「source test」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

The switch circuit 14 connects the other end of the resistor 11 to the other end of the bypass capacitor 2 when a second control signal, which is supplied from the test circuit 3, is at a high level and connects the other end of the resistor 11 to the high-potential side terminal of the voltage source circuit 12 when the second control signal is at a low level.例文帳に追加

スイッチ回路１４は、テスト回路３から供給される第２制御信号がハイレベルの場合、抵抗１１の他端とバイパス・コンデンサ２の他端との間を接続し、第２制御信号がローレベルの場合、抵抗１１の他端と電圧源回路１２の高電位側の端子との間を接続する。 - 特許庁

To solve a problem that, in a four terminal measuring device implementing connection check by loading check current to wiring connecting between a measuring device and a test object, since it is required to cutoff a current source so that the measured current does not flow during the connection checking period or to reduce measured current value, constituent becomes complicated.例文帳に追加

計測装置と被測定物間を接続している配線にチェック電流を流して接続チェックを行う４端子計測装置において、接続チェックを行う間は測定電流が流れないように電流源を切り離すか、測定電流値を小さくしなければならず、構成が複雑になるという課題を解決する。 - 特許庁

To early detect a failure of a processor using a fact that, while one arbitrary processor starts an OS (operating system), the processor performs main control of the starting processing and only the processor becomes into a high load state, in an OFF/ON repeating test of a power source performed in the initial stage of the inspection by a multiprocessor inspection apparatus.例文帳に追加

マルチプロセッサ検査装置により検査の初期段階で行われる電源のＯＦＦ／ＯＮ繰り返し試験において、ある任意の１個のプロセッサがＯＳを立ち上げる間、そのプロセッサが立ち上げ処理のメイン制御を行うことにより、そのプロセッサのみが高負荷状態となることを利用して、プロセッサの故障を早期に検出する。 - 特許庁

To provide a weathering light testing method for precisely controlling the temperature in a test tank and uniformizing the radiation luminous intensity from a light source over a wide humidity region to enable energy saving operation in a weathering light testing machine for irradiating the sample with predetermined light under a predetermined temperature and humidity condition.例文帳に追加

所定の温度及び湿度のもとで所定の光を試料に照射する耐候光試験機において、試験槽内の温度を精度良く制御すると共に、広範な湿度域において、光源からの放射照度を均一にして、省エネルギーで運転可能な耐候光試験方法及び耐候光試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an array ultrasonic flaw detector capable of improving the precision of a flaw detection test by discriminating a disturbance echo caused by an unnecessary reflection source that is present in a contact medium, from a flaw echo even if reflectivities thereof are substantially same despite an incidence angle and a single pulse irradiation is alone permitted.例文帳に追加

入射角に依らず反射率がほぼ同じである場合や、１回だけのパルス照射しか許されない場合でも、接触媒質中にある不要な反射源による妨害エコーときずエコーとを識別することができ、探傷試験の精度を向上させることができるアレイ超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

The difference voltage between the output voltage of a battery voltage memory circuit 41 for storing the voltage of a secondary battery 12 and the output voltage of a direct current voltage source 42 is added to the voltage between an anode input/output terminal 16 and a cathode input/output terminal 17, which is input to a control circuit 13 as a test voltage.例文帳に追加

二次電池１２の電圧を記憶する電池電圧記憶回路４１の出力電圧と直流電圧源４２の出力電圧との差電圧を正極入出力端子１６と負極入出力端子１７との間の電圧に加算して制御回路１３に検査電圧として入力する。 - 特許庁

In performing client-server program simulation for a client-server system using CORBA, an interface of a server program to implement on the server side is defined to be an IDL file, the IDL file is read to be lexically analyzed, and, in liaison with the lexical analysis, a client simulator source code for server program load test is generated.例文帳に追加

ＣＯＲＢＡを使用したクライアント・サーバシステムのクライアント・サーバプログラムのシミュレーションを行うにあたって、サーバ側に実装するサーバプログラムのインタフェースをＩＤＬファイルに定義し、該ＩＤＬファイルを読み込んで字句解析を行い、該字句解析と連携しながら、サーバプログラムの負荷試験用クライアントシミュレータソースコードを作成する。 - 特許庁

A control circuit CTL makes at least one of the plurality of switches turned on according to an input address in a test mode, in order to make a current flow across the 2nd and 3rd power source lines via a bit line, corresponding to the memory cell indicated by the input address, a latch circuit and the transfer transistors in the memory cell.例文帳に追加

制御回路ＣＴＬは、テストモード時に、入力アドレスが示すメモリセルに対応するビット線とそのメモリセル内のラッチ回路および転送トランジスタとを介して第２および第３電源線間に電流を流すために、入力アドレスに応じて複数のスイッチの少なくともいずれかをオンさせる。 - 特許庁

The gas sensor structure (100) is provided with a radiation source (102) for emitting radiation (116), a gas measurement chamber (104) filled with a test gas (110) containing at least one measured object, and at least one detector (108) for generating an output signal as a function of the existence and concentration of the measured object.例文帳に追加

ガスセンサ構造（１００）は、放射（１１６）を放出する放射源（１０２）、少なくとも１種類の被計測物を含む試験ガス（１１０）で充填され得るガス計測室（１０４）、及び被計測物の存在、被計測物濃度の関数として出力信号を生成する少なくとも１個の検出器（１０８）を具備する。 - 特許庁

In the burn-in testing method carrying out the test by operating the semiconductor device in a predetermined temperature atmosphere, while supplying power to the semiconductor device, an operation command signal commanding operation of the semiconductor device is repeatedly supplied, and varying of a power source current corresponding to the operation command signal is counted.例文帳に追加

半導体デバイスを所定の温度雰囲気中で動作させて試験を行うバーンイン試験方法において、半導体デバイスに電源を供給しながら、半導体デバイスの動作を指令する動作指令信号を繰り返し供給し、動作指令信号に対応する電源電流の増減をカウントする。 - 特許庁

This system for measuring optical characteristic of an object to be optically measured (DUT) 104 comprises a light source 112 for generating a light signal applied to the optical DUT 104, a reference interferometer 106, a test interferometer 108 connected with the light source 112 optically, and a computing device 110 connected with the interferometers to assist the determination of optical characteristic of the optical DUT by utilizing amplitude and phase computing component.例文帳に追加

本発明は、光学被測定物（ＤＵＴ）（１０４）の光学特性を測定するためのシステムであって、前記光学ＤＵＴ（１０４）に加えられる光信号を発生するための光源（１１２）と、基準干渉計（１０６）、及び、光源（１１２）に光学的に結合されたテスト干渉計（１０８）と、干渉計に結合され、振幅及び位相計算コンポーネントを利用して、光学ＤＵＴの光学特性の判定を助ける計算装置（１１０）が含まれる、システムを提供する。 - 特許庁

A high frequency signal switching circuit 17 at the inspection of reception switches connection to connect an input terminal of a gain variable high frequency amplifier 2 and an output terminal of a local oscillator VCO 1, and the local oscillator VCO 1 provided in advance to provide a local signal to mixer circuits 7, 8 is selected as a test signal source.例文帳に追加

受信の検査の時に、高周波信号切り替え回路１７はゲイン可変高周波アンプ２の入力端子と局部発振器ＶＣＯ１の出力端子とを接続するように接続の切り替えを行い、ミキサ回路７・８にローカル信号を与えるために予め設けられた局部発振器ＶＣＯ１を、テスト信号源として選択する。 - 特許庁

The weight loading part has a hydraulic pressure reproduction pressure application part integrated by sticking a fabric body 10 made of rubber so as to block the front surface of an attachment body 11 made of steel in the shape of a rectangular parallelepiped box with opened front surface, and the fabric body made of rubber swells by supply of water from a hydraulic pressure supply source to apply the hydraulic pressure reproduction weight to the test body.例文帳に追加

荷重載荷部は前面が空いた直方体函体状の鋼製取付体１１の前面を閉塞するようにゴム製布体１０を貼り付けて一体化した水圧再現圧力付与部を有し、水圧供給源からの水の供給によりゴム製布体が膨出して水圧再現荷重を試験体に付与する。 - 特許庁

To provide a reflection-photometric analytical system provided with a measuring head (10), including a radiation source (36) and a radiation detector (26) for the reflection-photometric analysis of a target surface (12) of a test object (14) especially body fluids specimen, such as urine or blood which is arranged apart from a measuring head (10) with a specific distance.例文帳に追加

本発明は、測定ヘッド（１０）から一定距離に配置された試験対象物（１４）および特に尿または血液などの体液用試験片の標的面（１２）を反射光により分析するための、放射線発生源（３６）および放射線検出器（２６）を含む測定ヘッド（１０）を有する反射光分析システムに関する。 - 特許庁

The interferometer system comprises: a synchronous signal generating section 43 for setting up an instantaneous photographing period so as to fall within a light reception acceptable period of a photographing surface 33; and an AOM 13 and an AOM driver 14 which are used for irradiating the test body 7 with a measurement light beam emitted from a semiconductor laser light source 11 only during the instantaneous photographing period.例文帳に追加

撮像面３３の受光許容期間内に含まれるように瞬間的撮像期間を設定する同期信号生成部４３と、半導体レーザ光源１１から出射された測定用光束が、この瞬間的撮像期間にのみ被検体７に照射されるためのＡＯＭ１３およびＡＯＭドライバ１４とを備える。 - 特許庁

The printer capable of recording a two-dimensional image on a recording material comprises a pattern generating means generating at least a test pattern for measuring the sharpness, a density measuring means consisting of a light source for illuminating a recording image being outputted and a photosensor, and a means for outputting the measurements from the measuring means.例文帳に追加

記録材料上に２次元画像を記録可能に構成されたプリンタであって、少なくとも鮮鋭度測定用のテストパターンを発生させるパターン発生手段と、出力される記録画像を照明する照明光源と光センサからなる濃度測定手段と、この測定手段による測定結果の出力手段とを備えることを特徴とするプリンタ。 - 特許庁

This radiation imaging system includes an X-ray source 11, first and second absorption type gratings 31, 32, and a flat panel detector (FPD) 30, and obtains the phase contrast image of a test object H by performing imaging while moving the second absorption type grating 32 in an x direction relatively to the first absorption type grating 31.例文帳に追加

Ｘ線源１１と、第１及び第２の吸収型格子３１，３２と、フラットパネル検出器（ＦＰＤ）３０とを備え、第１の吸収型格子３１に対して第２の吸収型格子３２をｘ方向に移動させながら撮影を行うことにより、被検体Ｈの位相コントラスト画像を取得するＸ線撮影システムである。 - 特許庁

The processor is configured to receive a sensor status signal from the at least one optical sensor via the first input port in response to a test pulse emitted by the light source, and transmit a hub status signal to the at least one controller via the first output port based at least in part on the sensor status signal.例文帳に追加

この処理装置は、光源が発射した試験パルスに応答したセンサステータス信号を、第１の入力ポートを経由して、前記少なくとも１つの光センサから受け取り、センサステータス信号に少なくとも部分に基づくハブステータス信号を、第１の出力ポートを経由して、前記少なくとも１つの制御装置に送信するように構成されている。 - 特許庁

To measure the fatigue characteristics of a ferroelectric substance at high speed without forming a repeating voltage waveform generating source in a test piece forming a ferroelectric substance, in a fatigue characteristics measuring device of a ferroelectric substance to be used when a ferroelectric substance used as a storage medium of a ferroelectric memory is evaluated.例文帳に追加

強誘電体メモリの記憶媒体として用いる強誘電体を評価する場合に使用される強誘電体の疲労特性測定装置に関し、強誘電体を形成する試験片に繰り返し電圧波形発生源を形成することなく、強誘電体の疲労特性の測定を高速に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a program development stage retrieval system and method capable of grasping the developed situation of the development stage of the downstream process of program development only by retrieving one repository server by managing repository information corresponding to each development stage from source program generation to module test success.例文帳に追加

ソースプログラム作成からモジュールのテスト合格までの各開発段階に対応したリポジトリ情報を管理することにより、１つのリポジトリサーバを検索するだけでプログラム開発における下流工程の開発段階について、この開発状況を把握できるプログラム開発段階検索システム及びプログラム開発段階検索方法を提供する点にある。 - 特許庁

The infrared simulation target is used in a firing test or shooting practice of a firearm having the infrared targeting function, and it has a seat 10, a target base 20 having a tabular or hollow solid shape arranged on the seat 10, and a heat source 30 provided with an electric heating element arranged along a surface of the target base 20.例文帳に追加

赤外線照準機能を有する火器の発射試験、射撃訓練に用いられる赤外線放射模擬標的であって、台座１０と、台座１０上に配置された板状または空洞立体状を呈する標的ベース２０と、標的ベース２０の表面に沿って配置された電熱体を備えた熱源３０とを有している。 - 特許庁

The propriety of normally driving the liquid crystal display is notified thereby to the outside, and an external electric power source, provided in the liquid crystal display is blocked to prevent an overcurrent from being generated in the inside of the liquid crystal display to protect the liquid crystal display, when the liquid crystal display is not driven normally in a usual time or in a test process.例文帳に追加

これにより、液晶表示装置の正常駆動可否を外部に知らせることができ、平常時又はテスト過程で液晶表示装置が正常に駆動できない場合には、液晶表示装置に提供される外部電源を遮断して液晶表示装置の内部の過電流発生を防止できて液晶表示装置を保護できる。 - 特許庁

In the power level adjusting device for adjusting an output power level of a DUT 10 (device under test) whose power can be adjusted from the outside, a power source circuit 11 supplies power to the DUT 10 via a current limit circuit 12, and the current limit circuit 12 limits applies limitation so that a current exceeding a predetermined current value may not be applied to the DUT 10.例文帳に追加

外部からパワー調整可能なＤＵＴ１０の出力パワーレベルを調整するパワーレベル調整装置において、電源回路１１からＤＵＴ１０に対して電流制限回路１２を介して電源を供給すると共に電流制限回路１２によってＤＵＴ１０に所定電流値を超える電流が流れないように制限する。 - 特許庁

First to fourth measurement microphones 16-1 to 16-4 measuring sound pressure in an acoustic tube 11 are arranged between a sound source 14 of the acoustic tube 11 and a test piece 15 in parallel along a length of the acoustic tube 11, and first to third characteristic impedances are calculated upon the basis of measured first to fourth sound pressure signals P1-P4 among four lengthwise positions.例文帳に追加

音響管１１の音源１４と試験体１５との間に、音響管１１内の音圧を計測する第１乃至第４の測定用マイクロホン１６−１〜１６−４を音響管１１の長手方向に並列的に配置し、計測した４点の長手方向位置間の第１乃至第４の音圧信号Ｐ１〜Ｐ４に基づいて第１乃至第３の特性インピーダンスを算出する。 - 特許庁

The semiconductor storage device includes: a memory cell array 11 composed of memory cells 21 arranged in a matrix; an X decoder 12 providing a prescribed voltage to gate terminals of the memory cells 21; a Y decoder 13 providing a prescribed voltage to source and drain terminals of the memory cells 21; and a BIST module performing the test by providing a signal to the X decoder 12 and the Y decoder 13.例文帳に追加

半導体記憶装置は、マトリックス状に配置されたメモリセル２１から構成されるメモリセルアレイ１１と、メモリセル２１のゲート端子を所定の電圧とするＸデコーダ１２と、メモリセル２１のソース端子及びドレイン端子を所定の電圧とするＹデコーダ１３と、Ｘデコーダ１２及びＹデコーダ１３に信号を与えて試験を行なうＢＩＳＴモジュールを有している。 - 特許庁

This simulator 1 is equipped with an air bag ECU 10 which is a test object, a load 12 controlled by the air bag ECU 10, a battery 14 for supplying a power source to the load 12, an air bag ECU 16 for executing simulation of the air bag ECU 10, and a CAN bus 18 for connecting the air bags ECU 10 and ECU 16 mutually communicably.例文帳に追加

シミュレータ１は、試験の対象となるエアーバッグＥＣＵ１０、該エアーバッグＥＣＵ１０により制御される負荷１２と、該負荷１２に電源供給するためのバッテリ１４と、エアーバッグＥＣＵ１０のシミュレーションを実行するためのエアーバッグＥＣＵ１６と、エアーバッグＥＣＵ１０及びＥＣＵ１６を通信可能に相互に接続するためのＣＡＮバス１８と、を備えている。 - 特許庁

The method for treating burned ash to reduce boron quantity to 1.0 mg/l or less according to an elution test method based on Notice No. 18 of Environment Agency in 2003 comprises burning coal in a combustion furnace A, treating the exhaust gas by an electrostatic precipitator, and re-burning the resulting electrostatic precipitator ash in a combustion furnace B with coal as main fuel while adding a calcium source.例文帳に追加

石灰を燃焼炉（Ａ）で燃焼し、その俳ガスを電器集塵器で処理し、得られた集塵灰（ＥＰ灰）を燃焼炉（Ｂ）で、石炭を主燃料とし、カルシウム源を加えて再度燃焼した焼却灰の、平成１５年環境庁告示第１８号に基づく溶出試験方法によるホウ素量を１．０ｍｇ／ｌ以下にする焼却灰の処理方法。 - 特許庁

This raster microscope has a light source to illuminate an object under test, a detection beam path and a detector disposed in the beam path to detect the light emitted from the object, and is also provided with a light injector which can lead the light other than the emitted light into the above beam path and supply it to the detector.例文帳に追加

被検対象を照明するための光源と、検出ビーム路と、該検出ビーム路に配されると共に被検試料から射出する検出光を検出するための検出器とを有するラスタ顕微鏡において、検出光以外の光を、前記検出ビーム路に差込入射可能としかつ前記検出器に供給可能とする差込入射装置を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a local execution method of diffusion aluminide coating of high oxidation-resistant performance with less generation of cracks during an oxidation-resistant test or during the use of a component in which the coating of the stabilized quality can be easily executed for a part of a high-temperature metal component without using any additive such as inactive ceramic particles and oxide dispersant while using an Al source having the constant Al content.例文帳に追加

Ａｌ含有率が一定のＡｌ源を用い、不活性セラミックス粒子や酸化物分散剤等の添加物を用いずに、品質が安定したコーティングを高温金属部品の一部に容易に施工でき、これにより耐酸化試験或いは部品使用中の割れ等の発生が少なく高い耐酸化性能の拡散アルミナイドコーティング局部施工方法を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor memory device having a control circuit C2 controlling an output of an on-chip compare signal OCC indicating pass/fail of data read from a memory array based on a scan signal SCAN and provided with a logic part, the prescribed terminal PAD out of a plurality of terminals for power source potentials provided in the semiconductor memory device is used for burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験の際に、スキャン信号ＳＣＡＮに基づいて、メモリアレイから読み出したデータのパス／フェールを表すオンチップコンペア信号ＯＣＣの出力を制御する制御回路Ｃ２を有するロジック部を備えた半導体記憶装置において、半導体記憶装置に設けられた複数ある電源電位用端子のうち所定の端子ＰＡＤをバーンイン試験用として使用する。 - 特許庁

The gas sensor assembly 100 comprises a radiation source 102 emitting radiation 116; a gas measuring chamber 104 filled with test gas 110 containing at least one type of object to be measured; and at least one detector device 108 for detecting the radiation and generating a detector signal 109, that depends on one or both of the presence and concentration of the object to be measured.例文帳に追加

ガスセンサ組立体（１００）は、放射（１１６）を放出する放射源（１０２）、少なくとも１種類の被計測物を含む試験ガス（１１０）で充填され得るガス計測室（１０４）、及び放射を検出し、被計測物の存在及び濃度の一方又は両方に依存した検出器信号（１０９）を生成する少なくとも１個の検出器デバイス（１０８）を具備する。 - 特許庁

The static design information narrowed by the analysis part 15 and the dynamic design information related to the screen transition corresponding to the screen transition information specification key determined by the analysis part 18 are collected as one piece of design information, and the form of source code, the external file and the test item are generated from the one piece of design information.例文帳に追加

クラス依存関係解析部１５によって絞り込まれた静的設計情報と、画面遷移情報特定キー解析部１８によって判定された画面遷移情報特定キーに対応する画面遷移に関連する動的設計情報とを１つの設計情報としてまとめ、この１つの設計情報からソースコードの雛型、外部ファイル、テスト項目を生成する。 - 特許庁

The output buffer 3 is formed by using a P channel transistor 1 as a transistor which inputs an input signal at its gate electrode and the source potential of an N channel transistor forming a NAND gate 8 as a precedent-stage driver is switched by a switch circuit 11 to make the level of the signal inputted to the gate electrode of the P channel transistor lower in a test than in normal use.例文帳に追加

出力バッファ３を、入力信号がそのゲート電極に入力されるトランジスタにＰチャネルトランジスタ１を用いて形成し、前段ドライバとしてのＮＡＮＤゲート８を形成しているＮチャネルトランジスタのソース電位を、スイッチ回路１１で切り替えることにより、上記Ｐチャネルトランジスタのゲート電極に入力される信号のレベルを、テスト時には通常使用時よりも低いレベルとするようにしたものである。 - 特許庁

A method for inserting a moving fiber of a certain length into at least one component in a fiber drawing, fiber winding or fiber test step includes a step for engaging the fiber with a certain position existing between a fiber supply source and an aspirator along the length of the fiber and a step for moving the fiber and promoting the insertion of the fiber into at least one component in the fiber drawing step.例文帳に追加

ある長さの移動するファイバをファイバ線引き、ファイバ巻き付けまたはファイバ試験過程において少なくとも１つの構成要素に挿通する方法であって、前記ファイバの供給源とアスピレータとの間にある前記ファイバの長さに沿ったある位置に前記ファイバを係合させ、前記ファイバを移動させて、前記ファイバ線引き過程の前記少なくとも１個の構成要素に前記ファイバを挿通することを促進するステップとを含む方法。 - 特許庁

The petition for cancellation of the registration of a mark may be filed: (a) Within five years from the date of registration of the mark under the IP Code; (b) at any time, if the registered mark becomes the generic name for the goods or services, or a portion thereof, for which it is registered, or has been abandoned, or its registration was obtained fraudulently or contrary to the provisions of the IP Code, or if the registered mark is being used by, or with the permission of, the registrant so as to misrepresent the source of the goods or services on or in connection with which the mark is used. If the registered mark becomes the generic name for less than all of the goods or services for which it is registered, a petition to cancel the registration for only those goods or services may be filed. A registered mark shall not be deemed to be the generic name of goods or services solely because such mark is also used as a name of or to identify a unique product or service. The primary significance of the registered mark to the relevant public rather than purchaser motivation shall be the test for determining whether the registered mark has become the generic name of goods or services on or in connection with which it has been used. Evidence on purchaser motivation shall not be admitted; (c) At any time, if the registered owner of the mark without legitimate reason fails to use the mark within the Philippines, or to cause it to be used in the Philippines by virtue of a license during an uninterrupted period of at least three years.例文帳に追加

標章登録の取消申請は，次のように行うことができる。 (a)IP法に基づく標章の登録日から5年以内 (b)当該登録標章が，登録に係わる商品若しくはサービス又はその一部について普通名称になっているか放棄されている場合，当該登録が不正に若しくはIP法の規定に反して得られた場合，又は登録人により若しくは登録人の許可を得て当該登録標章が商品若しくはサービスの出所を偽って表示するように使用されている場合は，いつでも。当該登録標章が当該商品又はサービスの一部のみについて普通名称になっている場合は，当該一部の商品又はサービスについてのみ取消申請をすることができる。登録標章は，ある独特の商品若しくはサービスの名称としても又はある独特の商品若しくはサービスを特定するためにも使用されているということのみを理由としては，商品又はサービスの普通名称であるとはみなさない。登録標章が当該標章を使用している商品又はサービスの普通名称になっているか否かを決定するに当たっては，購入者の購入の動機ではなく，関係する公衆にとっての当該標章の主要な意味が基準になるものとする。購入者の動機に関する証拠は認められない。 (c)登録商標所有者が正当な理由なく3年以上継続してフィリピンにおいて当該標章を使用しなかったか又はライセンスによりフィリピンにおいて使用させることをしなかった場合は，いつでも。 - 特許庁

Sec.151 Cancellation 151.1. A petition to cancel a registration of a mark under this Act may be filed with the Bureau of Legal Affairs by any person who believes that he is or will be damaged by the registration of a mark under this Act, as follows: (a) Within five years from the date of the registration of the mark under this Act. (b) At any time, if the registered mark becomes the generic name for the goods or services, or a portion thereof, for which it is registered, or has been abandoned, or its registration was obtained fraudulently or contrary to the provisions of this Act, or if the registered mark is being used by, or with the permission of, the registrant so as to misrepresent the source of the goods or services on or in connection with which the mark is used. If the registered mark becomes the generic name for less than all of the goods or services for which it is registered, a petition to cancel the registration for only those goods or services may be filed. A registered mark shall not be deemed to be the generic name of goods or services solely because such mark is also used as a name of or to identify a unique product or service. The primary significance of the registered mark to the relevant public rather than purchaser motivation shall be the test for determining whether the registered mark has become the generic name of goods or services on or in connection with which it has been used. (c) At any time, if the registered owner of the mark without legitimate reason fails to use the mark within the Philippines, or to cause it to be used in the Philippines by virtue of a license during an uninterrupted period of three years or longer.例文帳に追加

第151条 取消 151.1本法による標章の登録により損害を受けている又は損害を受けるであろうと考える者は，法律局に対して当該標章登録の取消の請求をすることができる。ただし，次の条件に従う。 (a)取消の請求は，本法に基づく当該標章の登録日から5年以内にしなければならない。 (b)取消の請求は，当該登録標章が登録に係る商品若しくはサ－ビス若しくはその一部について一般名称になっているか若しくは放棄されている場合，当該登録が不正に得られたか若しくは本法の規定に反してなされた場合，又は権利者により若しくは権利者の承認のもとに当該登録標章が商品若しくはサ－ビスの出所を偽って表示するように使用されている場合は，いつでもすることができる。登録標章が登録に係る商品又はサ－ビスの一部について一般名称になっている場合は，当該一部の商品又はサ－ビスについてのみ取消の請求をすることができる。登録標章は，当該標章がある独特の商品若しくはサ－ビスの名称としても又はある独特の商品若しくはサ－ビスを特定するためにも使用されているということのみを理由としては，商品又はサ－ビスの一般名称であるとはみなさない。登録標章が当該標章を使用している商品又はサ－ビスの一般名称になっているか否かを決定するに当たっては，購入者の購入の動機ではなく，関連する公衆にとっての当該標章の主要な意味が基準になる。 (c)取消の請求は，権利者が正当な理由なくして3年以上継続してフィリピンにおいて当該標章を使用しなかったか又はライセンスによりフィリピンにおいて使用させることをしなかった場合は，いつでもすることができる。 - 特許庁