「defect level」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A defective signal level of the image pickup sensor 101 caused on a line including the defect-generating position and in parallel with the one direction is corrected.例文帳に追加

特定された不良発生位置を含みかつ前記一方向に平行な線上に生じる撮像センサ１０１の信号レベル不良を補正する。 - 特許庁

The blocks of a prescribed brightness level or more are extracted to serve as defect candidates, and the candidates including the blocks of a prescribed number or more are excepted from the candidates.例文帳に追加

所定の輝度レベル以上のブロックを抽出して欠点候補とし、所定数以上のブロックを含む欠点候補を候補から除外する。 - 特許庁

To provide a technique with which the defect of a coil, developed at the time of annealing the coil, is reduced and also, while securing the productivity, further any problem is not developed to a cost level.例文帳に追加

コイルの焼鈍時に発生するコイル欠陥を低減すると共に生産性を確保しつつさらにコスト面からも問題ない技術を提供する。 - 特許庁

To easily and quickly set or change an optimum defect detection level according to the state change in a glass substrate, even if the state of the glass substrate is changed.例文帳に追加

ガラス基板の状態が変化しても、ガラス基板の状態変化に応じた最適な欠陥検出レベルを容易にかつ短時間に設定変更すること。 - 特許庁

After normalization of a level of a reproduced RF signal, a frequency component of recorded data is eliminated, and plus and minus defect are put in the same quadrant by performing full-wave rectification.例文帳に追加

再生ＲＦ信号のレベルを正規化後、記録データの周波数成分を除去し、全波整流してプラスとマイナスのディフェクトを同一象限にする。 - 特許庁

When necessity of relieving defect is tested, a low level is applied externally to the pad electrode PD, the n-channel field effect transistor TN0 is made an off-state.例文帳に追加

欠陥救済の要否を検査する場合、パッド電極ＰＤに外部からロウレベルが印加され、ｎ型電界効果トランジスタＴＮ０がオフ状態とされる。 - 特許庁

Namely, a defect detection reliability judging part 112e calculates the average value of outputs (dark electric charge level) of 64×64 pixels at a center part of an image pickup area.例文帳に追加

すなわち、欠陥検出信頼性判定部１１２ｅは、「撮像エリアの中央部６４×６４画素の出力（暗電荷レベル）の平均値を求める。 - 特許庁

To keep detection precision as to foreign matter, a defect, etc., uniform above a constant level and to enable highly reliable inspection.例文帳に追加

異物や欠陥等の検出精度を均一、かつ一定の水準以上に維持できるようにすると共に、信頼性の高い検査をできるようにする。 - 特許庁

To provide a sector level defect management technique which performs a local track spare processing to a headerless format AV HDD which uses a variable index write technique.例文帳に追加

可変インデックス書き込み技術を使用するヘッダーレス・フォーマットAV HDDに対してローカル・トラック・スペア処理を行うセクタ・レベルの欠陥管理技術を提供する。 - 特許庁

To provide the method and the system for a mobile telephone set using a signal message with a priority level for simply and inexpensively limiting the defect of the availability.例文帳に追加

利用可能性の欠如を簡単且つ安価に制限するための、優先レベル付き信号メッセージを用いた移動電話の方法とシステムを提供する。 - 特許庁

A signal pattern is discriminated from a center of gravity pixel and surrounding pixels in real-time processing, during photographing of video and a pixel having an extremely large or small level, as compared with surrounding pixels, is regarded as a defect, and pixel defect correction is performed.例文帳に追加

映像撮影中にリアルタイムの処理で重心画素とその周囲の画素から信号のパターンを判別し、周囲と比較して1画素だけ極端の大きいレベルや小さいレベルの画素を欠陥とみなし画素欠陥補正を行なう。 - 特許庁

The crystal defect of the trap level generated by performing termination processing to the crystal defect formed in the region of <0.2 eV in the energy difference from the center of the band gap is small in dependency with respect to a leak current.例文帳に追加

バンドギャップの中心からのエネルギー差が０．２ｅＶ未満の領域内に形成されている結晶欠陥を終端処理することにより生じるトラップ準位の結晶欠陥は、リーク電流に対する依存性が弱い。 - 特許庁

To eliminate three defects, that is, a defect in the stability of a floating pier, a defect in the certainty of sliding, and damage to the floating pier when a sliding section is caught, which are possessed by the conventional floating pier capable of following a water level.例文帳に追加

水位に追従させ得るようにした従来の浮桟橋の有する欠点、すなわち、浮桟橋の安定性、スライドの確実性、スライド部が引っ掛かった場合における浮桟橋の損傷、という３つの欠陥を解消する。 - 特許庁

The light level value of each pixel in the 2nd chip area is compared with that of the corresponding pixel in the 1st chip area to decide whether or not there is a defect according to whether or not those light level values have a specific difference.例文帳に追加

そして、第２チップ領域における各ピクセルのライトレベル値を第１チップ領域における対応する各ピクセルのライトレベル値と比較し、そのライトレベル値に所定の差があるか否かによって欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

When a defect such as leak pass or the like is present in the internal pads and peripheral circuits thereof, leak current is generated by the signal of the H-level or L-level supplied from the test resistors 12 and 13 to the internal pads.例文帳に追加

内部パッドまたはその周辺回路にリークパス等の欠陥が存在する場合には，テスト用レジスタ１２，１３から内部パッドに供給されるＨレベルまたはＬレベルの信号によってリーク電流が発生する。 - 特許庁

To prevent generation of a defect on a layer formed on a layer caused by a level difference and a defect of a grain boundary in the surface of the layer formed in a multi-layer structure and reduction of a hydrogen permeation performance of the hydrogen permeable membrane by the generated defect in the hydrogen permeable membrane having the multi-layer structure.例文帳に追加

多層構造を有する水素透過膜において、多層構造内に形成される層の表面における粒界段差や欠陥に起因して、この層上に形成される層に欠陥が発生すること、および、発生した欠陥により水素透過膜の水素透過性能が低下すること、を防止する。 - 特許庁

This defect inspection device 1 is equipped with a gray level difference detecting part 25 for detecting a gray level difference between corresponding pixels, relative to pixels whose both gray level values of the corresponding pixels are smaller than a prescribed threshold, among each pixel included in the inspection image and each pixel of the reference image, respectively corresponding to the pixel.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、検査画像に含まれる各画素とこれら画素にそれぞれ対応する参照画像の各画素のうち、対応する画素の両方のグレイレベル値が所定の閾値より小さいものについて、対応する画素間のグレイレベル差を検出するグレイレベル差検出部２５を備える。 - 特許庁

To provide a liquid crystal medium having no conventional defect or the defect only at a much lower level and simultaneously having a short response time and excellent steepness especially at low temperatures and especially for TN and STN displays.例文帳に追加

従来の欠点を有しないかまたは一層低い程度に有するのみであり、同時に、特に低い温度において短い応答時間および極めて良好な急峻度を有する、特にＴＮおよびＳＴＮディスプレイ用の液晶媒体を提供する。 - 特許庁

To efficiently correct a longitudinal line flaw of a fine level caused by a defect of a vertical transfer path which is hardly conspicuous rather than an ordinary defective pixel while avoiding the increase of a ROM capacity or the like for storing defect information on pixels of a solid-state imaging device.例文帳に追加

固体撮像素子の画素の欠陥情報を格納するＲＯＭ等の大容量化を回避しつつ、通常の欠陥画素よりも目立ち難い垂直転送路の欠陥に起因する微妙なレベルの縦線キズを効率よく補正する。 - 特許庁

To estimate influence affected to another component or process by generation of a defect in a certain component or process in a stage (a product design stage or a design stage of a production process) before production, and to estimate an importance level of the defect to support a design of the production process.例文帳に追加

製造前の段階（製品設計段階や製造工程の設計段階）で、ある部品や工程における不良の発生が他の部品や工程に及ぼす影響を推定し、不良の重要度を評価して製造工程の設計を支援する。 - 特許庁

In the inspection method, when a defect where the measured width is larger than the size of a pixel is not detected, the blightness level of the circuit pattern or the spatial component is analyzed, more in detail, to detect a defect corresponding to an open circuit, a short circuit or a remaining copper foil.例文帳に追加

本発明の検査方法は、画素単位で映像データを獲得し、回路パターン又は空間成分の幅を測定する方向と垂直方向に測定して、測定された幅が基準幅より大きな場合の不良であると、ショートと検出する。 - 特許庁

To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁

To provide a smooth film causing neither the breakage of the film caused by fusion to a preheating roll nor a level surface defect (level unevenness) and stretch unevenness when the optical film is formed by longitudinally roll-stretching an amorphous thermoplastic resin film.例文帳に追加

非晶性の熱可塑性樹脂からなるフィルムをロール縦延伸する光学フィルムの製造において、予熱ロールへの融着によるフィルムの破断や段状の面状欠陥（段ムラ）、延伸ムラのない平滑なフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has a Cu wiring containing a basic crystal structure which is not affected by variation in wiring width and capable of reducing a surface defect to a level lower than a practicable level, and to provide its inspecting technique.例文帳に追加

配線幅の変遷に影響されない、表面欠陥を実用可能なレベルよりさらに低いレベルまで低減できる基本的な結晶構造を具備したＣｕ配線を有する半導体装置及びその検査技術を提供する。 - 特許庁

To improve detection accuracy of defect in which attenuation quantity of signal amplitude due to an attached finger print or the like is comparatively small and an amplitude level in a defective area is varied.例文帳に追加

指紋付着等の信号振幅の減衰量が比較的小さく、欠陥領域内で振幅レベルが変動する特性を有する欠陥の検出精度を高める。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus capable of photographing an image with proper imaging quality, even if a new defective pixel is generated or a defect level is changed as temperature changes at an imaging element.例文帳に追加

撮像素子の温度変化に伴う新たな欠陥画素の発生や欠陥レベルの変化があっても良好な画質で撮像できる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus that realizes image pickup with high image quality and enhanced S/N at interlace reading without causing a defect of a saturation level reduction of an image at progressive reading.例文帳に追加

プログレッシブ読出し時における画像の飽和レベル低下という不具合を生じることなく、インターレース読み出し時にはＳ／Ｎの向上した高画質な撮像を実現する。 - 特許庁

Level difference is eliminated from the surface of the electrodes by the insulating layer and reduction of contrast due to an alignment defect of a liquid crystal material, irregular reflection of light and the like can be prevented.例文帳に追加

また、絶縁層により電極表面には段差がなくなり、液晶材料の配向不良や光の乱反射等によるコントラストの低下等を防ぐことができる。 - 特許庁

To dissolve such problem as to develop the defect at the discharging and exhausting a formed product when the formed products having the difference of level are continuously formed by using a rotary type powder compressive forming machine.例文帳に追加

回転式粉末圧縮成形機を用いて段差を有する成形品を連続的に成形する際、成形品を払い出し、排出する際に欠損が生じやすい。 - 特許庁

A defect is detected by determining a signal level of a reproducing signal RF based on hysteresis characteristics by first and second thresholds THR1 and THR2.例文帳に追加

本発明は、第１及び第２のしきい値ＴＨＲ１及びＴＨＲ２によるヒステリシス特性により再生信号ＲＦの信号レベルを判定してディフェクトを検出する。 - 特許庁

To provide a pattern drawing device which is capable of early finding out a defect having a high urgency level on a mask and of shortening the inspection time of the mask.例文帳に追加

マスク上の緊急性の高い欠陥を早期に発見することができるとともに、マスクの検査時間を短縮することができるパターン描画装置を提供する。 - 特許庁

Thus the foreign matter is hardly incorporated into the cast product by guiding the molten metal at the intermediate level into the mold by the stoke 24, then the occurrence of casting defect can be prevented.例文帳に追加

したがって、中間レベルの溶湯をストーク２４によって鋳型に導くことにより、鋳造製品に異物が混入し難くなり、鋳造欠陥を防止することができる。 - 特許庁

To highly accurately evaluate a surface image quality defect such as a surface scratch, a toner level difference, nonuniform gloss when outputting a highly glossy image such as a photograph, in electrophotography.例文帳に追加

電子写真において例えば写真調の高光沢画像を出力する場合、表面キズ、トナー段差、光沢ムラ等の表面画質欠陥を高精度で評価すること。 - 特許庁

Since the structure of the interface smoothly changes, the defect level, such as the dangling bond, etc., of the interface can be reduced and the characteristics of the transistor can be improved.例文帳に追加

界面の構造がなだらかに変化することにより、ダングリングボンド等の界面欠陥準位が低減され、トランジスタ特性を向上させることが可能となる。 - 特許庁

To provide a TFT substrate capable of suppressing alignment treatment unevenness caused by level difference by a wiring line, an electrode and the like, reducing generation of an alignment defect and shortening charging time.例文帳に追加

配線や電極等による段差に起因する配向処理むらを抑制し、配向不良の発生を低減でき、充電時間を短くできるＴＦＴ基板の提供。 - 特許庁

Thereby, even if the A mobile station 3 in the preceding car 2 is located within the receiving defect area A1, the communication of a high quality level is reliably continued without being interrupted.例文帳に追加

よって前車両２のＡ移動局３が受信不良エリアＡ１にあっても通信が途絶えることなく、確実に品質レベルの高い通信を継続することができる。 - 特許庁

A thin-film electron source manufactured by this method has 1.5×1,018 or lower for the defects, of which the defect level of the electron acceleration layer is not larger than 1.5 eV.例文帳に追加

この方法で製造された画像表示装置の薄膜電子源は、その電子加速層の欠陥順位が１.５ｅＶ以下の欠陥を、１.５×１０１８個以下有する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a thin-film transistor, for completely compensating defect level in a channel region and thus obtaining uniform characteristics between elements.例文帳に追加

チャネル領域における欠陥準位を完全に補完することができ、これによって素子間で均一な特性が得られる薄膜トランジスタの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk drive and optical disk recording method rewriting the key information on the optical disk by the defect management information without lowering the security level.例文帳に追加

セキュリティを低下させることなく、光ディスク上の鍵情報を欠陥管理情報により書替えていく光ディスク装置及び光ディスク記録方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the defect detection precision can be improved more in the case in which the amplitude level of the RF signal decreases, inclining toward the maximum value or the minimum value.例文帳に追加

これにより、ＲＦ信号の振幅レベルが最大値側又は最小値側に偏って低下した場合におけるデフェクト検出精度をより向上させることができる。 - 特許庁

The formed brightness signals are used for detecting the pixel defects and hence the pixel defect can be exactly detected, even if the signal level of pixels for every color filter varies.例文帳に追加

画素欠陥検出には作成された輝度信号が使用されるので、色フィルタ毎の画素の信号レベルのばらつきがあっても正確に画素欠陥を検出できる。 - 特許庁

Carbon remaining on the interface 15 of SiC and SiO_2 is removed and the defect is inactivated by nitriding and thereby interface level density decreases greatly.例文帳に追加

窒化処理により、ＳｉＣとＳｉＯ_2との界面１５に残っていた炭素が除去されるとともに欠陥が不活性化され、界面準位密度が大きく低下する。 - 特許庁

In the surface defect data display management device 3, a risk level calculation part 33 calculates an influence degree of a defect upon yield of the final product on the basis of a defect size of the wafer detected by an appearance inspection device 12 and a review device 10 and a pattern density obtained from design data of a pattern figure corresponding to neighbors of the position of the defect.例文帳に追加

表面欠陥データ表示管理装置３において、危険率算出部３３は、外観検査装置１２やレビュー装置１０によって検出されたウェーハの欠陥サイズと、その欠陥の位置の近傍に対応するパターン図の設計データから得られるパターン密度とに基づき、その欠陥が最終製品の歩留まりに影響を及ぼす影響度を表面欠陥の危険率として算出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor light receiving element in which carriers excited to the level of crystal defect in the heterointerface of lattice mismatch are not trapped but can migrate smoothly and can respond quickly, a recombination current caused by the level of crystal defect, i.e.,, a dark current in applying a reverse bias voltage, is reduced and noise of the element is suppressed.例文帳に追加

格子不整合のヘテロ界面での結晶欠陥による準位に励起されたキャリアがトラップされることなく、円滑に移動ができて高速応答ができ、結晶欠陥による準位に起因する再結合電流、すなわち逆バイアス電圧を印加したときの暗電流を低減させ、素子の雑音を抑えた半導体受光素子を提供する。 - 特許庁

To obtain a reproduction output signal for inspection having a sufficient level even at the time of off-track of a magnetic heat for inspection, when the defect inspection of a discrete track type magnetic disk medium provided with grooves is performed by using a defect inspecting device for the present mass-production line not furnished with servo function.例文帳に追加

溝付きのディスクリート・トラック型磁気ディスク媒体の欠陥検査を、サーボ機能を備えていない既存の量産ラインの欠陥検査装置を用いて行う際、検査用磁気ヘッドのオフトラック時にも十分なレベルの検査用再生出力信号を得る。 - 特許庁