「relation test」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To suppress evaluation dispersions, while shortening an evaluation test time by employing constitution, which determines and evaluates, for example, the life time of a solid lubricant film from the friction torque and the electrical resistance between the solid lubricant film and a test ball, in relation to a device for evaluating a friction life of the film.例文帳に追加

被膜の摩擦寿命評価装置に関し、例えば固体潤滑膜の寿命を固体潤滑膜と試験ボールとの間の摩擦トルク及び電気抵抗から判定評価する構成を採ることで、評価ばらつきを低く抑え、また、評価試験時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

Further, the load-displacement curve obtained by the micro compression test includes a region where the increment Δd μm of the displacement of the sample toner particles and the change ΔP mN in the test force (increment of load) applied on the sample toner particles satisfy the relation of Δd/ΔP≥3.5.例文帳に追加

また、微小圧縮試験により得られた荷重−変位曲線において、試料のトナー粒子の変位の増加量をΔｄμｍとし、試料のトナー粒子に印加される試験力変動（荷重の増加量）をΔＰｍＮとしたときに、Δｄ／ΔＰ≧３．５なる関係の領域が存在する。 - 特許庁

Image 40 of the test print is read out by means of an image reader and density of the image 40 is detected for each pixel, and then a density profile representative of relation of the position a heating element in the main scanning direction M, rotational position of the platen roller 18 and the density of the image 40 of the test print is acquired.例文帳に追加

テストプリントの画像４０を画像読取装置で読み取るとともに、画像４０の画素毎の濃度を検出し、主走査方向Ｍに関する発熱素子の位置、およびプラテンローラ１８の回転位置と、テストプリントの画像４０の濃度との関係を表す濃度プロファイルを取得する。 - 特許庁

To provide a DDR SDRAM in which such a test can easily be performed that whether tDQSQ standard prescribing correlation relation between a strobe signal DQS and a data signal DQ is satisfied or not.例文帳に追加

ストローブ信号ＤＱＳとデータ信号ＤＱとの間の相関関係を規定したｔＤＱＳＱ規格を満足するか否かの試験を容易に行なうことが可能なＤＤＲ ＳＤＲＡＭを提供する。 - 特許庁

A deflection amount is measured when a bending load is applied onto a steel test piece under cooling or heating, and the amount of the transformational plastic strain is found based on a deflection curve showing a relation between a temperature and the deflection amount.例文帳に追加

冷却中または加熱中の鋼材試験片に曲げ荷重を与えたときのたわみ量を測定し、温度とたわみ量の関係を示すたわみ曲線に基づいて変態塑性ひずみを求める。 - 特許庁

The relation between the quantity of the vibration of the rotor in the motor part and the quantity of unbalance of the magnetic force is previously formed into a data base by a test or a simulation, and the quantity of unbalance of the magnetic force is obtained from the data base.例文帳に追加

モータ部でのロータの振れの量と磁力のアンバランス量の関係はあらかじめ実験又はシミュレーションによってデータベース化してあり、このデータベースから磁力のアンバランス量を取得する。 - 特許庁

To efficiently adjust a parameter in matching relation to a change in the capacity of a radiation image detector such as deterioration with the elapse of time by utilizing the evaluation result of a test by a QC phantom performed with respect to the radiation image detector.例文帳に追加

放射線画像検出装置に対し行われるＱＣファントムによる試験の評価結果を利用し、経時劣化等の装置の性能変化に合わせて効率的にパラメータ調整を行う。 - 特許庁

It is preferable further to have a relation in the all combinations that the ratio of the fluidity (sec/g) of the granular fertilizer measured using a funnel type orifice tube having 12 mmϕ diameter based on the fluidity test method (JIS Z 2502) is 0.8-1.3.例文帳に追加

日本工業規格による流動度試験方法（ＪＩＳ Ｚ ２５０２）に基づいて オリフィス径12mmφの漏斗状オリフィス管を用いて測定される、 粒状肥料の流動度（秒／ｇ）の比が、０．８〜１．３。 - 特許庁

Based on the obtained call dependency relation, FU conversion from the old language into a new language and a test of an internal level (a source code level) as to whether the FU is correctly converted or not are performed.例文帳に追加

そして、把握された呼出し依存関係に基づいて、旧言語のＦＵから新言語のＦＵへのＦＵ変換と、正しくＦＵ変換が行われたかどうかの内部レベル（ソースコードレベル）のテストが行われる。 - 特許庁

A comparison data group 72 wherein a relation between a value of the Weibull slope of a test result and a dispersion range of the Weibull slope that can take a prescribed possibility to the value of the Weibull slope is determined is stored in a computer 1.例文帳に追加

コンピュータ１に、試験結果のワイブルスロープの値と、ワイブルスロープの値に対して、所定の確率で取り得るワイブルスロープのばらつきの範囲との関係を定めた比較データ群７２を記憶させておく。 - 特許庁

The timing when the plurality of operation clocks inside the semiconductor integrated circuit have a prescribed phase relation is detected by a phase relation detection circuit, and a trigger signal is outputted, and an input timing of a test pattern, a start timing of the verification program and a comparison timing with the expectation data are used as a relative timing based on a trigger timing.例文帳に追加

半導体集積回路内部の複数の動作クロック１、２が所定の位相関係になるタイミングを位相関係検出回路により検出し、トリガー信号を出力して、試験パターンの入力タイミング、検証プログラムの開始タイミング、期待値データとの比較タイミングを、前記トリガータイミングを基準とした相対タイミングとする。 - 特許庁

From the inputted test result data D, the case classification of the relation between the undamaged time though in which there are different interpretations and the number of undamaged pieces or the number of damaged pieces are performed following to the established standard.例文帳に追加

入力された試験結果データＤから、未破損時間を何時間とするかの解釈で種々異なる、未破損時間と、未破損個数または破損個数との関係の場合分けを設定基準に従って行う。 - 特許庁

When a code block of an input code is altered, a test case is automatically generated, and start priority is computed based upon relation between the altered code block and each code block to be influenced by the alteration.例文帳に追加

入力コードのコード・ブロックが変更されると、テスト・ケースが自動的に生成され、開始優先度が、変更されたコード・ブロックと、変更による影響を受ける各コード・ブロックとの間の関係に基づき計算される。 - 特許庁

An arrangement generation part 17 arranges the input music as an object to be arranged according to the relation among the test piece of a searched-for instance, the arrangement instance of the instance corresponding to it, and the object item of the input music.例文帳に追加

編曲作成部１７は，検索した事例の課題曲とそれに対応する事例の編曲例と入力楽曲とのオブジェクト項間の関係に基づいて編曲対象となる入力楽曲を編曲する。 - 特許庁

When the test is carried out whether a block address and an actual block are in a one-to-one relation, the actual access to a memory cell MC becomes unnecessary in this test process by not holding the information indicating whether the access to the memory cell MC is present or not but holding the information in the latch circuit LT 110 as the access flag.例文帳に追加

ブロックアドレスと実際のブロックとが一対一に対応しているかどうかをテストする際には、メモリセルＭＣにアクセスがあったかどうかの情報を保持するのではなく、このラッチ回路ＬＴ１１０にアクセスフラグとして保持することにより、このテスト工程でメモリセルＭＣに実際にアクセスする必要がなくなる。 - 特許庁

The alignment accuracy is evaluated by: reading alignment marks 60a-60d on a substrate F mounted on an exposure stage 18; recording a plurality of different test patterns with a definite relation among them on the substrate F, taking the alignment marks 60a-60d as the references, with exposure and in repetition; and comparing positions of the test patterns with each other.例文帳に追加

露光ステージ１８に装着された基板Ｆのアラインメントマーク６０ａ〜６０ｄを読み取り、アラインメントマーク６０ａ〜６０ｄを基準として、一定の関係からなる複数の異なるテストパターンを基板Ｆに繰り返し露光記録し、テストパターン同士の位置関係を比較してアラインメントの精度を評価する。 - 特許庁

When the steel sheet is manufactured, the hot-rolled and annealed plate is controlled to have a transition temperature of 60°C or lower in an impact test, and have such a mean crystal grain size D(μm) and Vickers hardness H as to satisfy the relation of D≤4.5×(225-H), in its cross section.例文帳に追加

その製造方法としては、熱延板焼鈍板の衝撃試験における遷移温度が60℃以下であり、熱延板焼鈍板における断面の平均結晶粒径D(μm)とビッカース硬度Hについて、D≦4.5×(225-H)を満足する。 - 特許庁

Phase relation of a sense amplifier activating signal S0N and a word line activating signal RXT is set to different phase from the time of normal operation in a test mode, and margin of timing of read operation and restoring operation can be evaluated.例文帳に追加

センスアンプ活性化信号Ｓ０Ｎとワード線活性化信号ＲＸＴの位相関係をテストモードにおいて通常動作時と異なる位相に設定し、読出動作やリストア動作のタイミングのマージンを評価することができる。 - 特許庁

In the test, displacement (final penetration amount) at the penetration finish time is measured by using a displacement gauge, and the relation between the final penetration amount and the weight of the weight 21 is plotted on a criterion graph, to thereby evaluate the fluidity of the sample 29.例文帳に追加

試験では、変位計を用いて貫入終了時の変位（最終貫入量）を計測し、最終貫入量と錘２１の重量との関係を判断基準のグラフにプロットし、試料２９の流動性の評価を行う。 - 特許庁

The test patterns are read, detection rates and average concentration of embedded additional information in relation to the respective large dot patterns are obtained, and a large dot pattern wherein the values thereof are set in reference ranges and closest to ideal values is determined (S107).例文帳に追加

それらのテストパターンを読み、それぞれの大ドットパターンに関して埋め込まれた付加情報の検出率と平均濃度を求め、それらの値が基準範囲にありかつ理想値に最も近い大ドットパターンを決定する（Ｓ１０７）。 - 特許庁

Consequently, the API test control part 120 displays a candidate API list expressing the API to be the succeeding performance candidate, based on the order data, and determines the input data of the API to be successively performed, based on the relation data.例文帳に追加

これにより、ＡＰＩテスト制御部１２０は、順序データに基づいて次の実行候補となるＡＰＩを表す候補ＡＰＩリストを表示し、更に関連データに基づいて次に実行するＡＰＩの入力データを決定する。 - 特許庁

The first relation is between wettability of a representative hydrophobic silica material and at least first calibration characteristics of the analytical test strip that includes the enzymatic reagent ink, containing the representative hydrophobic silica material.例文帳に追加

第一の関係は、代表的な疎水性シリカ材料の濡れ性と、この代表的な疎水性シリカ材料を含有する酵素試薬インクを含む分析テストストリップの少なくとも第一のキャリブレーション特性との間に存在する。 - 特許庁

To provide an equipment information registration apparatus which registers equipment information in a PON transmission line and registers position information based on measurement data in the equipment information by facilitating identification of a handling relation to measurement data obtained by a test apparatus.例文帳に追加

ＰＯＮ伝送線路における設備情報と、試験装置により得られる測定データの対応関係の特定を容易にし、測定データに基づく位置情報を設備情報に登録する設備情報登録装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining whether a test chicken is avian influenza-resistive or not by elucidating relation between Mx gene type possessed by a chicken individual and the avian influenza-resistivity of the chicken individual and based on the obtained information.例文帳に追加

ニワトリ個体が持つMx遺伝子型と当該ニワトリ個体のトリインフルエンザウイルス抵抗性との関係を明らかにし、得られた知見を基に、被検トリについて、トリインフルエンザウイルス抵抗性か否かの判定方法の提供を課題とする。 - 特許庁

Here, when the mobile phone 80 is held in the posture at the time of reception of the test command by the mobile phone 80, the mobile phone 80 and multifunction printer 10 must be in position relation where they can transmit and receive data to each other.例文帳に追加

ここで、携帯電話８０の姿勢を該携帯電話８０がテストコマンドを受信したときの姿勢に維持すれば、携帯電話８０とマルチファンクションプリンタ１０は互いにデータの送受が可能な位置関係になっているはずである。 - 特許庁

A test point insertion method includes: extracting a plurality of logic cones from a net list; generating an order for the plurality of logic cones based on a connection relation of logic cells in each of the plurality of logic cones; and setting a test point in each of the plurality of logic cones in turn in accordance with the order.例文帳に追加

テストポイント挿入方法は、ネットリストから複数のロジックコーンを抽出する工程と、複数のロジックコーンの各々に示される論理セルの接続関係に基づいて、複数のロジックコーンに対して一の順序を生成する工程と、その順序に従って順に複数のロジックコーンの各々にテストポイントを設定する工程とを備える。 - 特許庁

By driving the speaker by the test signal for sound volume adjusting by an addition signal of a sinusoidal wave of a single frequency set with relation of an integer frequency ratio, and by detecting output from the speaker by an average value of a signal level of each frequency component, the sound volume by the test signal for measurement is set.例文帳に追加

本発明は、周波数が整数比の関係に設定された単一周波数の正弦波信号の加算信号による音量調整用のテスト信号によりスピーカを駆動して、各周波数成分の信号レベルの平均値によりこのスピーカからの出力を検出して計測用のテスト信号による音量を設定する。 - 特許庁

The first invention has a step for recognizing a discrimination mark disposed corresponding to the semiconductor device, a step for determining a test program necessary for inspection of the semiconductor device following correspondence relation set beforehand based on the recognized discrimination mark, and a step for inspecting the semiconductor device based on the determined test program.例文帳に追加

第一の発明では、半導体デバイスに対応して配設されている識別マークを、認識するステップと、当該認識した識別マークに基づいて、予め設定された対応関係に従って、半導体デバイスの検査に必要なテストプログラムを、決定するステップと、当該決定したテストプログラムに基づいて、半導体デバイスを検査するステップとを、備えている。 - 特許庁

The relation between wall thickness and resonant frequency of a test piece consisting of the resin composition satisfies the relationship: resonant frequency (Hz)≥(98.5×wall thickness(mm))+15.例文帳に追加

［成分］（１）ポリプロピレン系樹脂： ６７〜８９重量％（２）酸変性ポリプロピレン系樹脂： １〜３重量％（３）炭素繊維及び黒鉛粉末： １０〜３０重量％［肉厚と共振周波数と関係］共振周波数（Ｈｚ） ≧ （９８．５×肉厚（ｍｍ））＋１５ - 特許庁

To provide an inspection method of an integrated circuit capable of surely testing a logic circuit in a short test time with a simple structure by applying it particularly to an integrated circuit of a large-scale logic circuit, in relation to a scan path circuit, an integrated circuit and an inspection method of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、スキャンパス回路、集積回路及び集積回路の検査方法に関し、特に大規模論理回路の集積回路に適用して、簡易な構成により短いテスト時間で論理回路を確実にテストすることができるようにする。 - 特許庁

By using a compressional-wave velocity obtained by this vibrator sensor, and applying it to a regression curve representing relation between compressional wave velocity and uniaxial compressive strength obtained by an indoor test previously, the uniaxial compressive strength of the improved ground is inferred.例文帳に追加

この振動子センサで得られた粗密波速度を用いて、あらかじめ室内試験により得られた粗密波速度と一軸圧縮強度との関係を示した回帰曲線への当てはめを行って改良地盤の一軸圧縮強度を推定する。 - 特許庁

A test parameter estimation method relating to the present invention has a step to normalize a capability value parameter θ_i, and a step to move a value of θ_i on a variable axis of distribution function while maintaining a magnitude relation so that a distribution of θ_i gets close to a normal distribution.例文帳に追加

本発明に係る試験パラメータ推定方法では、能力値パラメータθ_ｉを正規化することに加え、θ_ｉの分布が正規分布に近づくように、大小関係を維持しつつ、θ_ｉの値を分布関数の変数軸上で移動させる。 - 特許庁

When positional relation between the mark electrodes 24m, 25m and 26m and the rectangular hole 43 is checked after the piezoelectric actuator is laid fixedly onto the cavity plate, positional shift can be detected directly and easily without printing a test pattern.例文帳に追加

このため、圧電アクチュエータをキャビティープレートに積層固定した後、マーク電極２４ｍ，２５ｍ，２６ｍと角孔４３との位置関係を調べれば、テストパターンを印刷しなくても、上記位置ずれ量を容易にかつ直接正確に検出することができる。 - 特許庁

Based on the relation between load output - time characteristics and strain output - time characteristics, the strain output in the strain output - time change characteristics is converted to an actual load, and actual load - time change characteristics in the test piece are calculated.例文帳に追加

この荷重出力−時間特性と歪み出力−時間特性との関係に基づいて、歪み出力−時間変化特性における歪み出力を実荷重に変換し、試験片における実荷重−時間変化特性を算出する。 - 特許庁

Thus, correspondence data CD for specifying a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI can be obtained, and a neural network as the graininess profile 200 is built up by using the correspondence data CD for a teacher signal.例文帳に追加

これにより、各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係を規定した対応データＣＤを得ることができ、同対応データＣＤを教師信号として、粒状性プロファイル２００としてのニューラルネットワークを構築する。 - 特許庁

Operation test assisting environment 100 has an analyzing means 112 for information changing the bind relation of components, a means 113 which operates the components according to the modified information of the bind relation, a means 115 which recognizes computer constitution and generates information regarding the topology of computers, and a means 114 which generates information on components mounted on the computers.例文帳に追加

本発明の運用試験支援環境１００は、コンポーネントのバインド関係を変更する情報の解析手段１１２，バインド関係の変更情報に基づいてコンポーネントを操作する手段１１３，計算機構成を認識し、計算機のトポロジーに関する情報を生成する手段１１５，計算機上に実装されたコンポーネントの情報を生成する手段１１４を有する。 - 特許庁

To accurately determine the relation of the initial template amount between test samples by using a theoretical expression to which an amount equivalent to an amplification amount of measured nucleic acid is fitted as it is and which accurately reflects actual PCR application efficiency.例文帳に追加

測定された核酸の増幅量に相当する量をそのまま当てはめることができ、実際のＰＣＲ増幅効率を正確に反映することができる理論式を用いて、被検試料間の初期鋳型量の関係を正確に決定することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加

本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

When used as the shock test device (b), a cam block 4 for a front wheel and a cam block 5 for a rear wheel are mounted on a drum 1 for the front wheel and a drum 2 for the rear wheel, respectively having a desired phase relation, and a clutch 10 is set in the power transmission state and a motor 7 is rotated.例文帳に追加

ショックテスト装置として用いる場合には（ｂ）、前輪用ドラム１と後輪用ドラム２に前輪用カムブロック４と後輪用カムブロック５をそれぞれ所望の位相関係で装着し、クラッチ１０を動力伝達状態としてモータ７を回転する。 - 特許庁

Based on the test result, the injection angle θ1s can be set closer to the angle θ1 of the axis sidewall surface of the injection hole 11, and combustion efficiency of the injected fuel is improved by constructing a nozzle to satisfy the relation x/L<0.05.例文帳に追加

この試験結果より、本発明はｘ／Ｌ＜０．０５を満たすように構成することで、噴射角θ１ｓを噴孔１１の中心軸側壁面の角度θ１に近づけることができ、ひいては、噴射された燃料の燃焼効率向上を図ることができる。 - 特許庁

In the method, KAM values which indicate the differences in in-crystal orientations in the crystal grains, crystal grain boundaries, etc. of a test material which has consumed its material life time to prepare a master curve which represents the relation between the measured KAM values; the degree of consumption of material lifetimes in a first process.例文帳に追加

本方法によれば、第１工程として材料寿命を消費した試験材料の結晶粒内，結晶粒界等の結晶方位差を示すＫＡＭ値を測定し、これと材料寿命の消費度との関係を表すマスターカーブを作成する。 - 特許庁

To improve a reliability of a test and to securely prevent a damage of a semiconductor device in shipping package in relation to a packaging structure of a cover for semiconductor device, a semiconductor device unit, and the semiconductor device, and a method for protecting the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置用カバー及び半導体装置ユニット及び半導体装置の梱包構造及び半導体装置の保護方法に係り、試験の信頼性を高めると共に出荷包装時における半導体装置の損傷を確実に防止すること。 - 特許庁

To provide a system, a method and a program capable of easily selecting and executing a test scenario to be reused, and simplifying a retesting work even at the time of executing program correction such as enhance or failure correction including the change of the relation of a module.例文帳に追加

エンハンスや不良修正などのプログラム修正に対して、モジュールの関係が変更になるようなプログラムの修正であっても、再利用したいテストシナリオを簡単に選択して実行でき、再テスト作業を簡略化することができるシステム、方法、およびプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

A correction plate 6 is arranged between the measuring lens 1 and the reference spherical reflecting mirror 7, and spherical aberration of a test transmission wavefront acquired by transmission through the measuring lens 1 and the correction plate 6 is measured actually, and the thickness of the correction plate 6 is calculated based on the measured value and the correspondence relation.例文帳に追加

測定用レンズ１と基準球面反射鏡７との間に補正板６を配置し、測定用レンズ１および補正板６を透過してなる被検透過波面の球面収差を実際に測定し、その測定値と上記対応関係とに基づき、補正板６の厚みを算定する。 - 特許庁

To shorten the time required in testing the determination of a semiconductor device testing apparatus, capable of performing capacity evaluation test for detecting specific relation of phase difference, between a clock and data in a semiconductor device which outputs clock synchronized with data.例文帳に追加

データに同期してクロックを出力する半導体デバイスにおいて、クロックとデータの位相差が特定の関係にあることを検出する性能評価試験を実行することができる半導体デバイス試験装置において、この判定を行う試験に要する時間を短縮する。 - 特許庁