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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Critical Pathの意味・解説 > Critical Pathに関連した英語例文

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Critical Pathの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 147



例文

To achieve efficient improvement support by specifying a critical path or a bottleneck process in the case of estimating costs or a period to be spent on a manufacturing process.例文帳に追加

製造プロセスにかかる費用や期間を見積もる際に、クリティカルパスやボトルネック工程を特定することによって、効率的な改善支援を図る。 - 特許庁

To provide a method that minimizes a net list increase at the last layout time and reduces alternate route wirings for the long distance wiring that is quite within the bounds of possibility to become a critical path.例文帳に追加

最終レイアウト時におけるネットリストの増加を少なくし、またクリティカルパスになる可能性の高い長距離配線について迂回配線を少なくする。 - 特許庁

To provide a method and a device for economically and speedily testing a complicated integrated circuit without introducing a delay to the timing of a critical path.例文帳に追加

本発明の目的は、クリティカル・パスのタイミングに遅延を導入することなく、より経済的かつ迅速に、複雑な集積回路をテストするための方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

Light from a light emitting element 1 is brought into parallel to irradiate an object to be measured 2, and an optical element 3 using an optical characteristic in the vicinity of a critical angle is arranged in an optical path of reflected light therein to enhance detection sensitivity.例文帳に追加

発光素子1からの光を平行化して被測定物2に照射しその反射光の光路に臨界角付近での光学特性を利用した光学素子3を配置して検出感度の向上を達成する。 - 特許庁

例文

This device is provided with a plurality of gates in one embodiment, and a critical path passing through a plurality of gates is three-gate lag in some embodiments.例文帳に追加

一実施形態では、装置は、複数のゲートを備え、複数のゲートを通るクリティカル・パスは、いくつかの実施形態では、3つのゲート遅延である。 - 特許庁


例文

To enable a designer to perform rearranging work with high efficiency by clearly displaying information about a critical path in a state the arrangement position of a block is changed/corrected.例文帳に追加

ブロックの配置位置を変更/修正した状態のクリティカルパスに関する情報を、わかりやすく表示し、設計者の高効率の再配置作業を可能とする。 - 特許庁

With this configuration, suitable data spreading is actualized without making critical path excessive and then the configuration is obtained which is high in packaging efficiency and safety.例文帳に追加

本構成により、クリティカルパスを過大にすることなく適切なデータ拡散が実現され、実装効率および安全性の高い構成を実現することができる。 - 特許庁

To provide a method simultaneously drawing and displaying a plurality of paths in a state allowing easy identification, in a critical path detected from design data of an LSI, and to provide a system therefor.例文帳に追加

LSIのデザインデータから検出されたクリティカル・パスに関して、識別が容易な態様で複数のパスを同時に描画し表示する方法およびそのシステムを提供する。 - 特許庁

Using the fact that an output pulse signal OUT has a delay time (n) times as large as that of the critical path, the maximum operating frequency can be measured using the low-speed and low-cost tester.例文帳に追加

したがって、出力パルス信号OUTはクリティカルパスのn倍の遅延時間を有しているため、低速で、低コストのテスタを用いて最大動作周波数を測定することが可能である。 - 特許庁

例文

To provide a current-limiting fuse for surely opening an electrical path in an extremely short time on the order of half a wavelength with a sufficient critical current density even in the cases where it is used in a power distribution system.例文帳に追加

電力配電系統おいて用いられた場合でも充分な臨界電流密度により半波程度の極めて短い時間内に確実に電路を開放する。 - 特許庁

例文

To provide a construction method of a cylindrical tank, capable of shortening a construction period without turning the laying of a cold reservation member at the bottom part of an outer tank and the assembly of an annular plate to a critical path.例文帳に追加

外槽の底部における保冷材の敷設及びアニュラープレートの組み立てがクリティカルパスとならずに、工期の短縮化を図ることのできる円筒型タンクの構築方法の提供。 - 特許庁

In a semiconductor device 14, a plurality of delay circuits 20a, 20b, each of which has the same delay time as that of a critical path, are disposed in a series connection state.例文帳に追加

半導体装置14内にはクリティカルパスと同等の遅延時間を有する複数の遅延回路20a、20bを直列接続して配置されている。 - 特許庁

By detecting those malfunctioning states with the difference gates 181-183, and displaying them outside the LSI, changed condition of the delay condition in each critical path, with respect to changes in the operating power source voltage, can be recognized easily.例文帳に追加

それら誤動作状態を排他的論理和ゲート181〜183により検出し、LSI外部で表示することで、動作電源電圧の変化に対する、クリティカル・パスでの遅延状態の変化状態が容易に分かる。 - 特許庁

Also, as prerequisite, when the instruction passes a critical path 420, the value of rdata1 connected to a second AND circuit 522 shows that the instruction code is a multiplication instruction "011".例文帳に追加

なお、前提条件は、クリティカルパス420を通る際、第2のAND回路522に接続されるrdata1の値は、命令コードが乗算命令”011”のときである。 - 特許庁

If there is no microlens 30 inside the P-GaN layer 20, when light emitted from the active layer 10 travels through a path(A) having an angle(θ1) larger than a critical angle, the emitted light cannot be emitted outside since the light is subjected to total internal reflection, and the light travels to a path(B).例文帳に追加

活性層10から放出される光が臨界角より大きい角度(θ1)を有する経路(A)に進む時、P-GaN層20の内部にマイクロレンズ30が存在しない場合、全反射されて外部に放出できず、‘B'の経路に進む。 - 特許庁

A layout picture is composed of one lattice unit respectively in X and Y directions and when any violation path not satisfying a delay limit exists among the critical paths of function blocks A to E, the critical paths of function blocks A to E are displayed while being intensified and delay time is displayed for every wiring.例文帳に追加

レイアウト画面は、X方向、Y方向にそれぞれ1格子単位で構成され、機能ブロックA乃至Eのクリティカルパスで遅延制約を満足していない違反パスが存在する場合、機能ブロックA乃至Eのクリティカルパスを強調表示するとともに、各配線毎に遅延時間を表示させる。 - 特許庁

In this automatic layout method of LSI used in the layout design of the LSI, for the layout of initial arrangement (step S103), by extracting a critical path (step S104), inserting a buffer to the extracted critical path (step S106) and then conducting timing-driven for improved arrangement (step S107), a layout result without delay violation paths or with few delay violation paths is obtained.例文帳に追加

LSIのレイアウト設計において用いられるLSIの自動レイアウト方法において、初期配置のレイアウト(ステップS103)に対して、クリティカルパスを抽出し(ステップS104)、この抽出されたクリティカルパスにバッファを挿入した後に(ステップS106)、タイミングドリブン改良配置を行うことにより(ステップS107)、遅延違反パスが無いか、若しくは遅延違反パスが少ないレイアウト結果を得る。 - 特許庁

It is critical to successful interoperation of the Remote Start protocol that rstartd be installed in a directory which is in the "default" search path,so that default rsh requests and the ilk will be able to find it.例文帳に追加

インストールリモート起動プロトコルでうまく操作を行うためには、rstartd を「デフォルト」のサーチパスに含まれるディレクトリにインストールすることが重要である。 これにより、デフォルトの rsh リクエストやこれと同種のリクエストがこれを見つけることが可能になる。 - XFree86

To provide a semiconductor device capable of inspecting the working speed of the semiconductor device by a semiconductor inspection device, even when signals fluctuate, while passing through a critical path of the semiconductor inspection device built in the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置に内蔵された半導体検査装置のクリティカルパスを通る信号がテスト動作中に変動するときにも、当該半導体検査装置の動作速度をその半導体検査装置によって検査することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

The arrangement of obstacles is configured to preferentially route larger particles 630 having diameters greater than a critical diameter Dc through the arrangement and along a first trajectory vector that is angled with respect to the direction of the ink flow path.例文帳に追加

障害物の配列は、臨界直径Dcより大きい直径を有するより大きい粒子630をこの配列を通って、かつインク流路の方向に対してある角度に曲げられた第1の軌跡ベクトルに沿って選好的にルーティングするように構成される。 - 特許庁

To increase a clock speed and a sampling speed and contribute to a reduced power consumption amount by shortening the critical path of an overall equalizer including algorithm and blocks with a minimum delay time.例文帳に追加

最小限の遅延時間によって、アルゴリズム・ブロックを含むイコライザ全体のクリティカルパスの短縮化を図り、クロック速度及びサンプリング速度の飛躍的な高速化を実現するとともに、電力消費量の低減にも寄与する。 - 特許庁

For instance, damage is decided as being possibly occurring to the insulators, when the voltage between insulators is larger than a critical path voltage value discharged along the insulator surface, or when arc current and arc current continuing time deviate from a predetermined insulator breakage limit values.例文帳に追加

例えば、がいし間電圧ががいし沿面で放電する臨界通絡電圧値より大きいときや、アーク電流およびアーク電流継続時間が予め定められたがいし破損限界値を逸脱したときには、がいしに被害が発生している可能性ありと判断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can use an unused arbitrary address area of a memory area as a redundant cell without adding especially the redundant cell to the memory area and can relax a critical path at selection time of a redundant cell.例文帳に追加

メモリ領域に特別に冗長セルを付加することなく、メモリ領域の未使用の任意のアドレス領域を冗長セルとして利用することができ、冗長セル選択時のクリティカルパスを緩和し得る半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In this semiconductor integrated circuit according to this invention, only a gate circuit 1 on a critical path is constituted in an MT gate cell which is the combination of a transistor with low threshold voltage and a transistor with high threshold, and the remaining gate circuits 1 are constituted by transistor with high threshold voltage.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路は、クリティカルパス上のゲート回路1のみを、しきい値電圧の低いトランジスタとしきい値電圧の高いトランジスタとを組み合わせたMTゲートセルで構成し、それ以外のゲート回路1は、しきい値電圧の高いトランジスタで構成する。 - 特許庁

The fuse circuit includes: a fuse block configured to drive an output node through a current path including the fuse in response to a fuse enable signal; and a voltage detection block configured to detect the voltage level of the output node based on the critical voltage adjusted according to a test mode signal, thereby generating a fuse condition signal.例文帳に追加

ヒューズイネーブル信号に応じて、ヒューズを備える電流経路を介して出力端を駆動するヒューズ部と、テストモード信号に応じて調整される臨界電圧を基準として、前記出力端の電圧レベルを検出してヒューズ状態信号を生成する電圧検出部とを備える。 - 特許庁

An engine ECU 60 of the internal combustion engine system 10 detects a limited opening angle θ_thrlmt of a throttle valve 34a, wherein a negative pressure applied between a compressor wheel 52 and the throttle valve 34a in an air intake path 31 is not greater than a critical negative pressure value P_2.例文帳に追加

内燃機関装置10のエンジンECU60は、吸気通路31においてコンプレッサホイール52とスロットルバルブ34aとの間の部分に作用する負圧が限界負圧値P_2より大きくならないスロットルバルブ34aの制限開度θ_thrlmtを検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of adjusting the propagation delay time of a signal on a critical path on the basis of a measurement result of an influence of variations of propagation delay time caused by crosstalk due to parallel wirings on a circuit operation.例文帳に追加

並行配線によって生じるクロストークによる伝搬遅延時間の変動が回路動作に及ぼす影響を測定した結果に基づいて、クリティカルパスにおける信号の伝搬遅延時間を調整することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a detection apparatus of a critical micellar concentration of a interfacial active agent by taking notice of an interfacial adsorption phenomenon and providing an optical transmission path with a detecting function and an information transmitting function so as to eliminate the weakness due to conventional defects, slow and troublesome measuring method.例文帳に追加

従来からの長時間、煩雑な測定方法の欠点を取り除くため、界面の吸着現象に注目し、かつ光伝送路に検知機能と情報伝達機能を与えて界面活性剤の臨界ミセル濃度の測定装置を提供する。 - 特許庁

A resistance value (impedance value) of the resistor R_1 is set within such a range that a current lower than or equal to a critical current value with which the amplitude signal applied to the path can be oscillated without distortion flows and a current equal to or more than a minimum current value required for both the fault detection and the normal detection flows.例文帳に追加

抵抗器R_1の抵抗値(インピーダンス値)は、経路に印加する振幅信号が歪みなく発振可能な限界電流値以下の電流が流れ、かつ、故障検知および通常検知の双方に必要な最小電流値以上の電流が流れる範囲で設定する。 - 特許庁

Further, the device is provided with a clock phase adjusting unit 130 generating delay to a clock, where the delay is same or longer than the time taken from when the external access request is issued until when a critical path shown by a broken line in Fig.1 is passed, and the delay is also shorter than one cycle.例文帳に追加

さらに、外部アクセス要求が発せられてから図1中の破線で示されるクリティカルパスを経由するための所要時間に対し、同じかそれ以上の遅延であって、かつ、1サイクルより短い遅延をクロックに生じさせるクロック位相調整部130を備える。 - 特許庁

Besides, the holding time W is controlled so that the time for thermal fixing after the press-developing may not become a critical path, then, the coloring density of the medium 1 is enhanced with hardly reducing a printing speed, and then, the color print whose contrast is more enhanced is provided.例文帳に追加

また、加圧現像後から加熱定着する時間をクリティパスカルにならない程度に保持時間Wを管理して、プリント速度がほとんど低下されせずメディア1の発色濃度が向上され、より一層コントラストの高いカラープリントを提供できる。 - 特許庁

To solve the problems wherein an X-ray having an angle not below the critical angle on a reflecting surface in the middle of passage is generated in a conventional poly-capillary lens, to thereby lower a passage efficiency, and outgoing light passing through an optical path different from an essential lens action acts as an interfering line.例文帳に追加

従来のポリキャピラリレンズでは通過途中の反射面で臨界角以下にならないX線が発生し、通過効率が低下するとともに本来のレンズ作用とは異なる光路を通った出射光が妨害線となる。 - 特許庁

To provide an internal combustion engine control device for inhibiting the occurrence of driver's unintended torque difference under the influence of a critical excess-air ratio immediately after a changeover from lean (for normal driving) to rich (for NOx-desorption purification) at the time of switching an excess air ratio from lean to rich with a NOx-trap catalyst in an exhaust-gas path.例文帳に追加

排気通路にNOxトラップ触媒を備え、空気過剰率をリーン(通常運転用)とリッチ(NOx脱離浄化用)とに切換える場合に、リーン→リッチ切換直後において限界空気過剰率の影響で運転者の意図しないトルク段差が発生するのを防止する。 - 特許庁

If there is the microlens 30 inside the P-GaN layer 20, the light is refracted at the microlens 30 and advances to a path (C) from which the light is emitted outside at an angle(θ_2) smaller than the critical angle based on the radius of curvature of the microlens 30.例文帳に追加

P-GaN層20の内部にマイクロレンズ30が存在すれば、光はマイクロレンズ30で屈折され、マイクロレンズ30の曲率半径による臨界角より小さい角度(θ_2)で外部に放出される‘C'の経路に進行する。 - 特許庁

A smoothing means (S9) provided in a control unit 13 calculates a smoothed position/posture J_p_smooth by smoothing a position/posture J_p of a positioner 12 to be defined by a positioner device path equation (J_p(t)) so as not to exceed a critical acceleration/deceleration A_p.例文帳に追加

制御装置13が備える平滑化手段(S9)は、ポジショナ装置経路方程式(J_p(t))により規定されるポジショナ12の位置及び姿勢J_pを限界加減速度A_pを下回るように平滑化し、平滑化位置姿勢J_p_smoothを算出する。 - 特許庁

The predictive diagram preparing part 140 sets required getting on/off time calculated by a getting on/off time calculating part 142 as weight in accordance with the distribution of the generation time of passengers in relation of a stop time arc, and a critical path of the train diagram network is calculated to prepare predictive diagram data.例文帳に追加

そして、予測ダイヤ作成部140は、停車時分アークに対して、乗客の発生時刻の分布に従って乗降時分算出部142が算出した必要乗降時分を重みとして設定し、列車ダイヤネットワークのクリティカルパスを計算して予測ダイヤデータを作成する。 - 特許庁

To provide a circuit configuration and an inspection method thereof in which a digital circuit is packaged in a wafer-state system LSI, a fault in a digital circuit part to most become a critical path therein is easily verified, an inspection time is shortened and further, a die size is reduced.例文帳に追加

ウエハ状態でのシステムLSIにおいて、デジタル回路を搭載し、その中でも最もクリティカルパスとなるデジタル回路部の故障検証を容易に実施し、かつ検査時間の短縮化を図り、加えてダイサイズの縮小化を可能にする回路構成とその検査方法を提供すること。 - 特許庁

This system includes a discrimination part 118 which discriminates whether a cell connected to a critical path has the voltage drop violation, an improvement method decision part 116 which selects an optimum one of plural relocation patterns prepared for improving the voltage drop violation and a voltage drop improvement part 117 which executes the relocation according to the selected relocation pattern.例文帳に追加

クリティカルパスに接続するセルに電圧降下違反があるか否かを判別する判別部118と、電圧降下違反を改善するための複数の再配置パターンの中から最適なものを選択する改善手法決定部116と、選択された再配置パターンに基づき再配置を行う電圧降下改善部117を備える。 - 特許庁

In the case that a terminal 4 having a plurality of addresses with different paths makes a communication, the terminal 4 uses a retrieval table of a start, point address selector 5 to retrieve prefix information providing an optimum routing and selects a start point address coincident with its own addresses in terms of the critical path method to dynamically select the start point address providing an optimum routing.例文帳に追加

経路の異なる複数のアドレスを持つ端末4が通信を行う時、端末4は始点アドレス選択装置5の検索表を用いて最適な経路になるプレフィックス情報を検索し、自アドレスの中で最長一致する始点アドレスを選択することで、通信経路が最適になる始点アドレスを動的に選択する。 - 特許庁

To provide a semiconductor circuit capable of accurately reproducing both leading and trailing delay characteristics of the semiconductor circuit itself, realizing a delay characteristic over a wide power supply voltage range while suppressing increase in the circuit scale, realizing a wiring delay characteristic depending on the crosstalk between wires located closely to each other, and accurately reproducing the delay characteristic of a critical path of an LSI.例文帳に追加

半導体回路の立ち上がりまたは立ち下がり遅延特性の両方を正確に再現でき、回路規模の増加を抑えながら、広い電源電圧範囲で遅延特性を実現でき、また、近接する配線のクロストークに依存した配線遅延特性を実現でき、LSIのクリティカルパスの遅延特性を正確に再現できる半導体回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device configured by loading an ECC (Error Correcting Code) circuit and a BIST (Built In Self Test) circuit on a memory configured to surely correct an error by the ECC circuit in an activated state of the ECC circuit and the BIST circuit at a test, and conducting sufficient screening for the ECC circuit and the critical path of the memory.例文帳に追加

メモリにECC回路とBIST回路とを搭載して構成された半導体装置において、テスト時に、ECC回路とBIST回路とが活性化された状態で、ECC回路によるエラー訂正が必ず行われるように構成され、ECC回路やメモリのクリティカルパスなどの十分なスクリーニングを行うことができる、半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This program makes a computer execute: a procedure 1 for receiving the input of a logical description to an integrated circuit and a plurality of paths to be evaluated from a memory; a procedure 2 for obtaining the path evaluation value indicating the delay of the paths from the respective input paths; and a procedure 3 for estimating paths with the large evaluation value to be the critical paths.例文帳に追加

本発明のプログラムは、集積回路に対する論理記述と、評価の対象としての複数のパスとの入力をメモリから受け取る手順と、入力された各パスに対してパスの遅延を表すパス評価値を求める手順と、評価値の大きいパスをクリティカルパスとして推定する手順とを計算機に実行させる。 - 特許庁

That is, when the ECU emulator or each physical device simulator is called as a logical process, any critical path is not created, and each logical process is executed in parallel as much as possible, and even when any input event is not delivered in each logical process, the input is predicted, and the processing is advanced.例文帳に追加

すなわち、ここで、ECUエミュレータや各物理装置シミュレータを論理プロセスと呼ぶことにすると、本発明によれば、クリティカル・パスを作らずに、各論理プロセスをできるだけ並列に実行させるために、各論理プロセスにおいて、入力イベントが届いていない場合でも、入力を予測して処理が進められる。 - 特許庁

Under a condition that the delay of a critical path in a target circuit 1 monitored by a delay monitor circuit 3 does not exceed the operation clock time of the target circuit 1, a power supply voltage V_DD and a substrate voltage V_BS supplied to the target circuit 1 are controlled so that the power consumption of the target circuit 1 monitored by a power consumption monitor circuit 4 is minimized.例文帳に追加

遅延モニタ回路3においてモニタされるターゲット回路1のクリティカルパスの遅延がターゲット回路1の動作クロック時間を超えない条件の元で、消費電力モニタ回路4においてモニタされるターゲット回路1の消費電力が最小となるように、ターゲット回路1に供給される電源電圧V_DDおよび基板電圧V_BSがそれぞれ制御される。 - 特許庁

The synchronous counter is provided with at least three flip-flop circuits of a chain structure and at least two sets of two-input EXOR gates interposed in the chain structure, and a critical path, where the output of one flip-flop circuit leads to the input of another flip-flip is configured with one stage of the two-input EXOR gate.例文帳に追加

同期式カウンタはチェーン構造を有する少なくとも3個のフリップフロップと、チェーン構造に介在する少なくとも2個の2入力EXORゲートとを備えており、フリップフロップのうちの1つの出力がこれとは別のフリップフロップの入力に至るクリティカルパスが2入力EXORゲートの1段で構成されるようにした。 - 特許庁

The types of cells existing on the critical path candidate are confirmed (S70) and it's decided whether a cell having the state dependent delay exists or not (S80).例文帳に追加

状態依存遅延セルが存在するときにテストパターンを用いてクリティカルパス候補についてのタイミングシミュレーション処理により遅延時間を算出し、その最大遅延時間Ttmax を第2順位の遅延時間Ts(2) と比較し、Ttmax<Ts(2) のときは第1順位の遅延時間Ts(1) を最大遅延時間Ttmax に置き換えた上で現在の第1順位と第2順位の遅延時間を割り出す処理へと戻る。 - 特許庁

例文

Europe and the US are leading the way in research into surrogate biomarkers of drug efficacy and safety in relation to disorders and new imaging processes and other diagnostic techniques to promote efficient drug development. The US FDA refers to such studies to promote the efficiency and speed of drug development through these new drug evaluation and other processes as 'critical path research'.例文帳に追加

医薬品開発を効率的に進めるため、医薬品の疾患に対する有効性や安全性をサロゲートするバイオマーカーや、新たな画像診断手法などの診断技術の研究開発が欧米を中心に進んでおり、これらの新しい医薬品の評価手法など医薬品の開発を効率化・迅速化する研究をアメリカのFDAは「クリティカルパスリサーチ」と呼んでいる。 - 厚生労働省

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