「specific defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The method and device inspect the defect generated in the outward appearance of the object to be inspected through the image processing and the defect is detected by comparing image data at respective inspection points of the object to be inspected with a specific mean value.例文帳に追加

検査対象物の外観に生じている欠陥を画像処理により検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置であって、検査対象物の各検査ポイントにおける画像データを、所定の平均値と比較することにより欠陥を検出するものである。 - 特許庁

Therefore, when applying pressurization for reducing the gap of the electrode active material layers, concentration of pressure on a specific part of the current collector is eliminated and defect by fracture can be reduced.例文帳に追加

これによって、電極活物質層の空隙を減少するための加圧を行う際に、集電体の特定箇所に圧力が集中することがくなり、破断不良を減少することができる。 - 特許庁

To provide a method for modifying a silicon carbide single crystal substrate, by which the specific dislocation defect such as basal plane dislocation or spiral dislocation is reduced, and to provide an apparatus for modifying a silicon carbide single crystal substrate.例文帳に追加

基底面転位、螺旋転位などの特定の転位欠陥を低減させることができる炭化ケイ素単結晶基板の改質方法、及び炭化ケイ素単結晶基板の改質装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a catalyst composition improved in a filling property into a mold having a complex shape and a skin state, and capable of forming the subject foam having no bubble defect by mixing triethylenediamine with a specific substituted diamino-terminated compound and an imidazole compound.例文帳に追加

複雑な形状等の成形金型での成形時に未充填部分がなくスキン状態が良好で、気泡欠損の発生がない靴底用ポリウレタンフォームの製造法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for detecting the position of a PN junction in the semiconductor substrate of a micro semiconductor device by predicting and controlling the device characteristics of a transistor precisely and performing defect analysis of a specific part.例文帳に追加

トランジスタ等のデバイス特性を精確に予測、制御し、特定部位の不良解析を行う、微細な半導体デバイスの半導体基板内のＰＮ接合位置を検出する方法を提供する。 - 特許庁

(B) Cases where latent defects are found in a specific good purchased As described in (A) above, if a good offered for exhibition is an unspecified good and replacements for such good are easily available in the market, a seller is liable to deliver defect-free goods complying with the description and a buyer may claim for the delivery of defect-free goods. 例文帳に追加

ⅱ）購入した特定の物に隠れた欠陥があった場合前記ⅰ）のように、出品物が容易に代替品を市場で調達できる不特定物の場合には、売主は表示に従った欠陥のない商品の引渡義務があり、買主は欠陥のない商品の引渡しを請求できる。 - 経済産業省

To provide a method for storing a sequence of data elements in sequence of sectors on a storage medium and a corresponding method for reproducing a sequence of data elements read from the sequence of sectors on the storage medium, without designating a specific sector for defect management.例文帳に追加

不良管理に特定のセクタの指定を回避し、データ要素のシーケンスを記憶媒体上のセクタのシーケンスに保存する方法と、セクタのシーケンスから読み出したデータ要素のシーケンスの再生方法の提供。 - 特許庁

To avoid a defect due to misoperation and to make a portable telephone small in size by applying a telephonic or inserting withdrawal operation to a component mounted on the portable telephone so as to activate or inactivate a specific function of the portable telephone.例文帳に追加

装置に実装してある部品を伸縮あるいは挿抜操作し、装置の特定機能を有効にしたり無効にすることにより、誤操作による不具合を回避することおよび装置の小型化を可能にする。 - 特許庁

Then, a specific label, related to the defect scan test pattern is identified by the ATE 114, and (i) the second scanning test pattern is provided to the BIST hardwares 102, 104, (ii) and captures the raw response data, in the diagnostic mode.例文帳に追加

次に、ＡＴＥ（１１４）により、欠陥スキャンテストパターンと関連した固有ラベルを識別し、診断テストモードで、ｉ）第２のスキャンテストパターンをＢＩＳＴハードウェア（１０２，１０４）に提供し、ｉｉ）生応答データを捕捉する。 - 特許庁

The light level value of each pixel in the 2nd chip area is compared with that of the corresponding pixel in the 1st chip area to decide whether or not there is a defect according to whether or not those light level values have a specific difference.例文帳に追加

そして、第２チップ領域における各ピクセルのライトレベル値を第１チップ領域における対応する各ピクセルのライトレベル値と比較し、そのライトレベル値に所定の差があるか否かによって欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Then, when the defect P is detected by the signal processing device 20, the shutter speed of the image pickup means 12 is adjusted by the drive means 13 so that a value exceeding a specific threshold can be detected at a specific number of same points of horizontal scanning that continue out of a plurality of horizontal scanning of a video signal.例文帳に追加

そして、信号処理装置２０により欠陥Ｐを検出したとき、ビデオ信号の複数の水平走査のうち、所定数連続する水平走査の同一箇所にて所定のしきい値を超える値が検出されされるように、駆動手段１３により、撮像手段１２のシャッタ速度を調整する。 - 特許庁

The state monitoring system of train vehicles detects defect of the train vehicles, and includes: one acceleration sensor 11 placed in each carriage 2 of a train vehicle 1 for diagnosing vertical movement system travel device of the train vehicle; and an acceleration sensor 12 placed in a specific axle box for diagnosing defect of a track.例文帳に追加

鉄道車両の状態監視システムにおいて、鉄道車両１の上下動系走行装置の診断を行うための鉄道車両１の各台車２に配置される１つの加速度センサ１１と、軌道の不具合の診断を行うための特定の軸箱に配置される加速度センサ１２とを備え、鉄道車両の不具合を検知する。 - 特許庁

The sensors process the obtained digital images and decide the presence of the defect of the material of the artificial structure according to the specific coordinate position for finding the artificial structure in one or more obtained digital images.例文帳に追加

該センサは、取得されたデジタル画像を処理し、１つ又は複数の取得されたデジタル画像における人口構造物を突き止める所定の座標位置に従い、人口構造物における材料の欠陥の存在を判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which is provided with a defect relieving circuit which makes it possible to perform relief of timing failure in every specific circuit to be specified by address information and in which relieving efficiency is enhanced while maintaining a high speed operation and a relieving method.例文帳に追加

アドレス情報により指定される特定回路毎のタイミング不良を可能とし、高速化を維持しつつ救済効率を高めた欠陥救済回路を備えた半導体集積回路装置と救済方法を提供する。 - 特許庁

Hereby, the ratio of reflected light from the auxiliary member 2 for observation in the light in the specific wavelength band received by the imaging part 1 is reduced, and an intensity change of the reflected light caused by the defect of the optically transparent film A becomes clear.例文帳に追加

このため、撮像部１で受光される特定波長域の光における、観察用補助部材２からの反射光の割合が低減し、光透過性フィルムＡの欠陥に起因する反射光の強度変化が明りょうになる。 - 特許庁

An amendment to eliminate a reason for refusal about a defect in specific statements pointed out in a final notice of reasons for refusal based on Article 36 falls under "the amendments which are related to the matters stated in the reasons for refusal" provided for in parentheses in(4). 例文帳に追加

第36 条に基づく最後の拒絶理由通知で指摘された特定個所の記載不備の拒絶理由を解消するための補正は、第4 号括弧書きの「拒絶の理由に示す事項についてするもの」に該当する。 - 特許庁

The defect of the military organization of the Taira clan was that their direct troops consisted only of vassals from Ise and Iga and specific bushi from various provinces that were loyal for successive generations, and the majority of the troops were taken from official government calls to enlist. 例文帳に追加

平氏の軍制の欠陥は、直属部隊が伊勢・伊賀の重代相伝の家人・「私郎従」と呼ばれる諸国の特定武士だけで、兵の大部分を公権力の発動によって動員する形態を採っていたことにある。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

Hereby, the shape of the specific circuit wiring can be sought, or a defect such as a disconnection, a short-circuit or a chipping of the circuit wiring 101 can be detected based on the generated image data and image data for showing the circuit wiring in design.例文帳に追加

これにより、特定の回路配線の形状を探したり、生成された画像データ及び設計上の回路配線を示す画像データに基づいて、回路配線１０１の断線、短絡、欠け等の不良を検出したりできる。 - 特許庁

To provide a weighing system for diagnosing quickly an abnormality of a weighing head in a weighing head abnormality diagnosis mode for generating a state wherein a specific weighing head supposed to be a cause of weighing defect is used without fail.例文帳に追加

計量不良の要因と想定される特定の計量ヘッドを必ず使用する状況を作り出すという計量ヘッド異常診断モードによって、その計量ヘッドにおける異常の存否を迅速に診断する計量システムを提供する。 - 特許庁

The waveform of the guide wave 10 reflected by a defect or the like is digitally recorded by receiving sensors 11a and 11b, time delay of each signal is corrected, and respective signals are added, thereby selectively amplifying and extracting only a received wave from the specific direction.例文帳に追加

欠陥等により反射したガイド波１０の波形を受信センサ１１ａ；１１ｂでデジタル収録し、各信号の時間遅れを補正して各信号を加え合わせることにより、特定方向からの受信波のみを選択的に増幅抽出する。 - 特許庁

This method prepares a corrosion liquid for silicon wafer crystal defect evaluation by mixing the potassium permanganate KMnO_4 and the hydrogen fluoride HF with a volume ratio of 0.5-1:1-3 and employs a wet chemical method to evaluate silicon wafer crystal defects whose specific resistance value is 0.01 Ωcm or less.例文帳に追加

シリコンウェハの結晶欠陥評価用腐蝕液を、過マンガン酸カリＫＭｎＯ_４とフッ化水素ＨＦを０．５〜１：１〜３の体積比で混合して調製し、比抵抗値が０．０１Ωｃｍ以下のシリコンウェハの結晶欠陥を化学的湿式方法で実施した。 - 特許庁

The method includes a step of filtering the ultrasonic response signal from each measurement point and generating a plurality of filtered response signals for respective measurement points where each filtered response signal corresponds to a specific type defect.例文帳に追加

本方法は、各測定箇所からの超音波応答信号をフィルタリングし、各測定箇所に対して複数のフィルタリング済み応答信号を生成する段階であって、各フィルタリング済み応答信号は特定種類の欠陥に対応するという段階を含み得る。 - 特許庁

To provide a method and system for efficiently determining the cause of an error such as 'telephone is cut off in the middle of conversation', specifically whether the error is due to a defect specific to a mobile terminal or due to a base station in that area.例文帳に追加

本発明は、例えば「通話が途中で切れる」というエラーについて、そのエラーがその移動端末固有の故障によるものか、その地域の基地局の原因によるものか効率よく判断することのできる方法及びシステムを提供することを課題とする。 - 特許庁

In order to check on an obvious or latent defect on a semiconductor wafer 10, a wafer is compared with a wafer by limiting a specific comparison area 22 selectable by a user instead of comparing a wafer with a wafer across the whole area of the semiconductor wafer 10.例文帳に追加

半導体ウェーハ１０の顕在または潜在するディフェクトを調査するために、半導体ウェーハ１０全面におけるウェーハ対ウェーハ比較に代えて、利用者により選択可能な所定の比較領域２２に限定してウェーハ対ウェーハ比較を実施する。 - 特許庁

Then, by setting an AV data area as a specific area and by setting a PC data area as a defect management area, the continuity of data recorded in the AV data area is achieved, and the reliability of data recorded in the PC data area is ensured.例文帳に追加

そこで、ＡＶデータ領域を特定領域、ＰＣデータ領域を欠陥管理領域とすることにより、ＡＶデータ領域に記録される情報はデータの連続性が確保され、ＰＣデータ領域に記録される情報はデータの信頼性が確保されることとなる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which enables a system user to select only a specific memory device, such as a defective memory device and to directly analyze and fix the cause of defect of the defective memory device in a system mounted with many memory devices, and a generating method for a chip selection signal.例文帳に追加

多くのメモリ装置を装着しているシステムでシステム使用者が不良メモリ装置のような特定のメモリ装置だけを選択して直接不良メモリ装置の不良原因を分析したり、改善できるようにする半導体メモリ装置及びチップ選択信号発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device in which a defect of a barrier metal film having a multilayer wiring structure is interpolated with a diffused barrier film by self-formation reaction between Mn of a CuMn layer and an interlayer insulating film, the specific resistance of a Cu layer on the CuMn layer being reduced.例文帳に追加

多層配線構造のバリアメタル膜の欠陥を、ＣｕＭｎ層のＭｎと層間絶縁膜との自己形成反応による拡散バリア膜で補間する半導体装置の製造方法において、ＣｕＭｎ層上のＣｕ層の比抵抗を低減する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an active matrix type display device and, permitting to easily discriminate a specific bus line when inspecting bus lines and restoring a defect, and a manufacturing method therefor, relating to an active matrix type display device having a switching element at each pixel and the manufacturing method therefor.例文帳に追加

本発明は、各画素にスイッチング素子を有するアクティブマトリクス型表示装置及びその製造方法に関し、バスラインの検査や欠陥修復を行う際に、容易に特定のバスラインを識別することのできるアクティブマトリクス型表示装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a decorative sheet which contains a pattern layer arranged between a transparent resin film and a base material film, for which a specific film having no heating defect and good adhesion with a resin molded product and exhibiting good film forming property of its own is used.例文帳に追加

透明性樹脂フィルムと基材フィルムとの間に図柄層が配置されている加飾シートであって、基材フィルムとして、加熱欠点がなく、しかも、樹脂成形物との密着性にも優れ、更には、それ自体の製膜性にも優れる、特定のフィルムを用いた加飾シートを提供する。 - 特許庁

The objective quartz glass crucible for pulling a silicon single crystal is free from ultraviolet absorption at specific wavelength within the wavelength range of 150-400 nm or free from ultraviolet absorption at wavelength of 163 nm or 245 nm caused by the oxygen-deficient defect in a region from the inner surface to the depth of 200 μm.例文帳に追加

(1)内表面からの深さが200μmまでの部位の石英ガラスに、波長150〜400nmの範囲で特定波長の紫外線吸収がないか、または酸素欠損型欠陥による波長163nm、または波長245nmの紫外線の吸収がないシリコン単結晶引き上げ用石英ガラスるつぼ。 - 特許庁

A part 6-7 which requires a defect check and is selected out of parts (e.g. a gate transistor region of a logic part), having a large effect on performance characteristics of a semiconductor device and furthermore being provided with circuit patterns that are fine and apt to be affected by micro defects, is considered as the specific region of the mask.例文帳に追加

マスクの特定領域としては、半導体装置の動作特性に多大な影響を与え、かつ、回路パターンが微細で微小欠陥の影響を受けやすい部分（例えばロジック部のゲートトランジスタ領域）における欠陥検査が必要な部分６−７が挙げられる。 - 特許庁

To pattern the surface of a semiconductor thin film by the surface preparation agent having a specific structure corresponding to the semiconductor thin film region to suppress a defect coating film, to improve a crystalline property of the semiconductor, to improve a carrier mobility of the semiconductor thin film, and to improve a characteristic of the organic thin film transistor.例文帳に追加

半導体薄膜領域に相当する特定構造の表面処理剤により表面をパターン化して、塗膜のハジキを抑え、かつ半導体の結晶性を向上させ、半導体薄膜のキャリア移動度を向上させ、有機薄膜トランジスタの特性を向上させることにある。 - 特許庁

To provide an uniform quality green compact reduced in a defect generation rate of the compact by forming a green compact, which is formed from a high specific gravity material of cemented carbide powder and is carried away from a compacting device, to a polygonal shape for avoiding deformation/ breaking and automatically feeding to a sintering dish.例文帳に追加

超硬合金粉末の高比重材料を成形して成形装置から搬出した成形体を、変形、破損を回避する多角形状に成形して焼成用皿に自動的に送給することにより、成形体の不良発生率を削減して、品質が均一の成形体を提供する。 - 特許庁

By using the dark image data captured by the dark data capturing processing and conducting correction arithmetic processing, the photographed image data can be corrected with respect to image quality deterioration such as a dark current noise generated from an image pickup element and a pixel defect due to a flaw specific to the image pickup element.例文帳に追加

このダーク取り込み処理で取り込んだダーク画像データを用いて補正演算処理を行うことにより、撮像素子の発生する暗電流ノイズや撮像素子固有のキズによる画素欠損等の画質劣化に関して、撮影した画像データを補正することができる。 - 特許庁

The light receiving surface of the front surface of the semiconductor substrate 11 has a specific texture structure having a top portion formed in flat, and its surface area is reduced compared to a conventional general texture structure having a pointed top portion, and thus, as the amount of defect on the surface front surface of the semiconductor substrate 11 decreases, the more amount of incident lights increases.例文帳に追加

半導体基板１１の表面の受光面は、頂部が平坦に形成された特定のテクスチャ構造とされており、従来一般の頂部が尖ったテクスチャ構造に較べて表面積が減少しているため、その分、半導体基板１１の表面欠陥量が減少する。 - 特許庁

To provide a charging device which prevents image defect for a long period of time by preventing degradation in the cleaning performance of a cleaning member due to a lapse of time and also prevents a foreign matter from adhering to a gap formation member, which is specific to a close contact system, and to provide a process cartridge and image forming apparatus.例文帳に追加

経時によるクリーニング部材のクリーニング性能の低下を防止し、かつ、近接方式特有のギャップ形成部材への付着物の付着を防止することによって、長期に亘って画像不良の発生しない帯電装置、プロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of resin sealing and molding an electronic part, which stably cuts and separates a package and a resin passage at a specific cutting and separating position, by using the resin molding die of the electronic part made in a ful consideration of the matter of a remaining gate and a package defect.例文帳に追加

ゲート残り及びパッケージ欠けの問題に十分に配慮した電子部品の樹脂封止成形用金型を用いることにより、パッケージ部分と樹脂通路部分とを特定な切断分離箇所にて安定して切断分離することができる、電子部品の樹脂封止成形方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a technology which can improve the yield of products by suppressing the increase of product defects arising from abnormality of a specific device, and a technology which can shorten a time period for identifying a device having developed an abnormality when a product defect arises to improve the yield of products.例文帳に追加

特定の装置異常で発生する製品不良の拡大を抑制して製品の歩留まり向上を図ることができる技術を提供するまた、製品不良が発生した際、異常を起した装置を特定するための時間を短縮して製品の歩留まり向上を図ることができる技術を提供する。 - 特許庁

The defect is formed in units of clusters, and formed by mixing at least, any two patterns among a first pattern formed by turns for each cluster, a second pattern formed of continuous clusters, and a third pattern formed of a specific part of an optical disk for each track or for each several tracks.例文帳に追加

欠陥は、クラスタ単位で形成され、かつ、１クラスタ毎に交互に形成される第１パターンと、連続したクラスタに形成される第２パターンと、光ディスクの特定部位に１トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第３パターンのうち、少なくともいずれか２つのパターンを混在させて形成される。 - 特許庁

A plurality of both-end supporting beams with different film lengths are formed within the diaphragm of a loudspeaker employing a polymer piezoelectric film so that overlapping resonance frequencies are avoided, specific natural resonance vibration frequency enhancement as a defect of a conventional loudspeaker is suppressed and the peculiar production sound of the loudspeaker is eliminated.例文帳に追加

高分子圧電フィルムを使用したスピーカーの振動板面内にフィルム長の異なる両端支持梁を複数形成し、重複する共振周波数を回避し、従来のスピーカーの欠点であった特定の固有共振振動周波数の強調の抑制を図り、スピーカー再生音の癖の解消を目的とする。 - 特許庁

To provide a positive photoresist composition suitable for an exposure light source of ≤200 nm wavelength, in particular an F_2 excimer laser beam (157 nm), to be more specific, a positive photoresist composition which has sufficient transmittance for the 157 nm light source and further of which the surface roughness, the development defect, the development residue (scum) and the resolution are improved.例文帳に追加

２００ｎｍ以下、特にＦ_2エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源の使用に好適なポジ型レジスト組成物を提供することであり、より具体的には１５７ｎｍの光源使用時に十分な透過性を示し、且つ表面ラフネス、現像欠陥、現像残渣（スカム）、解像力が改善されたポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁

On the other hand, irrespective of any defect in specific statements pointed out in a final notice of reasons for refusal, amendments to limit the matters used to specify the invention stated in claims or amendments to state new technical matters in claims, etc. do not fall under "the amendments which are related to the matters stated in the reasons for refusal." 例文帳に追加

これに対し、最後の拒絶理由通知で指摘された特定個所の記載不備とは無関係に、請求項に記載された発明特定事項を限定する補正や、新たな課題を解決するための新たな技術的事項を請求項に記載する補正等は、「拒絶の理由に示す事項についてするもの」に該当しない。 - 特許庁

This device is equipped with a means which compares a 1-second pulse signal arriving from a GPS with the sampling number of this device and a means which decides a defect if the mentioned sampling number is not found among specific sampling numbers or if the 1PPS signal from the GPS does not arrive within a timer value counted by this device.例文帳に追加

ＧＰＳから来る１秒パルス信号と自装置のサンプリング番号とを比較する手段と、前記サンプリング番号が所定のサンプリング番号内に来ない場合、あるいはＧＰＳからの１ＰＰＳ信号が自装置でカウントするタイマ値以内に来ない場合不良と判定する手段とを備えた。 - 特許庁

If the deal does not concern specific goods, and if the goods can be replaced with other goods available in the market, the seller is responsible to deliver the product free of defect in accordance with the description thereof and the buyer may demand to exchange a defective product with a non-defective product as described in the exhibit information (description). 例文帳に追加

出品物の個性に着目した取引ではなく、代替品を市場で調達することができる不特定物の場合には、売主は表示に従った欠陥のない商品の引渡義務があり、買主は売主に対し、商品表示に従った欠陥のない商品を引き渡すよう請求できる。 - 経済産業省

This signal processing means 2 detects, as an echo signal, a flaw detection signal having a height of a predetermined threshold or higher, among flaw detection signals output from the ultrasonic probe 1, and, determines the existence of the defect when continuously detecting the echo signal in the axial direction of the pipe P at a specific position of the circumferential direction of the pipe P.例文帳に追加

信号処理手段２は、超音波探触子１から出力される探傷信号の内、所定のしきい値以上の高さを有する探傷信号をエコー信号として検出し、該エコー信号を管Ｐの周方向の特定位置において管Ｐの軸方向に連続的に検出したときに、欠陥が存在すると判定する。 - 特許庁