measured by this impression is converted into a spectrum so as to be used for failure detection.例文帳に追加

又、同一テストパタンを複数連結してＤＵＴ２へ印加し、それによって観測された電源電流信号をスペクトルに変換して故障検出に用いる。 - 特許庁

To provide a cable connection judging method and device, wherein a sensor switch is not used and only one test terminal is required, and it does not depend on the power source state of an opposite apparatus.例文帳に追加

センサスイッチを使用せず、試験端子が１個でよく、相手機器の電源状態に依存しないケーブル接続判定方法及びケーブル接続判定装置を提供する。 - 特許庁

To provider an automatic program test preparing device capable of automatically converting even a program flow diagram expressing a complicated control structure as it is into a source program in one-to-one.例文帳に追加

複雑な制御構造を表したプログラム流れ図であっても、そのままソースプログラムに１対１に自動的に変換できるプログラムテキスト自動作成装置を提供すること。 - 特許庁

At measuring of characteristics, the power source 5 for test voltage impression is detached, a characteristic measuring system is attached to the measuring terminals 3a and 3b, and the characteristics of respective capacitors are measured.例文帳に追加

特性測定時には、試験電圧印加用の電源５を取り外し、測定端子３ａ，３ｂに特性測定システムを取り付けて各コンデンサの特性を測定する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing light stability, which can easily carry out an exchanging work and a dimmer control for a light source and can effectively carry out a test under a high temperature and a low temperature conditions.例文帳に追加

光源の交換及び調光が容易で、高温及び低温の条件下での試験を効率的に実施することが可能な耐光性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test measuring system for an electric vehicle which employs a motor as a power source, which is for performing various measurements by collecting information on an on-road driving state and reproducing the state.例文帳に追加

路上走行状態を収集しこれを再現して各種測定を行うためのモータを動力源とする電動車両の試験測定システムの提供。 - 特許庁

When a power source is switched on, the luminous device displays a specific test pattern, and detects the luminance by a photoelectric transducing element 106 arranged on each pixel and stores it in a storage circuit 104.例文帳に追加

電源投入時、特定のテストパターンを表示して、各画素に配置された光電変換素子１０６によって輝度を検出し、記憶回路１０４に格納する。 - 特許庁

A specific test pattern is displayed when an electric power source is connected, brightnesses are detected by photoelectric conversion elements 106 arranged in each pixel and stored in a memory circuit 104.例文帳に追加

電源投入時、特定のテストパターンを表示して、各画素に配置された光電変換素子１０６によって輝度を検出し、記憶回路１０４に格納する。 - 特許庁

When the light output value is larger than the dark output value and the dark output value is equal to a dark output reference value, it can be judged that the test light source operates normally (step S6).例文帳に追加

そして、明出力値＞暗出力値であり、かつ、暗出力値＝暗出力基準値のときには、試験光源は正常に動作していると判断できる（ステップＳ６）。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁