「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(384ページ目) - Weblio英語例文検索

Next, the glossiness of each of the fixing test images TA to TC are calculated, compared with the initial glossiness and electrifying voltage value of a 1st to 3rd electrifying chargers are compensated based on the detected result (S8 to S14).例文帳に追加

その後、統括制御部５４により、各定着テスト画像ＴＡ〜ＴＣの光沢度がそれぞれ算出されて、初期光沢度と比較され、この比較結果に基づき第１〜第３帯電チャージャ３１Ａ〜３１Ｃにおける帯電電圧値がそれぞれ補正される（Ｓ８〜Ｓ１４）。 - 特許庁

A control section 1 verifies the A/D- converting function of the DUT 100a by checking the coincidence between output digital signals S4 generated by means of the DUT 100a and address signals which are test digital signals generated by means of the ALPG 2 by comparing the signals with each other.例文帳に追加

制御部１は、ＤＵＴ１００ａの生成した出力デジタル信号Ｓ４と、ＡＬＰＧ２の生成したテストデジタル信号たるアドレス信号とを比較し、その一致度を調べることにより、ＤＵＴ１００ａのＡＤ変換機能を検証する。 - 特許庁

To provide a delay control circuit which delays a strobe signal by using a variable delay circuit including a plurality of unit delay elements and which performs an operation test of all the unit delay elements in a short time, not depending on the nonuniformity in the unit delay time of each chip.例文帳に追加

複数の単位遅延素子から構成される可変遅延回路を用いてストローブ信号を遅延させるものであって、チップ毎の単位遅延時間のばらつきによらず、全単位遅延素子の動作テストを短時間で行うことができる遅延制御回路の提供。 - 特許庁

To provide a duplex communication system capable of surely performing switching from an active system host device to a standby system host device even when no return results of a test I/O performed to a storage means that stores processing data of the active system host device can be obtained.例文帳に追加

運用系ホスト装置の処理データが格納された記憶手段に対して行ったテストＩ／Ｏに対する返信結果が得られない場合でも、運用系ホスト装置から待機系ホスト装置に確実に切り替えることを可能とする二重化通信システムを提供する。 - 特許庁

This resin composition contains (A) a thermoplastic resin, (B) a fibrous inorganic filler, and (C) a liquid crystal polymer and has an MI (at 260°C under a load of 5 kg) of 1-500 g/10 min and a flexural strength (with a 1/16 in test specimen) of 6,000-50,000 MPa.例文帳に追加

（Ａ）熱可塑性樹脂、（Ｂ）繊維状無機充填物及び（Ｃ）液晶ポリマーを含有し、ＭＩが２６０℃、荷重５ｋｇで１〜５００ｇ／１０分で、かつ１／１６インチ試験片での曲げ強度が６，０００〜５０，０００ＭＰａである熱可塑性樹脂組成物。 - 特許庁

A normal temporary characteristic value setting processing part 14 corrects the temporary characteristic value of the complex C, C by a correction value calculated from a difference between an estimated value acquired from a test result of a base car which is a base of the developed car and a design value, and sets a normal temporary characteristic value.例文帳に追加

正規暫定特性値設定処理部１４は、複素Ｃ.Ｃの暫定特性値を、開発車の基礎となるベース車の試験結果から得られた推定値と設計値との差分から算出した補正値で補正して正規暫定特性値を設定する。 - 特許庁

This useful substance for the prevention and/or treatment of the ADHD can be screened by administering a test substance to an animal deficient in the function of the subunit p85α of PI3K and analyzing its action pattern by neuroscientific view points.例文帳に追加

ＰＩ３Ｋのサブユニットｐ８５αの機能を欠損させた動物に被験物質を投与し、その行動パターンを神経科学的な観点で解析することで、注意欠陥多動性障害の予防および／または治療剤として有用な物質をスクリーニングすることができる。 - 特許庁

To improve the reproducibility of an electrostatic discharge test by suppressing the ringing of a discharge waveform after an initial peak waveform without affecting the prescribed necessary conditions of the discharge waveform, and reducing an unnecessary high-frequency noise component and an electromagnetic wave being radiated from a metal conductor.例文帳に追加

放電波形の規定要件に影響することなく、イニシャルピーク波形以降の放電波形のリンギングを抑制し、不必要な高周波ノイズ成分を低減し、さらに金属導体から放射する電磁波を低減し、静電気放電試験の再現性を向上させる。 - 特許庁

The amino resin crosslinked particles thus prepared by the condensation of the amino compound and formaldehyde generate formaldehyde of ≤1,000 ppm in a pyrolysis test and have a Hunter whiteness of ≥85%.例文帳に追加

これにより、アミノ系化合物とホルムアルデヒドとを縮合させることによって得られるアミノ樹脂架橋粒子であって、熱分解テストにおけるホルムアルデヒドの発生量が１０００ｐｐｍ以下であり、かつ、ハンター白度が８５％以上であるアミノ樹脂架橋粒子を得ることができる。 - 特許庁

To provide an aging apparatus for a semiconductor laser element and a test method for the semiconductor laser element capable of performing the temperature control of the semiconductor laser element at high accuracy and furthermore acquiring evaluation results of high reliability to the semiconductor laser element.例文帳に追加

半導体レーザ素子の温度制御を高い精度で行うことを可能にし、かつ半導体レーザ素子に対する、信頼度の高い評価結果を得ることのできる半導体レーザ素子用エージング装置、および半導体レーザ素子の試験方法を提供することである。 - 特許庁

When a rope body 4 is pulled by a tension roller 13C by lifting of a crosshead, a pair of rotary disks 2, 2 are rotated mutually reversely, and a bending load is applied to a test hose H whose both ends are fixed to the rotary disks 2, 2 through a pair of hose fixing tools 3.例文帳に追加

クロスヘッドの上昇により引張ローラ１３Ｃが索体４を牽引すると、一対のロータリーディスク２，２が相互に逆向きに回動し、このロータリーディスク２，２に一対のホース固定具３を介して両端部が固定された供試ホースＨに曲げ荷重が作用する。 - 特許庁

A packet generation unit is provided in the repeating device, a packet becoming the limit band of transfer performance of a switch device in the repeating device is generated in the packet generation unit for the standby system periodically or at the time of switching, and then communication test is performed and the matching is checked.例文帳に追加

中継装置内にパケット生成部を持ち、待機系に定期的に、もしくは切替時にパケット生成部で中継装置内のスイッチデバイスの転送性能の限界帯域となるパケットを生成し、疎通テストを実施し、整合性の確認を行なう。 - 特許庁

To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁

In this test circuit device, self-fault diagnosis for the self fault diagnosis circuit comprising a random number generation circuit part 101, a scan chain part 102, a counter circuit part 103 and a decision circuit part 104 is executed, and the output of a state hold register 105 is changed, on the basis of the result of the self fault diagnosis.例文帳に追加

乱数発生回路部１０１、スキャンチェーン部１０２、カウンタ回路部１０３、判定回路部１０４から成る自己故障診断回路の自己故障診断を行い、自己故障診断の結果から状態保持レジスタ１０５の出力を変化する。 - 特許庁

To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.例文帳に追加

ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming device which is capable of discriminating a test use or the like normal use without charging at a maintenance time nor performing the count-up of a key counter and also capable of definitely grasping the operation in a normal use mode after trouble recovery.例文帳に追加

メンテナンス時に課金されたり、キーカウンタのカウントアップなどもなく、テスト等のための使用と通常使用と区別して管理することができ、さらに、通常使用モードでのトラブル修復後の動作も的確に把握することが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, since data is recorded on the test writing area of the optical disk in order to acquire data with which the relational expression is calculated, the initial value of the laser driving voltage can be calculated in a short period of time without turning a focusing servo off like in the conventional optical disk recording device.例文帳に追加

また、関係式を求めるデータを取得するために、光ディスクの試し書き領域にデータを記録するので、従来の光ディスク記録装置のようにフォーカスサーボをオフにせずに、レーザ駆動電圧の初期値を短時間で算出することができる。 - 特許庁

To sufficiently ensure flow detection accuracy even when the environmental temperature has changed in a thermal flow sensor constituted in such a way as to detect the flow rate of a test fluid through the use of a heat resistor and a pair of thermometric resistors.例文帳に追加

発熱抵抗体および１対の測温抵抗体を用いて被検流体の流量検出を行うように構成された熱式流量センサにおいて、環境温度が変化した場合であっても、流量検出の精度を十分に確保可能とする。 - 特許庁

In respectively selecting character information from a plurality of selection items to prepare the test report, a plurality of pieces of character information about character information selected in first selection items are displayed as second selection items in a list.例文帳に追加

複数の選択項目から文字情報をそれぞれ選択して検査レポートを作成するに際して、第１の選択項目で選択された文字情報に関わる複数の文字情報が第２の選択項目として一覧表示されるように構成されている。 - 特許庁

To provide an optical module which does not cause a drop of optical output due to lens displacement accompanying temperature cycling test etc. and has a high reliability in the optical module of fixing a lens by using an adhesive in a V-shaped groove formed on the surface of silicon substrate.例文帳に追加

シリコン基板表面に形成されたＶ溝に接着剤を用いてレンズを固定する光モジュールにおいて、温度サイクル試験等によるレンズ位置ずれに起因する光出力の低下の起こらない、高信頼度を有する光モジュールを提供する。 - 特許庁

Based on the test result, the injection angle θ1s can be set closer to the angle θ1 of the axis sidewall surface of the injection hole 11, and combustion efficiency of the injected fuel is improved by constructing a nozzle to satisfy the relation x/L<0.05.例文帳に追加

この試験結果より、本発明はｘ／Ｌ＜０．０５を満たすように構成することで、噴射角θ１ｓを噴孔１１の中心軸側壁面の角度θ１に近づけることができ、ひいては、噴射された燃料の燃焼効率向上を図ることができる。 - 特許庁

To provide an inkjet recording apparatus capable of recording a test pattern while a recording head is held at a constant temperature without using an additional means such as a cooling mechanism and capable of precisely and appropriately performing a correcting processing of image data, and to provided an inkjet recording method.例文帳に追加

冷却機構などの付加的な手段を用いることなく、記録ヘッドを一定の温度に保ちながらテストパターンを記録でき、画像データの補正処理を高精度かつ適正に行うことが可能なインクジェット記録装置およびインクジェット記録方法を提供する。 - 特許庁

A test image display device 30 is used for inspecting the customer stratum recognizing function of the vending machine, and provided with a housing 31; a display 32 mounted on the housing 31 and a tubular hood 33 mounted on the periphery of a display screen 34 of the display 32.例文帳に追加

テスト画像表示装置３０は、自動販売機の客層認識機能の検査に用いられるもので、筐体３１と、筐体３１に装着されたディスプレイ３２と、ディスプレイ３２の表示画面３４周辺に装着された筒状のフード３３とを備える。 - 特許庁

The generation instruction receiving means receives an instruction of data generation, the first data processor 2 converts personal data of the personal data storing means on the basis of the registered conversion rule and transfers generated test data to the second data processor 3.例文帳に追加

生成指令受付手段がデータ生成の指令を受付け、第１データ処理装置２が、データ変換手段にて個人データ格納手段の個人データを登録された変換ルールに基いて変換し、生成したテストデータを第２データ処理装置３に転送する。 - 特許庁

In the method, KAM values which indicate the differences in in-crystal orientations in the crystal grains, crystal grain boundaries, etc. of a test material which has consumed its material life time to prepare a master curve which represents the relation between the measured KAM values; the degree of consumption of material lifetimes in a first process.例文帳に追加

本方法によれば、第１工程として材料寿命を消費した試験材料の結晶粒内，結晶粒界等の結晶方位差を示すＫＡＭ値を測定し、これと材料寿命の消費度との関係を表すマスターカーブを作成する。 - 特許庁

To provide a cell-evaluating method capable of quantitatively evaluating migration ability and proliferation ability of cell by forming a functional surface on the surface of an incubator corresponding to a substrate surface in a culturing test carried out in medical and biotechnological field.例文帳に追加

メディカル、バイオテクノロジー分野などで行われている培養試験において、基質表面に相当する培養器の表面に機能性表面を形成させることにより、細胞の遊走能や増殖能を定量的に評価できる細胞評価方法を提供する。 - 特許庁

An optical sensor 21 to detect the image density of a test pattern formed at an image carrier is provided on the side of the opening and closing cover 23, and when the opening and closing cover 23 is opened, light emitted by the light emitting element of the optical sensor 21 is prevented from being made incident on a light receiving element.例文帳に追加

像担持体に形成されたテストパターンの画像濃度を検出する光学センサ２１を、開閉カバー２３の側に設け、開閉カバー２３を開いたとき、光学センサ２１の発光素子から出射した光が受光素子に入射しないようにする。 - 特許庁

The test machine is provided with a moving member guiding means 8 for keeping the attitude of the moving member 7, wherein the moving member guide means 8 is inhibiting an attitude change while allowing the positional change of the moving member 7 which is provided with the engaging part 6 for connecting with the operation lever 5 of the testing object 2 and a cam plate mounting part 4.例文帳に追加

試験対象物２の操作レバー５に接続する係合部６とカム板取付部４とを備えた移動部材７の位置変化を許容して姿勢変化を禁止する移動部材ガイド手段８を設け、移動部材７の姿勢を保持する。 - 特許庁

To improve a reliability of a test and to securely prevent a damage of a semiconductor device in shipping package in relation to a packaging structure of a cover for semiconductor device, a semiconductor device unit, and the semiconductor device, and a method for protecting the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置用カバー及び半導体装置ユニット及び半導体装置の梱包構造及び半導体装置の保護方法に係り、試験の信頼性を高めると共に出荷包装時における半導体装置の損傷を確実に防止すること。 - 特許庁

Packet, data containing a mail address number of the terminal is transmitted from the maintenance terminal to the mail address number of the test terminal and a reply, is confirmed, so that it is confirmed whether a packet data call process is functioning of a base station wireless installation operates normally.例文帳に追加

保守端末装置から同端末のメールアドレス番号を含んだパケットデータを試験端末装置のメールアドレス番号に対して送信し返信を確認することで、基地局無線装置のパケットデータ呼処理機能が正常に動作しているかを確認する。 - 特許庁

A method of screening for compounds with activity against cancer, comprises: contacting a test compound with a tissue sample derived from a cell in which expression of the human endogenous retrovirus located at megabase 20.428 on chromosome 22 is up-regulated; and monitoring expression of the retrovirus in the sample, wherein a decrease in expression indicates anti-cancer efficacy of the test compound.例文帳に追加

癌に対して活性を有する化合物をスクリーニングする方法であって、該方法は、以下：試験化合物を、細胞または細胞株由来の組織サンプルに接触させる工程であって、該細胞において、２２番染色体上の２０．４２８メガベースに位置するヒト内因性レトロウイルスの発現がアップレギュレートされ、および該サンプル中での該レトロウイルスの発現をモニタリングする工程であって、ここで、発現の減少が、該試験化合物の抗癌効力を示す工程を包含する、方法。 - 特許庁

In inspection, light for inspection emitted from a test head passes through the opening parts 21a in the circuit board 21, is transmitted by the guide substrate 22, and is applied to the plurality of CCD sensors S on a substrate W.例文帳に追加

検査時には、テストヘッドから発光された検査用の光が回路基板２１の開口部２１ａを通過し、ガイド基板２２を透過して、基板Ｗの複数のＣＣＤセンサＳに照射される。 - 特許庁

Then the intermediate test signals IFtest are correlated with a replica of a 2nd repetitive code shorter than the 1st code supplied by a code generator 25 adapted by a control means 12.例文帳に追加

そして、中間試験信号ＩＦｔｅｓｔは、制御手段１２によって適合されたコード発生器２５によって供給される、第１コードより短い第２反復コードの複製と相関される。 - 特許庁

If the content of test print requires correction (S1-7; NO), the operator delivers a print stop instruction to the print control section (S1-10) and corrects the document data (S1-11).例文帳に追加

しかし、試し印刷の内容に修正の必要がある場合には（Ｓ１−７のＮＯ）、操作者は印刷制御部に印刷中止命令を出力し（Ｓ１−１０）、文書データなどの修正を行う（Ｓ１−１１）。 - 特許庁

This test circuit detects a bit in which a shift is caused in a write-in property in a memory cell array 1 as a defective bit using a method by which one axis write-in current of a difficult axis direction is applied.例文帳に追加

このテスト回路は、メモリセルアレイ１中の書き込み特性にシフトがあるビットを、困難軸方向の一軸書き込み電流を印加する手法を用いて不良ビットとして検出する。 - 特許庁

A transparent probe card is provided and covers a wafer for electrically connecting the testing pads of the LED chips via the contacts so as to perform a light-up test on the LED chips.例文帳に追加

透明プローブカードが備えられ、その透明プローブカードは、ＬＥＤチップにおいて照明試験を実行するようにコンタクトを介してＬＥＤチップの試験パッドに電気的に接続するためのウェーハを覆う。 - 特許庁

To provide a device and a method for checking memory, a storage medium and an information processor, with which the confirmation test of fault detection can be easily performed and time required for a memory check can be optimized and shortened.例文帳に追加

故障検出の確認試験を容易に行うことができ、またメモリチェックに要する時間を最適化し短くできる、メモリチェック装置，メモリチェック方法，記憶媒体，情報処理装置を提供する。 - 特許庁

In a test operation, a potential difference between the bit-line pair BLm, NBLm is reduced by grounding the bit-line BLm conducting to an H-side memory holding node of a memory cell Mn_m.例文帳に追加

テスト動作時において、メモリセルＭｎ＿ｍのＨ側記憶保持ノードと導通するビット線ＢＬｍを所定時間接地することによって、ビット線対ＢＬｍ，ＮＢＬｍ間の電位差を小さくする。 - 特許庁

To provide a test print for shading correction that can perform shading correction without incurring cost increase while correcting shading of an exposure device with high precision, and a shading correction method using the same.例文帳に追加

露光装置のシェーディングを高精度に補正しつつ、コストアップを伴わないでシェーディング補正を行なうことが可能なシェーディング補正用のテストプリント、およびこれを用いたシェーディング補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test socket having equal impedances between connecting points and being capable of stably supplying voltage and a large volume current for packages.例文帳に追加

本発明はテストソケットに関し、各接続点間でのインピーダンスが等しく、またパッケージへ安定した電圧供給及び大容量の電流供給を可能にするテストソケットを提供することを目的としている。 - 特許庁

Therefore, the relay node device (1) has a processing means (session processing part 102 for test call) for generating the first call and the second call by using only three SIP signals of INVITE, 200 OK (INVITE), and ACK (INVITE).例文帳に追加

そのために、中継ノード装置（１）は、ＩＮＶＩＴＥ，２００ＯＫ（ＩＮＶＩＴＥ），ＡＣＫ（ＩＮＶＩＴＥ）の３つのＳＩＰ信号のみを用いて第１の呼及び第２の呼を生成する処理手段（試験呼用セッション処理部１０２）を有している。 - 特許庁

To shorten the test time of the testing method which tests an address line for a memory device formed on a printed wiring board and to make it easy to find a fault position.例文帳に追加

プリント配線板に形成されているメモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法に関し、テスト時間の短縮化と、故障個所の発見の容易化とを図ることができるようにする。 - 特許庁

The adapter 23 is configured to generate a load equivalent to a load based on the loading of the explosive and the filling so as to previously test an air pressure necessary for loading the explosive and the filling.例文帳に追加

そして、アダプター２３は、爆薬及び込め物の装填に基づく負荷に相当する負荷を生じ、爆薬及び込め物の装填に必要な空気圧を予め試験可能に構成されている。 - 特許庁

The control device controls the light irradiation devices, recording heads and transfer device to form onto the recording medium, a test pattern for judging whether or not the light energy of the light irradiation devices is proper.例文帳に追加

制御装置は、光照射装置の光エネルギーが適正であるか否かを判断するためのテストパターンを、光照射装置、記録ヘッド及び搬送装置を制御して記録媒体上に作成させる。 - 特許庁

The BER measurement data are stored in a measurement data storage part 21 while being correlated with the test item identification code, date and time information of a real-time clock part 9, and version information in a version information storage part 9.例文帳に追加

ＢＥＲ測定データは、テスト項目識別符号やリアルタイムクロック部９での日時情報，バージョン情報記憶部９でのバージョン情報と関連付けられて、測定データ記憶部２１に記憶される。 - 特許庁