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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > P type semiconductorの意味・解説 > P type semiconductorに関連した英語例文

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P type semiconductorの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3738



例文

The surface-emission semiconductor laser element 40 has the laminating structure of a lower reflector 44, a lower clad layer 46, an active layer 48, an upper clad layer 50, an upper reflector 52, and a p-type contact layer 54 on an n-type GaAs stepped substrate 42.例文帳に追加

本面発光型半導体レーザ素子40は、n型GaAs段差基板42上に、下部反射鏡44、下部クラッド層46、活性層48、上部クラッド層50、上部反射鏡52、及びp型コンタクト層54の積層構造を備える。 - 特許庁

After a gate oxide film 4 and a gate electrode film 5 are formed on a P-type semiconductor substrate 1, a highly concentrated impurity diffusion region 7 is formed by implanting highly concentrated N-type impurity ions using a first masking means 6a having a pattern width wider than that of a gate electrode 5a as a mask.例文帳に追加

P型半導体基板1上に、ゲート酸化膜4及びゲート電極膜5を形成後、ゲート電極5aよりもパターン幅を拡げて形成された第1マスク手段6aをマスクとして、高濃度のN型不純物イオンを注入して高濃度不純物拡散領域7を形成する。 - 特許庁

In the semiconductor device, while the contact width in a P+ type body layer 6 of a sense cell Se is C1 identical to that of a main cell Ma, the contact width C2 in an N+ type source layer 7 is smaller than the contact width C1 of the main cell Ma (C2<C1).例文帳に追加

センスセルSeのP+型ボディ層6におけるコンタクト幅はメインセルMaと同じC1であるが、N+型ソース層7におけるコンタクト幅C2が、メインセルMaのコンタクト幅C1よりも狭くなっている(C2<C1)。 - 特許庁

An NMOS (n-pole metal insulator transistor) and a PMOS (p-pole metal insulator transistor), whose gate electrodes 10n, 10p are constituted of a conductive type silicon film reversed to the conductive type semiconductor region for source drain, are formed in a first circumferential circuit unit which requires low consumption operation and a memory unit.例文帳に追加

低消費動作が要求される第1の周辺回路部およびメモリセル部には、ゲート電極10n,10pがソース・ドレイン用の半導体領域の導電型とは逆の導電型のシリコン膜で構成されたNMOS,PMOSを形成する。 - 特許庁

例文

The semiconductor device includes gate electrode parts G21a-G21c formed over a P type diffusion region, an N type diffusion region, and an element isolation region, and arranged on a diffusion region; and a plurality of gate polysilicon films G20a-G20c having gate wiring parts G22a-G22c arranged on the element isolation region.例文帳に追加

半導体装置は、P型拡散領域,N型拡散領域及び素子分離領域に跨って形成され、拡散領域上に位置するゲート電極部G21a〜G21cと、素子分離領域上に位置するゲート配線部G22a〜G22cとを有する複数のゲートポリシリコン膜G20a〜G20cを備えている。 - 特許庁


例文

The imaging element includes, between a pair of electrodes, a photoelectric conversion film (a photosensitive layer) having a bulk hetero-junction structure layer as an intermediate layer, or a photoelectric conversion film having a structure comprising two or more repeated structures of pn junction layers respectively formed of p-type and n-type semiconductor layers.例文帳に追加

1対の電極間に、バルクヘテロ接合構造層を中間層とする光電変換膜(感光層)、又はp型半導体の層とn型半導体の層で形成されるpn接合層の繰り返し構造の数を2以上有する構造を持つ光電変換膜を含有する撮像素子。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can be integrated to a higher degree and made finer by locally interconnecting an n-type MOS transistor and a p-type MOS transistor which constitute an inverter and making the well separate layer width of a CMOS transistor narrow.例文帳に追加

インバータを構成するn型MOSトランジスタとp型MOSトランジスタの接続をローカルインターコネクトで行い、CMOSトランジスタのウェル分離層幅を狭く形成し、デバイスをより一層高集積化及び微細化することが可能となる半導体装置を提供する。 - 特許庁

In a region with a given length from each edge face of the semiconductor laser element 100, a part with a given depth from the p-type contract layer 9 to the n-type GaN layer 4 is removed by etching to form a step part 300 with a flat side face 41 and a bottom face 42.例文帳に追加

半導体レーザ素子100の両端面から所定幅の領域においてp−コンタクト層9からn−GaN層4の所定深さまでがエッチングにより除去され、平坦な側面41および底面42を有する段差部300が形成されている。 - 特許庁

In the nitride semiconductor light emitting diode, at least an n-type foundation layer (4), a strain relaxing layer (11), an InGaN buffer layer (12), a light emitting layer (6) which contains an InGaN quantum well and has a peak wavelength of 440 nm or more and p-type layers (6, 7) are laminated on a substrate (1).例文帳に追加

基板(1)上に少なくとも、n型下地層(4)と、歪緩和層(11)と、InGaNバッファ層(12)と、InGaN量子井戸を含む発光のピーク波長が440nm以上である発光層(6)と、p型層(6,7)とが積層されている窒化物半導体発光ダイオーである。 - 特許庁

例文

An n-type light confinement layer 41a, the first light confinement layer 43a, the quantum well structure section 45a, the second light confinement layer 47a and a p-type light confinement layer 49a appear on at least any one of the one end face 13a and the other end face 13b of a semiconductor region 13.例文帳に追加

n型光閉じ込め層41a、第1の光閉じ込め層43a、量子井戸構造部45a、第2の光閉じ込め層47aおよびp型光閉じ込め層49aは、半導体領域13の一端面13aおよび他端面13bの少なくともいずれか一方に現れている。 - 特許庁

例文

A pn junction layer 101 composed of a group III-V compound semiconductor includes strip-shaped n-type regions 105 whose surface is composed of a (100) plane and strip-shaped p-type regions 106 whose surface is composed of a facet other than the (100) plane that are alternately arranged.例文帳に追加

III−V族化合物半導体からなるpn接合層101は、表面が(100)面からなる短冊状のn型領域105と、表面が(100)面以外のファセットからなる短冊状のp型領域106とを、交互に配列して備えている。 - 特許庁

Since the presence of the oxide film 4 can eliminate the effect of the difference in the characteristics of the substrate on the formation of the USG film 5, the USG film 5 with a constant film thickness can be formed on any of the semiconductor substrate 1, the p+-type active region 3 and the n+-type active region 2.例文帳に追加

下地の特性の相違がUSG膜5の形成にもたらす影響を酸化膜4の存在によってなくすことができるので、半導体基板1上、P+型活性領域3上、N+型活性領域2上にかかわらず一定の膜厚を有するUSG膜5を形成することができる。 - 特許庁

Also, the ions, having polarity opposite to that of the impurity ions composing an n-type well 4, are implanted to form a first channel region 5a in the edge part of a gate electrode 7p and a second channel region 13, which gives influence only on a shallow region of a p--type semiconductor region 9.例文帳に追加

また、n型ウェル4を構成する不純物イオンとは逆の極性を持つイオンをイオン注入にて打ち込み、ゲート電極7pの端部の第1チャネル領域5aおよびp^-型半導体領域9の浅い領域のみに影響を与える第2チャネル領域13を形成する。 - 特許庁

The other part of the polycrystalline silicon film 7n is projected above the groove 13 and the top face thereof is located above the surface of the silicon substrate 1 (p-type well 3), so that the distances are ensured between the W film 8 and the source, and between the W film 8 and the drain (n-type semiconductor regions 9a, 9b).例文帳に追加

多結晶シリコン膜7nの他部は、溝13の上方に突出し、その上面は、シリコン基板1(p型ウエル3)の表面よりも上方に位置しているので、W膜8とソース、ドレイン(n型半導体領域9a、9b)との距離が確保されている。 - 特許庁

The rare earth added semiconductor laminate structure 1 for a light emitting element has a double heterojunction structure in which p-type and n-type clad layers 3 and 4 with forbidden band width larger than an active layer 2 are laminated on both sides of the active layer 2, and where the active layer 2 is added with rare earth element or both rare earth element and oxygen.例文帳に追加

活性層2の両側に活性層2よりも禁制帯幅の大きいp型とn型のクラッド層3,4を積層したダブルヘテロ接合構造であって、活性層2に希土類元素または希土類元素と酸素が添加された発光素子用希土類元素添加半導体積層構造1である。 - 特許庁

If the conductivity type of the photo-sensitive region 1G is the same p-type as those of semiconductor substrates 1A and 1A' with the potential differences present in this way and the concentration of the impurity is lowered, a potential distribution in a crosswise direction in the photo-sensitive region 1G is easily skewed only in one direction.例文帳に追加

このようにポテンシャルの差がある状態で、光感応領域1Gの導電型を半導体基板1A,1A’と同一のP型とし、その不純物濃度を低下させると、光感応領域1Gにおけるポテンシャルの横方向分布が、一方向のみに傾斜しやすくなる。 - 特許庁

Then, the shape of the magnetism sensor HP is made variable in response to the potential of these electrodes ED1, ED2, via the variation of the width of the depletion layer formed between an n-type semiconductor region 12 and the p-type electrodes ED1, ED2.例文帳に追加

そして、P型の電極ED1およびED2とN型の半導体領域12との間に形成される空乏層の幅変化を通じて、これら電極ED1およびED2の電位に応じて磁気検出部HPの形状を可変とする。 - 特許庁

The high stress advantageous to the n-type MOSFET is imposed even when the 45°-notch wafer is used, by which the channel where the crystal direction hard to give the influence of stress is the [100]-direction is formed on the p-type MOSFET to be formed on the silicon semiconductor substrate.例文帳に追加

シリコン半導体基板に形成されるp型MOSFETにストレスの影響を与え難い結晶方向が[100]方向のチャネルを形成することができる45度ノッチウエハを使用してもn型MOSFETに有利な高いストレスをかけることができる。 - 特許庁

The semiconductor device has a structure wherein a silicon oxide film 3 is embedded within a first groove 2 as an element isolation region in a p-type silicon substrate 1, and an n-type polycrystalline silicon resistor 6 is embedded within a second groove 5 further formed in that silicon oxide film 3.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、p型シリコン基板1に、素子分離領域となる第1の溝2の内部にシリコン酸化膜3が埋め込まれ、さらにその内部に形成された第2の溝5の内部にn型多結晶シリコン抵抗体6が埋め込まれた構造となっている。 - 特許庁

In a semiconductor device provided with the NPN and PNP transistors on the same substrate, n^+ type buried layer 4 is formed on an NPN formation area forming the NPN transistor and an PNP formation area forming the PNP transistor, and a p^+ type buried layer is not formed.例文帳に追加

同一基板上にNPN及びPNPトランジスタが備えられた半導体装置において、NPNトランジスタが形成されるNPN形成領域とPNPトランジスタが形成されるPNP形成領域とにn^+型埋込み層4を形成し、p^+型埋込み層は形成しない。 - 特許庁

The impurity implanted photoabsorbing layer 104 in the composition reducing the band gap energy per payer from n type layer clad layer side to p type clad layer side to be formed in semiconductor laminated structure of multiple layers 104A, B, C reducing the impurity concentration.例文帳に追加

不純物注入光吸収層は、n型クラッド層側からp型クラッド層側に向かって、層毎にバンドギャップ・エネルギーが小さくなる組成を有し、かつ不純物濃度が低くなる複数層104A、B、Cの半導体積層構造として形成されている。 - 特許庁

Crystal plane orientations of single crystal semiconductor layer that become a channel region of an N conductivity type thin film transistor and a channel region of a P conductivity type thin film transistor both formed on the same substrate flat surface are formed to be optimum crystal plane orientations in the respective thin film transistors.例文帳に追加

同一基板平面上に形成されたN導電型薄膜トランジスタのチャネル領域とP導電型薄膜トランジスタのチャネル領域となる単結晶半導体層の結晶面方位が、それぞれの薄膜トランジスタにおいて最適な結晶面方位となるように形成する。 - 特許庁

To provide an organic thin film solar cell that is capable of forming a photoelectric conversion layer that can operate in the same manner as a bulk hetero junction type and has high performance using a high-mobility P-type organic semiconductor material with an excellent carrier transport property.例文帳に追加

キャリア輸送性に優れる高移動度なP型有機半導体材料を用いて、バルクヘテロジャンクション型と同様な動作が可能な光電変換層を形成することができ、高い性能を有する有機薄膜太陽電池を提供する - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of lowering the threshold voltage of both an n-type MIS transistor and a p-type MIS transistor while suppressing degradation in electric characteristics of the MIS transistor or lowering in yield thereof, and to provide its fabricating process.例文帳に追加

MISトランジスタの電気的特性の劣化や歩留まりの低下を抑制しながら、n型MISトランジスタとp型MISトランジスタの両方でしきい値電圧を下げることができる半導体装置およびその製造技術を提供する。 - 特許庁

The photodiode includes a first conductive layer 8 disposed above a surface of a semiconductor substrate and having a second type impurity and a second conductive layer 9 formed on the first conductive layer 8 and forming a p-n junction between it and the first conductive layer 8 by having the first type impurity.例文帳に追加

フォトダイオードは、半導体基板の表面上方の、第2型不純物を有する第1導電層8と、第1導電層8上に形成され、第1型不純物を有することによって第1導電層8との間にpn接合を形成する第2導電層9と、を備える。 - 特許庁

As a result, the N-type clad layer 6, the MQW active layer 7 and the P-type clad layer 8 are grown only on the respective buffer layers 5, and an element isolation groove 4 for separating the respective semiconductor light-emitting elements 3 is of necessity formed between them.例文帳に追加

その結果、各バッファ層5上のみに、N型クラッド層6、MQW活性層7およびP型クラッド層8を成長させることができ、各半導体発光素子3間に、それらを分離するための素子分離溝4が必然的に形成される。 - 特許庁

Even when a surge voltage is applied, since a pn junction is formed by the n-type semiconductor layer region 130 and the p type impurity diffusion region 170, the concentration of the surge voltage on a defect is prevented and the destruction of the dielectric separation membrane 120 is prevented.例文帳に追加

サージ電圧が印加されたとしても、n−型半導体層領域130とp型不純物拡散領域170とによりpn接合が形成されているため、サージ電圧が欠陥に集中することを防ぎ、誘電体分離膜120の破壊を防止することができる。 - 特許庁

To enable control of a threshold voltage within the predetermined range, by lowering the same threshold voltage and also restrain increase in gate leak current in a semiconductor device, provided with an n-type MOSFET and a p-type MOSFET including a high dielectric constant.例文帳に追加

高誘電率膜を含むN型MOSFETおよびP型MOSFETを備えた半導体装置において、閾値電圧を低下させることにより所望の範囲で閾値電圧を制御可能とするとともに、ゲートリーク電流の増大を抑制する。 - 特許庁

Then, the width of a depletion layer 6 is adjusted, by controlling reverse bias applied between the p-type region 2 and the n-type region 3 and a positive voltage applied to the gate electrode 5, thus making the capacitance value of the semiconductor variable capacitance capacitor changed.例文帳に追加

そして、P型領域2およびN型領域3間に加える逆バイアスと、ゲート電極5に加える正の電圧とを制御して空乏層6の幅を調節することで、半導体可変容量コンデンサの容量値を変化させる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device, which suppresses an increase of manufacturing processes, and also suppresses the deterioration of the performance of the whole device even if characteristic improving treatment are carried out for a P-type transistor and an N-type transistor.例文帳に追加

P型トランジスタの特性向上処理とN型トランジスタの特性向上処理とを施したとしても、製造工程の増加を抑制することができ、かつデバイス全体の性能の劣化を抑制することができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Since no impurities are present in the di-electric layer of the auxiliary capacitance semiconductor layer 37, deterioration in the characteristics of thin film transistors 23 for pixels, thin film transistors 25 for a p-type driving circuit, and thin film transistors 26 for an N-type driving circuit does not occur.例文帳に追加

補助容量半導体層37の誘電体層には不純物が存在しないため、画素用薄膜トランジスタ23、P型駆動回路用薄膜トランジスタ25およびN型駆動回路用薄膜トランジスタ26の特性劣化を発生させない。 - 特許庁

Ions, having polarity opposite to that of the impurity ions composing a p-type well 3, are implanted to form a first channel region 5b in the edge part of a gate electrode 7n and a second channel region 12, which gives influence only on the shallow region of an n--type semiconductor region 8.例文帳に追加

p型ウェル3を構成する不純物イオンとは逆の極性を持つイオンをイオン注入にて打ち込み、ゲート電極7nの端部の第1チャネル領域5bおよびn^-型半導体領域8の浅い領域のみに影響を与える第2チャネル領域12を形成する。 - 特許庁

In this wiring structure of a semiconductor device, a silicon film 15 for drain wiring is formed over the upper part of a drain region 25 of a p-type MOSFET forming region 1a to the upper part of a drain region (not shown) of n-type MOSFET forming region 2a.例文帳に追加

本発明の半導体装置の配線構造では、p型MOSFET形成領域1aのドレイン領域25の上から、n型MOSFET形成領域2aのドレイン領域(図示せず)の上に亘って、ドレイン配線用シリコン膜15が形成されている。 - 特許庁

Each p-type and n-type FeSi2-based thermoelectric conversion semiconductor raw powder 22', 23' and plate made of predetermined metal or powder 21' and/or 24', which are located at least one edge place thereof, are cast inside a sintering mold 3, and these are sintered and jointed at one step in an electric discharge plasma sintering method.例文帳に追加

焼結型3の内部に、FeSi2系のp型及びn型からなる各熱電変換半導体原料粉末22’、23’と、これらの少なくとも一端部に所定の金属からなる板又は粉末21’及び又は24’を投入し、これらを放電プラズマ焼結法により一段階で焼結・接合する。 - 特許庁

The method includes: forming an active region for a control circuit transistor 20 on a semiconductor substrate 18; and forming n-type wells 36, 44, p-type wells 38, 46 and the like which constitute photodiodes 22, 24, before forming the control circuit transistor 20.例文帳に追加

半導体基板18上に制御回路用トランジスタ20のアクティブ領域を形成し、制御回路用トランジスタ20を形成する前に、フォトダイオード22、24を構成する、N型ウェル36、44及びP型ウェル38、46等の形成を行う。 - 特許庁

In the logic circuit 10, a recessed LOCOS oxide film 45 is employed that is formed such that an upper surface thereof is flush with the upper surface of the semiconductor substrate 30 and that insulates a p-type MOS transistor element from an n-type MOS transistor element which constitute a CMOS transistor element.例文帳に追加

ロジック回路10では、上表面が半導体基板30上表面と同一平面に収まるように形成された、CMOSトランジスタ素子を構成するp型MOSトランジスタ素子とn型MOSトランジスタ素子とを絶縁するリセスLOCOS酸化膜45が採用されている。 - 特許庁

To improve reliability of a compound semiconductor light-emitting element wherein a nanocolumn is formed on a conductive substrate, insulation between nanololumns and between a p-type layer and an n-type layer is ensured therebetween and an insulator which protects a light-emitting layer is buried.例文帳に追加

導電性基板上にナノコラムが形成され、その間には該ナノコラム間およびp型層とn型層との絶縁を確保し、発光層を保護する絶縁物が埋込まれて成る化合物半導体発光素子において、素子の信頼性を向上する。 - 特許庁

A semiconductor circuit is provided in which two transistors being an n-channel type transistor and a p-channel type transistor are used instead of two clocked inverters occupying eight transistors in a D flip-flop in the conventional manner to reduce the number of transistors.例文帳に追加

本発明においては、従来、Dフリップフロップ内でトランジスタ数が8つを占めている2つのクロックドインバータの代わりに、nチャネル型トランジスタ及びpチャネル型トランジスタの2つを用いてトランジスタ数を削減する。 - 特許庁

At least a part of the envelope 2 is covered with a shading material 300 to prevent the light having passed through the envelope 2 from entering into a junction part between a negative electrode base of the field emission type negative electrode 10 formed of a P-type semiconductor, and a negative electrode jointed to the negative electrode base.例文帳に追加

外囲器2を通過した光が電界放出型陰極10のP型半導体からなる陰極ベースとN型半導体からなり、陰極ベースに接合された陰極電極との接合部に入射しないように、外囲器2の少なくとも一部が遮光性の材料300で覆われている。 - 特許庁

In the semiconductor laser, having an InGaAlAs active layer using an InP substrate, an n-type clad layer making direct contact with the active layer is made of InP or InGaAsP, and a p-type optical waveguide layer making direct contact with the active layer is made of an InGaAlAs or an InAlAs.例文帳に追加

InP基板を用いたInGaAlAs系活性層を有する半導体レーザにおいて、活性層に直接接するn−クラッド層をInPまたはInGaAsPとし、活性層に直接接するp−光ガイド層をInGaAlAsまたはInAlAsとする。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit device, having memory cells, the memory cells are the same, a p-type channel MISFET and n-type channel MISFET constituting a memory cell constituted of a power feed portion to each formed well regions by a common cell topology.例文帳に追加

メモリセルを有する半導体集積回路装置において、メモリセルは同一であり、メモリセルを構成するpチャネルMISFETとnチャネルMISFETがそれぞれ形成されるウェル領域に対する給電部を共通セルトポロジーで構成する。 - 特許庁

Since the n-type region 13 and the p-type region region 12, which serves as light-receiving parts of the photodiode are formed on the bottom surface and on a side surface of an aperture part, the light-receiving part is formed cylindrically and turned into a state such that opening state is obtained, from the surface of the semiconductor substrate 1 upward.例文帳に追加

フォトダイオードの受光部となるN型領域13およびP型領域12が開口部の底面上および側面上に形成されることによって、受光部が筒状に形成されて、半導体基板1の表面から上方に向かって開口した状態になる。 - 特許庁

The diode includes a semiconductor substrate 11 constituted of an N^+ semiconductor layer 1 and an N^- semiconductor layer 2, a P- type anode region 15 formed by selectively diffusing an impurity into an outer surface of the N^- semiconductor layer 2, and an anode electrode 17 conducting with the anode region 15 via a contact region 17c in the anode region 15.例文帳に追加

N^+半導体層1及びN^−半導体層2からなる半導体基板11と、N^−半導体層2の外面に対する選択的な不純物拡散により形成されたP型のアノード領域15と、アノード領域15内のコンタクト領域17cを介してアノード領域15と導通するアノード電極17とを備える。 - 特許庁

The GaN-based semiconductor laser element comprises: a nitride semiconductor layer that is formed above an n-type GaN substrate 10 and includes an active layer 14; a stripe-shaped waveguide structure formed in the nitride semiconductor layer; and a p-side electrode 22 that is formed above the nitride semiconductor layer and has wire-bond regions 22a.例文帳に追加

このGaN系半導体レーザ素子は、n型GaN基板10上に形成され、活性層14を含む窒化物半導体層と、窒化物半導体層に形成されたストライプ状導波路構造と、窒化物半導体層上に形成され、ワイヤボンド領域22aを有するp側電極22とを備えている。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a nitride semiconductor device comprising a p-type nitride semiconductor layer, an insulating film covering the nitride semiconductor layer and formed with a through hole, and a metal film in contact with the nitride semiconductor layer exposed at the bottom face of the through hole, which method being able to actualize good ohmic characteristics.例文帳に追加

p型の窒化物半導体層と、窒化物半導体層の表面を覆っているとともに貫通孔が形成されている絶縁膜と、貫通孔の底面に露出している窒化物半導体層の表面に接している金属膜を備えている窒化物半導体装置の製造方法において、良好なオーミック特性を実現できる製造方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a channel region having a heterojunction of a first semiconductor region of a gallium nitride or an indium gallium nitride and a second semiconductor region of an indium aluminum nitride, a gate electrode facing the heterojunction from one side of the channel region, and a third semiconductor region of a gallium nitride containing a p-type impurity and facing the heterojunction from the other side of the channel region.例文帳に追加

窒化ガリウム又は窒化インジウムガリウムの第1半導体領域と窒化インジウムアルミニウムの第2半導体領域のヘテロ接合を有するチャネル領域と、そのチャネル領域の一方側からヘテロ接合に対向しているゲート電極と、そのチャネル領域の他方側からヘテロ接合に対向しているp型の不純物を含んでいる窒化ガリウムの第3半導体領域を備えている。 - 特許庁

In the semiconductor device having an N-type MOS transistor for ESD protection with a shallow trench structure for element separation, an N-type region having sides and bottom surrounded by a P-type region contacting a drain region of the N-type MOS transistor for ESD protection, and receiving a signal from an external connection terminal, is formed.例文帳に追加

素子分離にシャロートレンチ構造を有するESD保護用のN型MOSトランジスタを有する半導体装置において、ESD保護用のN型MOSトランジスタのドレイン領域に接したP型の領域に側面および底面を囲まれた前記外部接続端子からの信号を受けるN型の領域を形成した。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a first collector layer formed of n-type GaAs, a second collector layer on the first collector layer formed of n-type InGaP doped to the concentration of 10^18cm^-3 or more, a base layer on the second collector layer formed of p-type GaAs, and an emitter layer on the base layer formed of n-type InGaP.例文帳に追加

n型GaAsからなる第1のコレクタ層と、第1のコレクタ層上に形成され、10^18cm^—3以上の濃度にドーピングされたn型InGaPからなる第2のコレクタ層と、第2のコレクタ層上に形成されたp型GaAsからなるベース層と、ベース層上に形成されたn型InGaPからなるエミッタ層とを有する。 - 特許庁

An n-type drain region 19 is provided between an n-type photodiode part 13 and an n-type semiconductor substrate 11 within a p-type well region 12, and a pulse signal is applied from a power supply 20 at the operation of an electronic shutter to discharge the signal charge accumulated in the photodiode part 13 by deepning the potential.例文帳に追加

P型のウエル領域12内で、N型のフォトダイオード部13とN型半導体基板11との間にN型ドレイン領域19を設け、これに電子シャッター動作時に電源20からパルス信号を印加し、ポテンシャルを深くすることでフォトダイオード部13にたまった信号電荷をN型ドレイン領域19に排出する。 - 特許庁

例文

The semiconductor device comprises: an n-type epitaxial layer 2; a trench 3 formed on the n-type epitaxial layer 2, where an embedded electrode 5 is provided inside; and a p^+-type impurity region 2a formed at a prescribed region at the upper surface side of the n-type epitaxial layer 2 with a prescribed interval to the trench 3 when viewed in plan view.例文帳に追加

この半導体装置は、n型エピタキシャル層2と、このn型エピタキシャル層2に形成され、内部に埋め込み電極5が設けられたトレンチ3と、n型エピタキシャル層2の上面側の所定領域に、平面的に見て、トレンチ3と所定の間隔を隔てて形成されたp^+型不純物領域2aとを備えている。 - 特許庁

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