「relation test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A response waveform calculation processing part 45 of the excitation controller 4 calculates relation between a characteristic frequency and the maximum amplitude of the test object 13 to a command waveform.例文帳に追加

加振制御装置４の応答波形計算処理部４５は、指令波形に対する被試験体１３の固有振動数と最大振幅の関係を演算する。 - 特許庁

To provide a tire noise test method which facilitates the sensory evaluation of a car interior noise component being an evaluation target, in relation to car interior noise.例文帳に追加

車内騒音において、評価対象とする車内騒音成分を官能評価し易くすることが可能なタイヤ騒音試験方法を提供する。 - 特許庁

A general memory test program can be used for memory testing, even when the internal memory configuration is different by memory (i.e., when the correspondence relation between a program address specified by the test program and internal physical address are different from each other) by inputting the correspondence relation for each memory from the outside.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

Thus, correspondence data CD for specifying a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI over the whole printer gamuts and a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI on which a variation characteristic of the graininess index GI in accordance with variations in the ink amount is reflected can be obtained.例文帳に追加

これにより、プリンタガマットの全域にわたる各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係であり、かつ、インク量の変動に応じた粒状性指数ＧＩの変動特性が反映された各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係を規定した対応データＣＤを得ることができる。 - 特許庁

On the other hand, a relation between a load P and a depth h is determined by an indentor indentation test using each conical indentor, and an indentation load coefficient C and a composite Young's modulus E^* are determined therefrom, and further a representative stress σ_r is determined from the dimensionless relation.例文帳に追加

一方、各円錐圧子を用いた圧子押込み試験により、荷重Ｐと深さｈの関係を求め、これから、押込み荷重係数Ｃおよび複合ヤング率Ｅ^＊を求め、さらに無次元関係から代表応力σ_ｒを求める。 - 特許庁

The test system 100 is equipped with a module setting file 130 for setting a connection relation between the modules 108, and the test system 100 generates the deliverer 150 based on a content specified in the module setting file 130.例文帳に追加

また、この試験システム１００は、モジュール１０８の接続関係を設定するためのモジュール設定ファイル１３０を備え、試験システム１００は、モジュール設定ファイル１３０に規定された内容に基づいて、配送器１５０を生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

From a graph showing a relation between the test temperature and the W or L shrinkage factor, a test temperature corresponding to a change point S1 at which the gradient of the shrinkage abruptly varies is determined as a temperature close to the optimum sintering temperature.例文帳に追加

試験温度とＷ収縮率またはＬ収縮率との関係を示すグラフから、収縮率の傾きが急に変化する変化点Ｓ１に対応する試験温度を、最適な焼成温度の近傍として決定する。 - 特許庁

To easily make clear a mutual relation among a printed circuit board, a test jig and a tester pin number to facilitate trouble analysis for the printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板と、テスト治具と、テスタピン番号の相互関係を容易に明確にすることによりプリント回路基板の故障解析を容易に行うことを目的とする。 - 特許庁

To adjust a positional relation between an aperture member and a modulator to gain superior contrast, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材とモジュレータとの位置関係を調整し良好なコントラストを得ることを目的とする。 - 特許庁

The processing up to the formation of the cumulated probability distribution is repeated by sequentially changing the number to form a graph showing the relation between the test number and necessary life difference (J25).例文帳に追加

個数を順次変えて、上記累積確率分布作成までの処理を繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する（Ｊ２５）。 - 特許庁

To provide a test signal generating apparatus capable of ensuring a degree of freedom in changing the mutual relation of levels or frequencies among a plurality of signals in relatively inexpensive configuration.例文帳に追加

比較的安価な構成で、複数信号相互間のレベルや周波数の関係を変更する自由度が確保できるテスト信号発生装置を提供すること。 - 特許庁

A relation between the message character string 16 and a keyword 17 corresponding to the test content meant by the message character string 16 is stored in a keyword corresponding table 15.例文帳に追加

キーワード対応テーブル１５内には、メッセージ文字列１６とこのメッセージ文字列１６が意味する試験内容に対応するキーワード１７との関係が記憶されている。 - 特許庁

To provide a method for composing a securely actuating test unit that is optimized with relation to mass production by continuously developing methods and products in known technology.例文帳に追加

従来技術で知られている方法および製品を引き続き開発し、大量生産に関して最適化された確実に作動するテストユニットの構成方法を提示する。 - 特許庁

The relation between the strain gradient and the deformation limit is acquired by a hole-enlarging experiment while variously changing an initial hole diameter and the shape of a punch in a hole-enlarging test method.例文帳に追加

ひずみ勾配と変形限界量の関係は、穴広げ試験方法において、初期穴径およびポンチ形状を種々変えて、穴広げ実験を行うことにより得られる。 - 特許庁

On the basis of relation between a result of "0" margin test and writing data DI, the writing data DI are inverted by write data inversion sections 36 and written into the memory cells 1.例文帳に追加

“０”マージンテストの結果と、書き込みデータＤＩとの関係に基づいて、書き込みデータＤＩを書き込みデータ反転部３６で反転させてメモリセル１に書き込む。 - 特許庁

The distance data regarding the test chart projected in the pickup image are treated as evaluation samples, and a histogram showing the relation between the distance value of the evaluation sample and its appearance frequency is produced.例文帳に追加

撮像画像に映し出されたテストチャートに関する距離データを評価サンプルとし、この評価サンプルの距離値と出現度数との関係を示したヒストグラムを生成する。 - 特許庁

A controller 6 generates a map indicating positional relation of a plurality of domains on a test object, for which a predefined pattern is formed, according to predetermined conditions.例文帳に追加

制御部６は、所定のパターンが形成された検査対象物上の複数の領域の位置関係を示すマップを、予め設定された条件に従って生成する。 - 特許庁

When the code error rate measuring apparatus 10 conducts a code error rate measurement test of an object 13 to be measured, the error detector 12 outputs the control signal on the basis of a result of bit error detection and automatically adjusts the amplitude of the test data signal, an offset voltage, and a phase relation between the test data signal and the clock signal.例文帳に追加

符号誤り率測定装置１０は、被測定物１３の符号誤り率測定試験に際して、エラー検出器１２は、ビットエラーの検出結果に基づいた制御信号を出力し、テストデータ信号の振幅及びオフセット電圧、並びに、テストデータ信号とクロック信号との位相関係を自動調整する。 - 特許庁

To provide a supplementary test tool that makes it possible for any- body to easily test the function of sending and receiving ultrasonic waves of an ultrasonic probe with a plurality of arranged ultrasonic oscillators in relation to a supplementary test tool of supporting the test of the functions of sending and receiving ultrasonic waves of a ultrasonic probe having the plurality of arranged ultrasonic oscillators.例文帳に追加

配列された複数の超音波振動子を有する超音波プローブの、その配列された複数の超音波振動子の超音波送受信機能の試験を補助する試験補助治具に関し、超音波プローブの、配列された複数の超音波振動子の超音波送受信機能の試験が誰にでも簡単に行うことができるよう、その試験を補助する試験補助治具を提供する。 - 特許庁

To provide a method for simply evaluating a moisture retaining property in high reproducibility in relation to cosmetics, articles for daily use, pharmaceuticals, textile finishing products such as clothing etc., exhibiting a moisture retaining property in an in vitro test corresponding to the evaluation test result of human moisture retaining property.例文帳に追加

人の保湿性評価試験結果と対応が取れるin vitro試験にて、保湿性効能を示す化粧品、日用品、医薬品、衣料品などの繊維加工製品に関する、簡便で再現性の高い保湿性評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus in which generation of a vector pattern for VPG from an ALPG side can be controlled in real time and the generation of a pattern can be controlled with a synchronous relation, in a semiconductor test device provided with ALPG and VPG.例文帳に追加

ＡＬＰＧとＶＰＧとを備える半導体試験装置において、ＡＬＰＧ側からＶＰＧに対するベクタパターンの発生制御がリアルタイムに、且つ同期した関係でパターン発生の制御が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Information showing the relation between vibration acceleration generated to a vibrating roller when rolling a test material by the vibrating roller, and the internal friction angle ϕ, water content w and density of the test material corresponding to the vibration acceleration is acquired beforehand (S1-S3).例文帳に追加

予め振動ローラで試験用材料を転圧するときに振動ローラに発生する振動加速度と、振動加速度に対応する試験用材料の内部摩擦角φや含水比ｗ、密度との関係を示す情報を取得する（Ｓ１〜Ｓ３）。 - 特許庁

To provide an automatic titrator capable of determining an equivalence point by using the optimum sensor to a test liquid, and grasping easily a correspondence relation of titration data based on a different physical quantity or chemical quantity relative to the same test liquid.例文帳に追加

被検液に最適なセンサを用いて当量点を求めることができるとともに、同一の被検液に対して、異なる物理量又は化学量に基づく滴定データの対応関係を容易に把握することができる自動滴定装置を提供する。 - 特許庁

A test circuit is coupled to sense a first current flowing through the first sense resistor and a second current flowing through the second sense resistor and to generate a test signal responsively to a relation between the first and second currents.例文帳に追加

テスト回路が、第１の検出抵抗器を流れる第１の電流および第２の検出抵抗器を流れる第２の電流を検出するように接続され、第１の電流と第２の電流との間の関係に応答してテスト信号を生成する。 - 特許庁

If the transmission state is deteriorated to a degree such that it cannot be recovered through error correction, (that is, the signal level L is in the relation L1<L<L2) (test block 304), the receiver receives a signal sent from the diversity antenna and applies diversity demodulation to the signal (test block 305).例文帳に追加

もし、エラー訂正により修復不可能な程度に伝送状況が悪い場合は、（つまり、信号レベルＬがＬ１＜Ｌ＜Ｌ２の場合）（テストブロック３０４）、受信装置は、ダイバーシティーアンテナから送信された信号を受け取り、ダイバーシティー復調をおこなう（テストブロック３０５）。 - 特許庁

To reduce the number of components, to simplify a manufacturing process and to improve reliability in relation to a contactor for a semiconductor device test that provides electrical contacts for a semiconductor device, its manufacturing method and a carrier for a semiconductor device test.例文帳に追加

本発明は半導体装置に対して電気的にコンタクトを得る半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法及び半導体装置試験用キャリアに関し、部品点数の削減，製造工程の簡単化，及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁

Also, the contents of change of the design documents showing the relation between the contents of the tests and troubles, the troubles, and the contents of the design for products thereby and test documents and program are managed in association with each other in the test stages of the development of the software.例文帳に追加

また、ソフトウェア開発の試験段階において試験内容と障害の関係及び障害とそれによる生産物となる設計内容を示す設計ドキュメント、試験内容を示す試験ドキュメント及びプログラムの変更内容を連携して管理する。 - 特許庁

The position-classified threshold value determination part 53 searches the threshold value storage part 47 based on information about the body thickness of the test subject acquired by the body thickness information acquisition part 52 to determines relation between the position on the top plate and the threshold value according to the body thickness of the test subject.例文帳に追加

位置別閾値決定部５３は、体厚情報取得部５２により取得された被検体の体厚の情報にもとづいて閾値記憶部４７を検索することにより、被検体の体厚に応じて天板上の位置と閾値との関係を決定する。 - 特許庁

Then, a test data generation unit generates test data for each data item according to at least one of the attribute indicated by the data type acquired by the database information acquisition unit or the screen information acquisition unit and the reference relation indicated by the reference information acquired by the database information acquisition unit.例文帳に追加

そして、テストデータ生成部が、データの項目ごとに、データベース情報取得部又は画面情報取得部によって取得されたデータ種別の属性及び参照情報の参照関係のうち少なくとも一方に応じたテストデータを生成する。 - 特許庁

To provide improvement method for physical capabilities by which persons (living body) who do not understand well the information value of each item can recognize numerical balance between each test item of biological magnetism and the relation between each test item and physical capabilities.例文帳に追加

生体磁場の各検査項目間の数値バランスの良否及び各検査項目と運動能力の関係を、各項目の情報値に対する理解が十分でない人（生体）についても認識させることができる運動能力の改善方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.例文帳に追加

命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

General information regarding the SUT, and/or the component with possibility of the SUT, and/or the test applicable to the SUT, and/or relation among them is described in the static information.例文帳に追加

静的情報は、SUT、及び/又は、SUTの可能性のある構成要素、及び/又は、SUTに適用可能なテスト、及び/又は、それらの間の関係に関する一般的な情報を記述するものである。 - 特許庁

A test computer 51 determines a set value of write current as a function of temperature for every head element section 12 from relation with write current and error rate.例文帳に追加

本発明の一実施形態において、テスト・コンピュータ５１は、ライト電流とエラー・レートとの関係から、ヘッド素子部１２ごとに温度の関数としてのライト電流の設定値を決定する。 - 特許庁

Concerning each conical indentor, a dimensionless relation between (C/σ_r) and (E^*/σ_r) and a representative distortion ε_r determined univocally are determined by simulation of an indentor indentation test.例文帳に追加

各円錐圧子について、圧子押込み試験のシミュレーションにより、（Ｃ／σ_ｒ）と（Ｅ^＊／σ_ｒ）の無次元関係とこの関係が一義的に求められる代表ひずみε_ｒを求める。 - 特許庁

To provide a static electrification testing device that can test the relation between electric charges and electrostatic breakdowns, by intentionally electrostatically charging a device and controlling the electric charges.例文帳に追加

意図的にデバイスを帯電させ、また、その帯電量の制御を行なうことができて、帯電量と静電気破壊との関係を試験することができる静電気帯電試験装置を提供する。 - 特許庁

A β-C1 error characteristic derivation part 203 finds the relation between β values by recording speeds and C1 error values from the β values and C1 error values detected through test recording.例文帳に追加

β−Ｃ１エラー特性導出部２０３は、テスト記録の結果により検出されたβ値とＣ１エラー値から複数の記録速度毎のβ値とＣ１エラー値との関係を求める。 - 特許庁

To provide a test system wherein a module control driver or the like can specify a resource definition of a slave module including a relation between a resource and a port number, in module control of a mater-slave system.例文帳に追加

マスタ・スレーブ方式のモジュール制御において、モジュール制御ドライバ等が、リソースとポート番号との関係を含むスレーブ・モジュールのリソース定義を特定可能な試験システムを提供する。 - 特許庁

Displacement of the measuring surface can be determined by measuring ΔX, by determining beforehand a relation between displacement of the measuring surface 20a and ΔX by a calibration test piece or the like.例文帳に追加

あらかじめ被測定面20aの変位とΔＸの関係を校正試験片などによって求めておけば、ΔＸを計測することにより被測定面の変位を求めることができる。 - 特許庁

To acquire highly-reliable test result efficiently in a time and a cost, when testing the relation between irradiance and aging deterioration of a sample in a weather/light resistance testing device.例文帳に追加

耐候光試験装置において、放射照度と、試料の老劣化の関係を試験する場合に、時間的、費用的に効率よく、しかも信頼性の高い試験結果を得られるようにすること。 - 特許庁

A pattern generation part 5 generates information on the relation of input/output signals required for generating test data based on information on a function description stored in the component database 4.例文帳に追加

パターン生成部５はコンポーネントデータベース４に格納された機能記述に関する情報を元に、テストデータ生成に必要な入出力信号の関係等の情報を生成する。 - 特許庁

The correction part 54 forms, when the number of specific test man-hour is two or more, information showing a relation between independent variable and slave variable for a correction function.例文帳に追加

信頼度成長曲線補正部５４は、特定テスト工数の数が２個以上の場合、矯正関数についての独立変数と従属変数との関係を表す情報を作成する。 - 特許庁

So far, in relation to the test method for evaluation of performance of photocatalyst through the use of ultraviolet light, ten draft international standards submitted by Japan have been adopted, and one of them has come into effect as an international standard.例文帳に追加

現在、紫外光による光触媒性能試験方法について、10件の日本提案の国際規格案が採択され、そのうち1件が国際規格として発効している。 - 経済産業省

The rubber friction tester 10 includes a measuring device 16 attached with a rubber test piece p, an ice board 15 with a road surface consisting of ice contacting a surface of the rubber test piece p and relatively moving in relation to the rubber test piece p, and a temperature control device having a Peltier element 19 attached to an ice board frame 15a containing the ice of the ice board 15.例文帳に追加

ゴム摩擦試験機１０は、ゴム試験片ｐを取り付けた計測装置１６と、このゴム試験片ｐの表面に接触する氷からなる路面を備えてゴム試験片ｐに対して相対移動する氷盤１５と、氷盤１５の氷を収容する氷盤枠１５ａに取り付けたペルチェ素子１９を有する温度調整装置とを備える。 - 特許庁

To obtain a reliability growth model decided at an initial stage of a test process in a software test process evaluation system using a reliability growth model obtained by modeling a relation between evaluation quantity to software of an evaluation object and a fault discovered for the evaluation quantity.例文帳に追加

評価対象のソフトウェアに対する評価の量とその評価量に対して発見される障害の関係をモデル化した信頼度成長モデルを用いるソフトウェアのテストプロセス評価方式において、テストプロセスの初期段階で確定した信頼度成長モデルが得られるようにする。 - 特許庁