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英和・和英辞典で「相対寸法」に一致する見出し語は見つかりませんでしたが、
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「相対寸法」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 193



例文

研削車(16)とワーク(34)は、所定量の余剰寸法(A)だけ、互いに相対的に送り込まれる。例文帳に追加

The grinding wheel 16 and the work 34 are relatively fed by the predetermined quantity of the excessive dimension A. - 特許庁

即ち、離間間隔D1〜D4は、横幅寸法相対的に大きい範囲では狭く設定し、逆に横幅寸法相対的に小さい範囲では広く設定する。例文帳に追加

That is to say, the separated intervals D1 to D4 is set narrower, in a range where lateral widths are relatively large, and conversely are set wider, in a range where the lateral widths are relatively small. - 特許庁

厚み寸法が略規定された戸体1では、厚み寸法を小さくしたケナフ板3によると、相対的に芯材2の厚み寸法を大きく採ることができて高い剛性強度を備えるようにできる。例文帳に追加

In this door body 1 having substantially prescribed thickness, the core member 2 includes relatively large thickness and high strength and rigidity thanks to the kenaf board 3 having small thickness. - 特許庁

第2リング708bの内側の鉛直寸法は水平寸法よりも大きく、インナーカバー572cはその鉛直寸法に嵌合するので、インナーカバー572cは第2リング708bとの間で相対回転しない。例文帳に追加

As a vertical dimension of an inner side of the second ring 708b is larger than a horizontal dimension, and the inner cover 572c is fitted to the vertical dimension, the inner cover 572c does not relatively rotate to the second ring 708b. - 特許庁

分割組立型のモータにおいて、同一寸法のステータを設けた場合のモータ全体の寸法相対的に小さく、また、ケーシングの分割方向の寸法が小さいモータの組立構造を提供する。例文帳に追加

To make relatively small the size of a motor as a whole and also make small the size in the dividing direction of a casing, when the stators of the same size are provided in the dividing and assembling type motor. - 特許庁

曲げ加工装置は、各曲げ工程ごとに、加工条件に基づいて、パンチストロークとダイV幅寸法との相対関係式を算出する相対関係式算出手段20Eと、該相対関係式とパンチストローク検出値に基づいて、加工中のダイDのV幅寸法を可変制御するV幅寸法可変制御手段20Gを有する。例文帳に追加

The bending apparatus has a relationship calculation means 20E to calculate the relationship curve between the punch stroke and the V width of a die based on the bending condition for each bending step, and a V width variable control means 20G to variably control the V width of a die D during the bending based on relationship formula and the detected value of punch stroke. - 特許庁

これらの寸法値は文字列の描画の原点からの相対位置であり、指定されたフォントセットに対して呼び出されたフォントを用いて計算される。例文帳に追加

Thesemetrics are relative to the drawing origin of the string, using the fonts loaded for the specified font set. - XFree86

半導体ウェーハの内部結晶欠陥の深さと相対寸法因子の測定及び結晶欠陥の個数の算出を可能とする。例文帳に追加

To measure the depth of the internal crystal defect of a semiconductor wafer and a relative dimension factor and to compute the number of crystal defects. - 特許庁

車庫ユニット20aの内壁面を形成する内壁材37は、その幅寸法相対する天井大梁24の離間距離より小さい。例文帳に追加

The width of an interior wall material 37, which forms an inner wall surface of the garage unit 20a, is smaller in dimension than an isolation distance between opposed ceiling girders 24. - 特許庁

プレート2の錘部13と相対する位置に、錘部13とプレート2との間の変位空隙寸法3を計測する貫通孔23を設ける。例文帳に追加

A penetration hole 23 is provided at the position facing the bob 13 of the plate 2 to measure the displacement gap dimension 3 between the bob 13 and the plate 2. - 特許庁

静電アクチュエーター54は、各可動部512,522を相対的に移動させることで、ギャップGの寸法を変更させる。例文帳に追加

The electrostatic actuator 54 relatively moves the movable portions 512 and 522 to change the dimensions of the gap G. - 特許庁

ロンジ材の溶接組立において、省力化、生産性の向上を図り、ウェブ材の相対的な取付寸法を正確に位置決めする。例文帳に追加

To improve the labor saving and the productivity, and to correctly position the relative fitting dimension of a web in the welding assembly of a longitudinal. - 特許庁

コード14の余長部14bの長さLは、上下ベース3,4の最大相対動ストロークSよりも大きい寸法に設定されている。例文帳に追加

The length L of the extra portion 14b of the cord 14 is set to a size larger than the maximum relative stroke S of the upper and lower bases 3 and 4. - 特許庁

複数のワークについて、相対的な位置関係を把握し易く、測定結果を容易に識別することができる寸法測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a dimension measuring device such that relative positional relation between a plurality of works is easy to grasp, and measurement results are easily discriminated. - 特許庁

機能部品の寸法精度を過剰に高くすることなく、鍵盤部に対する機能部品の左右方向の相対的な位置精度を確保する。例文帳に追加

To ensure relative positional accuracy in the lateral direction of a functional component to a keyboard part without excessively increasing dimensional accuracy of the functional component. - 特許庁

取得位置から観察するとき、第1位置と第2位置の間の座標空間内で、深さの寸法を含む相対位置を特定することができる。例文帳に追加

A relative position that includes a dimension of depth can be identified in coordinate space between the first location and the second location, when viewed from the capture location. - 特許庁

寸法に対する相対的な変形量が大きく、かつ、他の部材に粘着しにくい弁部材を提供する。例文帳に追加

To provide a valve member large in relative deformation quantity to dimensions and hardly sticking to other members. - 特許庁

圧縮によって結晶の寸法をほとんど変化させることなく、相対密度が85%以上である磁性固形材料を得た。例文帳に追加

Thus, a magnetic solid material can be obtained without almost changing the size of crystal due to compression. - 特許庁

前記中敷板は、このましくは、底板部材に係着された相対する分割フレームの下部内壁に圧接する外形寸法に形成する。例文帳に追加

The interboard is preferably formed into an outer shape dimension to be brought into pressure contact with lower inner walls of the parting frames facing each other engaged with the bottom member. - 特許庁

連結部15と導通口13との距離寸法は基礎2と架台4とが相対移動することで大小変化する。例文帳に追加

The distance dimension between a connecting part (15) and the leading mouth (13) is changing large and small along with the foundation (2) and the stand (4) moves relatively. - 特許庁

この保持部42は、各保持具形成体16,16の相対移動により、内寸法Dが拡縮されるようになっている。例文帳に追加

The inside dimension D of the retainer part 42 is extended/contracted by the relative movement of the retainer forming bodies 16 and 16. - 特許庁

さらに、搬送路22とロータリ現像器44との間で占めるスペースを相対的に小さくできるため、装置の奥行き寸法を小さくできる。例文帳に追加

Further, since a space occupied by a conveyance path 22 and the rotary developing unit 44 can be relatively reduced, the depth dimension of the apparatus can be reduced. - 特許庁

顔面測定器2は、メガネのように掛けて顔面寸法を測定し、左耳と右耳と鼻の相対的位置の把握ができる。例文帳に追加

A face measuring instrument 2 is put on like eyeglasses to measure user's face dimensions and allows recognition of relative positions information of his or her left ear, right ear, and nose. - 特許庁

本発明の高熱伝導絶縁材は、相対的に大寸法のフィラー2(粗大フィラー)のまわりに相対的に小寸法のフィラー3(微小フィラー)が凝集してなる凝集体4が、ポリマー母材1内に分散した内部構造を呈している。例文帳に追加

The highly thermal conductive insulating material exhibits an internal structure wherein aggregates 4, in which relatively small-dimension fillers 3, (micro-fillers) become massed together around relatively large-dimension fillers 2 (macro-fillers) are dispersed inside a polymer-based material 1. - 特許庁

ワーク識別装置2は、パレット65側に絶対基準点を設定する一方、ワーク63側に相対基準点を設定しておき、絶対基準点と相対基準点との間のずれ量と、パレット65上の正四角形のXY寸法とに基づいて、ワーク63のXY寸法を演算する。例文帳に追加

This workpiece identification device 2 sets an absolute reference point in a palette 65 side, sets a relative reference point in a palette 63 side, and computes XY dimensions of the workpiece 63, based on a shift amount between the absolute reference point and the relative reference point, and based on and XY dimensions of a regular quadrangle on the palette 65. - 特許庁

奥行き寸法測定手段は、シリンダ部26に固定した状態のピストン部28を損傷発生面Aに当接させるようにシリンダ部26を昇降したときのシリンダ部26と幅寸法ゲージ部18との相対位置の変位量から奥行き寸法を求める。例文帳に追加

A depth dimension measuring means obtains a depth dimension from a displacement amount of the relative position between the cylinder section 26 and the width dimension gauge section 18 at a time when the cylinder section 26 is vertically moved in such a manner that the piston section 28 in a condition that the piston section 28 is fixed to the cylinder section 26 is contacted to a damage generated face A. - 特許庁

寸法校正用試料用の試料台は、試料ホルダーの凹部に係合するホルダー装着部と、寸法校正用試を保持する試料貼付部と、ホルダー装着部に対して寸法校正用試料の位置を光軸方向に沿って相対的に移動させるための位置調整機構と、を有する。例文帳に追加

The sample pedestal for the sample for dimensional proofreading is provided with a holder mounting part engaged with a recessed part of the sample holder, a sample sticking part holding the dimensional proofreading sample, and a position adjustment mechanism for relatively moving a position of the dimensional proofreading sample along the light axis direction with respect to the holder mounting part. - 特許庁

相対寸法L1が所定寸法L2になるまで、試料液注入機9により試料液2を連続的に注入し、その後、試料液注入機9により試料液2を所定時間毎に滴下させて注入する。例文帳に追加

Until the relative size L1 becomes a prescribed size L2, the sample liquid 2 is continuously injected by means of the sample liquid injector 9 and, thereafter, the sample liquid 2 is dropped every prescribed time by means of the sample liquid injector 9. - 特許庁

また、バックライト光出射面Xの周囲に形成される枠状の非発光部の幅を狭くして、外形寸法に対して発光部寸法相対的に大きくすることも可能である。例文帳に追加

The width of a frame-line non-light emitting part formed in the periphery of the plane X of incidence of back-light is reduced to make the dimensions of the light emitting part relatively larger than the dimensions of the outline. - 特許庁

高さ寸法変更部材40は、所定方向の相対移動動作を回転動作に変換する第1変換機構41と、回転動作を高さ寸法の拡縮動作に変換する第2変換機構42と、を有する。例文帳に追加

The height dimension changing member 40 has a first conversion mechanism 41 which converts a relative movement motion in a prescribed direction to a rotating motion, and a second conversion mechanism 42 which converts the rotating motion to an expansion and contraction motion of the height dimension. - 特許庁

記憶された寸法線を表示する特徴画像に対する相対位置に関する情報に基づいて、計測位置を示す寸法線及び計測結果を所定の位置に表示する。例文帳に追加

A dimension line showing the measuring position and the measurement results are displayed on a prescribed position based on the information on the relative position to the characteristic image showing the stored dimension line. - 特許庁

相対回動不能な結合のために、少なくとも1つの楔エレメント106の周の、第2のレース102に接触する部分の寸法130が、該部分の軸方向の寸法よりも大きく設定されているようにした。例文帳に追加

The dimension 130 of that part on the periphery of at least one wedge element 106 which makes contact with the second race 102 is set greater than the axial direction dimension of the same part in order to establish a coupling not able to make relative rotation. - 特許庁

簡単で効率良くしかも正確に基準部材と被測定部材との外径寸法差を相対的に測定することができる寸法測定器を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a dimension measuring instrument capable of measuring simply, efficiently and accurately a relative outer diameter size difference between a reference member and a measured member. - 特許庁

製品の仕上がり寸法精度と切削加工の加工精度と可動金型20の切削工具30に対する相対位置制御の精度と固定金型18及び可動金型20のキャビティ16の寸法精度とを整合させた。例文帳に追加

The dimensional accuracy of the finished product, the machining accuracy of cutting, the accuracy of controlling the relative position of the movable mold 20 in relation to the cutting tool 30, and the dimensional accuracy of the cavity 16 of the fixed mold 18 and the movable mold 20 are matched. - 特許庁

欠陥検査装置21および寸法検査装置31は、ブレード1が欠陥検査装置21および寸法検査装置31に対して連続的に相対移動されるように取付台11の移動方向に沿って配列されている。例文帳に追加

A defect inspection device 21 and a dimension inspection device 31 are arrayed along the moving direction of a mount 11 so that the blade 1 is relatively moved continuously to the defect inspection device 21 and to the dimension inspection device 31. - 特許庁

繊維シート3dは、その30℃相対湿度50%における寸法を基準としたときの30℃相対湿度98%における伸長率が1%以下である。例文帳に追加

The fiber sheet 3d has a stretching rate of 1% or less at 30°C and 98% relative humidity based on a standard size at 30°C and 50% relative humidity. - 特許庁

また、1次加工品(1)を製造装置(5)に位置保持する開始タイミングは、相対位置を検出するか、温度を検出して相対位置を線膨張係数から算出するか、温度と寸法により算出した時間にて制御する。例文帳に追加

The start timing for positionally holding the primary processed article (1) to a manufacturing apparatus (5) is detected by detecting a relative position or temperature to calculate the relative position from the coefficient of linear expansion or controlled on the basis of the time calculated based on temperature and a dimension. - 特許庁

曲げ加工方法は、(1)各曲げ工程ごとに、加工条件に基づいて、パンチストロークとダイV幅寸法との相対関係式を算出し、(2)該相対関係式を算出後、加工中は、パンチストロークを検出し、該パンチストローク検出値と前記相対関係式に基づいて、ダイDのV幅寸法を可変制御する。例文帳に追加

In the bending method, (1) the relationship between the punch stroke and the V width of the die is calculated based on the bending condition for each bending step, and (2) the punch stroke is detected during the bending after calculating the relationship, and the V width of the die D is variably controlled based on the detected punch stroke and relationship formula. - 特許庁

また、フレーム固着部25の開口内径寸法に対する後端部分20の比率が小さくなることから、挿入作業時に、フレーム固着部25に対するリードフレーム10の相対位置を設定する際の相対位置の許容誤差範囲が大きくなり、相対位置の位置決めの煩雑さを軽減できる。例文帳に追加

Since the ratio of the rear end part 20 to the aperture inner diameter size of the frame fixing part 25 becomes small, an allowable error range of the relative position when setting the relative position of the lead frame 10 to the frame fixing part 25 becomes large, to thereby reduce complication of positioning of the relative position. - 特許庁

ベース基材2の表面に導電材料からなり所定ピッチに形成された複数本の導体3を形成し、この導体3のインナーリード部5に対応する部分の厚さ寸法を、その他の部分の厚さ寸法よりも相対的に小さくする。例文帳に追加

A plurality of conductors 3 comprising conductive materials and formed at predetermined pitches are formed on the surface of the base material of a base 2, and the thickness of the part corresponding to the inner lead 5 of the conductor 3 is relatively reduced than the thickness of the other part. - 特許庁

コンタクト部において、コンタクト支持部61に対する負極プローブおよび正極プローブの初期位置、負極プローブおよび正極プローブ間の離間寸法、負極プローブおよび正極プローブと板部材との相対移動寸法はそれぞれ、調整可能である。例文帳に追加

Initial positions of a negative electrode probe and a positive electrode probe against the contact support part 61, separation gap between the negative electrode probe and the positive electrode probe, and size of relative movement of the negative electrode probe and the positive electrode probe with a plate member can all be adjusted. - 特許庁

複数本の短寸法繊維を収容する容器(10,30,35)と、この容器(10,30,35)内で短寸法繊維同士が相対運動して擦れ合いおよび衝突の機会が増大するように当該容器(10,30,35)を運動させる駆動手段(20,40)とを設ける。例文帳に追加

This apparatus is characterized by disposing a container (10, 30, 35) for housing short fibers and a driving means (20, 40) for moving the container (10, 30, 35) to increase the opportunity of the mutual rubbing and collision of the short fibers by their relative movements in the container (10, 30, 35). - 特許庁

旋削加工されたワーク(10)を測定し、該ワークの許容公差から外れている寸法偏差のある場合に、ワークホルダーと工具(12)とをワークの直径の方向で前記寸法偏差の半分だけ互いに相対的に送り調節する。例文帳に追加

When a dimensional deviation come off from a permissible tolerance of the workpiece (10) is found by measuring the lathe turned workpiece (10), a workpiece holder and a tool (12) are relatively fed and adjusted at half only of the dimensional deviation in a diameter direction of the workpiece. - 特許庁

例文

ダイの限界寸法の値は、相対して高いスキャン速度により得られる低解像度の走査像から得られるので、上述の方法は、受け入れ可能な検査時間内で、ウェハ全体中の各ダイの限界寸法の値を得て、半導体製造プロセスの均一性を監視することができる。例文帳に追加

the values of the critical dimensions of the die can be obtained from a scan image of low resolution obtained at a relatively high scanning speed, so the method can obtain values of critical dimensions of respective dies in the whole wafer within an acceptable inspection time to monitor uniformity of a semiconductor manufacturing process. - 特許庁

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