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reference patternの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1662件
Further, evaluation reference for adaptability to the standard of undecoded data is set and compared with the adaptability of undecoded data read in from the optical pattern reading and decoding machine to output a comparison result.例文帳に追加
さらに未解読データの規格に対する適合度合の評価基準を設定し、光学パターン読取解読機から取り込んだ未解読データの適合度合と比較して比較結果を出力する。 - 特許庁
A runout quantity detector 40 mounted to the tool headstock 10 detects the reference pattern of a runout quantity when the turning tool 30 is normally clamped and rotated at low speed, and stores it in a control unit.例文帳に追加
工具主軸台10に取付けた振れ量検出装置40は、旋削工具30が正常にクランプされて、低速回転するときの振れ量の基準パターンを検出し、制御装置に記憶する。 - 特許庁
The station transmitter 10 calculates a correlation between a input signal from the liquid crystal fiber 12 and a reference pattern with the time slot assigned to the designated optical transmitter-receive and integrates the result of correlation.例文帳に追加
局伝送装置10は、光ファイバ12からの入力信号を、指定の光送受信装置に割り羽照られたタイムルスロットで参照パターンとの相関を演算し、相関結果を積分する。 - 特許庁
During pattern recognition, nonconincidence to both the reference edge model and the error edge model is calculated, and the value of the former nonconincidence is adjusted to be larger as the latter nonconincidence gets smaller.例文帳に追加
パターン認識の際には、基準エッジモデルおよびエラーエッジモデルの双方に対する不一致度が算出され、前者の不一致度を、後者の不一致度が小さくなるほど値が大きくなるように調整する。 - 特許庁
To provide a method and a device for generation as to reference data used for inspection to perform pattern inspection of a mask, etc., with high precision, and manufacturing method for the mask using them.例文帳に追加
マスク等のパターン検査を高精度に行うために、検査の際に用いる参照データについての発生方法と発生装置、パターン検査装置および、それを用いたマスクの製造方法を提供すること。 - 特許庁
The reference APC is used to determine the track pitch, and by using the mark 411 of the defined size, the product servo pattern can be written at a desirable exact track pitch.例文帳に追加
基準APCはトラック・ピッチを決定するものであり、寸法が確定しているマーク411を使用することによって、所望の正確なトラック・ピッチでプロダクト・サーボ・パターンを書き進めることができる。 - 特許庁
The system 10 is aligned by positioning the radiation source 14 and the detector 16 with reference to the map, so that the detector 16 is disposed at a predetermined location within the beam pattern.例文帳に追加
システム10は、マップを基準にして、検出器16がビームパターン内の所定の位置に配置されるように放射線源14及び検出器16を相対的に位置決めすることによって位置合せされる。 - 特許庁
A plurality of normalization images are captured, by using a reference plate at a plurality of different defocus positions, and proper normalization is subtracted from a measuring spectrum of the target pattern, thereby compensating defocus errors.例文帳に追加
複数の異なるデフォーカス位置で基準板を使用して複数の正規化用の像を取り込み、さらにターゲットパターンの測定スペクトルから適切な正規化を引くことによって、デフォーカスエラーは補償される。 - 特許庁
When a decision is made that the all over on switching element is switched from an upper side switching element to an underside switching element, its output voltage pattern alteration timing is set to maximize a triangle reference wave.例文帳に追加
べたオンとなるスイッチング素子が上側のスイッチング素子から下側のスイッチング素子に切り替ると判断すると、その出力電圧パターンの変更タイミングを、三角基準波が最大になるタイミングにする。 - 特許庁
After the bonus is won, referring to the table for the time of winning the bonus in the stop control table group selected according to the reference pattern in accordance with the result of the internal winning to determine the stop position of the reels.例文帳に追加
ボーナス当選後は、参照パターンに従って選択される停止制御テーブル群のボーナス当選時用テーブルを内部抽選の結果に応じて参照してリールの停止位置を決定する。 - 特許庁
To improve workability by facilitating setting of a stand-by film without requiring complicated work of measuring and cutting it to a registration mark C for reference even in a case where it requires pattern matching.例文帳に追加
模様合わせを必要とするフィルムであっても、レジマークCを基準としてフィルムを測長し切断する煩雑な作業を必要とせず、待機用フィルムのセッティングを容易化して作業性の向上を図る。 - 特許庁
The host CPU evaluates the compressibility by software processing from the data obtained from the stored data quantity register 2216 and can update the data in a reference pattern register 2212 for further optimization.例文帳に追加
ホストCPUは、格納データ数レジスタ2216から得られたデータからソフトウェアの処理により圧縮率を評価し、さらに最適化するために参照パターンレジスタ2212のデータを更新することができる。 - 特許庁
To calculate the capacitance of normal wiring without preparing a normal accepted product by providing a reference pattern becoming the criterion of capacitance measurement at the multilayer wiring portion.例文帳に追加
多層配線部に静電容量測定の基準となる基準パターンを設けることで、正常な合格品を準備しなくても、正常な配線の静電容量を正しく計算できるようにする。 - 特許庁
A step of subjecting a semiconductor device pattern used for performing etching on or impurity injection into a photoresist layer, formed on the surface of a silicon wafer 103 to reduction exposure includes the formation of a reference chip.例文帳に追加
シリコンウエハ103表面に形成したフォトレジスト層に、エッチングまたは不純物注入を行うための半導体装置パターンを縮小露光する工程が、基準チップ形成処理を含む。 - 特許庁
In this inspection method of a second bonding point in a wire bonding, where the crescent part of a wire bonded to a pad on a substrate is inspected, the crescent part is detected through matching of the wire with a reference pattern from the image of the bonding point.例文帳に追加
基板のパッドにボンディングされたワイヤのクレセント部を検査するセカンドボンディング点の検査方法において、ボンディング点の画像より基準パターンとのマッチングによりクレセント部を検出する。 - 特許庁
As a result of the comparison, an obstacle is detected on the basis of the matched reference pattern, thereby preventing false detection of an obstacle due to diffused reflection of radio waves caused by weather such as rain.例文帳に追加
そして、比較の結果、一致する基準パタンに基づいて障害物を検知するので、雨などの天候に起因する電波の乱反射による障害物の誤検知を防止することができる。 - 特許庁
The data pattern is reproduced by projecting the second reference light to the optical information recording medium, two-dimensional equalization is performed by using the tap coefficient stored as a learning value (S4, S5).例文帳に追加
続いて、第2の参照光を光情報記録媒体に照射してデータパターンを再生し、学習値として記憶しておいたタップ係数を利用して2次元EQ処理を行う(S4,S5)。 - 特許庁
To obtain a matching processing method considering quantum errors for judging conformity by an appropriate comparison method by automatically generating a reference pattern where errors when using a three-plate type CCD camera is used are considered.例文帳に追加
3板式CCDカメラを用いた場合の誤差を考慮した基準パターンを自動生成して適切な比較の手法で良否を判断できる量子誤差を考慮したマッチング処理方法を得る。 - 特許庁
Next, the device divides the input picture into small areas and retrieve an area having the closest pattern from positional vicinities on the reference picture calculated by the examined correspondence to perform mapping (step A3).例文帳に追加
次に、入力画像を小領域に分割し、調査した対応により算出される基準画像上の位置付近から、もっとも近いパターンを持つ領域を検索して写像する(ステップA3)。 - 特許庁
For readout of a data page contained in a reconstructed object beam 10, a detector 11 detects an interference pattern generated by the interference between the reference beam 2 and the reconstructed object beam 10.例文帳に追加
再生物体光10内に含まれるデータ・ページの読み出しのため、検出器11は、参照光2と再生物体光10との間の干渉によって生成される干渉パターンを検出する。 - 特許庁
A frequency hopping radio communication device 1 includes: a transmitter 11 for transmitting a reference information signal at predetermined intervals with an arbitrary frequency band and in an arbitrary hopping pattern; and a receiver 21 that receives a signal including the hopping pattern, performs discrete Fourier transform on the received signal, detects frequency of the hopping signal, and demodulates the frequency-detected hopping signal to obtain the reference information signal.例文帳に追加
周波数ホッピング無線通信装置1は、一定時間毎に、任意の周波数帯域かつ任意のホッピングパターンで基準情報信号を送信する送信装置11と、ホッピングパターンを含む信号を受信し、受信した信号を離散フーリェ変換してホッピング信号の周波数を検出し、周波数検出したホッピング信号を復調して前記基準情報信号を得る受信装置21とを含む。 - 特許庁
In this image reader, the plurality of LEDs are made to simultaneously emit light toward a shading reference plate, a luminance value pattern corresponding to the arrayed LEDs from a detection result of an optical sensor based on reflected light from the shading reference plate, is obtained, and when a recessed part lower than a first predetermined threshold exists in the luminance value pattern, it is determined that the defect occurs in the LED single article corresponding to the recessed part.例文帳に追加
画像読取装置において、複数のLEDに同時にシェーディング基準板に向けて発光させ、シェーディング基準板からの反射光に基づく光センサの検出結果からアレイ状のLEDに対応した輝度値を取得し、当該輝度値に所定の第1のしきい値より低い凹箇所が存在する場合に、凹箇所に対応したLED単品に異常が発生していると判定する。 - 特許庁
After forming one reference test pattern image expressed in a different gradation expression from the gradation expression of images formed in a plurality of printing modes carrying out normal printing process on a specified image carrier and detecting the density of the formed reference test pattern image, the density corrected data corresponding to the plurality of printing modes are produced based on the detected density.例文帳に追加
通常の印字処理を行う複数の印刷モードで形成される画像の階調表現とは異なる階調表現で表された一の基準テストパターン像を上記所定の像担持体上に形成し,この形成された上記一の基準テストパターン像の濃度を検知した後に,この検知された濃度に基づいて上記複数の印刷モードに対応する濃度補正データを生成するよう構成される。 - 特許庁
A Pachinko game machine 10 includes a performance determination means 132 that selects one of a plurality of kinds of performance patterns indicating respectively different expectation degrees as the expectation degrees for a jackpot, and that also selects the performance pattern according to reference which is set so as to more frequently select the performance pattern having the relatively higher expectation degree as the number of holding is smaller at the time of pattern determination.例文帳に追加
ぱちんこ遊技機10は、大当りの期待度としてそれぞれ異なる期待度を示す複数種類の演出パターンからいずれかを選択するとともに、そのパターン決定時点での保留数が少ないほど高頻度で相対的に期待度の高い演出パターンが選択されるよう定められた基準にしたがって演出パターンを選択する演出決定手段132を備える。 - 特許庁
An expected value generation circuit 22 generates an expected value pattern on the basis of output patterns of the reference semiconductor integrated circuits 32A, 32B, and 32C, and a determination circuit 24 compares the expected value pattern generated by the expected value generation circuit 22 with an output pattern of the semiconductor integrated circuit 34 to be tested to determine whether the semiconductor integrated circuit 34 to be tested passes or fails the test.例文帳に追加
期待値生成回路22で、基準の半導体集積回路32A、32B、32Cの出力パターンに基づいて期待値パターンを生成し、判定回路24で、期待値生成回路22で生成された期待値パターンとテスト対象の半導体集積回路34の出力パターンとを比較することにより、テスト対象の半導体集積回路34のパス/フェイル判定を行う。 - 特許庁
When the information peculiar to the individual is inputted to an individual information input part 501, a modulation pattern of the phase of the reference light is prepared by a phase modulation pattern encoder 502 based on the information inputted from the individual information input part 501, the information of the generated modulation pattern is given to the phase space modulator at information recording and the phase space modulator is driven.例文帳に追加
個人情報入力部501に対して、個人の固有の情報を入力すると、位相変調パターンエンコーダ502は、個人情報入力部501より入力された情報に基づいて、参照光の位相の変調パターンを作成し、情報の記録時に、位相空間変調器に対して、作成した変調パターンの情報を与えて、位相空間変調器を駆動する。 - 特許庁
When dividing or merging elements while using an error index and a reference value, in addition to an isotropic dividing pattern for dividing all edges as divided patterns or auxiliary dividing pattern for allowing undevided edges, a similar dividing pattern is used for a prism element and a hexahedron element for providing an element form similar to the undivided element by bisecting a rectangular interface.例文帳に追加
誤差指標と基準値とを用いて要素を分割または統合する際に、分割パターンとして全てのエッジが分割される等方的分割パターンや分割されないエッジを許容する補助的分割パターンの他に、プリズム要素と六面体要素に対しては四辺形界面を二等分して分割前の要素と相似的な要素形状を得る相似的分割パターンを用いる。 - 特許庁
When a control signal transmitted from a first base station 11 is subjected to random assignment in a subcarrier assignment pattern according to a signal pattern of a preamble signal; a rearrangement section 240 rearranges control signals received by a receiving section 220, on the basis of the subcarrier assignment pattern of the control signals, determined with reference to a storage section 210 by a determination section 230.例文帳に追加
第1基地局11から送信された制御信号がプリアンブル信号の信号パターンに応じたサブキャリア割り当てパターンによってランダムに割り当てられている場合に、並び替え部240は、判断部230が記憶部210を参照して判断した制御信号のサブキャリア並び替えパターンに基づいて、受信部220が受信した制御信号を並び替える。 - 特許庁
To provide an auto focus (AF) system capable of setting a range for capturing a reference pattern image in pattern matching to an appropriate range by extracting the image of a target subject by the extraction of a difference between the photographing images of front and rear frames in an automatic follow-up function for following the target subject brought into focus by AF on an image plane by the pattern matching.例文帳に追加
オートフォーカス(AF)によりピントを合わせる対象被写体をパターンマッチングにより画面上で追尾する自動追尾機能において、前後フレームの撮影画像の差分抽出によって対象被写体の画像を抽出することによってパターンマッチングにおける基準パターン画像の取込範囲を適切な範囲に設定することができるオートフォーカスシステムを提供する。 - 特許庁
With a time shortening flag on, when the frequency of executing a special pattern game as counted by a variable display frequency counter reaches a prescribed reference value for ending the time shortening mode, the time shortening flag is cleared off when the variable display of the special figures regarded as reaching the prescribed reference value for ending the time shortening mode is started.例文帳に追加
時短中フラグがオンである場合に、可変表示回数カウンタによってカウントされた特図ゲームの実行回数が所定の時短終了基準値に達したときには、所定の時短終了基準値に達した特別図柄の可変表示を開始するときに時短中フラグをクリアしてオフ状態とする。 - 特許庁
A triplet pattern with the most functionality with an object block is extracted based on the difference calculation of a pixel value from the object block and the reference block from 68 triplet patterns constituted of three representative points 221a, 221b, and 221c in a searching range 232 provided in a reference frame image.例文帳に追加
参照フレーム画像内に設けられた探索範囲232内の3つの代表点221a、221b、221cから構成された68個のトリプレットパターンの中から、対象ブロックと参照ブロックとの画素値の差分演算に基づいて、対象ブロックと最も相関性の高いトリプレットパターンを抽出する。 - 特許庁
This manufacturing method comprises a process to deposit a thin film 12 on the surface of a base material 11, a process to form an exposing position reference mark 21 having the particular shape on the thin film, a process to form a resist layer 13 on the thin film and exposing position reference mark and a process to execute pattern exposure of the resist layer using an electron beam drawing apparatus.例文帳に追加
基体11の表面に薄膜12を堆積する工程と、薄膜上に特定の形状を有する露光位置参照マーク21を形成する工程と、薄膜及び露光位置参照マーク上にレジスト層13を形成する工程と、レジスト層を電子ビーム描画装置を用いてパターン露光を行う工程とを有する。 - 特許庁
The pattern width (L1) of a formed reference patch and a detection time (A) when reading the reference patch when assuming that an LED head 40 and a joint default position completely coincide with each other, are compared to specify the amount of discrepancy in a main scanning direction of one LED head 40 and an image position detector 64.例文帳に追加
形成した基準パッチのパターン幅(L1)と、LEDヘッド40とつなぎ目デフォルト位置とが完全に一致していると仮定した場合に基準パッチを読取ったときの検出時間(A)と、を比較して、一つのLEDヘッド40と画像位置検出器64との主走査方向のずれ量を特定する。 - 特許庁
When a pattern is drawn along concentric tracks on a substrate, an electron beam is blanked by using a first clock signal generated based on a first reference angle in a first region in a sector, while in a second region in the sector, the electron beam is blanked by using a second clock signal generated based on a reference length.例文帳に追加
基板上の同心円トラックに沿ってパターンを描画する際に、セクタ内の第1領域内では、第1基準角度に基づいて生成された第1クロック信号を用いて電子線をブランキングさせ、セクタ内の第2領域内では、基準長さに基づいて生成された第2クロック信号を用いて電子線をブランキングさせる。 - 特許庁
The immersion lithography apparatus is constituted so that the pattern of an original plate is projected on a substrate through a projection optical system and a liquid so as to expose the substrate, and includes a substrate reference plate arranged on a substrate stage to hold the substrate, and a drive portion to drive a field stop which restricts a measuring light irradiated to the substrate reference plate.例文帳に追加
液浸露光装置は、原版のパターンを投影光学系および液体を介して基板に投影して該基板を露光するように構成され、基板を保持する基板ステージに配置された基板基準プレートと、前記基板基準プレートに照射される計測光を制限する視野絞りを駆動する駆動部とを備える。 - 特許庁
To provide a micro bead automatic identification method which includes the step of acquiring an image of a circular surface of the cylindrical micro bead having the identification pattern and a plurality of reference points formed on the circular surface and the step of acquiring information about both sides and/or tilting of the micro bead based on the positions of the reference points in the acquired image.例文帳に追加
識別パターンと複数の基準点を円形面に形成した円柱形のマイクロビーズの円形面の画像を取得するステップと、取得された画像において、基準点の位置に基づき、マイクロビーズの裏表及び/又は傾きに関する情報を取得するステップと、を含むマイクロビーズ自動識別方法を提供する。 - 特許庁
This micro-bead automatic identifying method comprises a step of acquiring an image of a circular surface of the cylindrical micro-bead having the identification pattern and a plurality of reference points formed on the circular surface, and a step of acquiring information about both sides and/or tilting of the micro-bead based on the positions of the reference points in the acquired image.例文帳に追加
識別パターンと複数の基準点を円形面に形成した円柱形のマイクロビーズの円形面の画像を取得するステップと、取得された画像において、基準点の位置に基づき、マイクロビーズの裏表及び/又は傾きに関する情報を取得するステップと、を含むマイクロビーズ自動識別方法を提供する。 - 特許庁
An image of an object and a calibration image are inputted (S1), deformation in code portions of the inputted images due to projection distortion is removed (S2), then the screen coordinates of a reference point are obtained, and internal parameter calculation (S4) of the camera is performed, based on a previously inputted code pattern and on the world coordinate data of the reference point.例文帳に追加
対象物画像とキャリブレーション画像を入力S1し、投影歪による入力画像のコード部分の変形を除去S2した後、参照点の画面座標を取得し、予め入力されたコードパターンと参照点の世界座標情報に基づいて、カメラ内部のパラメータ計算S4を行う。 - 特許庁
The receive signal level of the electric wave transmitted from the radio tag 3 and a reference signal level stored in the radio communication system main unit 13 are compared, and a power feeding pattern to the first to third antenna units 10A, 10B, 11A, 11B, 12A, and 12B is so changed that the receive signal level becomes larger than the reference signal level.例文帳に追加
無線タグ3から送信された電波の受信信号レベルと無線通信装置本体13に記憶されている基準信号レベルとを比較し、受信信号レベルが基準信号レベルより大きくなるように第1〜第3のアンテナ部10A,10Bと、11A,11Bと、12A,12Bへの給電パターンを変える。 - 特許庁
To provide an image forming device where plural reference toner patterns of specified colors are formed on the specified surface of a member moving in a specified direction and the density of each reference toner pattern is detected by a sensor, in which an image interval is shortened and whose image forming speed is high.例文帳に追加
所定方向に移動する部材所定面上に複数の所定色の基準トナーパターンが形成され、各基準トナーパターンの濃度がセンサにより検出される画像形成装置であって、従来より像間隔を短くでき、それだけ従来より画像形成スピードの速い画像形成装置を提供する。 - 特許庁
A picked up image is smoothed to generate a reference image with the repeating pattern part as an object, an image obtained by fetching only a steep variable density change part with density nonuniformity eliminated is extracted by comparing the picked up image with the reference image, and the lightness value of the extracted image is binarized to decide the existence/ absence of a defective part.例文帳に追加
繰り返しパターン部を対象に、撮像画像を平滑化して基準画像を生成し、撮像画像と基準画像を比較することにより、濃淡ムラを排除した急峻な濃淡変化部のみを取り出した画像を抽出し、その抽出画像の明度値を2値化して不良部の有無を判定する。 - 特許庁
Each patch is constituted of a plurality of lines formed by putting line images Bk in black being a reference color and line images C in a color other than the reference color, for example, cyan, one over the other, and an alignment pattern Pm is constituted by continuously forming patches of which the relative positional relations between line images in two colors are shifted from one another by an arbitrary amount.例文帳に追加
位置合わせパターンPmは、基準色である黒のライン像Bkと該基準色以外の色、例えばシアンのライン像Cとを重ねて形成された複数ラインを1つのパッチとし、2色のライン像の相対的位置関係を任意量ずつずらしたパッチを連続的に形成して構成されている。 - 特許庁
To provide an image reader capable of improving detection precision at a reference position in the image reader for detecting a reference position in a vertical scanning direction, by detecting an image pattern for position detection irradiated with light from a light source, and to provide an image-forming device using such an image reader.例文帳に追加
光源によって光が照射された位置検出用画像パターンを検出することにより副走査方向の基準位置を検出する画像読取装置において、基準位置の検出精度を向上することができる画像読取装置、及びこのような画像読取装置を用いた画像形成装置を提供する。 - 特許庁
A pattern memory 43 stores in advance, in an address assigned to each of possible values that each of fields of a section header can have, reference data which indicate that the possible value is coincidence with the detection condition ("coincidence") or reference data which indicate that the possible value is noncoincidence with the detection condition ("noncoincidence").例文帳に追加
パターンメモリ43には、セクションヘッダの各フィールドがとりうる値の各々に対応づけられたアドレスに、当該とりうる値が一致検出条件に一致すること(「一致」)を示す参照データまたは当該とりうる値が一致検出条件に一致しないこと(「不一致」)を示す参照データがあらかじめ記憶されている。 - 特許庁
To provide a video signal processing apparatus which displays on a display picture, a video signal processed by two video signal processing circuits which are driven respectively synchronously with a reference clock and a multiplied clock with a frequency obtained by multiplying the frequency of the reference clock, without causing a recognizable fixed pattern noise on the display picture.例文帳に追加
基準クロックとその基準クロックの周波数に対して逓倍の周波数の逓倍クロックにそれぞれ同期して動作する2つの映像信号処理回路で処理された映像信号を表示画面上に表示したとき表示画面上に固定パターンノイズが認められない映像信号処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide an image reader which detects a reference position in a sub-scanning direction by detecting an image pattern for position detection irradiated with light by a light source, the image reader being capable of improving detection precision of the reference position; and to provide an image forming apparatus using the image reader.例文帳に追加
光源によって光が照射された位置検出用画像パターンを検出することにより副走査方向の基準位置を検出する画像読取装置において、基準位置の検出精度を向上することができる画像読取装置、及びこのような画像読取装置を用いた画像形成装置を提供する。 - 特許庁
The hologram lens manufacturing apparatus 1 irradiates the hologram recording element with the reference light beam L1 at a given incident angle as a predetermined irradiation condition to thereby record an interference pattern occurring between the irradiation light beam L2 and the reference light beam as a hologram.例文帳に追加
またホログラムレンズ作製装置1は、ホログラム記録素子15aに対して所定の照射条件である入射角度でホログラム記録素子15aに参照光ビームL1を照射することにより照射光ビームL2及び参照光ビームL1による干渉パターンをホログラムとして記録するようにする。 - 特許庁
This optical information recording is provided with a recording optical system which irradiates an information recording layer from the same surface side with object light and recording reference light so that the information is recorded on the information recording layer with an interference pattern formed by the interference of the object light and the recording reference light.例文帳に追加
本発明による光情報記録装置は、情報記録層に物体光と記録用参照光との干渉による干渉パターンによって情報が記録されるように、物体光と記録用参照光とを、情報記録層に対して同一面側より照射する記録光学系を備える。 - 特許庁
An image data selection part 12 selects the image data before the compression in the case that the number of the matching image parts is equal to or more than a predetermined reference number and selects the image data after the compression in the case that the number of the matching image parts is less than the reference number based on the detected result of the pixel pattern detection part 8.例文帳に追加
画像データ選択部12は、画素パターン検出部8の検出結果に基づき、前記一致する画像部分の数が予め定める基準数以上である場合、圧縮前の画像データを選択し、前記一致する画像部分の数が前記基準数未満である場合、圧縮後の画像データを選択する。 - 特許庁
This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加
干渉計10は、ソースビーム14を試験ビーム40及び基準ビーム42に分割するビームスプリッタ32と、干渉パターンを検出する結像デバイス24と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー38と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー44と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構34と、を含む。 - 特許庁
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