「source test」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

When the light output value is not larger than the dark output value or the dark output value is not equal to the dark output reference value, it is judged that some abnormality occurs to the test light source or control is abnormal (step S7).例文帳に追加

一方、明出力値＞暗出力値でなかったり、暗出力値＝暗出力基準値でないような場合には、試験光源に何らかの異常が存在したり、制御に異常が存在していると判断する（ステップＳ７）。 - 特許庁

A microphone unit 10 is installed within an airfield, and window areas Wa-Wc are specified individually for each zone that may become a noise generation source such as a parking area 20, a taxing path 30, an engine test operation area 60 or the like.例文帳に追加

飛行場内にマイクロホンユニット１０を設置し、駐機エリア２０やタクシング路３０、エンジン試運転エリア６０等の騒音発生源となる区域ごとに窓領域Ｗａ〜Ｗｃを個別に規定する。 - 特許庁

Since the driving wheel of the vehicle 20 to be tested is forcibly rotated by the rotation of the support rotating body 43, the vehicle speed of the vehicle 20 to be tested can be controlled, by controlling the rotation of the test machine-side power source 42.例文帳に追加

この支持回転体４３の回転により試験車両２０の駆動輪は強制的に回転するから、試験機側動力源４２の回転を制御することで試験車両２０の車速を制御する。 - 特許庁

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

This tester is provided, in a case 3, with: a light source 4 for radiating light; and a reflection type prism 7 for irradiating the hologram provided for the test object located on the lower side with the light from the light source 4 and for introducing light reflected from the hologram in different directions to refract them to the upper side being the same direction or nearly the same direction.例文帳に追加

光を照射するための光源４と、この光源４からの光を下方に位置する被検査物に備えたホログラムに照射し、かつ、該ホログラムからの異なる方向の反射光を取り込んで同一方向又はほぼ同一方向となる上方へ屈折させるための反射型プリズム７とをケース３に備えた。 - 特許庁

Substance information and a written request data sheet created on a request-source terminal 52 are e-mailed to request-source and total management department terminals 6 and 7 in sequence and approval information input parts 62 and 72 enter approval information made by approvers into the written request data sheet and send it to a test management department terminal 8.例文帳に追加

依頼元端末５２で作成した物質情報，依頼書データシートを電子メールで依頼元，全体管理部門端末６，７に順次送信し、承認情報入力部６２，７２によって依頼書データシートに承認者による承認情報を記載して、試験管理部門端末８に送信する。 - 特許庁

The reference voltage generating unit generates normal reference voltage which does not depend on a potential of the external power source during normal operation, and generates first burn-in reference voltage depending on a potential of the external power source and second burn-in reference voltage having a potential being same as the normal reference voltage during burn-in acceleration test.例文帳に追加

そして，参照電圧生成ユニットは，通常動作時において，外部電源の電位に依存しない通常参照電圧を生成し，バーイン加速試験時において，外部電源の電位に依存する第１のバーイン参照電圧と通常参照電圧と同じ電位を有する第２のバーイン参照電圧とを生成する。 - 特許庁

The display device has, on a substrate, a pixel circuit driven through a gate line and a source line, first wiring formed simultaneously to the gate line, second wiring formed simultaneously with the source line, and the test circuit which detects the defect of the pixel circuit, by using potentials of the first wiring and second wiring.例文帳に追加

基板上に、ゲートライン及びソースラインにより駆動する画素回路と、前記ゲートラインと同時に形成された第１の配線、及び前記ソースラインと同時に形成された第２の配線と、前記第１の配線及び前記第２の配線の電位により、前記画素回路の不良を検知する検査回路と、を有する構成とした。 - 特許庁

The test management device 1 comprises a specification part 15 which reads relevant information, upon receiving code correction information showing a module related to a corrected source code, from a first storage part 12 storing relevant information relating each module constituting software with test items related to each module, and specifies the test items related to the module shown by the code correction information in the read relevant information.例文帳に追加

試験管理装置１は、修正されたソースコードに関連するモジュールを示したコード修正情報を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する試験項目とを関連付けた関連情報が記憶された第１記憶部１２から関連情報を読み出すと共に、読み出した関連情報においてコード修正情報の示すモジュールに関連付けられている試験項目を特定する特定部１５を備える。 - 特許庁

By short-circuiting the first gradation voltage signal line and the second gradation voltage signal line when a test signal is turned on, a test switch circuit 24 can measure a leak current between the drain and source of a specific transistor out of the transistors Mp1 to Mp6 of the first group or the transistors Mn1 to Mn6 of the second group.例文帳に追加

テストスイッチ回路２４は、テスト信号がオンになったときに、第一の階調電圧信号線と、第二の階調電圧信号線とを短絡させることによって、第一群のトランジスタＭｐ１〜Ｍｐ６、若しくは、第二群のトランジスタＭｎ１〜Ｍｎ６における特定のトランジスタについて、そのドレイン−ソース間のリーク電流を測定することを可能とする。 - 特許庁

To provide a method of the subject non-contact measurement of high accuracy through such a procedure that a test sample of strand-shaped textile product is irradiated with laser beams within the measurement region for a beam source and the resulting beams are focused within the sensor region of a receiver where the dispatched signal is transformed to a measurement corresponding to the dimension of the test sample.例文帳に追加

ストランド形状の繊維製品の無接触測定方法であって、被検物４をビーム源１の測定領域内において照射し、センサセルを有している受信装置５のセンサ領域に結像し、個々のセンサセルによって発生された信号を被検物の寸法に対する測定値に変換する形式の方法を、精度が高められるようにする。 - 特許庁

To provide a material testing machine eliminated in the setting a gain prior to a test in a material testing machine having a motor as a drive source, automatically optimized in gain accompanied by the advance of the test and capable of performing more accurate control even if there is noise in the detection value of a control quantity and processing such as filtering or the like is applied.例文帳に追加

モータを駆動源とする材料試験機において、試験に先立ってゲインを設定する必要がなく、かつ、そのゲインを試験の進行に伴って自動的に最適化され、なおかつ、制御量の検出値にノイズがあったり、フィルタなどの処理が施されていても、より正確な制御を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加

モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁

This test program development device is provided with: the input sheet 1 of a spreadsheet format inputted with the test condition in cell units; a display part 90 wherein a text editor screen 3 displaying the source file is displayed on the same screen; and an event monitoring part 30 reflecting editing contents of one in the other between the input sheet and the text editor screen.例文帳に追加

セル単位でテスト条件が入力される表計算様式の入力シート１と、ソースファイルを表示するテキストエディタ画面３が同一画面上に表示される表示部９０と、これら入力シートとテキストエディタ画面の相互間で一方の編集内容を他方に反映させるイベント監視部３０、を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

The risky portion extracting part 110 extracts a risky portion with a risk of generating the malfunction in the test caused by the IR drop of an electric power source, from the semiconductor integrated circuit, and the ATPG 150 generates the test pattern to restrain an operation rate of an instance included in the risky portion, in the risky portion extracted by the risky portion extracting part 110.例文帳に追加

危険箇所抽出部１１０は、半導体集積回路から、電源のＩＲドロップに起因してテスト時に誤動作が生じうる危険箇所を抽出し、ＡＴＰＧ１５０は、危険箇所抽出部１１０により抽出された危険箇所に対して、該危険箇所に含まれるインスタンスの動作率を抑制するようにテストパターンを生成する。 - 特許庁

The device is equipped with a strut, an excitation source for shaking one terminal of the strut longitudinally, and a fixing means for fixing a test piece at an antinode of a standing wave generated due to the strut excitation in such a way that the longitudinal direction is orthogonal to the excitation direction.例文帳に追加

柱体と、柱体の長手方向の一端を加振する加振源と、柱体の加振により発生する定常波の腹位置で試験片をその長手方向が加振方向と直交するように固定する固定手段とを備える。 - 特許庁

A chromatography analyzer 1 includes a light source 2, an irradiation optical system 3, a line sensor 4, a detection optical system 5, a scanning device 6 which scans a test piece 9 as an object to be scanned in a scanning direction, and a control part 7 which controls the respective parts.例文帳に追加

クロマトグラフィー分析装置1は、光源2と、照射光学系3と、ラインセンサ4と、検出光学系5と、試験片9を走査対象物として走査方向に走査させる走査装置6と、各部を制御する制御部7とを備える。 - 特許庁

To provide a wind tunnel test apparatus capable of cooling sample gases discharged from a gas generating source to a desired temperature (for example, -162°C) and also of reproducing behavior of the gas same as leakage of actual LNG.例文帳に追加

ガス発生源から吐出される試料ガスを所望の温度（例えば、−１６２℃）にまで冷却することができるとともに、実際のLNGの漏洩と同じガスの挙動を再現することができる風洞試験装置を提供すること。 - 特許庁

In the case of ordinary drive operations, the switch circuit 22 is closed, and in conducting the high voltage application test, the switch circuit 22 is opened and a high voltage is applied between the gate and the source, drain of each of the FETs 3, 4.例文帳に追加

そして、通常の駆動動作を行なう場合はスイッチ回路２２を閉じて、高電圧印加試験を行う場合には、スイッチ回路２２を開いて各ＦＥＴ３，４のソース，ドレイン側とゲートとの間に高電圧を印加する。 - 特許庁

To provide an LED light source for test, capable of preventing unevenness in illuminance and color of illumination light, and to provide a solar cell evaluation device capable of accurately evaluating output characteristics of solar cells by the same.例文帳に追加

照射光の照度ムラや色ムラの発生を抑えることができる試験用ＬＥＤ光源とこれを用いて太陽電池の出力特性を高精度に評価することができる太陽電池評価装置を提供すること。 - 特許庁

On the contrary, when terminating the application of the test driving signals, it monitors if the clock signal, the power source voltage for the output, and the cathode voltage of the organic EL element are applied by sequence of the inverse order.例文帳に追加

逆に、検査駆動信号の印加を終了する際には、有機ＥＬパネルに対して印加するクロック信号、出力用電源電圧、有機ＥＬ素子のカソード電圧について、逆順のシーケンスで印加しているかを監視する。 - 特許庁

A wavelength scanning interferometer measures an absolute distance to an object on the basis of a signal of interference light between reference light, which is divided from a light flux emitted from a light source while changing a wavelength of the light flux, and test light.例文帳に追加

波長走査干渉計は、光源から射出される光束の波長を変更しながら該光束から分割された参照光と被検光との干渉光の信号に基づいて被検体までの絶対距離を計測する。 - 特許庁

Letting that one turbidity matter in the test water flowing through the measuring cell 11 is PM1, the turbidity matter PM1 interrupts a laser beam emitted from a particle counter light source 12a when the turbidity matter PM1 reaches a location A of particulate detection.例文帳に追加

測定セル１１を流れる検水中のある一つの濁質をＰＭ１とすると、濁質ＰＭ１は、微粒子検出位置Ａに達すると、濁質ＰＭ１が微粒子計光源１２ａから発せられるレーザー光線を遮断する。 - 特許庁

The optical test signal has a property variably defined by a feedback loop formed between a reference image sensor 112 coupled to the probe card and a control unit 140 connected between the reference image sensor 112 and the illumination source.例文帳に追加

光学テスト信号はプローブカードと結合した基準イメージセンサ１１２と、基準イメージセンサ１１２と照明ソースとの間に連結された制御部１４０の間に形成されたフィードバックループによって多様に定義された性質を有する。 - 特許庁

In a normal time, a TEST flag signal is 'L', a switch SWA is turned on, a switch SWB is turned off, an output of a first boosting circuit 104 is supplied to a memory core 107 and a voltage drop power source 108.例文帳に追加

通常時においては、ＴＥＳＴフラグ信号が「Ｌ」であり、スイッチＳＷＡはオン、スイッチＳＷＢはオフとなり、メモリコア１０７及び降圧電源１０８には、同じ第１の昇圧回路１０４の出力が供給される。 - 特許庁

By analyzing a source code to be tested, a change in an input/output interface can be reflected, and input-related information including an input value (test case) and an output value (expectation value) or input/output relationship information after the change is created.例文帳に追加

テスト対象ソースコードを解析して、入出力インタフェースの変更を反映することができ、入力値（テストケース）と出力値（期待値）を含む入力関係情報又は変更後入出力関係情報を作成する。 - 特許庁

To enable execution of a burn-in test for a wafer formed with a large number of dies by decreasing the number of control signals required for power-source control dies formed on a wafer for smaller device scale.例文帳に追加

ウェーハ上に形成されたダイの電源制御に必要となる制御信号の本数を減らして装置規模を小さくし、多数のダイが形成されたウェーハのバーンイン試験を実施可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Alternatively, table recording parameters of reception setting suitable to the data transmission is created for each identification information of a transmission source on the basis of a result of measurement of the optical signal strength of a test frame received prior to the data transmission.例文帳に追加

あるいは、データ受信に先立って受信される試験フレームの光信号強度の測定結果に基づき、送信元の識別情報毎にデータ受信に適応した受信設定のパラメータを記録したテーブルを作成する。 - 特許庁

A pattern generator 4 repeatedly impresses the same test pattern to a DUT 2 via a driver 6, and power source current values measured in those times are turned into digital signals in a signal conversion circuit 8a so as to be supplied to an equalizing unit 8b.例文帳に追加

パタン発生器４からドライバ６を介してＤＵＴ２へ同一テストパタンを繰り返し印加し、そのとき測定された電源電流値を信号変換回路８ａでディジタル信号として平均化処理部８ｂへ供給する。 - 特許庁

The device for measuring the glucose level in a living tissue includes electrodes which are brought into contact with a test specimen and a voltage control oscillator (31) as a signal source for generating an AC voltage within a predetermined frequency range.例文帳に追加

生きている組織内のグルコースレベルを測定するための装置は、検体に接触される電極と、所定の周波数範囲内でＡＣ電圧を生成するための信号源としての電圧制御発振器（３１）を有する。 - 特許庁

The detection means compares the voltage at a first spot in power source conductors with the voltage at a second spot at a distance from the first spot, to thereby detect the overcurrent flow during the burn-in operation test.例文帳に追加

この検出手段は、電源配線における第１の箇所の電圧と、前記第１の箇所から距離をおいた第２の箇所の電圧とを比較することで、バーンイン動作試験中に過電流が流れたことを検出する。 - 特許庁

A common passage 11 connected to a test pressure source 15 is branched into a passage 12 for connecting a master component housing space 52, passages 13_1-13N for connecting workpiece housing spaces 53_1-53N, and a back-pressure feeding passage 14.例文帳に追加

テスト圧源１５に接続された共通通路１１から、マスタ部品収容空間５２が接続される通路１２と、ワーク収容空間５３_１〜５３_Ｎが接続される通路１３_１〜１３_Ｎと、背圧供給通路１４が分岐している。 - 特許庁

The card strength test can be completed by one device by installing a bending testing unit in juxtaposition in the torsion testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加

また、曲げ試験ユニットをねじり試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁

The card strength test can be completed by one device by installing a torsion testing unit in juxtaposition in the bending testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加

また、ねじり試験ユニットを曲げ試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁

In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.例文帳に追加

補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

This device is characterized by being provided with a selection part for selecting a test object output pin by a plurality of relays, at least one current source for sending a current to the output pin selected by the selection part, and a control part for controlling switching of the relay of the selection part and allowing the current source to send a current at the on-time of the relay.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力ピンを、複数のリレーにより選択する選択部と、この選択部が選択した出力ピンに電流を流す少なくとも１つの電流源と、選択部のリレーの切替を制御すると共に、リレーのオン時に、電流源に電流を流させる制御部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

A system 10 and a method for performing a radiography test on the fuselage 12 of the aircraft include a radiation source 28 arranged on the inside of the body 12 and a radiation detector 32 arranged on the outside of the fuselage 12 desirably.例文帳に追加

航空機の胴体（１２）の放射線写真検査を行うシステム（１０）及び方法が、好ましくは胴体（１２）の内側に配置された放射線源（２８）と、好ましくは胴体（１２）の外側に配置された放射線検出器（３２）とを含む。 - 特許庁

This device is provided with a detecting section 35 detecting a state of the prescribed terminal plural times at the time of applying a power source, and test sections 37, 31 activated when detected results of plural times by the detecting section 35 are all an expected value.例文帳に追加

電源の投入時に、所定の端子の状態を複数回検出する検出部３５と、検出部３５による複数回の検出結果がいずれも期待値のときに活性化される試験部３７、３１とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

A plurality of test pieces where an echo generation source is specified in advance under a plurality of sampling conditions are inspected, echo waveform data are obtained, and the sampling conditions and the waveform data are stored in a database 11 as inspection information while they correspond each other.例文帳に追加

データベース１１には、複数の採取条件下で予めエコー発生源が特定された複数の試験片を検査してエコー波形データを得て採取条件と前記波形データとが対応付けられて検査情報として格納される。 - 特許庁

A P channel MOS transistor TR1 being made a non-conduction state when a potential given to a terminal T1 is a power source potential EXTVDD or less is provided between a SVIH detecting circuit 22 detecting a test mode and the terminal T1.例文帳に追加

端子Ｔ１に与えられる電位が電源電位ＥＸＴＶＤＤ以下である場合に非導通状態となるＰチャネルＭＯＳトランジスタＴＲ１を、テストモードの検出を行なうＳＶＩＨ検出回路２２と端子Ｔ１との間に設ける。 - 特許庁

A sample to be examined is mounted on a cassette and inserted into a housing in which light is not practically transmissible and, in order to induce fluorescent light emission from a test compound on the sample, light from a light source inside the housing is turned toward the sample.例文帳に追加

検査されるサンプルがカセット上に取付けられ、実質的に光を通さない筐体内へと挿入され、サンプル上の被検化合物からの蛍光発光を誘起するために、筐体内の光源からの光がこのサンプルに向けられる。 - 特許庁

To provide a distribution board fitted with a lighting arrester, which can protect load from thunder surge going through an antenna line, a telephone line, etc., and is also applicable to the use of the communication line of a power source line, and further in which the insulation test of an apparatus, etc., can be performed easily.例文帳に追加

アンテナ線や電話線等を経由する雷サージから負荷を保護することができ、電源線の通信線利用にも適し、更に機器等の絶縁試験を容易に行うことができる避雷器付分電盤を提供することを課題とする。 - 特許庁

A source file is converted using a primary key possessed by a program provider to create a distribution file 13 and a secondary key 13a and only in a case of using the distribution key and the secondary key, an object file of the test program can be created.例文帳に追加

ソースファイルをプログラム提供者の保有する１次キーを用いて変換することにより流通ファイル１３と２次キー１３ａを作成し、流通ファイルと２次キーとを用いた場合にのみテストプログラムのオブジェクトファイルを作成できるようにしている。 - 特許庁

This device is provided with: an electric power supply voltage change means provided in the power source part and changing electric power supply voltage; and a control part outputting command to change electric power supply voltage to the electric power supply voltage change means at a time of diagnosis of the test part.例文帳に追加

本装置は、電源部に設けられ、給電電圧を変動させる給電電圧変更手段と、試験部の診断時に、給電電圧を変動させる指令を給電電圧変更手段に出力する制御部と、を備える装置である。 - 特許庁

A fixture body has pass contact shoe connected to a test power source on the outside surface and is constituted to comprise a pair of extension clamps for extending by moving in directions opposite to each other by operation of a handle.例文帳に追加

治具本体は、試験電源に接続された通電接触子を外側面に有し、かつ操作ハンドルの操作によって、相互に離反方向に移動させて伸長させる少なくとも一対の伸長クランプ体を備えた構成になっている。 - 特許庁