「BACK BEAM」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The detection part receives back-scattered light of circularly polarized light from water content in clouds, in response to irradiation beam.例文帳に追加

検出部は、照射ビームに応答して、雲の中の水分から円偏光した後方散乱光を受け取る。 - 特許庁

Transmission/dispersion beam detecting means 9a, 9b are arranged at back side of the sample on the electron irradiation axis in a view from electron irradiation direction.例文帳に追加

透過・散乱ビーム検出手段９ａ，９ｂは、電子ビーム照射軸上で電子ビーム照射方向からみて試料の後方に配置する。 - 特許庁

The photosensor 64 feeds-back the laser output of the laser beam MB for machining to the seed laser oscillation part 12.例文帳に追加

光センサ６４は、加工用レーザ光ＭＢのレーザ出力を種レーザ発振部１２にフィードバックする。 - 特許庁

This electron gun is provided with a plate-like main cathode 77, having an electron discharge surface 79, and a auxiliary cathode 81 arranged on the back side of the electron beam discharge surface 79.例文帳に追加

本電子銃は、電子放出面７９を有する板状の主カソード７７と、その裏面側に配置された副カソード８１を有する。 - 特許庁

The optics direct the alignment beam to the mark M3, receive alignment radiation back from the mark M3, and transmit the alignment radiation to the detector.例文帳に追加

光学的要素は、マークＭ３へ位置合わせビームを向け、マークＭ３から戻った位置合わせ放射を受け取り、位置合わせ放射を検出器に送る。 - 特許庁

To maintain positioning accuracy of a slider at the prescribed or higher level even when positioning a slider from the back side of a load beam.例文帳に追加

ロードビームの裏面側からスライダの位置決めを試みた場合であっても、スライダの位置決め精度を所定水準以上に維持する。 - 特許庁

The wafer 25 is then irradiated with an incident laser beam 6 from the back 25a side thus activating the impurities in the wafer 25.例文帳に追加

そして、ウェハ２５に対してその裏面２５ａ側から入射レーザ光６を照射し、それによってウェハ２５内の不純物を活性化する。 - 特許庁

Further, the electronic grand piano has a connection part 9 having one end fixed to a frame 1 and the other end fixed to the back beam 8.例文帳に追加

さらに、電子グランドピアノは、フレーム１に固着された一端と奥框８に固着された他端とを有する連結部９を有する。 - 特許庁

The turning motion of the turning back mirror 15 changes the incident angle of the laser beam onto the condenser lens part 19.例文帳に追加

折り返しミラー１５の回動は、集光レンズ部１９へのレーザ光の入射角を変化させる。 - 特許庁

Turn back light receiving signals A, B, C, D of a main beam 16a are added by an adding amplifier 32 to obtain the value of A+B+C+D.例文帳に追加

記録時に主ビーム１６ａの戻り光受光信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを加算アンプ３２で加算してＡ＋Ｂ＋C＋Ｄを求める。 - 特許庁

A laser beam LB_4 folded by a first fold back mirror 160 passes through an optical waveguide 150 having a rectangular cross section.例文帳に追加

第１の折返しミラー１６０で折返されたレーザビームＬＢ_４は横断面が角形の光導波路１５０を通過する。 - 特許庁

In parallel with this calculation, turn back light receiving signals E, F of a preceding sub-beam 16b are added by an adding amplifier 34 to obtain the value of E+F.例文帳に追加

これと並列して、先行サブビーム１６ｂの戻り光受光信号Ｅ，Ｆを加算アンプ３４で加算してＥ＋Ｆを求める。 - 特許庁

The weakened parts 3 are cut by irradiating a laser beam from the back side of the interior trim 1 to form each lid 4 demarcated by the weakened parts 3.例文帳に追加

内装材１の裏面側からレーザビームを照射して脆弱部３を切削加工して、脆弱部３で区画された各リッド４を形成する。 - 特許庁

The back protector for laser beam machining is constituted of a heat-resistant resin containing an organic light absorbing agent.例文帳に追加

有機系光吸収剤を含む耐熱性樹脂で構成されることを特徴とするレーザ加工用バックプロテクタ。 - 特許庁

By virtue of the particular shape of the back of the beam splitter plate, the illumination light path is refractively corrected.例文帳に追加

ビームスプリッタプレートの背面の特殊な形状により、照明光路は透過における収差補正ために屈折的に補正される。 - 特許庁

The beam shaping lens AL has a reference plane on the image side face (back face) and has a projection 25 in part of the reference plane.例文帳に追加

ビーム整形レンズＡＬは、その像側の面（背面）を基準面とし、その基準面の一部に凸部２５を設けている。 - 特許庁

The light reflected from the surface 5 of the optical recording medium takes the back track of optical path and is reflected by a beam splitter 3.例文帳に追加

ここで光記録媒体面５で反射された光は、もと来た光路を戻り、ビームスプリッタ３で反射される。 - 特許庁

Deposit stuck to the outer peripheral part of the back surface of the body to be treated is irradiated with a laser beam whose peak power density is 30 kW/mm^2.例文帳に追加

ピークパワー密度が３０ｋＷ／ｍｍ^２のレーザー光を被処理体裏面外周部に付着した堆積物に照射する。 - 特許庁

Then, the polarized plane is turned 90° again by the λ/2 plate 104 and brought back to the polarized plane parallel with the polarized plane of the other laser beam.例文帳に追加

その後、λ／２板１０４によって再び偏光面が９０°回転され、他方のレーザ光の偏光面に平行な偏光面に戻される。 - 特許庁

Further, a first spring 38 is provided between the impact beam 26 and the door inner panel 16 in the vehicle back and forth direction.例文帳に追加

また、インパクトビーム２６とドアインナパネル１６との車両前後方向間には、第一バネ３８が設けられている。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device improving product yield while keeping a wafer back face clean and effectively preventing the diffusion of foreign matter.例文帳に追加

ウェハ裏面を清潔に保つとともに異物拡散を効果的に予防し、製品の歩留まりを向上させる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a processing system allow an object to be transported back and forth between a position of inspection and a position of processing for performing the processing using a laser beam at high accuracy.例文帳に追加

レーザビームによる処置を高い精度で処理するために、検査位置と加工位置とを往復搬送可能な処理システム。 - 特許庁

To provide a keyboard device which is improved in the visibility of a symbol by effectively using a light beam from a back light device.例文帳に追加

バックライトデバイスからの光線の有効利用を図り、記号の視認性を向上させたキーボード装置を提供する。 - 特許庁

To provide miniaturizable polarized wave diversity constitution for which a beam width within a horizontal plane is 60° and an F/B (front back ratio) is high.例文帳に追加

水平面内ビーム幅が６０°でＦ／Ｂが高く、小型化可能な偏波ダイバーシチ構成とする。 - 特許庁

A potential is applied to the back of a photosensor sample S, and an electron beam is scanned in a charged particle optical system 10.例文帳に追加

感光体試料Ｓに対して裏面に電位を加えて、荷電粒子光学系１０で電子ビームを走査する。 - 特許庁

The refractive index change of the sample is measured with high sensitivity by passing the measuring beam back and forth through the sample by a reflection mirror 6.例文帳に追加

さらに，測定光を反射ミラー６で試料に往復通過させることにより，高感度で試料の屈折率変化を測定する。 - 特許庁

The light receiving elements 66 can be arranged on the back surface position of all slits 64 corresponding to the main scanning direction of the beam spot.例文帳に追加

ビームスポットの主走査方向に対応する全てのスリット６４の背面位置に、受光素子６６を配置してもよい。 - 特許庁

The sample stage is rotated and is inclined for thinning the sample, in such a way as to orient the back surface of the sample toward the ion beam.例文帳に追加

サンプル・ステージは、薄くするためにサンプルの背面をイオン・ビームに向けるように回転および傾斜される。 - 特許庁

Short beam parts for the fine operation are bi-directionally formed on a first driving part 110 for the fine operation, and piezoelectric elements are adhered to the back side.例文帳に追加

微動用の第１駆動部１１０には、短い微動用梁部１１１が双方向に形成され、裏側には圧電素子が展着される。 - 特許庁

To provide a horn antenna which can suppress a back lobe without making a radiation characteristics of a main beam worse.例文帳に追加

主ビームの放射特性を劣化させることなく、バックローブを抑制することができるホーンアンテナを提供する。 - 特許庁

To obtain a high contrast display by preventing scattering of a back- light beam due to barrier ribs in a plasma address display device.例文帳に追加

プラズマアドレス表示装置において、バリアリブによるバックライト光の散乱を防いでコントラストの高い表示を得る。 - 特許庁

Two λ/2 plates 102, 104 are disposed right in front and back of the birefringent element 103 to turn only one of the polarized plane of the laser beam by 90°.例文帳に追加

複屈折素子１０３の直前と直後に、一方のレーザ光の偏光面のみを９０°回転させるλ／２板１０２、１０４を配する。 - 特許庁

Also, beam parts for the rough operation are bi-directionally formed on a second driving part 120 for the rough operation, and piezoelectric elements are adhered to the back side.例文帳に追加

粗動用の第２駆動部１２０には、粗動用梁部１２１が双方向に形成され、裏側には圧電素子が展着される。 - 特許庁

The virtual space generating device which uses the light-beam gun 40 has a camera 20 installed on the back side of a transmission screen.例文帳に追加

光線銃を用いた仮想空間生成装置において、透過型スクリーン裏側にカメラを設置する。 - 特許庁

A packing (5) is provided to the back side of the cut-off plate (1) to prevent it from damage caused by traffic and deterioration or the like caused by a beam of light.例文帳に追加

パッキン（５）を止水板（１）の裏面に設け、交通による損傷、光線による劣化等が起きないようにする。 - 特許庁

A reinforcing beam 41 is connected to a lower part of the seat back frame 15 to be located between the airbag unit 33 and a floor tunnel 43.例文帳に追加

補強ビーム４１を、エアバッグユニット３３とフロアトンネル４３との間に位置するように、シートバックフレーム１５の下部に連結する。 - 特許庁

To provide an electronic keyboard musical instrument capable of suppressing occurrence of a keying sound due to vibration of wood attached to a back beam by a hammer.例文帳に追加

ハンマーで叩かれる奥框付木の振動に起因した打鍵音の発生を抑制することができる電子鍵盤楽器を提供する。 - 特許庁

According to the shape of a green roof tile B, an advancing amount of the second back leaning beam 17 is adjusted in forward and backward directions.例文帳に追加

その際に瓦素地Ｂの形状に合わせて主として第２の背もたれ桁１７の進出量を前後方向に調整するようにする。 - 特許庁

The effect of the electrostatic charge is eliminated or suppressed by varying the landing energy of the primary electron beam at the time of exchange of swing back of electronic line scanning.例文帳に追加

電子線走査の振り戻し変更時、一次電子線のランディングエネルギーを変えることで、帯電の影響を除去または抑制する。 - 特許庁

To provide joining of a steel frame beam and a steel frame column of high strength by increasing efficiency of working and reducing welding materials through omission of using a back strip.例文帳に追加

裏当て金の使用を省略して、作業の効率化、溶接資材の節減を図りつつ、強度の高い鉄骨梁と鉄骨柱との接合を得る。 - 特許庁

An outer side surface of a back surface part 65 is constituted by a flat fixing surface 71 and can be fixed to a surface 72 to be fixed of a lateral beam 21.例文帳に追加

裏面部６５の外側面を平坦な固定面７１で構成し、横桟２１の被固定面７２に固定できるようにする。 - 特許庁

The turning back mirror 15 is fixed on a rotatable base 16 and changes the advancing direction of the reflected laser beam.例文帳に追加

折り返しミラー１５は、回動可能な台座１６に取り付けられており、反射したレーザ光の進行方向を変えることができる。 - 特許庁

This surface emitting laser is provided with a feeding-back member which acts as a concave mirror against a resonator which is resonated to generate and amplify a laser beam by feeding back part of the laser beam outputted from the resonator into the resonator by reflecting the part.例文帳に追加

レーザービームが生成及び増幅されるように共振させる共振器の外に出力されるレーザービームの一部を反射させて共振器の内部にフィードバックさせ、共振器に対して凹面鏡として作用するフィードバック部材を具備することを特徴とする。 - 特許庁

The electron beam display includes an electron discharge element 10, a metal back 4, and a fluorescent material dot 20 which is opposite to the electron discharge element 10 via the metal back 4 and emits light when exposed to an electron beam discharged from the electron discharge element 10.例文帳に追加

本発明の電子線ディスプレイは、電子放出素子１０と、メタルバック４と、メタルバック４を介して電子放出素子１０と対向し、電子放出素子１０より放出される電子ビームの照射によって発光する蛍光体ドット２０とを有する。 - 特許庁

A lithographic projection apparatus has an alignment sensor comprising an electron beam supply source 10 for supplying an electron beam 12 for impinging on an alignment mark 14 on a substrate W, and a back- scattered electron detector 16 for detecting electrons being back-scattered from the alignment marker 14.例文帳に追加

リソグラフィ投影装置は、基板Ｗ上のアライメント・マーク１４に当たる電子ビーム１２を供給するための電子ビーム供給源１０、およびアライメント・マーク１４から後方散乱された電子を検出するための後方散乱電子検出器１６を備えるアライメント・センサを備える。 - 特許庁