「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(387ページ目) - Weblio英語例文検索

The second device 10 transmits its unique ID_2 to the first device 1 and also sends a signal indicating whether or not the unique ID_1 of the first device 1 can be received to a decision means 20 for test.例文帳に追加

第２デバイス１０は、自分の固有ＩＤ_2 を第１デバイス１に送信するとともに、第１デバイス１の固有ＩＤ_1 に対する受信の可否を示す信号を試験用判定手段２０に送る。 - 特許庁

Communication equipment receives a data signal that results from superimposing a test control signal frame whose communication rate is lower than that of a main data signal on the main data signal with a prescribed communication rate from opposite communication equipment.例文帳に追加

対向する通信装置から、所定の通信速度の主データ信号に主データ信号の通信速度より遅い通信速度である試験制御信号フレームを重畳したデータ信号が送信される。 - 特許庁

It is possible that a sense stress test is performed by activating each address line, simultaneously with this configuration and the bit line and the bit-bar line inside each of the sense line pairs are charged to other voltage.例文帳に追加

かかる構成により、同時にあらゆるアドレスラインを活性化させることによってセンスストレステストを行い、各センスライン対内のビットライン及びビットバーラインを他の電圧にチャージさせることが可能である。 - 特許庁

Further, a testing device 40 is placed indoors for making an operation test of the vehicle 20, and horse-power information outputted from the vehicle 20 is sent to a control part 3 from the testing device 40.例文帳に追加

また、屋内には、車両２０の運転試験をするための試験装置４０が設けられ、この試験装置４０によって車両２０から出力される馬力情報が制御部３に送られる。 - 特許庁

To provide a wiring board which can suppress occurrence of physical disconnection and poor contact even when a probe trace is generated by a prober test on a conductive part to be brought into electrical contact with a through wire.例文帳に追加

貫通配線と電気的に接触させるための導電部に、プローバテストによりプローバ針跡が発生しても、物理的な断線や接触不良の発生を抑制できる、配線基板を提供する。 - 特許庁

The address information is extracted from the CPAMA object by using a set of member functions, which test quality and assign a mobile station address object to other mobile station address object.例文帳に追加

アドレス情報は、ＣＰＡＭＡオブジェクトから、１組のメンバー機能を用いて取り出され、このメンバー機能は、品質をテストし、かつある移動局アドレスオブジェクトを、別の移動局アドレスオブジェクトに割り当てる。 - 特許庁

To achieve high capacity, a high output, and long life of a lithium ion secondary battery, and further to improve safety, and especially, to suppress heat generation due to an internal short-circuit in a nailing test.例文帳に追加

リチウムイオン二次電池の高容量化、高出力化および長寿命化を進めるとともに、安全性を一層向上させ、特に釘刺し試験において、内部短絡による発熱を抑制する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can reduce a chip surface area by making small the scale of a wiring resource for obtaining a control signal, for example, during a scan chain or a scan test to increase wiring utilization efficiency.例文帳に追加

半導体集積回路において、例えばスキャンチェーンやスキャンテスト時の制御信号を実現するための配線リソースの規模を小さくし、配線の利用効率を高めて、チップ面積の削減を図る。 - 特許庁

To suppress deterioration of a signal waveform quality between a pin card and a signal transmission means in a test head; to heighten connection reliability between the pin card and the signal transmission means; and to reduce device cost.例文帳に追加

テストヘッドにおいて、ピンカードと信号伝送手段との間における信号波形品質の劣化を抑制し、ピンカードと信号伝送手段との間の接続信頼性を高め、かつ、装置の低コスト化を図る - 特許庁

Real-time financial information relating to the financial transaction is obtained, and the user can test and confirm that the financial transaction with the at least one party can take place prior to execution of the financial transaction.例文帳に追加

金融取引に関連するリアルタイム金融情報が取得され、ユーザーは金融取引を実行する前に、少なくとも一人の当事者との金融取引を行なうことができるかをテストし確認する。 - 特許庁

To keep a swing of an output signal constant by automatically changing an oscillator core current in adjusting a load capacity in order to adjust an output frequency in a production test step.例文帳に追加

製造試験段階で出力周波数を調節するために、負荷容量を調節する際に、発振器コア電流を自動的に変化することによって出力信号のスイングを一定に維持する。 - 特許庁

To provide a styrene-based polymer having a syndiotactic structure (SPS) capable of forming a molded article whose rupture strength, Izod impact strength, thermal deformation temperature and rupture strength in a long-term heat resisting test are high.例文帳に追加

破断強度、アイゾット衝撃強度，熱変形温度，長期耐熱における破断強度が高い成形体を形成しうるシンジオタクチック構造を有するスチレン系重合体（ＳＰＳ）を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Read-out, write-in operation and refresh-operation can be generated with the prescribed time interval by controlling generation timing of the refresh-pulse generating signal TREF1 for the first test.例文帳に追加

第１のテスト用リフレッシュパルス発生信号ＴＲＥＦ１の発生タイミングを制御することで、読出し・書込み動作とリフレッシュ動作とを、所定の時間間隔で発生させることを可能とする。 - 特許庁

For example, as illustrated in Fig.4, a powder of B (reference No. 14) and molten Ag (reference No. 15) are observed in a bonding layer 13 in a bonding test specimen, which demonstrates that the brazing material for bonding in atmosphere has been melted.例文帳に追加

たとえば図４から判るように、接合試験片の接合層１３には、Ｂ粉末（符号１４）および溶融Ａｇ（符号１５）が観察され、大気接合用ろう材が溶融したことを確認した。 - 特許庁

To provide a technology capable of performing a test with a burst signal using a modulated signal, and accurately driving an output level into a desired level in a short time and then performing a desired measurement.例文帳に追加

変調信号を用いたバースト信号で試験可能にするとともに、かつ出力レベルを所望レベルに短時間に精度良く追い込み、その後に所望の測定ができる技術を提供する。 - 特許庁

A program generation part 132 sets a program code according to the function recorded in the operation content file to generate a test program for reproducing a series of operation executed to the Web page.例文帳に追加

プログラム生成部１３２は、操作内容ファイルに記録された関数に応じてプログラムコードを設定することにより、ウェブページに対して実行された一連の操作を再現するためのテスト・プログラムを生成する。 - 特許庁

To provide a system, method and computer readable medium of instructions, which are useful for determining whether an evaluation testing method or device is clinically equivalent to a reference test method or device.例文帳に追加

評価試験方法または機器が基準試験方法または機器と臨床的に等価であるかどうかを判定する際に役立つ、システム、方法、および命令のコンピュータ読取り可能媒体を提供する。 - 特許庁

A level measuring part 4 performs collecting and storing the measured data after a predetermined waiting time elapses after updating the radiation angle of the test audio beam, every time the radiation angle is updated.例文帳に追加

レベル測定部４は、試験音声ビームの放射角度が更新されてから所定の待ち時間が経過した後に測定データを収集して記憶することを、放射角度が更新される度に行う。 - 特許庁

The ground voltage is applied to the test terminal 10, and the current application voltage measurement is performed to the signal wiring 23, to thereby also detect the mounting defect of the input/output terminal 6.例文帳に追加

また、テスト端子１０にグランド電圧を与えるとともに、信号配線２３に対して電流印加電圧測定を行うことにより、入出力端子６の実装不良を検出することも可能である。 - 特許庁

The top end of the cylindrical cover 15 is made flush with the gas intake hole end whereby, if the gap between a sample under test and the gas intake hole 12 is about 10 mm, a leaking gas can be detected accurately.例文帳に追加

円筒状カバー１５の先端とガス吸込み口とを同じ程度の位置にして、被試験体とガス吸込み口１２の間隔が１０ｍｍ程度になっても漏洩したガスを精度よく検出できる。 - 特許庁

To propose a circuit for sensing inductance or differential inductance at a low cost, and to realize / provide a position detector, a test device for identifying defects of a conductive material or its presence or absence, a torque sensor and the like using the proposed circuit respectively.例文帳に追加

インダクタンス或いはインダクタンス差を低コストで検出出来る回路を提案し，それを用いた位置検出装置，導体の欠陥或いは有無の識別検査装置，トルクセンサ等を実現提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling a bidigital O-ring test apparatus wherein while rate of increase in force when fingers are opened is suppressed, the whole measuring time is not unnecessarily long and diagnosis is performed with good accuracy.例文帳に追加

指が開く時の力の増加の割合を抑えつつも、全体の測定時間が不必要に長くならず、診断が精度良く行われるバイ・ディジタルＯリングテスト装置の制御方法を提供する。 - 特許庁

This test pattern is reproduced, and an amplitude and a center level of the reproduced signal are measured by an envelope detecting circuit 14, LPF 15, differential circuit 16, A/D conversion circuits 17 and 18.例文帳に追加

このテストパターンを再生し、エンベロープ検出回路１４と、ＬＰＦ１５と、差分回路１６と、Ａ／Ｄ変換回路１７および１８とによって、再生信号の振幅および中心レベルを測定する。 - 特許庁

Further, the space between the permanent magnet 1 and the upper magnetic pole 2, the test piece side magnetic pole 3, and the semi fixing type magnetic path 4 is filled with a filler of a non-magnetic material to forme an objective lens.例文帳に追加

さらにまた、永久磁石１と上部磁極２と試料側磁極３と半固定磁路４との空間を非磁性材料の充填材６で埋めることにより、対物レンズとして構成する。 - 特許庁

To provide an optical information recording method by which information can be correctly recorded and reproduced in a simple circuit configuration even when recording at a high transfer rate, and can be test-recorded efficiently and in a short period of time.例文帳に追加

高い転送レートでの記録でも容易な回路構成を用いて正確に情報を記録再生できるとともに、短時間で効率よくテスト記録できる記録再生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for simply and efficiently evaluating extrusion moulding performance of a cement kneading product without repeating extrusion moulding test.例文帳に追加

押出成形試験を繰り返すことなく簡便かつ効率的にセメント混練物の押出成形性を評価することが可能なセメント混練物の押出成形性評価方法および評価装置を提供する。 - 特許庁

To reduce development cost and also to drastically improve the reliability of a business program by drastically reducing a test period needed to confirm whether the business program or the like operates normally.例文帳に追加

業務プログラムなどが正常に動作するかどうかを確認するのに必要なテスト期間を大幅に短縮して、開発コストを低減させるとともに、業務プログラムの信頼性を大幅に向上させる。 - 特許庁

To provide a verifying device for a logistic system which can easily conduct a combinational test of a high-order control system and a low-order execution system before the low-order execution system is completed.例文帳に追加

本発明は、上位制御系と下位実行系の結合試験を下位実行系の完成前に容易に実行することができる物流システムの検証装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A test brush 24 to be installed on a rotor 23 is composed by combining an abrasive-grain brush 24A in which abrasive grains having grain sizes of 25-40 μm are impregnated with a normal brush 24B having no abrasive grains.例文帳に追加

回転子２３に取付けられる試験用ブラシ２４が、２５〜４０μｍの粒径とされた砥粒が含浸された砥粒ブラシ２４Ａと、砥粒のない普通ブラシ２４Ｂとを組み合わせて構成される。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a hot-rolled steel sheet using a magnetic leakage flux test by which flaws are detected with high accuracy even when the flaws are very small and unwanted magnetic fluxes, that is, noises are large.例文帳に追加

本発明は、欠陥が微小であったり、不要な磁束、すなわち雑音が大きくても、高精度に欠陥を検出できる漏洩磁束探傷法を用いた熱延鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁

A porous foamed deodorizing material whose main components are the vegetable food leftovers has a hardness measured according to JIS K6253-1997 durometer hardness test of ≥D50.例文帳に追加

植物性食物残滓を主成分とする多孔質の発泡消臭材であって、ＪＩＳ Ｋ６２５３-1997 デュロメータ硬さ試験に従い測定した硬度がＤ５０以上であることを特徴とする発泡消臭材。 - 特許庁

To provide a static electricity tester added with the function of displaying a discharge current waveform so that a place where electro-static discharge current is propagated can be determined as soon as electro-static discharge test is performed.例文帳に追加

静電気放電の試験の実施と同時に、静電気放電電流の伝播箇所が特定できるように、放電電流波形を表示する機能を付加した静電気試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inkjet recording apparatus that can determine a detection region of a test pattern according to a recording format even if the apparatus can perform recording using both a margined recording and a marginless recording.例文帳に追加

縁有り記録と、縁無し記録とによって記録を行うことが可能であっても、記録形式に応じてテストパターンの検知領域を定めることのできるインクジェット記録装置を提供する。 - 特許庁

The first and second data sets are filtered and aligned to determine a system response factor of the client test apparatus, so that the irradiance level control may be calibrated.例文帳に追加

第１および第２のデータセットは、フィルタリングされ、顧客の試験装置のシステム応答因子を決定するために位置合わせされ、それによって、放射照度レベルコントロ−ルを校正することが可能となる。 - 特許庁

To provide a state machine by which any transition state where abnormality has occurred can be known when any abnormality has occurred in a test of the state machine, without using an advanced analysis method.例文帳に追加

ステートマシンのテストにおいて何らかの異常が発生した際には、高度な解析手法ではなく、どの遷移状態（ステート）で異常が発生したかを知ることができるステートマシンを提供する。 - 特許庁

When the user selects a desired incoming melody for a listening test from the key input part, incoming music data retrieved from the auxiliary storage part by the information processing part is outputted from the receiver 20 instead of the speaker 3.例文帳に追加

キー入力部から着信メロディ試聴希望が選択されたときに、情報処理部が補助記憶部から索出した着信楽曲データを、スピーカ３に代えてレシーバ２０から出力させる。 - 特許庁

The comparator circuit 12 compares a test data signal input from the decoder circuit 11 with an expected value data signal input from the external and detects the existence/absence of an output error in the decoder circuit 11.例文帳に追加

比較回路１２は、デコーダ回路１１から入力されるテストデータ信号と外部から入力される期待値データ信号とを比較し、デコーダ回路１１の出力エラーの有無を検出する。 - 特許庁

When a low potential power supply&test mode detection circuit 23 detects a decrease in the low potential power supply output, a level shifter circuit 24 is controlled by a detection output (CLRV) of the circuit 23.例文帳に追加

この低電位電源出力の低下が低電位電源＆テストモード検出回路２３により検出されると、その検出出力（ＣＬＲＶ）にしたがって、レベルシフタ回路２４が制御される。 - 特許庁

A component module constituting this scan test system has an input scan cell 76 and an output scan cell 102 if the input and output are not on a boundary of an integrated circuit 10.例文帳に追加

この走査テストシステムを構成する成分モジュールは、その入力または出力が集積回路１０の境界上になければ、入力走査セル７６と出力走査セル１０２とを有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device, in which a test pattern from the outside can be input easily and by which the data write, etc., of initial data to a RAM section can be conducted at high speed from the outside.例文帳に追加

外部からのテストパターンの入力等が容易であり，また，ＲＡＭ部への初期データのデータ書き込み等も外部から高速に行うことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The internal signal of the internal node is output to an output selection circuit 11, and the internal signal selected by an output selection signal generated in the address control 9 is output to a test output terminal 6.例文帳に追加

内部ノードの内部信号を出力選択回路１１に出力し、アドレスコントロール９で生成された出力選択信号によって選択された内部信号をテスト出力端子６に出力する。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加

チップの内部にあるアットスピードの論理ＢＩＳＴ回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

When a test mode signal is inputted, the command latch circuit 2A outputs a DQ signal synchronized to the ZQ Enable signal to the outside of a semiconductor device 100 via the DQ circuit 4.例文帳に追加

コマンドラッチ回路２Ａは、テストモード信号が入力されると、ＤＱ回路４を介してＺＱＥｎａｂｌｅ信号に同期したＤＱ信号を半導体装置１００の外部へ出力させる。 - 特許庁

The displacement portion comatic aberration caused by the displacement is calculated by subtracting the tangle error portion comatic aberration from the comatic aberration, and the face deviation of the test lens 1 is calculated based on the displacement portion comatic aberration.例文帳に追加

このコマ収差から、面倒れ分コマ収差を差し引くことにより、面ずれに起因する面ずれ分コマ収差を算定し、この面ずれ分コマ収差に基づき、被検レンズ１の面ずれを算定する。 - 特許庁