「diffracted rays」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for manufacturing a polarized light diffractive cholesteric liquid crystal film of which the diffracted rays themselves produce specified polarized light such as circularly polarized light or linearly polarized light.例文帳に追加

回折光自体が円偏光や直線偏光のような特定の偏光を生じる偏光回折性コレステリック液晶フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁

To attain the improvement of performance and the miniaturization of a projection optical system in a projection type display device by using a diffraction optical element, and also to reduce the occurrence of parasitic diffracted rays.例文帳に追加

回折光学素子を用いて投射型表示装置における投射光学系の高性能化と小型化を図り、かつ、寄生回折光の発生を低減する。 - 特許庁

To perform detecting operation without any trouble even if infrared rays in the sunshine or the like impinge on light receiving elements directly or after being diffracted and so on.例文帳に追加

太陽光等の赤外線が直接、もしくは回折等によって受光素子に対して入射するような状態になっても、検知動作に支障を来たさないようにする。 - 特許庁

The HCF which is provided with a polarized light hologram, having a function to produce diffracted rays with high diffraction efficiency as regards light with a specified polarized light component, as an element (array) is adopted.例文帳に追加

特定の偏光成分の光に対しては高い回折効率で回折光を生じる機能を有する偏光ホログラムを要素（アレイ）とするＨＣＦを採用する。 - 特許庁

As a result, the diffracted X-rays from the rail 1 enters an imaging plate 7a, and the whole image of the diffraction ring is imaged and recorded by the imaging plate 7a.例文帳に追加

その結果、レール１からの回折Ｘ線がイメージングプレート７ａに入射して回折環の全体画像がイメージングプレート７ａによって撮像され記録される。 - 特許庁

Exist light from a semiconductor laser 1 is divided into three rays of light of zero-order light being a main beam and ±1st-order diffracted rays being sub beams by a diffraction optical element 3, and a focus error signal is detected from each of the main beam and the sub beams.例文帳に追加

半導体レーザ１からの出射光を回折光学素子３によりメインビームである０次光、サブビームである±１次回折光の３つの光にそれぞれ分割し、メインビームとサブビームのそれぞれからフォーカス誤差信号を検出する。 - 特許庁

The whole of the region to be measured of the surface of the titanium oxide sample is irradiated with monochromatic incident X-rays and the diffracted X rays from the respective regions of the region to be measured of the surface of the titanium oxide sample are discriminated and detected by a two-dimensional sensitive detector to form an intensity distribution image.例文帳に追加

単色の入射Ｘ線で酸化チタン試料表面の被測定領域全体を照らし、各部位からの回折Ｘ線を二次元位置敏感型検出器で区別して検出して強度分布画像を形成する。 - 特許庁

The imaging device comprises an X-ray source 110, a diffraction grating 130 for diffracting X-rays emitted from the X-ray source 110, a shielding grating 150 for shielding a part of the X-rays diffracted by the diffraction grating 130 and a detector 170 for detecting intensity distribution of the X-rays having passed through the shielding grating 150.例文帳に追加

撮像装置はＸ線源１１０とＸ線源１１０から出射したＸ線を回折する回折格子１３０と回折格子１３０によって回折されたＸ線の一部を遮る遮蔽格子１５０と遮蔽格子１５０を経たＸ線の強度分布を検出する検出器１７０とを有する。 - 特許庁

The spectroscope includes an incidence slit 4 to let in soft X rays, a concave mirror 5 to converge the incident soft X rays 9, a multilayer film grating 1 illuminated with the converged soft X rays, a fixed-position exit slit 8 and a multilayer plane mirror 7 to guide the soft X rays diffracted by the grating 1 to the exit slit 8.例文帳に追加

本発明の分光装置は、軟Ｘ線を入射させる入射スリット４と、入射軟Ｘ線を収束させる凹面鏡５と、収束された軟Ｘ線９により照明される多層膜回折格子１と、位置が固定された出口スリット８と、回折格子１により回折された軟Ｘ線を出口スリット８に導くための多層膜平面鏡７と、を備える。 - 特許庁

An X-ray imaging unit 11 is placed in a position at an approximate Talbot distance L from a diffraction grating for Talbot and is a unit for imaging X-rays diffracted by the diffraction grating for Talbot.例文帳に追加

Ｘ線撮像ユニット１１は、タルボ用回折格子から略タルボ距離Ｌ離れた位置に配置され、タルボ用回折格子によって回折されたＸ線を撮像するためのユニットである。 - 特許庁

The X-ray spectral element 1 comprises an artificial grating 3, having a cyclic structure formed by alternately laminating plural sets of Ag reflecting layers 4 and Al spacer layers 5 via metal intermediate layers 6 on a substrate 2, whereby an incident X-ray 14 is diffracted to generate diffracted X-rays.例文帳に追加

Agの反射層4 とAlのスペーサ層5 とを、金属の中間層6 を介して、交互に複数組積層して構成されて周期構造を有する人工格子3 を基板2 上に備え、入射Ｘ線14を回折して回折Ｘ線16を発生させるＸ線分光素子1 である。 - 特許庁

This detector array is equipped with a 1st structure for detecting X-rays reflected from surface of the sample at a grazing angle, and the 2nd structure for detecting X-rays diffracted from the surface near the Bragg angle of the sample.例文帳に追加

この検出器アレイは、グレージング角で、サンプルの表面から反射したＸ線を検出器アレイが検知する第１の構造と、サンプルのＢｒａｇｇ角の近傍において、表面から回折したＸ線を検出器アレイが検知する第２の構造と、を具備している。 - 特許庁

In the sample fixing method of X-ray diffraction measurement, a sample is pasted to one surface of a base having a hollow exceeding an X-ray irradiation area for irradiating the sample with X rays from a target and capturing and counting diffracted X rays from the sample.例文帳に追加

Ｘ線回折測定における試料固定方法は、ターゲットからＸ線を試料に照射し、試料からの回折されたＸ線を捕捉して計数するために、Ｘ線照射面積を越える中空を有する土台の片面に試料を貼るものである。 - 特許庁

The X-ray beam 2' is incident on an XZ surface, and an X-axis is moved to determine the position in the surface of the sample 1 on the basis of X-coordinates X1 and X2 that has diffracted X rays 2a suddenly changed in the intensity.例文帳に追加

Ｘ線ビーム２’をＸＺ面に入射し、Ｘ軸を移動して回折Ｘ線２ａ強度が急変するＸ座標Ｘ１、Ｘ２を基準として試料１面内の位置を決定する。 - 特許庁

The pitch of the lattice pattern in each area A-D is determined so that the 1st order (-1st order) diffracted rays of the light beam emitted from each semiconductor leaser 101-104 is in accord with the X-axis.例文帳に追加

それぞれの領域Ａ〜Ｄ内の格子パタンのピッチは、それぞれの半導体レーザ１０１〜１０４から放射された光ビームの１次（−１次）回折光がＸ軸と一致するように決定されている。 - 特許庁

The x-ray topography apparatus obtains a planar diffraction image by detecting x-rays diffracted by a sample 11 when scanning the sample 11 with a linear x-ray by an x-ray detector 28.例文帳に追加

試料１１を線状のＸ線で走査したときに試料１１で回折したＸ線をＸ線検出器２８によって検出して平面的な回折像を得るＸ線トポグラフィ装置である。 - 特許庁

In the analyzing method of the X-ray absorbing fine structure for analyzing the X-ray absorbing fine structure of a sample 13 by spectrally diffracting X-rays by a polychromater to irradiate the sample 13 with spectrally diffracted X-rays, vibration is applied to the sample 13 in a measuring time by an ultrasonic generator 7.例文帳に追加

ポリクロメータでＸ線を分光して、分光したＸ線をサンプル１３に照射することにより、サンプル１３のＸ線吸収微細構造を分析するＸ線吸収微細構造分析方法において、測定時間内に、超音波発生装置７によりサンプル１３に振動を与える。 - 特許庁

The optical system includes a grating element 3 having a light separating function and an fθ lens on which each of rays b1 to b3 from the grating element 3 are made incident and which is arranged so that diffracted rays are converged respectively on position coordinates P1, P2, P3 which are substantially proportional to their angles of incidence.例文帳に追加

この光学系は、分光機能を有するグレーティング素子３と、グレーティング素子からの各回折光ｂ１〜ｂ３が入力し、その入力角に実質的に比例する位置座標Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３に各回折光が焦点を結ぶように配置されたｆθレンズ４と、を含む。 - 特許庁

A method for analysis includes: a step of directing a converging beam 30 of X-rays 26 toward a surface of a sample 22 having an epitaxial layer formed thereon; and a step of sensing the X-rays that are diffracted from the sample while resolving the sensed X-rays as a function of angle so as to generate a diffraction spectrum including a diffraction peak and fringe spectrum due to the epitaxial layer.例文帳に追加

Ｘ線２６の集束するビーム３０を、エピタキシャル層がその上に形成されたサンプル２２の表面に配向するステップと、１つの回折ピークとエピタキシャル層に起因する周辺スペクトルを有する回折スペクトルを生成するため、サンプルから回折されたＸ線を検知し、同時に、検知されたＸ線を角度の関数として解析するステップと、からなる分析方法。 - 特許庁

In the combination type optical disk furnished with an LD 10 for CD and an LD 12 for DVD, diffracted rays 100 from the LD 10 for CD are totally reflected by using a dichroic prism 16 and guided to a photodetector 24.例文帳に追加

ＣＤ用ＬＤ１０及びＤＶＤ用ＬＤ１２を備えるコンボ型光ディスクにおいて、ダイクロイックプリズム１６を用いてＣＤ用ＬＤ１０からの回折光１００を全反射させてフォトディテクタ２４に導く。 - 特許庁

To provide a display body, which is sufficiently thin even when the display body is pasted to an object or included into paper, and achieves a higher counterfeit preventing effect by emitting only diffracted light of UV rays.例文帳に追加

貼着したり紙などに漉き込んでも問題のない薄さであり、紫外光による回折光のみを射出させることで、より高い偽造防止効果を実現し得る表示体を提供することを目的とする。 - 特許庁

The 1st order diffracted light λ_12 of the rays of light which has passed a grating 12 with light λ2 from a beam steering mechanism 15 is made incident on one of optical fibers 1 to 8 for output through a magnifying optical system 11.例文帳に追加

出力用光ファイバ１〜８のいずれかには、ビームステアリング機構１５からの光λ２でグレーティング１２を通過した光のうちの１次回折光λ_１２が拡大光学系１１を介して入射する。 - 特許庁

Display light emitted from the transmission type liquid crystal display device 12 is diffracted by the diffraction optical element 13 and a plurality of diffraction light rays is emitted from the diffraction optical element 13 to an eye-piece optical system.例文帳に追加

透過型液晶表示装置１２から出射された表示光は、回折光学素子１３により回折され、回折光学素子１３からは複数の回折光が接眼光学系へと出射される。 - 特許庁

With this constitution, a blast angle and a rotary angle can be respectively optimized independently, and the crystal azimuth 12 is accurately and easily adjusted, with respect to the respective directions of incident X rays 2A and diffracted X rays 3A and enables measurement of the X-ray diffraction pattern of the lattice surface 11 of the single-crystal substrate 10 with high accuracy.例文帳に追加

これにより、あおり角と回転角とをそれぞれ独立して最適化することができ、入射Ｘ線２Ａおよび回折Ｘ線３Ａの各方向に対して結晶方位１２を正確かつ容易に調整し、単結晶基板１０の格子面１１におけるＸ線回折パターンを高精度に測定することができる。 - 特許庁

The position of the alignment mark WMY formed on the wafer 9 in the Y-direction is detected by projecting alignment light rays LA and LB upon the mark WMY through chromatic aberration correcting systems 15a-15d and 16 and the projection optical system and detecting the ±1st order diffracted light rays LA(1) and LB(-1) generated from the mark WMY.例文帳に追加

アライメント光ＬＡ，ＬＢを色収差補正系１５ａ〜１５ｄ，１６及び投影光学系を介してウエハ９上のアライメントマークＷＭＹに照射し、アライメントマークＷＭＹから発生する±１次回折光ＬＡ（１），ＬＢ（−１）を検出し、アライメントマークＷＭＹのＹ方向の位置を検出する。 - 特許庁

Since the dome partition wall 34 is formed into a semispherical shape by a polyimide film, the incidence angle of the incident X-rays can be arbitrarily set to an angle range of a 0-90° and the diffracted X-rays can be emitted from the dome part 36 at an emission angle range of 0-90° to enable measurement.例文帳に追加

このドーム隔壁３４は、ポリイミド膜により半球状に形成されているため、入射Ｘ線の入射角度を０度から９０度までの全ての角度で任意に設定することができると共に、回折Ｘ線を０度から９０度までの全ての出射角度でドーム部３６から出射させて測定することができる。 - 特許庁

The X-ray diffraction device comprises: a casing 1 in which the samples are arranged; an X-ray irradiator 2 for radiating X-rays to the samples arranged in casing 1; an X-ray detector 3 for detecting the diffracted X-rays having transmitted through the samples; and the heater 4 that is arranged in the casing 1 and heats the samples arranged in this casing 1.例文帳に追加

試料が配置されるケーシング1と、ケーシング1内に配置された試料にＸ線を照射するＸ線照射器2と、試料を透過した回折Ｘ線を検出するＸ線検出器3と、ケーシング1内に配置され、このケーシング1内に配置された試料を加熱するヒータ4とを備える。 - 特許庁

The transmission type X-ray diffraction device is equipped with a sample chamber 100 forming a closed space for arranging the sample 10, a heating means 900 for heating the sample 10 in the sample chamber 100, and an X-ray detecting part 200 for detecting diffracted X rays which are generated by irradiating the sample 10 with X rays outside the sample chamber 100.例文帳に追加

試料10を配置するための閉鎖された空間を構成する試料室100と、試料室100内の試料10を所定温度に加熱する加熱手段900と、Ｘ線が試料10に照射されて生じる回折Ｘ線を試料室100の外部で検出するＸ線検出部200とを備える透過型Ｘ線回折装置である。 - 特許庁

An X-ray mask 1 and the member 2 are arranged at such a distance D that X-rays passing through different regions of the X-ray mask 1 are diffracted to cause interference, and the member 2 which has at least its structure forming surface made of a photosensitive material is exposed to the X rays through the X-ray mask 1.例文帳に追加

Ｘ線マスク１と部材２とを、Ｘ線マスク１の異なる領域を通過したＸ線同士が回折により干渉を生じる距離Ｄだけ離して配置し、Ｘ線マスク１を介して、少なくとも構造体形成面が感光性材料からなる部材２に向けてＸ線を露光する。 - 特許庁

The photodetector 22 has plural light- receiving areas 24, and each of the plural light-receiving areas 24 receives a part of a different phase of the rays reflected or diffracted by the scale 10 from the adjacent light-receiving area.例文帳に追加

上記光検出器２２は、複数の受光エリア２４を有し、上記複数の受光エリア２４はそれぞれ、隣接する受光エリアとは上記スケール１０により反射または回折された光線の異なる位相の部分を受光する。 - 特許庁

To provide an X-ray stress measuring apparatus capable of accurately discriminating a diffracted X-ray peak without influence from background fluorescent X-rays, even in the case that X-ray irradiation density to an object to be measured is enhanced.例文帳に追加

測定対象物へのＸ線の照射密度を高めた場合にも、バックグラウンドとなる蛍光Ｘ線に影響されることなく回折Ｘ線のピークを正確に判別することができるＸ線応力測定装置を提供する。 - 特許庁

In the X-ray spectrometric method performed using a spectroscopic channel cut crystal (20) having two opposed cut surfaces formed thereto and known in its lattice constant, X rays are diffracted in respective arrangements wherein the spectroscopic channel cut crystal (20) becomes (-, +) and (+, -) and the absolute wavelength of X rays is determined from the difference between the angles of rotation of the crystal in the respective arrangements.例文帳に追加

対向する２つのカット面が形成され、格子定数が既知である分光用チャンネルカット結晶（２０）を用いて行うＸ線分光測定方法であって、分光用チャンネルカット結晶（２０）が（−，＋）および（＋，−）となる各配置においてＸ線を回折させ、各配置における結晶回転角度の差からＸ線の絶対波長を決定する。 - 特許庁

The alignment of the wafer is performed by correcting the position detecting error caused by the asymmetry of the cross-sectional shape of the mark WM based on beat signals respectively obtained upon detecting the ±3rd order and ±quaternary diffracted light rays.例文帳に追加

±３次回折光を検出して得られるビート信号と±４次回折光を検出して得られるビート信号とに基づいて、回折格子マークＷＭの断面形状の非対称性による検出誤差を補正し、ウエハの位置合わせを行う。 - 特許庁

To perform accurate qualitative analysis by accurately performing the comparison of the measured data of the intensity of diffracted X-rays and standard data even in such a case that a measuring condition of the measured data and the standard data is different, especially, a diffusion slit is different in the X-ray diffraction device.例文帳に追加

Ｘ線回折装置において、回折Ｘ線強度の測定データと標準データの測定条件、特に、発散スリットが異なる場合でも、測定データと標準データの比較を正確に行い正確な定性分布を行う。 - 特許庁

In the photomask design method, a transmissivity characteristic of the projection optical system 6 which changes depending on the difference of passways of diffracted rays L1-L3 passing through the projection optical system 6 in the projection optical system 6 is obtained and, by using the transmissivity characteristic, the mask bias of a photomask 5 is obtained.例文帳に追加

投影光学系６を通過する回折光Ｌ１〜Ｌ３の投影光学系６内の経路の違いに依存して変化する、投影光学系６の透過率特性を求め、この透過率特性を用いて、フォトマスク５のマスクバイアスを求める。 - 特許庁

The digital information to be recorded on the optical disk medium is recorded as independent signals respectively to the reflected or diffracted rays to the forward direction and the backward direction with respect to the progressive direction of a track on the optical disk medium.例文帳に追加

光ディスク媒体に記録されるディジタル情報を、光ディスク媒体におけるトラックの進行方向に対して前向きに反射または回折する光線と後ろ向きに反射または回折する光線について、それぞれ独立した信号として記録する。 - 特許庁

The illumination device has: an optical element 50 including a hologram recording medium 55; and an illumination device 60 for illuminating the optical element with coherent light so that rays of light incident upon different positions of the hologram recording medium are respectively diffracted to illuminate the spatial light modulator.例文帳に追加

照明装置は、ホログラム記録媒体５５を含む光学素子５０と、ホログラム記録媒体の各位置に入射した光がそれぞれ回折されて空間光変調器を照明するように、コヒーレント光を光学素子へ照射する照射装置６０と、を有する。 - 特許庁

The parallel moving direction of the second slit 12b by the slit position moving device 9 is a direction for displacing the X-ray passing part B of the slit 12b in the advance direction of X rays diffracted by the crystal analyzer 19 when the crystal analyzer 19 is supported by the analyzer support device 13.例文帳に追加

スリット位置移動装置９による第２スリット１２ｂの平行移動方向は、アナライザ支持装置１３が結晶アナライザ１９を支持したときにその結晶アナライザ１９で回折するＸ線が進む方向にスリット１２ｂのＸ線通過部Ｂを変位させる方向である。 - 特許庁

This X-ray analyzer has an X-ray source F for generating the characteristic X-ray of Cr emitted to the sample S, a stimulable phosphor plate for receiving the diffracted rays emitted from the sample S, and a helium path 13 arranged between the sample S and the stimulable phosphor plate.例文帳に追加

試料Ｓに照射するＣｒの特性Ｘ線を発生するＸ線源Ｆと、試料Ｓから出る回折線を受光する蓄積性蛍光体プレートと、試料Ｓと蓄積性蛍光体プレートとの間に配置されたヘリウムパス１３とを有するＸ線分析装置である。 - 特許庁

The reflected X-ray measuring means 6 is moved along the track obtained by setting an emitted X-ray vector in the same direction as the incident vector of incident X-rays to a reference point (zero point) to rotate the same centering around the normal line T from the center of the surface of the measuring sample to detect the diffracted light from the surface of the sample.例文帳に追加

入射Ｘ線の入射ベクトルと同方向の射出Ｘ線ベクトルを基準点（０点）として、前記測定試料表面の中心からの法線Ｔの周りに前記射出ベクトルを回転して得た軌跡に沿って、前記反射Ｘ線測定手段６を移動し、試料表面からの回折光を検出する。 - 特許庁

A characteristic X-ray emitted from a micro area 3 on the sample 2 in response to irradiation of an electron beam is collected efficiently by the X-ray lens 4 to be converted into a parallel beam, and the X-rays of the same wavelength are diffracted by the plane crystal 6 to be brought into a parallel beam, and is analyzed by an X-ray detector 8.例文帳に追加

電子線の照射に応じて試料２上の微小領域３から放出された固有Ｘ線をＸ線レンズ４で効率良く収集して平行線束に変換し、平板結晶６により同一波長のＸ線が平行線束となるように回折してＸ線検出器８により検出する。 - 特許庁

In retrieval in the optical information recording/reproducing device which reproduces the optical information recording medium recorded by angle multiplex recording, the medium is irradiated with a desired information as signal light, and the desired information is searched from the multiplex recorded information by using intensity of a plurality of diffracted rays having a different emission angle with respect to the medium.例文帳に追加

角度多重で記録された光情報記録媒体を再生する光情報記録再生装置での検索処理において、所望の情報を信号光として媒体に照射し、媒体との出射角度の異なる複数の回折光の強度を用いて多重記録された情報の中から該当情報を探し出すことで解決する。 - 特許庁

To provide a high performance X-ray absorption fine structure measuring cell using an X-ray transmitting window that can resist to high temperature and high pressure, is safeness without venomousness, is inoxidizable in oxidation environment, can perform XAFS measuring with high reliability becouse of less effect from diffracted X-rays, is planarizable and is inexpensive.例文帳に追加

高温高圧に耐えることができ、毒性がなく安全で、酸化雰囲気で酸化されにくく、回折Ｘ線の影響が少なくＸＡＦＳ測定を高い信頼性で行うことができ、Ｘ線透過性に優れ、平坦な形状とすることができ、しかも安価なＸ線透過窓を用いた高性能なＸ線吸収微細構造測定用セルを提供する。 - 特許庁

The intensity profile of scattered X rays diffracted from the two-dimensional lattice of the surface of the ferroelectric object is measured and the asymmetry of the intensity profile is compared with the asymmetry (reference asymmetry) (the area ratio of a polarization region of s=1) of a standard sample known in polarization direction and magnitude to evaluate the polarization direction and magnitude of the ferroelectric object.例文帳に追加

強誘電体の表面の２次元格子から回折される散乱Ｘ線の強度プロフィルを測定し、強度プロフィルの非対称性を、分極方向及び分極の大きさが知られている標準試料の非対称性（基準非対称）（分極域の面積比ｓ＝１、０）と比較することで、強誘電体の分極方向及び分極の大きさを評価する。 - 特許庁