「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(385ページ目) - Weblio英語例文検索

A boundary scanning setting part 15 sets BS chain order generation in a pin number order by the signal name and the input/output attribute of the signal, sets a BS cell to be and also sets a test instruction.例文帳に追加

バウンダリスキャン設定部１５は、信号名、信号の入出力属性による、ピン番号順でのＢＳチェーン順序生成および使用するＢＳセルの設定とテスト命令の設定を行う。 - 特許庁

To provide a communication test system capable of early overcoming a fault in a communication system by making it possible to automatically reproduce an operating state when the fault takes place in the communication system.例文帳に追加

通信システムで障害が発生する際の運用状況を自動で再現可能とすることによって、通信システムの障害を早期に解決することができる通信試験システムを提供する。 - 特許庁

Consequently, a weak signal of the vibration detecting element 101 does not go through the signal transmitting means 11, 12 while a fully amplified signal goes through the signal transmitting means 11, 12, thereby enabling a high precision to be maintained for the contact test.例文帳に追加

これにより、振動検出素子１０１の微弱な信号が信号伝達手段１１，１２を通ることなく、十分に増幅された信号が通り接触検査の精度を高く保つことができる。 - 特許庁

To ensure that all functional blocks and analog IPs possessed by an LSI continue to be operated during burn-in, without lowering the fault detection rate at shipment test of the LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの出荷テスト時の故障検出率を下げることなくバーンイン時にＬＳＩに備わる全ての機能ブロックやアナログＩＰを動作させ続けることが保証できるフリップフロップを提供する。 - 特許庁

The extending apparatus 10 for extending a part to be extended 1a of a test specimen 1 is provided with: a reaction force receiving member 3; a first extending force action part 5; and a second extending force action part 7.例文帳に追加

試験体１の延伸対象部分１ａを延伸させる延伸装置１０であって、反作用力受部材３と、第１延伸力作用部５と、第２延伸力作用部７と、を備える。 - 特許庁

To provide a photo MOS relay drive circuit capable of reducing a drive current without sacrificing turn-off time, and a semiconductor test device using the same.例文帳に追加

本発明は、ターンオン時間を犠牲にすることなく、駆動電流を低減することができるフォトＭＯＳリレー駆動回路およびそれを用いた半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

According to this constitution, only defective pixels can be corrected surely, without requiring advance pixel defect test, even if the location of the pixel is varied or the number thereof is increased due to aging or temperature variation.例文帳に追加

この構成により、事前の画素欠陥試験を行なうことなく、また、経年変化や温度等で欠陥に位置が変ったり増えたりしても確実に欠陥画素だけを補正する事が可能になる。 - 特許庁

An interval (width of a plating resist 32) W1 to W6, between the test terminals in each group and the wiring patterns 12a in the other group adjacent thereto, is set to decrease, in this order.例文帳に追加

各グループ内のテスト端子Ｔａ〜Ｔｆと他の隣接するグループ内の配線パターン１２ａとの間の間隔（めっきレジスト３２の幅）Ｗ１〜Ｗ６は、この順に減少するように設定される。 - 特許庁

A servo valve 15 is set to a tank communication position, a solenoid valve 12 is set to a pump communication position A, and accumulated pressure of an accumulator 13 extend a piston rod 4c to strike the test piece with a punch 5.例文帳に追加

サーボ弁１５をタンク連通位置に、電磁弁１２をポンプ連通位置イにして、アキュムレータ１３の蓄積圧力によりピストンロッド４ｃを伸張させてポンチ５を試験片に衝突させる。 - 特許庁

In a semiconductor device including a resistance ladder 100 and a control switch 102, the control switch 102 turns on or off under control of a logic circuit to logically test the control switch.例文帳に追加

この発明は、抵抗ラダー部１００と制御スイッチ１０２を備えた半導体装置において、ロジック回路により制御スイッチ１０２をオン／オフ制御して、制御スイッチをロジック的にテストするように構成される。 - 特許庁

To implement seal inspection to an insulator as a test object, loaded to electrical cable so as to cover exposed parts of fibers, without delivering a damage and with a high inspection efficiency.例文帳に追加

検査対象である、芯線が露出した部分を被覆するように電線に装着された絶縁体に対して、ダメージを与えることなく、且つ高い検査効率によってシール検査を行うこと。 - 特許庁

The data input circuit 4 generates test bit data 16, 17 by the bit number per one word of the memory 2A from respresentative one bit data 13 from the BIST sub-circuit 1 to be written in the memory 2A.例文帳に追加

データ入力回路４は、ＢＩＳＴサブ回路１からの代表１ビットデータ１３からメモり２Ａ等の１語当りのビット数だけのテストビットデータ１６，１７を生成しメモり２Ａ等に書き込む。 - 特許庁

To provide a storage device preventing the deterioration of processing capacity even if data stored in a memory is frequently updated and to provide a semiconductor test device equipped with the storage device.例文帳に追加

メモリに記憶されているデータの更新を頻繁に行う場合であっても処理能力の低下を防止するとができる記憶装置、及び当該記憶装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Regardless of an external bus OB, set in a logical address space by control from a logical macro, the test is always performed with the physical area as a basic unit, thereby redundant remedial actions can be performed by each basic unit.例文帳に追加

論理マクロからの制御による論理アドレス空間で設定される外部バスＯＢに関わらず、常に物理領域を基本単位として試験が行われ基本単位ごとに冗長救済ができる。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether to normally decode DMA information in the case of performing a read or write mode through a disk recorder/player and a test device for performing it.例文帳に追加

ディスク記録/再生装置を通じた読出または書込モードの実行時、DMA情報を正常に解読しているかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light transmission module mounting a carrier secured to a test stem without being soldered thereto while mounting a laser diode element and subjected to measurement of various characteristics, screening, and the like.例文帳に追加

レーザダイオード素子を搭載したキャリアをはんだ付け固定することなく、試験用のステムに固定して、各種の特性測定・スクリーニング等を行ったキャリアが搭載された光伝送モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle mode drive test apparatus to reduce the load by a chassis dynamo on a vehicle by a reasonable method when any mode trace of a low-power vehicle is unavailable in a highly-accelerated range.例文帳に追加

低馬力車が高加速部分においてモードトレースできない場合、シャシダイナモが車両に与える負荷を合理的な手法で軽減できるようにした車両のモード運転試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a means capable of performing high-precision measurement and relatively large data processing (analysis) at a high-speed by making a measurement means and an analysis means as a BOST, and reducing the test time.例文帳に追加

測定手段及び解析手段をＢＯＳＴ化することで高精度な測定と比較的大きなデータ処理（解析）を高速で実行でき、テスト時間の短縮を図る手段を提供する。 - 特許庁

To provide a detection method of a test tube for accurately detecting separation positions in a blood specimen, the air-including height, serum accommodating height and the silicon separating agent accommodating height as separation ranges.例文帳に追加

血液検体の各分離位置と分離範囲としての空気封入高さ、血清収容高さ、シリコン分離剤収容高さ等を高精度に検出できる試験管の検知方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a colorimetric method with which correction data or the like required for setting up each device can be accurately created by more accurately performing colorimetry of a test print, and to provide an accurate shading correction method.例文帳に追加

より正確にテストプリントの測色を行なって、各装置のセットアップに必要な補正データ等を精度良く作成可能な測色方法、および精度の良いシェーディング補正方法を提供する - 特許庁

To provide a logic emulator which avoids flow of an excessively large current, to prevent external devices and the logical emulation device from being damaged, thereby smoothly verifying the circuits under test.例文帳に追加

過大な電流が流れることを回避して、外部装置及び論理エミュレーション装置の破損を防止し、検証対象回路の検証作業を円滑に実行できる論理エミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

This invention can be applied in performing the load test of the server which provides services by exchanging the data with a tamper-resistant secure chip such as an IC chip incorporated in an IC card, for instance.例文帳に追加

本発明は、例えば、ICカードに内蔵されるICチップなどの耐タンパ性のあるセキュアチップとの間でデータをやりとりすることによりサービスを提供するサーバの負荷試験を行う場合に適用できる。 - 特許庁

A test of messages (4) whether or not reference information (5) satisfies validity criteria is started by a time, by an event, or by a remote manipulation via a mobile radio network.例文帳に追加

基準情報（５）が有効基準を満たしているか否かについてのメッセージ（４）の検査を、時刻により開始するか、またはイベントにより開始するか、または移動無線ネットワークを介して遠隔操作で開始する。 - 特許庁

To provide a connection test means which is inexpensive and eliminates extra signal delay concerning the boundary scan circuit of a boundary scan adaptive device connected to a boundary scan non-adaptive device.例文帳に追加

バウンダリースキャン非対応デバイスに接続されたバウンダリースキャン対応デバイスのバウンダリースキャン回路に関し、安価かつ余分な信号遅延を生ずることのない接続試験手段の提供を目的とする。 - 特許庁

A fault-generating vector specifying unit 8 inputs data D2, regarding a comparison result from the comparator 11, and specifies a fault generating vector from a plurality of test vectors TB1 to TBn.例文帳に追加

異常発生ベクタ特定部８は、比較結果に関するデータＤ２を比較器１１から入力し、そのデータＤ２に基づいて、複数のテストベクタＴＢ１〜ＴＢｎの中から、異常発生ベクタを特定する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic diagnostic system allowing a user to securely and stably input subject identification information of the subject and test preset conditions with unperplexed and simple operation.例文帳に追加

被検者の被検体識別情報及び対象の検査プリセット条件の入力が、煩雑で無い単純な操作により確実で安定に設定される超音波診断装置を提供すること。 - 特許庁

In a memory tester of an embodiment, a linear arithmetic register 1 and an interleave arithmetic register 2 store a linear arithmetic variable L and an interleave arithmetic variable I described in the same test program, individually.例文帳に追加

実施形態のメモリテスタは、リニア演算レジスタ１、インターリーブ演算レジスタ２が、同一のテストプログラム中に記述されたリニア用演算変数Ｌ、インターリーブ用演算変数Ｉを個々に格納する。 - 特許庁

To provide an expanded composite material containing expandable polystyrene resin particles dispersed in a water-expandable polyurethane foam, having excellent flame-retardancy and exhibiting self-extinguishability in conformity to the combustibility test B of JIS A9511.例文帳に追加

水発泡ポリウレタンフォーム中に発泡ポリスチレン系樹脂粒子を分散させた複合発泡体であって、難燃性に優れ、特に、ＪＩＳ Ａ９５１１燃焼性測定方法Ｂにより自消性のものを得る。 - 特許庁

A setting screen for the user to designate desired test data, character data, scenario data and corpus data is displayed, and image data is generated by use of each data the user designated using the setting screen.例文帳に追加

ユーザーが所望のテキストデータ、キャラクタデータ、シナリオデータ及びコーパスデータを指定するための設定画面を表示手段に表示し、設定画面を用いてユーザが指定した各データを用いて映像データを生成する。 - 特許庁

To perform a pulse mask test even in the case where an own station apparatus and an opposite station apparatus are not connected bi-directionally, while waveform shaping is possible in consideration of an external factor such as a connection line.例文帳に追加

接続線路等の外的要因を考慮して波形整形できるとともに、自局装置と対向局装置が双方向接続されない場合でもパルスマスク試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide an infrared camera device that enables a camera to acquire sensitivity correction data in a standalone mode according to an ambient environment without the need of a sensitivity property acquiring test in manufacturing cameras.例文帳に追加

カメラ製造時の感度特性取得試験を必要とせず、周辺環境に応じた感度補正データを、カメラがスタンドアロンにて取得可能とする赤外線カメラを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a decorative sheet which prevents the peeling strength from being lowered even after performing heat resistance test or the like and further prevents whitening of a processing part from occurring even when bending processing or pulling processing is applied.例文帳に追加

耐熱試験等を行なった後にも、剥離強度の低下を無くし、なおかつ折り曲げ加工や引っ張り加工などが施されても、加工部の白化が発生しないような化粧シートを提供する。 - 特許庁

To perform a pressure test for piping in a state of pipe joint main body being connected to the piping and then to install the pipe joint including the joint main body on the floor as it is.例文帳に追加

配管継手の主体を成す継手本体を配管に接続した状態で配管耐圧試験を可能とし、且つそのまま継手本体を含む配管継手を床上に設置施工できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a probe card for preventing the deterioration of quality due to probing, and for using the same probe card for test even when chip sizes (forms) are different.例文帳に追加

プロービングによる品質の劣化を防止することのでき且つチップサイズ（品種）が異なる場合にも同一のテスト用プローブカードを使用できる半導体集積回路およびプローブカードを提供する。 - 特許庁

After grouping the stations, for the groups, the test pattern creating part 13 extracts all combinations of groups for selecting entrance stations and groups for selecting exit stations (s2).例文帳に追加

テストパターン生成部１３は、各駅のグループ分けが完了すると、これらのグループについて、入場駅を選択するグループと、出場駅を選択するグループと、の組み合わせを全て抽出する（ｓ２）。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device wherein wafer test is conducted to automatically judge whether or not a measured chip has a statistically unexpected value and also judge whether or not measurement is conducted again or that the chip is defective.例文帳に追加

ウェハテストにより統計的には予測できない値が測定されたチップを自動で判断して再測定を行うか又は不良と判断することができる半導体装置の製造方法を得る。 - 特許庁

A control section 50 detects a degraded state of the polarization element based on a projection image imaged by an imaging section 80 when a test image that shows an entire screen with monochromatic display is projected.例文帳に追加

制御部５０は、画面全体を単色表示とするテスト画像を投写したときに撮像部８０によって撮像される投写画像に基づいて、上記偏光素子の劣化状態を検出する。 - 特許庁

To provide an electronic circuit test board that is capable of arranging lead wires in order with appearance close to a circuit diagram as much as possible, utilizing various electronic components on the market and also dealing with a large scale circuit.例文帳に追加

導線をできるだけ回路図に近い外観で整然と配置することができ、多様な市販の電子部品を利用可能かつ、大規模な回路にも対応可能な電子回路試作盤を提供する。 - 特許庁

Today, North Korea conducted a nuclear test. I understand that the FSA is involved in some of the measures the Japanese government has taken against North Korea, such as monitoring remittances to the country. 例文帳に追加

今日、北朝鮮が核実験をしたのですが、金融庁としては、先日公表した金融機関の送金のチェックなど、今、日本政府が行っている措置について関係している部分もあると思います。 - 金融庁

A stop signal/RefSTOP generated corresponding to an external signal at the time of performing a test is activated and the cycle signal/Refcyc is invalidated by inputting it to an AND gate 59.例文帳に追加

テスト実施時において外部信号に応答して生成されるストップ信号／ＲｅｆＳＴＯＰを活性化し、ＡＮＤゲート５９に入力することでサイクル信号／Ｒｅｆｃｙｃを無効化する。 - 特許庁

A connection identification part 14 receives the notice, refers to the value of a prescribed information element contained in the message and judges to which connection in user connection or test connection the message belongs.例文帳に追加

コネクション識別部１４が、通知を受け当該メッセージ中に含まれる所定の情報要素の値を参照し、当該メッセージがユーザコネクションと試験用コネクションのいずれに属しているかを判定する。 - 特許庁

Log data at the performance of a manual operation are read from a log file 110, and continuous log data in which an input signal value and an output signal value are neither changed are identified, and integrated into one test vector.例文帳に追加

ログファイル１１０からマニュアル操作した際のログデータを読み込み、入力信号値と出力信号値とが共に変化していない連続したログデータを識別して１個のテストベクタに統合する。 - 特許庁

The overheat preventing circuit 6 outputs a signal for transmitting or stopping an output signal of a test current to a control circuit 1 in rsponse to a thermo-sensed condition in a radiator or a current buffer circuit.例文帳に追加

放熱器または電流バッファ回路の感温状態に応じて、制御回路１に対して試験電流の出力信号を送信あるいは停止するための信号を過熱防止回路は出力する。 - 特許庁

The heat radiating parts 11 are continuously arranged at the second wiring 10, and heat generated at the time of the electromigration test for the second wiring 10 is allowed to escape by the heat radiating parts 11.例文帳に追加

放熱部１１は、第２の配線部１０に連続して設置され、放熱部１１によって第２の配線部１０に対するエレクトロマイグレーション試験の際に発生する熱を逃がすことができる。 - 特許庁

A communication confirmation test is executed from the line interface substrate 7S to the active system control substrate C0 under the state to confirm the normality of the stand-by system communication line.例文帳に追加

そしてこの状態から、回線インタフェース基板７Ｓから運用系制御基板Ｃ０に対して疎通確認試験を行うことにより、待機系通信路の正常性を確認するようにしている。 - 特許庁