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X- raysの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2049



例文

common sources of radiation include radon gas, cosmic rays from outer space, medical x-rays, and energy given off by a radioisotope (unstable form of a chemical element that releases radiation as it breaks down and becomes more stable). 例文帳に追加

一般的な放射線源としては、ラドンガス、大気圏外から飛来する宇宙線、医療用x線、さらに放射性同位元素(崩壊して安定化する際に放射線を放出する不安定な化学元素)から放出されるエネルギーなどがある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

In addition, an interlocking means 10 by which the spectral element exchanger 14 and the semiconductor detector 8 are interlocked in such a way that, while the wavelength of the spectrally diffracted fluorescent X-rays 7 is being changed, the spectrally diffracted fluorescent X-rays 7 are incident on the semiconductor detector 8.例文帳に追加

さらに、分光される蛍光X線7 の波長を変えながら、その分光された蛍光X線7 が半導体検出器8 に入射するように、分光素子交換器14および半導体検出器8 を連動させる連動手段10を備えている。 - 特許庁

The distribution of intensity in secondary X rays 7 to the wave- height is outputted by a multiple wave-height analyzer 9, and background is removed by a waveform processing operation means 10 based on the distribution, thus calculating the intensity of fluorescent X rays to be analyzed.例文帳に追加

多重波高分析器9で波高に対する2次X線7の強度の分布を出力し、その分布に基づいて、波形処理演算手段10がバックグラウンドを除去して分析対象の蛍光X線の強度を算出する。 - 特許庁

The whole of the region to be measured of the surface of the titanium oxide sample is irradiated with monochromatic incident X-rays and the diffracted X rays from the respective regions of the region to be measured of the surface of the titanium oxide sample are discriminated and detected by a two-dimensional sensitive detector to form an intensity distribution image.例文帳に追加

単色の入射X線で酸化チタン試料表面の被測定領域全体を照らし、各部位からの回折X線を二次元位置敏感型検出器で区別して検出して強度分布画像を形成する。 - 特許庁

例文

An X-ray diffraction device is equipped with: an X-ray source; a movable holding table which holds samples; a two-dimensional detector which detects X-rays to be emitted by diffraction from samples; and a control processing part which controls the X-ray source and the two-dimensional detector.例文帳に追加

X線回折装置は、X線源と、試料を保持し、移動可能な保持台と、試料から回折により出射されるX線を検出する2次元検出器と、X線源と保持台と2次元検出器とを制御する制御処理部とを備える。 - 特許庁


例文

To provide an apparatus for acquiring transmitted X-ray data with X-rays of a suitable dose for each of a long diameter portion and a short diameter portion and an X-ray tomograph for generating a tomographic image based upon thus acquired transmitted X-ray data.例文帳に追加

長径部分および短径部分についてそれぞれ適切な線量のX線によって透過X線データを獲得する装置、および、そのようにして獲得した透過X線データに基づいて断層像を生成するX線断層像撮影装置を実現する。 - 特許庁

Detection signals from encoders arranged in a horizontal moving mechanism 11, a suspension holding mechanism 12, an X-ray tube arm 13, an X-ray tube 2 are input to a focal position information detector 58, and accordingly, the focal point coordinates of X-rays in the X-ray tube 2 are detected.例文帳に追加

水平移動機構11、懸垂保持機構12、X線管アーム13およびX線管2に備えられたエンコーダより検出信号が焦点位置情報検出部58に入力されることでX線管2内のX線の焦点座標が検出される。 - 特許庁

To provide an X-ray detector for reducing crosstalk due to scattered rays and making uniform the detection characteristics among X-ray detection elements, and an X-ray CT device for obtaining a high picture-quality sectional image where no ring artifacts the like occur in a reconfigured CT image.例文帳に追加

散乱線によるクロストークの低減とX線検出素子間の検出特性の均一化が可能なX線検出器及び再構成されたCT画像にリングアーチファクトなどが発生しない、高画質の断層画像が得られるX線CT装置を提供する。 - 特許庁

To realize an X-ray generating device which also has the characteristics of short-pulse high luminance point-like light source by generating characteristic X-rays which have been used by generating them, using a conventional X-ray tube by means of a laser plasma X-ray generation device.例文帳に追加

従来X線管で発生させることにより利用されてきた特性X線をレーザープラズマX線発生装置で発生させることにより、レーザープラズマX線の短パルス高輝度点光源の特徴を併せ持つX線発生装置を実現する。 - 特許庁

例文

An internal structure obtaining means consists of an X-ray photographing means for irradiating a subject with X rays from an X-ray source and photographing the subject with a detector disposed to face the X-ray source, an MRI apparatus utilizing nuclear magnetic resonance, and an ultrasonic device, etc.例文帳に追加

内部構造取得手段は、X線源からX線を照射し、X線源に対向して配置された検出器によって被検体を撮影するX線撮影手段や核磁気共鳴を利用したMRIや超音波装置などで構成される。 - 特許庁

例文

An X-ray image recognizing and automatic position measuring system, connected with the X-ray imaging equipment and the NC control X-Y table is then operated, and an inner layer reference hole mark 4, as shown in Fig. 1 (a) and Fig. 1 (b) of the working board of printed wiring board is read by X-rays.例文帳に追加

次いで、X線画像装置とNC制御X−Yテーブルとに接続されたX線像認識ならびに位置自動計測システムを稼動し、前記プリント配線板作業ボードの図1(a)、図1(b)に示す内層基準孔マーク4をX線で読取る。 - 特許庁

In this case, the transmission attenuation intensities of fast neutrons and continuous-energy spectrum X-rays are constituted in such a way as to be different from each other, and an n-X curve not related to the thickness of the object to be tested but only related to equal effective atomic numbers Z of the object to be tested.例文帳に追加

高速中性子と連続エネルギー・スペクトルX線との透過減衰強度が異なるように構成され、被検対象の厚さと無関係に被検対象の等効原子番号Zとのみ関係するn-X曲線を利用して材料識別を行う。 - 特許庁

To enhance performance in the microfabrication of a semiconductor device using electron beams or X-rays, to solve the conventional problems and to provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays having good sensitivity, resolution and resist shape when electron beams or X-rays are used, reducing development defects and having good suitability to coating.例文帳に追加

電子線又はX線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上及び従来の問題点を解決することであり、電子線又はX線の使用に対して良好な感度、解像度、レジスト形状に加え、現像欠陥を低減し、良好な塗布性を有する電子線又はX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供することである。 - 特許庁

To solve the problem of a performance enhancing technique in the microfabrication of a semiconductor device using electron beams or X-rays and to provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays which satisfies characteristics such as sensitivity and resolution in the use of electron beams or X-rays, resist shape, development defects, appliability and solubility in a solvent.例文帳に追加

電子線又はX線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上技術の課題を解決することであり、電子線又はX線の使用に対して感度と解像度、レジスト形状、現像欠陥、塗布性及び溶剤溶解性の特性を満足する電子線又はX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

A method for analysis includes: a step of directing a converging beam 30 of X-rays 26 toward a surface of a sample 22 having an epitaxial layer formed thereon; and a step of sensing the X-rays that are diffracted from the sample while resolving the sensed X-rays as a function of angle so as to generate a diffraction spectrum including a diffraction peak and fringe spectrum due to the epitaxial layer.例文帳に追加

X線26の集束するビーム30を、エピタキシャル層がその上に形成されたサンプル22の表面に配向するステップと、1つの回折ピークとエピタキシャル層に起因する周辺スペクトルを有する回折スペクトルを生成するため、サンプルから回折されたX線を検知し、同時に、検知されたX線を角度の関数として解析するステップと、からなる分析方法。 - 特許庁

To solve the problems of a performance enhancing technique in the microfabrication of a semiconductor device using electron beams or X-rays and to provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays which satisfies sensitivity, resolution and resist shape when electron beams or X-rays are used and also satisfies characteristics such as development defects, suitability to coating and solubility in a solvent.例文帳に追加

電子線又はX線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上技術の課題を解決することであり、電子線又はX線の使用に対して感度と解像度、レジスト形状、現像欠陥、塗布性及び溶剤溶解性の特性を満足する電子線又はX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

The aligner for transferring a mask pattern to an wafer coated with resist comprises means for setting a light exposure based on the intensity of X-rays passed through a filter and the intensity of X-rays not passed through a filter wherein the filter is made of such a material as not causing chemical reaction in the exposure wavelength region of X-rays.例文帳に追加

本発明の露光装置は、レジストを塗布したウエハーにマスクパターンを転写する露光装置において、フィルターを透過したX線の強度とフィルターを介さないX線の強度に基づいて露光量を設定する手段を備え、該フィルターは、前記X線の露光波長領域において、化学反応を起こさない材料で構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

A control computer 20 stores the pixels 14a, decreasing in the detection quantity of X rays when the conveyor 12 is normally mounted and detects whether X rays are detected in the pixels 14a stored by the irradiation with a small quantity of X rays, before the start of the inspection of the mixing with foreign matter, to decide the presence of the mounting failure of the conveyor 12.例文帳に追加

制御コンピュータ20が、コンベア12が正常に装着されている場合においてX線の検出量が少なくなる画素14aを記憶しており、異物混入の検査を開始する前に、少量のX線を照射して記憶した画素14aにおいてX線が検出されるか否かを検出し、コンベア12の装着不良の有無を判定する。 - 特許庁

In the X-ray control method for the X-ray image photographing equipment which generates an image on the basis of an X-ray detection signal, the upper limit value of the exposure dose of the X rays is set about the object of photographing (602) to adjust the tube current of an X-ray tube lest the exposure dose exceed the upper limit value (606 to 610).例文帳に追加

X線検出信号に基づいて画像を生成するX線画像撮影装置のためのX線制御方法において、撮影の対象についてX線の被曝線量の上限値を設定し(602)、被曝線量が上限値を超えないようにX線管の管電流を調節する(606〜610)。 - 特許庁

To prevent the sensitivity of a detector from being reduced regardless of a long-time X-ray irradiation, and to accurately measure intensity reflecting X-ray rate even if the X-ray rate in X rays emitted from an X-ray source fluctuates.例文帳に追加

長期にわたりX線を照射されても検出器の感度の低下を充分に防止することができる構成を有しており、X線源から出射されるX線のX線量率が変動しても該X線量率を反映した強度を正確に測定することができるX線検出器及びこれを備えた検査システムの提供。 - 特許庁

The computed tomography apparatus is provided with an X-ray source 3, an X-ray detector 5 for detecting X-rays generated from the X-ray source and transmitted through a subject, a data collection unit 11 for collecting data through the X-ray detector, and a processing unit 12 for processing the data using a weighting function.例文帳に追加

コンピュータ断層撮影装置は、X線源3と、X線源から発生され、被検体を透過したX線を検出するX線検出器5と、X線検出器を介してデータを収集するデータ収集装置11と、重み関数を使用してデータを処理する処理装置12とを具備する。 - 特許庁

To provide an X-ray energy analysis imaging apparatus which extracts the X-ray images of some specified subjects having different X-ray absorption characteristics from a measurement output obtained by irradiation with X-rays and displays them, and to provide the X-ray energy analysis imaging apparatus which is effective for medical examinations such as coronary artery imaging in particular.例文帳に追加

X線を照射して得られる測定出力からX線吸収特性の異なるいくつかの目的物のX線像を抽出して表示するX線エネルギー分析イメージング装置、特に冠状動脈造影など医療用検査に有効なX線エネルギー分析イメージング装置を提供する。 - 特許庁

Further, the X-ray lenses are arranged so that X-rays diffused from the smple pass through a plurality of the X-ray lenses to be condensed by the detector and the focuses of the X-ray lenses on the side of the detector are aligned with the position of the detector so that the focuses of the X-ray lenses on the side of the sample are aligned with the position of the sample.例文帳に追加

また、試料から発散されたX線が前記複数のX線用レンズを通過して検出器に集光されるように、試料側のX線用レンズの焦点が試料位置に合うように、かつ検出器側のX線用レンズの焦点が検出器位置に合うように配置する。 - 特許庁

An X-ray tube part 34 radiating X-rays is arranged above a top plate 33, and a fluoroscopic imaging part 38 which is constituted of an X-ray fluorescence multiplication tube 39 and an X-ray television 40 to pick up a fluoroscopic image is arranged in opposition to the X-ray tube part 34 below the top plate 33.例文帳に追加

天板33の上方にはX線を放射するX線管部34が配置され、天板33の下方にはこのX線管部34と対向して、透視撮像部38はX線蛍光増倍管39とX線テレビ40から構成されている透視像を撮像するための透視撮像部38が配置されている。 - 特許庁

This radiographic image information photographing equipment 40 is provided with an X-ray irradiation section 16 having an X-ray source 42 irradiating X-rays 20 to the subject 18, a radiographic table 17 disposed facing the X-ray source 42 and receiving radiographic image information of the subject 18, and an X-ray source control device 22.例文帳に追加

放射線画像情報撮影装置40は、被写体18にX線20を照射するX線源42を有するX線照射部16と、前記X線源42に対向して配置され、前記被写体18の放射線画像情報を受像する撮影台17と、X線源制御装置22とを備える。 - 特許庁

In a GaAs substrate 101 for detecting X-rays, an Al membrane 102 and a metal bump 103 are formed.例文帳に追加

X線を検出するGaAs基板101に、Al膜102が成膜され、さらに金属バンプ103が成膜されている。 - 特許庁

The method of manufacturing the dispersive crystal that has a predetermined curved surface and disperses and condenses X-rays is provided.例文帳に追加

所定の湾曲した曲面を有し、X線を分光すると共に集光する分光結晶の製造方法に関する。 - 特許庁

The center axis X0 of the cylindrical shape extends in a direction at a right angle with respect to the direction of the scanning movement F of the linear x-rays.例文帳に追加

円筒形状の中心軸X0は線状のX線の走査移動方向Fと直角方向に延在する。 - 特許庁

Image data 30 obtained by radiating X-rays while no subject are stored in a storage device 39 as a value of a gain table.例文帳に追加

被写体の無い状態でX線を曝射して得られる画像データ30をゲインテーブルの値として記憶装置39に記憶する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing the azimuth of an electronic component together with verification of the completeness of connection by X-rays.例文帳に追加

接続の完全性のX線検証と一緒に電子部品の方位を検査するための装置および方法を提供する。 - 特許庁

The X-rays, transmitted through the specimen 4, are detected and the projection image of the specimen 4 is photographed by an imaging device 6.例文帳に追加

そして被検体4を透過したX線を検出して撮影装置6により被検体4の投影画像の撮影を行う。 - 特許庁

The lower film 13 is so constituted that a C element absorbs the largest amount of x-rays of all elements contained in the film 13.例文帳に追加

下層膜13は、含まれる元素のうち最も多くのX線を吸収する元素がC元素となるように構成する。 - 特許庁

To generate X-rays which are as quasi-monochromatic as possible with high radiation intensity and a largest possible irradiation range.例文帳に追加

高い放射強度および可能な限り大きな照射範囲を有する可能な限り準単色のX線を発生させる。 - 特許庁

Even if the walls of the irradiation chamber 20 are formed thin, consequently, the outward leakage of X-rays is avoided.例文帳に追加

このため、照射室20についてはその壁を薄く形成しても、X線が外部に漏出するのを回避することができる。 - 特許庁

To obtain a photoelectron spectroscopic device which can set the incident angle of X-rays at the critical total reflection angle in a short time.例文帳に追加

短時間でX線入射角を全反射臨界角に設定することができる光電子分光装置を提供すること。 - 特許庁

The diffraction peak of X rays is searched, while making the sample (crystal) 10 mounted on a goniometer vibrate by a piezoelectric element 34.例文帳に追加

ゴニオメータに搭載された試料(結晶)10を、ピエゾ素子34により振動させながらX線の回折ピークを探索する。 - 特許庁

The last image hold imaging B3 is performed by generating X-rays being more intense than those of the fluorography B1, B2.例文帳に追加

ラストイメージホールド撮影B3は透視撮影B1及びB2よりも強いX線を発生することで撮影を行っている。 - 特許庁

The second crystal plate 32 does not reflect the parallel X rays 40 whose incidence angle on the second crystal plate 32 is γ.例文帳に追加

第2の結晶板32での入射角がγとなる平行X線40は第2の結晶板32では反射しない。 - 特許庁

To improve contrast of an image by decreasing scattered ray of X rays and to prevent a grid pattern from being imprinted in the image.例文帳に追加

X線の散乱線を低減して画像のコントラストを向上すると共に、グリッドパターンが画像に写し込まれることがないこと。 - 特許庁

Also, since X-rays are radiated only when the portable plane detector is mounted on the support, safety is secured.例文帳に追加

また、可搬型平面検出器が支持体に装着されているときのみX線の照射が可能なので安全性が確保される。 - 特許庁

The fluorescent X-rays are incident on the detector 3 as they are without being removed by the monochromator 5 to be detected as a background.例文帳に追加

この蛍光X線は、モノクロメータ5で除去されずそのまま検出器3に入射し、バックグランドとして検出される。 - 特許庁

Since merely observation using X-rays from a surface is required, a non-destructive inspection for dislocation amount is possible in a manufacturing process.例文帳に追加

また、表面よりX線にてマークを観察すれば良いので、製造工程内での位置ズレ量の非破壊検査が可能となる。 - 特許庁

To provide a moving body tracing/irradiating apparatus capable of significantly reducing the unnecessary exposure to fluoroscopic X rays.例文帳に追加

透視X線による不要な被曝を大幅に低減することができる動体追跡照射装置を提供することである。 - 特許庁

To realize an arbitrary-sized region irradiated with X rays without enlarging the area of a collimator component.例文帳に追加

本発明は、コリメータ部の面積を大きくすることなく、任意のサイズのX線照射領域を実現することを課題とする。 - 特許庁

Controlling discharge timing by monitoring the velocity of particulates can provide X-rays of large and stable intensity.例文帳に追加

また、微粒子の速度をモニターして放電のタイミングを制御することにより、強くて安定したX線強度を得ることができる。 - 特許庁

A detector module (20) for a CT imaging system (10) includes a scintillator (58) to convert x-rays to optical photons.例文帳に追加

CT撮像システム(10)向けの検出器モジュール(20)は、X線(16)を光学フォトンに変換するためのシンチレータ(58)を含む。 - 特許庁

To provide an optically curved device to be used for focusing of imaging x-rays from a divergent source.例文帳に追加

発散性線源からのx線を集束させ結像させる際に使用するための光学的に湾曲した素子を提供する。 - 特許庁

The cell walls 3 and 3' extend in the direction of incidence of X-rays in order to form a scattered radiation removal grid over the detector.例文帳に追加

セルの壁(3,3’)は、検出器の上に散乱線除去グリッドを形成するためにX線の入射方向に延在する。 - 特許庁

In the irradiation process (step S201), an irradiation condition is changed to irradiate the judge target (106) with X rays.例文帳に追加

照射工程(ステップS201)は、判定対象物(106)に対して、照射条件を変化させてX線を照射する。 - 特許庁

例文

To irradiate a micro-region on a sample with intense X-rays by improving focus blur at a focusing end of an MCX.例文帳に追加

MCXの集束端における焦点ボケを改善し、試料上の微小領域に高い強度のX線を照射する。 - 特許庁




  
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