「specific defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The defect classification means (36) includes first classification means (50) for identifying a defect image having a specific shape and second classification means (51) for identifying a punctate low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

The defect classification means includes: a first classification means (50) of identifying an image of the defect having a specific shape; and a second classification means (51) of identifying the image of a punctate low-brightness defect and an image of a light-dark brightness defect.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

The defect classifying means includes first classifying means (50) for identifying a defect image having a specific shape, and second classifying means (51) for identifying a punctiform low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING SPECIFIC DEFECT BY INSPECTION MACHINE, AND METHOD OF DETERMINING ROLLER BACK FACE SOIL BY INSPECTION MACHINE例文帳に追加

検査機による特定欠陥判定方法及び検査機によるコロ裏面汚れ判定方法 - 特許庁

The specific hollow fiber membranes (1) are hollow fiber membranes having defect parts in hollow fiber membrane modules.例文帳に追加

特定の中空糸膜(1) は、中空糸膜モジュール中の欠陥部を有する中空糸膜である。 - 特許庁

To provide an MLC display having no defect of a conventional technique or only the low level defect even if the defect is present, simultaneously having extremely high specific resistance value, and based on ECB and VA effects.例文帳に追加

従来技術の欠点を有していないか、または有していても小さい程度のみであり、同時に極めて高い比抵抗値を有する、ＥＣＢおよびＶＡ効果に基づくＭＬＣディスプレイを提供する。 - 特許庁

Further, defect inspection data wherein the defect inspections ensitivity and defect inspection positions are defined for the specific pattern of the mask having a plurality of inspection areas are prepared and photomask inspection is performed according to the data.例文帳に追加

また、複数の検査領域を有するフォトマスクの所定のパターンに対する欠陥検査感度と欠陥検査位置とを定義した欠陥検査データを用意しこのデータに基づいてフォトマスク検査を行う。 - 特許庁

Then a customer is shown that the latent defect of the material is detected at the specific coordinate position.例文帳に追加

次いで、潜在的な材料の欠陥が所定の座標位置において検出されたことをカスタマに示す。 - 特許庁

To discriminate the frequent recurrence of weft insertion defect of a specific weft in a multicolor weft-inserting loom.例文帳に追加

多色緯入れ織機において、特定の緯糸での緯入れ不良の頻発を判別可能とする。 - 特許庁

Next, when the defect is detected based on the defect signal, the signal based on the stored target value is output as the servo control signal when the defect exists at the defect position which has the specific positional relation with the stored defective position.例文帳に追加

次に、欠陥信号に基づいて欠陥が検出されたとき、記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるときに、記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する。 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFYING SPECIFIC RESISTANCE OF OXIDE FILM, METHOD FOR DESIGNING OXYGEN DEFECT STRUCTURE OF THE OXIDE FILM AND PROGRAM FOR SIMULATING SPECIFIC RESISTANCE OF THE OXIDE FILM例文帳に追加

酸化膜の比抵抗を特定する方法、酸化膜の酸素欠陥構造を設計する方法、酸化膜の比抵抗のシミュレーションを行うためのプログラム。 - 特許庁

Coordinates of a specific region on a mask are extracted, and only the specific region is subjected to a defect check process carried out by a checking device by the use of charged particles such as SEM or the like.例文帳に追加

マスクの特定領域の座標を抽出し、その特定領域のみの欠陥検査を、ＳＥＭ等の荷電粒子を利用した検査装置を用いて行う。 - 特許庁

To provide a mechanism for more accurately evaluating an image defect caused by a specific process in an image forming device.例文帳に追加

画像形成装置における特定のプロセスに起因する画像不良をより的確に評価する仕組みを提供する。 - 特許庁

To provide a method enabling identification and enrichment of combination pattern specific to cell and dissolving defect of conventional technique.例文帳に追加

細胞特異的コンビネーションパターンの同定及び富化を可能にし、従来技術の欠点を解消する方法の提供。 - 特許庁

Alternatively, a first detector for the defect detecting inspection and a second detector only for review for observing a specific narrow part detected by the defect detecting inspection are disposed.例文帳に追加

または欠陥検出検査の為の第１の検出器とこの欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位を観察するレビュー専用の第２の検出器とを設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor device along with a defect analyzing method for LSI using the same capable of detecting, at high sensitivity, failure of a contact plug which is specific to the logic circuit of a defect analysis LSI, with the defect analysis LSI having the logic circuit periodically manufactured.例文帳に追加

ロジック回路を有する不良解析用LSIを定期的に製造し、不良解析用LSIのロジック回路特有のコンタクトプラグの不良を、高感度に検出することができる半導体装置及びこれを用いたLSIの不良解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method by which defect caused by refresh operation of a specific address is analyzed repeating refresh operation making the specific address as an object of refresh in a short period.例文帳に追加

特定のアドレスをリフレッシュ対象とするリフレッシュ動作を短期間で繰り返し行いつつ特定アドレスのリフレッシュ動作に伴う不良の解析を行う方法を提供すること。 - 特許庁

Further the market defect analyzing part 223 extracts a specific circuit symbol by the data extracting part (not shown in drawing) on the basis of the defect contents and the processing contents of all of defect records of the radio device X stored in the market defect database 21, and counts the number of circuit symbols by the data counting part.例文帳に追加

更に、市場不良解析部２２３は、市場不良データベース２１に記憶されている無線装置Ｘの全ての不良カルテの不良内容及び処置内容を参照し、その中から特定の回路記号をデータ抽出部（不図示）により抽出し、その回路記号の数をデータ集計部により集計する。 - 特許庁

A determination part 7 determines that the inspection target is a defective product when the number of pixels in the defect candidate land is larger than a specific pixel number, and determines that the inspection target is a good product when the number of pixels in the defect candidate land is smaller than the specific pixel number.例文帳に追加

判定部７は、欠陥候補ランドの画素数が規定画素数以上である場合、検査対象物が不良品であると判定する一方、欠陥候補ランドの画素数が画素数閾値未満である場合、検査対象物が良品であると判定する。 - 特許庁

To perform the subject removal of a weft yarn defect by giving a supplemental impact pulse to the weft yarn at a specific timing in a reverse direction of the sideways beating movement of reeds to remove the weft yarn defect automatically without stopping its operation.例文帳に追加

空気式よこ糸端挿入器を利用して形成されるよこ糸端織込み縁を備えた織物を製造する際、よこ糸欠陥の自動除去運転を支援する処置を講ずる。 - 特許庁

Thereby, a state in which the specific address is included in a refresh object is kept, and defect occurrence cause is analyzed in the state.例文帳に追加

それにより、特定のアドレスがリフレッシュ対象に含まれる状態を維持して、当該状態にて不良発生原因を解析する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER MADE FROM SILICON WITH SPECIFIC DEFECT CHARACTERISTIC AND SEMICONDUCTOR WAFER MADE FROM SILICON WITH THE DEFECTIVE CHARACTERISTIC例文帳に追加

規定の欠陥特性をもつシリコンから成る半導体ウェハの製造方法および該欠陥特性をもつシリコンから成る半導体ウェハ - 特許庁

To internally analyze a cause of a reception defect of a digital broadcast reception device, and to present a specific solution method to a user.例文帳に追加

デジタル放送受信装置の受信不良の原因を内部で解析して具体的な解決方法をユーザに提示できるようにする。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device wherein a specific resistance value is improved and a display defect ratio generated by the decrease of the specific resistance value is decreased by reducing the content of water dissolved in a liquid crystal material.例文帳に追加

液晶材料中に溶解する水分量の低減により、比抵抗値向上と比抵抗値低下に付随して発生する表示不良率を低減した液晶表示装置の提供。 - 特許庁

The detected image which is defective is expanded by a specific number of pixels and further contracted to connect defects and erase an isolated defect.例文帳に追加

欠陥した検出画像を所定画素数膨張させ、更に縮小させることによって欠陥の連結，孤立欠陥の消去を行う。 - 特許庁

In this case, any defect which can not be classified by the core classifier or the specific adaptive classifiers can be classified by a complete classifier.例文帳に追加

コア分級機又は特定の適用可能な分級機によって分類されることができない欠陥は完全な分級機により分類される。 - 特許庁

To reduce a cost for radiographing the specific area, and to obtain a stable image causing no defect of an image of a boundary part of lens units.例文帳に追加

一定面積を撮影するためのコストが低く、かつレンズユニットの境界部の画像欠落がなく安定した画像を得ることができる。 - 特許庁

A market defect analyzing part 223 extracts a specific keyword from a data extracting part (not shown in drawing) on the basis of defect causes or processing contents of all of defect records of a radio device X stored in the market defect database 21, when analyzing conditions are designated, and the number of the keywords are counted by a data counting part (not shown in drawing).例文帳に追加

市場不良解析部２２３は、解析条件が指定されると、市場不良データベース２１に記憶されている無線装置Ｘの全ての不良カルテの不良原因又は処置内容を参照し、その中から特定のキーワードをデータ抽出部（不図示）により抽出し、そのキーワードの数をデータ集計部（不図示）により集計する。 - 特許庁

The θ-type alumina has a large specific area, the carried noble metal has no defect of being stabilized in an oxidized state, and is easily reduced to a metal state.例文帳に追加

θ型アルミナは比表面積が大きく、担持されている貴金属は酸化状態で安定化されるような不具合がなくメタル状態へと還元されやすい。 - 特許庁

To prevent a search time from being increased, even in selection field search for searching a specific field of a defect list of a recording disk partially.例文帳に追加

記録ディスクの欠陥リストの特定フィールドを部分的に探索する選択フィールド探索の場合にも、検索時間が長期化する可能性を軽減する。 - 特許庁

As path of electrons is not concentrated to a specific position of a tunnel oxide film, trap and defect due to movement of electrons are not caused in a tunnel oxide film.例文帳に追加

電子の経路がトンネル酸化膜の特定の位置に集中しないので、電子の移動によりトンネル酸化膜にトラップや欠陥が発生しない。 - 特許庁

Alternatively, a first electron optical system for the defect detecting inspection and a second electron optical system only for review for observing a specific narrow part detected by the defect detecting inspection are stored in parallel in the same vacuum vessel.例文帳に追加

または、欠陥検出検査の為の第１の電子光学系と欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位を観察するレビュー専用の第２の電子光学系とを同一の真空容器内に並べて収容する。 - 特許庁

By dispersing a beam of laser induction plasma generated in welding, presence or absence of defect generation is discriminated based on an intensity ratio between the emission spectrum intensity of the specific element relating to welding defect generation and the emission spectrum intensity of the material to be welded having a wave length close to a wave length of the specific element.例文帳に追加

溶接時に発生するレーザ誘起プラズマの光を分光し、溶接欠陥の発生に関わる特定の元素の発光スペクトルの強度と、この元素の発光スペクトルの波長に近接する波長を持つ被溶接材の元素の発光スペクトルの強度との強度比に応じて欠陥発生の有無を判定する。 - 特許庁

To eliminate the defect that visitors increase when the number of a visitor counter in a homepage on a computer network is close to a specific value for giving privilege to a visitor, but do not increase at other time and the defect that fairness, evenness, etc., are not kept since the specific value is already known.例文帳に追加

コンピュータネットワークのホームページ上の訪問者数カウンターの数字が訪問者に特典が与えられる所定値に近い時には訪問者が増えても、それ以外の値の場合には訪問者が増えない、及び所定値が当初よりわかっているので、公平性や平等性が保たれないという欠点を解消する。 - 特許庁

A data update part 160 for inspection control changes specific standards to strict standards which are narrower in non-defect range, when there is a specific number of inspection objects that the inspection device has judged to be defective and the repair operator has judged to be normal.例文帳に追加

検査制御用データ更新部１６０は、検査装置は異常と補修作業者は正常と判断した検査対象物が所定数あるときは所定基準を正常範囲が狭くなるような厳格な基準に変更する。 - 特許庁

This three-dimensional photonic crystal system has the above-mentioned constitution, so the specific interaction action between the defect layer and three-dimensional photonic crystals can be adjusted by changing directions of the three-dimensional photonic crystals coming into contact with the defect layer.例文帳に追加

本発明の３次元フォトニック結晶システムでは、上記のような構成をとるので、欠陥層と接する３次元フォトニック結晶の向きを変化させることにより、欠陥層と３次元フォトニック結晶表面との相互作用を調整できる。 - 特許庁

The circuit pattern inspection device independently has a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the presence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image in a specific narrow part detected by this defect detecting inspection.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

Thus, the failure of the contact plug specific to the logic circuit which is caused by crude density (randomness) of a diffusion layer, wiring layer, and contact plug layer, is easily detected for the defect analysis.例文帳に追加

これにより、拡散層と配線層及びコンタクトプラグ層の粗密（ランダム性）に起因するロジック回路特有のコンタクトプラグ不良を容易に検出し、不良解析できる。 - 特許庁

The silicon carbide monocrystal wafer has at its specific direction end a working defect portion whose total area size is small or whose shape is asymmetric and notch-form.例文帳に追加

ウェハの特定の方位端に総面積の小さい加工欠損部、あるいは非対称な形状を有するノッチ状の加工欠損部を有する炭化珪素単結晶ウェハ。 - 特許庁

To accurately carry out correction so that the concentration of a pixel corresponding to the defect position of a detection element being provided at a radiation solid-detecting device does not become specific concentration being different from the periphery.例文帳に追加

放射線固体検出装置が備える検出素子の欠陥位置に対応する画素の濃度が周辺と異なる特異な濃度とならないように正確に補正する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of a local structural defect caused by explosive fracture of skeleton concrete, for example, in case of fire of a specific dwelling unit, by securing fire resistance of high-strength concrete.例文帳に追加

高強度コンクリートの耐火性を確保し、例えば、特定住戸の火災時に躯体コンクリートの爆裂による局部的な構造欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

In the hollow panel 10, a mass per unit area is made partially different, so that a sound insulation defect can be prevented from being caused by coincidence effects at a specific frequency.例文帳に追加

この中空パネル１０は、面密度を部分的に異ならせることによって、特定周波数におけるコインシデンス効果による遮音欠損を防止するものである。 - 特許庁

To provide a display device which is improved in electrical characteristics by suppressing the occurrence of a defect, such as a short, and lowering overall specific resistance.例文帳に追加

短絡のような不良の発生を抑制すると共に、全体的な比抵抗を低くすることによって電気的特性を向上させた表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a loop material capable of quickly specifying a formation position of a specific shape site on the whole circumference of a loop material and of forming a condition in which the presence of a defect on the specific shape site can be inspected.例文帳に追加

ループ材の全周における特異形状部位の形成位置を迅速に特定し、この特異形状部位における欠陥の有無を検査することができる状態を迅速に形成することができるループ材検査装置を提供すること。 - 特許庁

To prevent a defect such as the sticking of dust from at a stop position even if a slider 30 repeats movement and stop within a specific range and often stops at the same position.例文帳に追加

スライダ３０が特定の範囲で移動と停止を繰り返し、同じ位置に頻繁に停止することがあったとしても、当該停止位置で塵埃がこびりつく等の不具合を防止する。 - 特許庁