「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(162ページ目) - Weblio英語例文検索

The photosensitive resin composition has a sea-island structure comprising sea and island parts in which two phases different from each other in horizontal force are present in cross-section observation with a horizontal force microscope (LFM) and ≥60% of the island part has ≤4 μm2 average domain area.例文帳に追加

水平力顕微鏡（ＬＦＭ）で断面観察した場合、水平力の異なる相が二相存在する、海部分と島部分とからなる海島構造であり、前記島部分の６０％以上がドメイン平均面積を４μｍ^2以下とする感光性樹脂組成物。 - 特許庁

A static eliminator 4 and a charge monitor 3 are arranged and the charge monitor 3 is controlled on the basis of the position of the probe 2 of the atomic force microscope by a monitor position control means 7 so as to measure the charge quantity in the periphery of the position of the probe 2 of the sample 1.例文帳に追加

除電装置４と、帯電モニタ３を配置し、原子間力顕微鏡の探針２の位置に基づいて、試料１の探針２の位置周辺の帯電量が測定されるように帯電モニタ３をモニタ位置制御手段７により制御する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32 for measuring physical quantities generated between the probe and the sample 12, and moving mechanisms 14, 15, 29 for allowing to perform scanning operation by changing relatively positions of the probe and the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１と、探針と試料１２の間で生じる物理量を測定する測定部（２４，３２）と、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構（１４，１５，２９）とを備える。 - 特許庁

To provide a stereoscopic shape measuring method by a scanning electron microscope (SEM) and its device capable of highly-accurate stereoscopic shape measurement even in the case of a flat surface or a nearly vertical surface, by utilizing tilt angle dependency of a secondary electron image signal quantity.例文帳に追加

ＳＥＭの２次電子画像信号量の傾斜角依存性を利用して平坦な面や垂直に近い面についても高精度な立体形状計測を可能にしたＳＥＭによる立体形状計測方法およびその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a light scanning microscope which having; an at least single-dimensional light distribution apparatus for grid-shaped illumination of a sample in a locally limited grid field; a detector for capturing sample light; and a sample table capable of moving in at least one direction.例文帳に追加

大きさの制限されたラスタフィールド内で試料をラスタ状に照明するための少なくとも１次元の光分布装置、試料光捕捉のための検出装置および少なくとも１方向に移動できる試料ボードを有する光走査型顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope suitably adapted to the study of the observation of the lattice of lines of magnetic induction or an electron state in a magnetic flux inlusive of the study of a nanoscale non-uniform superconductive state and the observation of the uneven image on the surface of a sample, and its using method.例文帳に追加

ナノ・スケール不均一超伝導状態の研究を始めとして、磁束線格子の観測や磁束内電子状態の研究、さらには試料表面の凹凸像の観測に適用して好適な走査プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁

When the alignment mark of a mask M is detected, a work stage 3 moves to the right side of the drawing, a parallel plate 5 attached to the side face of the work stage 3 is inserted into the optical path of an alignment microscope 4 and the location of the alignment mark of the mask M is detected and memorized.例文帳に追加

マスクＭのアライメントマークを検出する際、ワークステージ３が図面右方向に動き、ワークステージ３の側面に取り付けられた平行平板５が、アライメント顕微鏡４の光路内に挿入され、マスクＭのアライメントマークの位置が検出され記憶される。 - 特許庁

A control section 60 includes: a view field position adjusting section 62 that adjusts the view field position of the optical microscope 10 in order to perform the visual serveo; and an excluding drive control section 64 that exclusively controls the drive of the specimen stage 12 and the drive of the objective stage 16.例文帳に追加

制御部６０は、ビジュアルサーボのために光学顕微鏡１０の視野位置を調整するための視野位置調整部６２と、標本ステージ１２の駆動と対物ステージ１６の駆動とを排他的に制御するための排他駆動制御部６４とを有している。 - 特許庁

The cross section of chemically treated hair, which is obtained by twice treating hair with a commercial high bleaching agent, and that of treated hair obtained by treating hair with a 2% amino acid aqueous solution are respectively measured by an atomic force microscope to obtain an amplitude image shown in Fig.1 and a phase image shown in Fig.2.例文帳に追加

毛髪を市販のハイブリーチ剤で２回ブリーチ処理を行った化学処理毛と、更に２％アミノ酸水溶液で処理したトリートメント処理毛との断面を、それぞれ、原子間力顕微鏡で測定し、図１に示すamplitude像と、図２に示すphase像とを得た。 - 特許庁

An infrared light from an infrared light source 50 is applied to the front surface side of the wafer 1 to transmit the light therethrough, the transmitted image is taken by an infrared microscope 70 arranged on the rear surface side of the wafer 1, and streets 2 are detected from the image pattern of the front surface of the wafer whose image has been taken.例文帳に追加

ウエーハ１の表面側から赤外光源５０より赤外光を照射して透過させ、ウエーハ１の裏面側に配した赤外線顕微鏡７０で透過像を撮像し、撮像されたウエーハ表面の画像パターンからストリート２を検出する。 - 特許庁

In the the above optical microscope 3, since the probe light 9 is deflected by density gradation near the cell membrane of living cells, viability of cells and cell activity can rapidly and easily be judged and measured by measuring the deflection.例文帳に追加

上記の光学顕微鏡３によれば、プローブ光９が生きている細胞の細胞膜近傍での濃度勾配により偏向することから、該偏向を測定することで細胞の生死判別及び細胞活動を迅速にかつ簡易に判別・測定することができる。 - 特許庁

To provide a system such that when a shape of a shot during exposure is distorted as a circuit pattern becomes finer, a decrease in throughput during wafer inspection with an electron microscope and a decrease in automation rate are recognized, and a position correcting operation for the shot distortion is carried out.例文帳に追加

回路パターンの微細化に伴い、露光の際のショットの形状の歪みがある場合には、電子顕微鏡によるウェーハ検査時のスループットの低下や自動化率の低下が認められ、ショット歪みに対する位置補正動作を実行する方式を提供する。 - 特許庁

The method for detecting the polyphenol adsorbed on the microbial cells is provided by reacting the specimen containing the polyphenol with the microbial cells, then effecting a cerium compound with the reaction liquid, and then observing the crystalline materials of the cerium formed on the surface layer part of the microbial cells by an electron microscope.例文帳に追加

ポリフェノールを含有する試料と菌体とを反応させた後、該反応液にセリウム化合物を作用させ、次いで菌体表層部に形成されたセリウムの結晶物を電子顕微鏡により観察する菌体に吸着したポリフェノールの検出法。 - 特許庁

To provide a standard sample for a scanning probe microscope and a carrier concentration measurement method, capable of finding the correlations between the carrier concentrations and the local electrical characteristics (including the characteristics of spreading resistance, capacitance and nonlinear dielectric constant) more accurately than conventionally.例文帳に追加

キャリア濃度と局所的電気特性（広がり抵抗、静電容量特性及び非線形誘電率特性を含む）との相関を従来よりも正確に求めることができる走査プローブ顕微鏡用標準試料及びキャリア濃度測定方法を提供する。 - 特許庁

This microscope 1 includes an objective lens 9 for observing the sample, the transmission bright field lighting system 17, and a base part 3 having a mounting mechanism for mounting the transmission dark field lighting system 25 on the lower side or the upper side of the transmission bright field lighting system 17.例文帳に追加

標本を観察するための対物レンズ９と、透過明視野照明装置１７と、透過明視野照明装置１７の下側または上側に透過暗視野照明装置２５を装着するための装着機構を有するベース部３を備える顕微鏡１。 - 特許庁

The colloidal silica produced using activated silicic acid as a raw material in the presence of potassium ions contains potassium ions and contains a group of nonspherical deformed silica particles having a major to minor axis ratio of 1.2-10 as observed with a transmission electron microscope.例文帳に追加

カリウムイオンの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、カリウムイオンを含有し且つ透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜１０である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

When aligning the crystal direction of the sample to an optical axis of a scanning transmission electron microscope, accurate and quick crystal direction alignment can be performed since a direction for inclining the sample can be directly determined from the shape of the electron beam diffraction image.例文帳に追加

本発明によれば、ＳＴＥＭの光軸に対して試料の結晶方位を合わせる際、試料を傾斜させるべき方向を電子線回折像の形状から直接判断することができるため、正確かつ迅速な結晶方位合せが可能となる。 - 特許庁

To provide an examining method and a scanning electron microscope capable of improving a fading (decoloring) characteristic of a fluorescent colored substance in a test sample, especially a test sample excitable in an ultraviolet spectrum area, for carrying out simultaneous multicolor detection.例文帳に追加

被検試料中の蛍光着色物質の褪色（脱色）特性を改善し、更に、とりわけ紫外スペクトル領域で励起可能な被検試料において、同時的多色的検出を可能とする検査方法及び走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscopic image processing system, capable of simultaneously performing reduction in noise and contour emphasis of an image which are conflicting image processing in the conventional art, in regard to an image containing many noise components which is a characteristic of a high-resolution electron microscope.例文帳に追加

高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。 - 特許庁

If display of the observation image recorded in the removable medium 25 is directed, the camera control unit 13 makes a monitor 24 display the designated observation image and restores the setting of the microscope system based on the setting information related to the observation image.例文帳に追加

また、カメラコントロールユニット１３は、リムーバブルメディア２５に記録されている観察画像の表示が指示されると、指示された観察画像をモニタ２４に表示させるとともに、その観察画像に関連付けられた設定情報に基づいて、顕微鏡システムの設定を復元する。 - 特許庁

Pulse excitation light from a pulse laser apparatus 6 is converted into a straight line polarization having a specific polarization direction by a polarizing plate 10, and is applied to a 1 μL or less sample in a minute space in a microchip 2 through a microscope 4 from a dichroic mirror 8.例文帳に追加

パルスレーザー装置６からのパルス励起光が偏光板１０により特定の偏光方向をもつ直線偏光にされ、ダイクロイックミラー８から顕微鏡４を通してマイクロチップ２中の微小空間内にある１μＬ以下の試料に照射される。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a sample room for sample placement accommodating a heating system to be able to heat the internal space of the sample room including the samples for observation.例文帳に追加

本発明は上記目的を達成するために、観察対象試料を配置するための試料室を備えた電子顕微鏡において、前記観察対象試料を含む試料室内空間を加熱する加熱機構を備えたことを特徴とする電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Thereby, the sample holder 21 can be supported in an objective lens of the electron microscope, the electron beam having passed through the opening 20b can reach the sample 9 in the sample holder 21, and thereby signals of scanning transmission electrons generated from the sample 9 can be detected.例文帳に追加

これにより、電子顕微鏡の対物レンズ内で試料ホルダ２１を支持することができ、該開口２０ｂを通過した電子線が試料ホルダ２１内の試料９に到達し、これにより試料９から発生する走査透過電子の信号を検出できる。 - 特許庁

The aqueous solution is dropped onto an observation plate, followed by drying; the drying is stopped, when moisture is not observed visually by naked eyes; and the coupling condition and the aggregation condition of the suspended matter deposited and actualized on the observation plate are observed by an optical microscope.例文帳に追加

観測用プレートに水溶液を滴下させ、それを乾燥させて肉眼で水分が視認できなくなったら乾燥を止め、観測用プレート上に析出顕在化した懸濁物質の結合状態、集合状態を光学顕微鏡により観察するようにした。 - 特許庁

To provide a dicing machine having a shield plate for shielding water splash or mist between a machining part and a microscope; the shield plate not obstructing in exchanging a rotary blade, even if the machine is a twin dicer having two opposed spindles.例文帳に追加

加工部と顕微鏡との間で水しぶきやミストを遮蔽する遮蔽板を有するダイシングマシンにおいて、該ダイシングマシンが２本のスピンドルを対向配置したツインダイサであっても、回転刃の交換時に前記遮蔽板が邪魔にならないダイシングマシンを提供すること。 - 特許庁

To effectively remove an amorphous layer without generating deposits again in relation to a sample-forming apparatus for a transmission type electron microscope which removes the amorphous layer generated to the side face of an observation part when forming the thin-filmed observation part by a convergent ion beam apparatus.例文帳に追加

本発明は、集束イオンビーム装置により薄膜化した観察部を作製する際にその側面に生成される非晶質層を除去する透過型電子顕微鏡用試料作製装置に関し、再デポを生じさせないで有効に非晶質層を除去する。 - 特許庁

To provide a plasma generator and a low-vacuum scanning electron microscope which are compact, seldom affected by noises and not influenced by light due to plasma generation on an image detecting system.例文帳に追加

本発明はプラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡に関し、小型で雑音の影響を受けにくく、プラズマ発生による光が画像検出系に悪影響を与えないプラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an electrostatic capacitance type ultrasonic transducer, ultrasonic diagnostic equipment and ultrasonic microscope, each of which is equipped with an electret, thereby dispensing with the application of a DC bias voltage, while being able to transmit/receive ultrasonic waves with ample sound pressure and sensitivity.例文帳に追加

エレクトレットを具備することによりＤＣバイアス電圧の印加を不要としながら、十分な音圧及び感度により超音波を送受信することが可能な静電容量型の超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a culture board for microscope observation which can culture an organism specimen and is less deteriorated in imaging performance in observing the organism specimen and to provide an observation method suitable for observation of the organism specimen by using this culture board.例文帳に追加

生物標本を観察する際に、生物標本を培養することができ結像性能の劣化が少ない顕微鏡観察用培養基板を提供すると共に、その培養基板を用いて生物標本の観察に適した観察方法を提供する - 特許庁

Irradiation with a second converged ion beam 102 from the direction parallel to the side wall of the leaf is performed simultaneously with preparation of the leaf by a sputtering/etching processing using a first converged ion beam 101 to observe the leaf by a scanning ion microscope and the thickness of the leaf is measured.例文帳に追加

第一の集束イオンビーム１０１のスパッタリングエッチング加工を行って薄片を作製すると同時に、薄片の側壁と平行な方向から第二の集束イオンビーム１０２の照射を行って走査イオン顕微鏡観察をし、薄片の厚さを測定する。 - 特許庁

The laser confocal microscope system using a Nipkow disk type confocal scanner adopting laser light as excitation light is constituted so as to measure a phosphorescent image by a camera for forming the confocal image outputted from the confocal scanner after turning off the laser light.例文帳に追加

レーザ光を励起光としたニポウディスク型の共焦点スキャナを使用したレーザ共焦点顕微鏡システムにおいて、前記レーザ光のオフ後に、前記共焦点スキャナからの共焦点画像を結像するカメラで燐光画像を計測するように構成する。 - 特許庁

To arbitrarily control relative directions between an axis of a probe and an axis of a carbon nanotube being set at the head of a scanning probe microscope or held by a handling equipment such as carbon nanotube tweezers or the like, in order to improve its durability and precision and stability of measurements.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡先端のカーボンナノチューブや、カーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器に把持されたカーボンナノチューブについて、プローブの軸とカーボンナノチューブの軸の相対方向を任意に制御し、測定の精度、安定性、耐久性等を向上させる。 - 特許庁

To provide a microscope with an imaging apparatus capable of rapidly determining an optimum exposure condition as a whole with simple constitution even when dividing a sample to many partial areas and performing microscopic imaging, and a method for calculating its exposure time.例文帳に追加

試料を多数の部分領域に分割して顕微鏡撮像を行う場合においても、簡単な構成で迅速に全体最適な露出条件を決定できる撮像装置付顕微鏡、及びその露出時間を算出する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an eyepiece system, a telescope, binoculars and a microscope where an aspherical lens formed at low cost is used, eye relief being ≥80% of the focal distance of the entire eyepiece system is secured, and aberration is excellently compensated to the peripheral part of visual field.例文帳に追加

安価に形成可能な非球面レンズを使用した、接眼レンズ系全体の焦点距離の８０％以上のアイレリーフを有し、視野周辺部まで各収差が良好に補正された接眼レンズ系、及び望遠鏡、双眼鏡、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a panorama image synthesis technique using a scanning charged-particle microscope, which achieves a panorama image robust against contamination, imaging shift and distortion of an image in a wide-field imaging region (EP) on a fine semiconductor pattern.例文帳に追加

微細な半導体パターンに対する広視野な撮像領域（ＥＰ）において、コンタミネーション、画像の撮像ずれや歪みに対してロバストなパノラマ画像合成を実現できるようにした走査荷電粒子顕微鏡を用いたパノラマ画像合成技術を提供することにある。 - 特許庁

The scanning type probe microscope is provided further with an acquisition-registering means for acquiring and registering a reference pattern for alignment, and a recipe formation means for recipe-registering the luminous energy to an illuminance when registering an image pattern to a recipe by the acquisition-registering means.例文帳に追加

さらに走査型プローブ顕微鏡は、アライメントのための参照用パターンを取得・登録する取得登録手段と、この取得登録手段によって画像パターンをレシピに登録した時の照度に光量をレシピに登録するレシピ化手段とを備える。 - 特許庁

A CPU 44 generates email to an email address registered in advance, which includes the image data and information on settings of the microscope 10 or camera 30 for imaging the observed image represented by the image data.例文帳に追加

ＣＰＵ４４は、予め登録されている電子メールアドレスを宛先とし、当該画像データと、当該画像データで表されている観察像の撮影時における顕微鏡１０若しくはカメラ３０の設定状態を示す情報とが含まれている電子メールを作成する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of promptly shaping second light of any wavelength to a desired beam shape and of superposing the beam on first light with simple and inexpensive constitution without using a phase plate and without forcing vexatious work to a user.例文帳に追加

位相板を用いることなく、簡単かつ安価な構成で、しかもユーザーに煩雑な作業を強いることなく、第２の光をいかなる波長でも即座に所望のビーム形状に整形して第１の光と重ね合わせることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical illumination microscope, whose aperture stop diameter is automatically changed interlocking with objective lens change of a motor-driven revolver mounted with a plurality of objective lenses and also easily set for each of the plurality of objective lenses, compactly at low cost.例文帳に追加

複数の対物レンズが装着された電動レボルバの対物レンズ転換に連動して開口絞り径が自動的に変更され、且つそれら複数の対物レンズ毎に開口絞り径の設定が容易に行える落射顕微鏡を安価に、またコンパクトに提供すること。 - 特許庁

This device is provided to a microscope, including an auto-focus unit 42 which focuses a light beam on an object based on the light beam returning from the object after it is projected to the object through an objective lens 41.例文帳に追加

ウェハ位置調整装置は、光ビームを対物レンズ４１を介して対象物に投光し対象物から戻ってくる光ビームに基づいて前記対象物に対する焦点合わせを行うオートフォーカスユニット４２を有するウェハ検査用の顕微鏡に備えられる。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope provided with an excitation light irradiating optical system and a fluorescence correlated spectroscopic analyzer used favorably for measuring respectively a plurality of excitation light irradiating areas concurrently or sequentially by fluorescence correlated spectrometry.例文帳に追加

複数の励起光照射領域それぞれについて同時に又は順次に蛍光相関分光法により測定するのに好適に用いられ得る励起光照射光学系を備える蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置を提供する。 - 特許庁

By overlapping an image A of an optical microscope 2 for observing the package 1 and that B of an X-ray fluoroscope 3 for observing the package 1 through using an image processor 4 to display their images on a monitor system 5, a region required for seal breaking can be determined.例文帳に追加

パッケージ１を観察する光学顕微鏡２の画像Ａと、パッケージ１を観察するＸ線透過装置３の画像Ｂとを、画像処理装置４によって重ね合わせしてモニター装置５に表示し、開封処理に要求される領域を確認できる。 - 特許庁

To provide a fluorescence detection device, a contrast information correction method, a contrast information correction program, and a scanning type confocal laser microscope capable of correcting deterioration of the contrast information (brightness information) by brown of a fluorescent pigment dying a sample.例文帳に追加

試料を染色している蛍光色素の褪色による濃淡情報（輝度情報）の劣化を補正することが可能な蛍光検出装置、濃淡情報補正方法、濃淡情報補正プログラムおよび走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a container for cell culture enabling microscope observation of the interior of a stored partition from the lower direction of the bottom also in a method for use of cell culture in a small amount of culture medium like a micro drop method.例文帳に追加

マイクロドロップ法のように少量の培養液中での細胞培養を目的とした使用方法においても、収容区画内を底部下方から顕微鏡観察が可能であり、容器内部を無駄なく区画して使用できる細胞培養用容器を提供する。 - 特許庁

Further, the cross section of the monofilament can be distinguished between two layers of a sheath layer and core layer on being observed by an optical microscope, and the ratio R (%) of the mean diameter r_2 of the core layer to the fiber cross sectional diameter r_1 is ≤90%.例文帳に追加

さらに、前記モノフィラメント繊維の断面が、光学顕微鏡によって観察した際に、シース層とコア層の二層に識別可能であり、コア層の平均直径ｒ_２の繊維断面直径ｒ_１に対する比率Ｒ（％）が９０％以下であるポリベンザゾール繊維ロープ。 - 特許庁