「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(163ページ目) - Weblio英語例文検索

The support device is positioned at the foot of the observer, and is constituted to shift the position of a mirror body 2 by converting operational force input in an operation input device which is operated by the foot of the observer into moving force for shifting the position of the mirror body 2 of a surgical microscope.例文帳に追加

観察者の足元に位置され、観察者自身の脚で、操作可能な操作入力装置で入力した操作力を、手術用顕微鏡の鏡体２の位置を変更する移動力に変換して鏡体２の位置を変えるようにした支持装置である。 - 特許庁

This transmission electron microscope allows a sample stage holding a sample to be adjusted to be movable by a nano-drive mechanism in the Z-axis direction being an optical axis direction of an electron beam and X-axis and Y-axis directions (the X-axis and the Y-axis are orthogonal to each other) orthogonal thereto.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡は、試料を保持する試料ステージを、ナノ駆動構造により電子ビームの光軸方向であるＺ軸方向とそれに直交するＸ軸とＹ軸方向（Ｘ軸とＹ軸は互いに直交する）とに移動調整可能とする。 - 特許庁

The microscope is equipped with an ocular 1, the objective lens 5, a stage supporting part 6, a lower stage 7, an upper stage 8, a surface light source 9 fit in the upper stage 8, and the specimen 10 placed and restricted to be detached on the light source 9 through a hard glass.例文帳に追加

顕微鏡は、接眼レンズ１と、対物レンズ５と、ステージ支持部６と、下ステージ７と、上ステージ８と、上ステージに嵌め込まれた面光源９と、硬質ガラスを介して面光源９上に取り外し可能に載置抑止された標本１０を備えている。 - 特許庁

To provide a means for easily and reliably preventing an accident that a sample and chart information about an alien living body are falsely recognized as a sample and chart information about the same living body when using an electric chart system in observing a sample by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡による試料の観察において電子カルテシステムを利用する際に、異なる生体に関する試料とカルテ情報を同じ生体に関する試料とカルテ情報であると誤認する事故を容易かつ確実に防止する手段を提供する。 - 特許庁

The length of a known pattern provided, in advance, in a specified region on a sample is measured with a scanning electron microscope (S101-S104), and the length-measurement result is compared with the pattern design value to provide a magnification correction factor (S105 and S108).例文帳に追加

予め試料上の所定の領域に設けられた既知のパターンを走査形電子顕微鏡によって測長し（Ｓ１０１〜Ｓ１０４）、その測長結果を前記パターンの設計値と比較することにより倍率補正係数を導出する（Ｓ１０５，Ｓ１０８）。 - 特許庁

When emitting light onto the surface of a measurement sample 10 during two-dimensional scanning, the light receiving system 180 of the scanning laser microscope receives laser light which is reflected on the surface and reaches through an objective lens 150 and a confocal diaphragm 170, and outputs information on the quantity of light.例文帳に追加

受光系１８０は、二次元走査させながら測定サンプル１０の表面に照射したときに該表面で反射して対物レンズ１５０及び共焦点絞り１７０を通過して到来するレーザ光を受光して、その光量の情報を出力する。 - 特許庁

To provide a composite apparatus which is an integral system of a probe microscope and a charged particle beam device, such as an FIB or the like, and has a means, capable of easily and stably processing a probe head section being worn or damaged, by using own charged particle beam device.例文帳に追加

ＦＩＢ等の荷電粒子ビーム装置とプローブ顕微鏡が一体システムとなった複合装置において、プローブ先端部の摩耗や欠損に対して自前の荷電粒子ビーム装置を用いて容易に安定して加工が施せる手段を備えた装置を提供する。 - 特許庁

This sample holding member 30 for an electron microscope used for holding a sample is composed by stacking a grid mesh thin piece 25 provided with a grid mesh 25a at its distal end, and a member provided with a plurality of reinforcing ribs 26 of thin pieces for reinforcing the grid mesh 25a.例文帳に追加

試料を保持する電子顕微鏡用試料保持部材３０であって、その先端部にグリッドメッシュ２５ａを設けたグリッドメッシュ薄片２５と、前記グリッドメッシュ２５ａを補強するための薄片の補強用リブ２６を複数枚設けたものとを積層構成とした。 - 特許庁

A laser oscillating means 2 radiates a laser beam in the optical axis direction of a tested lens 1 to the tested lens 1, and an image of the laser beam transmitted through the tested lens 1 and focused on a cover glass 5 is expanded by means of a microscope 6 so as to be converted into an image signal by means of a camera 7.例文帳に追加

レーザー発振手段２は被検レンズ１の光軸方向から被検レンズ１にレーザー光を照射し、被検レンズ１を透過したレーザー光がカバーガラス５にて集光した像を顕微鏡６で拡大しカメラ７にて映像信号に変換する。 - 特許庁

This operation microscope system is provided with a controller A33 disposed with push button switches 53 and 54 in an armrest L30 on which the left hand (arm) of an operator 21 is mounted and a controller B34 disposed with push button switches 53 and 54 on an armrest R31 on which the right hand (arm) of the operator is mounted.例文帳に追加

術者２１の左手（腕）の載置されるアームレストＬ３０に押しボタンスイッチ５３，５４を配したコントローラＡ３３を設け、術者の右手（腕）の載置されるアームレストＲ３１に押しボタンスイッチ５３，５４を配したコントローラＢ３４を設けて構成したものである。 - 特許庁

The physical quantity measuring instrument is so constituted as to be capable of two-dimensionally or three-dimensionally measuring the physical quantities of a sample to be measured, by adapting a laser-induced fluorescence method to the confocal microscope which uses a confocal scanner, having a two-port disk type pinhole array.例文帳に追加

ニポウディスク型のピンホールアレイを有する共焦点スキャナを用いた共焦点顕微鏡にレーザ誘起蛍光法を適応して、測定対象中の測定試料の物理量の２次元または３次元分布を測定することができるように構成する。 - 特許庁

The scanning electron microscope according to the present invention scans a sample along one or more straight lines and adds, to a detection signal for each scan line, information for identifying a start position and an end position of the scan line as address information indicating a scan position on the sample.例文帳に追加

本発明に係る走査型電子顕微鏡は、試料を１以上の直線状に走査し、走査線の開始位置と終了位置を特定する情報を、試料上の走査位置を示すアドレス情報として、１走査線毎の検出信号に付与する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope using a plurality of scanning optical systems, and capable of preventing the same area from being irradiated simultaneously with laser light beams emitted from respective scanning optical systems, even when areas to be scanned by the scanning optical systems overlap each other.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用し、各走査光学系の走査領域が重なり合うような場合でも、各走査光学系からのレーザ光が同時に同じ領域を照射しないようにすることが可能な走査型レーザ光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The detector 18 includes a case 50 slidably disposed to the casing of the infrared microscope; a lighting opening 56 for guiding infrared light from the casing into the inside along the sliding direction; and a detection center section that is contained in the case 50 and detects the infrared light.例文帳に追加

検出器１８は、赤外顕微鏡の筐体に対してスライド自在に設けられるケース５０と、スライド方向に沿って筐体からの赤外光を内部に導く採光口５６と、ケース５０に内蔵され赤外光を検出する検出中心部とを備える。 - 特許庁

To provide an anti-reflection film for optical components of an optical glass system, permitting to improve an S/N ratio in observation treating very feeble light such as microscope observation, by preventing collapse of surface particles due to eradication of magnesium fluoride and suppressing micro-scattering.例文帳に追加

光学ガラス系の光学部品の反射防止膜に使用されるフッ化マグネシウムの払拭による表面粒子の崩壊を阻止して微小散乱を抑えることにより、顕微鏡観察等、極微弱光を扱う観察においてＳ／Ｎ比の向上を図る - 特許庁

Thereafter, the base 6 is moved in an upward direction with respect to the base 5 so as to make the base 5 stand on the floor surface, and an air bearing is attached to the base 6 instead of the caster 9, whereby the microscope is accurately and easily aligned to the specified position.例文帳に追加

その後、固定台５に対して上方向に可動台６を移動させて固定台５を床面に着地させ、キャスタ９に替えてエアーベアリングを可動台６に取り付けることで、所定の位置への顕微鏡の位置合せを高精度且つ容易に行うことができる。 - 特許庁

To provide a noise canceling type headphone capable of preventing the disturbance of musical sounds caused by unexpected noise canceling sounds by preventing resonant sounds near an outside sound taking port which are listened to as sounds having no relation to original outside sounds from being taken into a microscope.例文帳に追加

本来の外部ノイズとは関係のない音として聴取される外部音取り込み口付近での共鳴音がマイクロホンに取り込まれるのを防止して不用意なノイズキャンセル発音による楽音の乱れを防止できるノイズキャンセル型ヘッドホンを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of remarkably reducing dust-sticking on a sample such as a semiconductor wafer using an immersion objective lens and the occurrence of watermarks on the sample by quickly drying liquid remaining on the sample after performing the visual inspection of the sample.例文帳に追加

液浸系対物レンズを用いた半導体ウエハ等の標本の外観検査後に、標本上に残存する液体を速やかに乾燥して、標本への塵埃等の付着やウォーターマークの発生を著しく減少させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In a parallel flat plate type dry etching device, a camera having a microscope function and a film thickness measurement function is installed inside an electrode opposite to an electrode for mounting the semiconductor substrate, and the etching state of the semiconductor substrate is observed by using this camera.例文帳に追加

平行平板型のドライエッチング装置において、半導体基板を載置する電極とは反対の電極の内部に顕微鏡機能および膜厚測定機能を有するカメラを設置し、このカメラを用いて半導体基板のエッチング状態を観測できるようにした。 - 特許庁

The method and device for scanning a sample with a scanning probe microscope includes a step for scanning the surface of the sample according to at least one scanning parameter to obtain data corresponding to the surface, and a step for substantially automatically identifying a transition part on the surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡でサンプルを走査する方法および装置は、少なくとも一つの走査パラメータに応じてサンプルの表面を走査して表面に対応するデータを取得するステップと、表面における変移部を略自動的に識別するステップとを有する。 - 特許庁

To provide a zoom microscope with high expandability which can be used for contrast observation (e.g., differential interference observation, etc.) of a sample and in which other optical systems (e.g., a fluorescent incident light illumination system, etc.) can be arranged between an objective lens part and a zoom part if necessary.例文帳に追加

標本のコントラスト観察（例えば微分干渉観察など）に用いることができ、必要に応じて対物レンズ部とズーム部との間に他の光学系（例えば蛍光落射照明系など）を配置することもできる拡張性の高いズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope device further comprises two wedge prisms 51a and 51b disposed on an optical path between the detection system 30 and the half mirror 17, and rotary mechanisms 52a and 52b holding the wedge prisms 51a and 51b so as to allow them to rotate severally.例文帳に追加

さらに測定顕微鏡装置は、焦点検出系３０とハーフミラー１７の間の光路上に配置された２つのウェッジプリズム５１ａと５１ｂと、ウェッジプリズム５１ａと５１ｂをそれぞれ回転可能に保持している回転機構５２ａと５２ｂとを有している。 - 特許庁

A first verification execution part 34 causes a microscope image of the piece determined to be defective at the inspection device 6 to be displayed in parallel with an inspection device image, and causes a quality determination result made by an inspector to be stored as a first verification result in a storage part 31.例文帳に追加

第１のベリファイ実行部３４は、パターン検査装置６で不良品と判定されたピースの顕微鏡画像と検査装置画像を並行表示させ、検査員による良否判定結果を第１のベリファイの結果として記憶部３１に格納する。 - 特許庁

In the method of correcting a photomask defect, after making an electrical continuity in an isolated pattern by a metal deposition film 7 by use of an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source, the defect 3 is corrected; and after the correction, the metal deposition film 7 is physically removed by an AFM (atomic force microscope) scratch working probe 9.例文帳に追加

電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた金属デポジション膜7で孤立したパターンに導通を作ってから欠陥3を修正し、修正後金属デポジション膜7をAFMスクラッチ加工探針9で物理的に除去する。 - 特許庁

To provide an electron microscope device using a short focus objective lens that enables acquiring a good image of high resolution without any distortion in a wide range from low magnification to high magnification at the observation in low acceleration voltage condition.例文帳に追加

短焦点の対物レンズを用いた電子顕微鏡装置において、低加速電圧条件での観察時に、低倍率から高倍率までの広い倍率範囲において高解像度で歪みのない良好な画像の取得を可能とする電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of achieving optimum irradiation with a light beam respectively for a laser scanning optical system for observation and an optical system for luminous stimulus by performing luminous stimulus and observation by the use of optical systems having different characteristics.例文帳に追加

本発明の課題は、観察用のレーザー走査光学系と光刺激用の光学系とを異なる特性の光学系を使って光刺激と観察を行うことにより、それぞれに最適な光線の照射が可能なレーザー走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an electron microscope which forms an enlarged image of almost the same magnification on a monitor screen before and after switching-over when supplying to the monitor a high resolution TV camera output signal replaced with a wide view TV camera output signal.例文帳に追加

広視野ＴＶカメラの出力信号に代わって高分解能ＴＶカメラの出力信号をモニターへ切替えて供給しても、その切替えの前後において、モニター画面上の試料拡大像倍率がほぼ同じになるような電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an illumination optical system and a microscope provided with the system capable of easily switching evanescent illumination and ordinary vertical illumination while using a laser beam having intensity high enough to excite fluorescence dye though an entire device is compact.例文帳に追加

蛍光色素を励起するのに十分な強度を有するレーザー光を用いつつ、装置全体もコンパクトでありながら、容易にエヴァネッセント照明と通常の落射照明が切り替え可能な照明光学系及びこの照明光学系を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The object surface is observed by measuring a horizontal force relative to the object whose surface has a part having different hydrophobicity or hydrophilicity by using the scanning probe atomic force microscope having a probe of a cantilever type modified by an organic compound.例文帳に追加

表面に疎水性または親水性が異なる部分を有する対象物を有機化合物で修飾されたカンチレバータイプの探針を有する走査プローブ原子間力顕微鏡を用いて水平力を測定することで対象物の表面を観察する。 - 特許庁

Surface of electrode is scraped by irradiating ion beam, image of drilled face of the activator is observed by a scanning ion microscope (SIM), and a property of the electrode is evaluated on the basis of contrast of the activator in observed SIM image.例文帳に追加

イオンビームの照射によって電極表面をその厚さ方向に堀削して、堀削面における活物質層の走査イオン顕微鏡（ＳＩＭ）像を観察し、観察されたＳＩＭ像における活物質のコントラストに基づき電極の性能を評価する。 - 特許庁

To provide an optical system which can simultaneously obtain image and spectrum from object such as tissue specimen, industrial object such as computer chip, or other optional objects visible through optical systems such as microscope, endoscope, telescope or camera.例文帳に追加

組織標本のような対象物、コンピュータチップのような産業上の対象物、又は顕微鏡、内視鏡、望遠鏡若しくはカメラのような光学システムで目視可能の他の任意の対象物から同時に画像及びスペクトルを提供する光学システムを提供すること。 - 特許庁

To provide an electrostatic capacitance type ultrasonic transducer which is small-sized and is capable of transmitting/receiving ultrasonic waves at frequencies of wide bands without reducing a transmission strength and a reception strength of ultrasonic waves, and to provide an ultrasonic diagnostic device and ultrasonic microscope.例文帳に追加

小型であり、かつ超音波の送信強度及び受信感度を低下させずに広帯域の周波数で超音波を送受信することが可能な静電容量型の超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This electron microscope has an electron emitting negative electrode having a carbon nanotube, and an extraction device to cause field emission of an electron, and uses the carbon nanotube having an acute angle portion in an almost conic form at its tip part.例文帳に追加

上記目的を解決する本発明の特徴は、カーボンナノチューブを有する電子放出陰極と、電子を電界放出させる引出装置とを有する電子顕微鏡であって、先端部に略円錐形状の鋭角部を有するカーボンナノチューブを用いる点にある。 - 特許庁

To provide a scanning X-ray electron microscope capable of detecting photoelectrons under a wide range of a vacuum condition from a low vacuum to a high vacuum when photoelectrons generated from a sample by the scanning of X-rays are detected.例文帳に追加

本発明は、Ｘ線の走査により試料から発生した光電子を検出する際、低真空から高真空までの広範囲の真空条件において光電子を検出することが可能な走査Ｘ線電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

A matrix computing part 66 calculates a vector indicating the electron microscope image of the sample by performing matrix computation based on the electron beam irradiation matrix and a vector representing time-series detection signals detected by the secondary electron detector.例文帳に追加

行列演算部６６は、上記電子線照射行列と、上記２次電子検出器において検出された時系列の検出信号を表したベクトルとに基づいて行列演算を行うことによって、試料の電子顕微鏡画像を示すベクトルを算出する。 - 特許庁

To detect fine powder in real time, and to raise an alarm, based on light scattered by fine powder generated by applying light near the contact section between a stator and a rotor for composing a mechanically driven ultrasonic motor for a stage using a charged particle microscope.例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡に用いるステージについて、機械駆動する超音波モータを構成するステータとロータの接触部分の近傍に光を照射して発生した微粉によって散乱したを光をもとに微粉をリアルタイムに検出および警報を発する。 - 特許庁

To provide a vernier for calculating the positional deviation of a colored pixel, with respect to a black matrix, and accurately and stably calculating the position deviation, without being affected by the focal depth of a microscope or without being affected by the fringe part of a measurement mark, and to provide a method of measuring exposure position.例文帳に追加

ブラックマトリックスに対する着色画素の位置ズレを算出するバーニアで、顕微鏡の焦点深度に影響されず、測定用マークのフリンジ部に影響されず精度よく、安定して位置ズレを算出するバーニア、及び露光位置の測定方法を提供する。 - 特許庁

When recording an observation image, a camera control unit 13 displays on a monitor 24 input fields and display fields for selecting items of information depending on the purpose of use of a microscope 11 as items of comment to be added to the observation image.例文帳に追加

カメラコントロールユニット１３は、観察画像の記録時に、観察画像に付加するコメントの項目として、顕微鏡１１の使用用途により予め定められている項目の情報を選択するための入力欄および表示欄をモニタ２４に表示させる。 - 特許庁

In a state of observing the slide glass 23 from vertically below by the inverted microscope 5, the nozzle 16 is moved closer toward a surface side of the slide glass 23 from above the slide glass 23, a solution (the separation liquid) is dropped from the nozzle 16, and the separated cell is sucked up.例文帳に追加

倒立顕微鏡５により、鉛直下からスライドグラス２３を観察する状態にしておき、スライドグラス２３の上方からスライドグラス２３の表面側に向けてノズル１６を接近させ、そのノズル１６から溶液（剥離液）を滴下して、剥がれた細胞を吸い上げる。 - 特許庁

A sample 11 is placed on a stage 101 of a microscope body 10 and a light shielding member 18 is deposited to cover the sample 11 on the stage 101 so that the vertical illuminating observation of the sample 11 is performed.例文帳に追加

顕微鏡本体１０のステージ部１０１上に試料１１を載置して、このステージ部１０１上の試料１１を被うように遮光部材１８を被着して試料１１の落射照明観察を行うように構成し、所期の目的を達成したものである。 - 特許庁

The microscope is provided with a means for detecting the presence or absence of positional deviation in matching tips of fingers, the manipulator 10 is provided with a charge increase prevention means due to electron beams, and an electromagnetic shield for shielding an electric field generated from actuators 20, 21 is provided in the actuators of the manipulator.例文帳に追加

指片同士の先端合わせの位置ずれの有無を検出する手段を備え、マニュピレータ１０には、電子線によるチャージアップ防止手段を設けたり、マニュピレータのアクチュエータ２０，２１には、該アクチュエータから生じる電界をシールドするための電磁シールドを設けた。 - 特許庁

A control section 60 includes a microscope control section 62 that detects a focusing state of the observing optical system on the specimen S; and an objective lens control section 64 that controls the holding mechanism 28 so as to keep the observing optical system focusing on the specimen S.例文帳に追加

制御部６０は、標本Ｓに対する観察光学系の合焦状態を検出する顕微鏡制御部６２と、標本Ｓに対して観察光学系を合焦状態に維持するように保持機構２８を制御する対物レンズ制御部６４とを有する。 - 特許庁

To provide an inspection system by which investigation or the like of the causes of defects of a semiconductor sample can be easily performed by making the work for observing defects detected by a SEM (scanning electron microscope)-aided appearance inspection apparatus is surely performable with the use of a review apparatus with high definition.例文帳に追加

ＳＥＭ式外観検査装置で検出した欠陥をレビュー装置で高分解能観察する作業を容易、且つ確実に行えるようにし、半導体試料の欠陥に対する原因究明等が容易に行える検査システムを提供する。 - 特許庁

The objective 1 for the microscope includes a lens system 11, an inner cylinder 12 supporting the lens system 11, an outer cylinder 15 encloses an outer circumference of the inner cylinder 12 to form an optical path L for lighting, and a shield mechanism M which shields the optical path L for lighting.例文帳に追加

レンズ系１１と、レンズ系１１を支持する内筒１２と、内筒１２の外周を包囲して照明用光路Ｌを形成する外筒１５と、照明用光路Ｌを遮蔽可能な遮蔽機構Ｍと、を有することを特徴とする顕微鏡用対物レンズ１。 - 特許庁

The durability predicting apparatus 100 comprises a deterioration promoting apparatus 10 (a deterioration promoting means), an electron microscope 12, an energy dispersing X-ray analyzing apparatus 1206, a film thickness measuring instrument 14, a gloss measuring instrument 16, a contact angle measuring instrument 18 and a color measuring instrument 20.例文帳に追加

耐久性予測装置１００は、劣化促進装置１０（劣化促進手段）、電子顕微鏡１２、エネルギー分散形Ｘ線分析装置１２０６、膜厚測定器１４、光沢測定器１６、接触角測定器１８、色測定器２０を備えて構成されている。 - 特許庁