「test-data」に関連した英語例文の一覧と使い方(63ページ目) - Weblio英語例文検索

This device test data display displays a plurality of data measured by an IC tester as a plurality of waveforms, computes the plurality of displayed waveforms to be displayed as another waveforms, and includes a computation expression display area for function-computing the plurality of waveforms.例文帳に追加

ＩＣテスタで測定した複数のデータを複数の波形として表示し、表示した複数の波形を演算して別の波形として表示するデバイステストデータ表示装置において、この表示装置に前記複数の波形の関数演算を行うための演算式表示エリアを設けた。 - 特許庁

A strength-estimating equation is previously established, wherein compound data of a concrete material, quality data on concrete manufactured by kneading the concrete material, and a compressive strength obtained from a compressive strength test of a sample made of the concrete after a prescribed curing period, are related to another.例文帳に追加

コンクリート材料の配合データと、このコンクリート材料が混練され製造されたコンクリートの品質データと、このコンクリートから供試体を作製して所定期間養生した後、供試体の圧縮強度試験により得られた圧縮強度とを関連付ける強度推定式を予め構築する。 - 特許庁

Proof data are formed from the imaged pictures for correcting the shape distortion of the stereographic imaging optical system, and a parallax amount obtained by stereographic imaging of the actual ocular fundus of the test eye is corrected by using the proof data, and three-dimensional measurement treatment is performed by using the parallax image after correcting the shape distortion.例文帳に追加

撮影された画像から、ステレオ撮影光学系の形状歪を補正する校正データを作成し、該校正データを用いて実際の被検眼眼底のステレオ撮影で得られた視差量を補正して、形状歪補正後の視差画像を用いて３次元測定処理を行う。 - 特許庁

When the identification number of the designated storage region is supplied, a test part 17 decide whether or not the effective display information of the identification number of the designated storage region is valid, and supplies a signal to request the output of the data in the designated storage region to the data storage part when the effective display information is effective.例文帳に追加

検査部１７は、指定記憶領域の識別番号を供給され、指定記憶領域の識別番号の有効表示情報が有効か否かを判定し、有効の場合に指定記憶領域内のデータの出力を要求する旨の信号をデータ記憶部に供給する。 - 特許庁

Afterwards, synchronously with the slots in a frame next to the frame to which the GSM frequency change request is inputted, the calculated set frequency data and set attenuation quantity data of the relevant slot are set to a carrier generating circuit and an attenuator in a test signal generating part.例文帳に追加

その後、ＧＳＭ周波数変更要求が入力したフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを試験信号発生部の搬送波発生回路及び減衰器へ設定する。 - 特許庁

The correction method includes the steps of recording a predetermined gradation image as a test pattern on an object recording medium for the image to be printed and on a recording medium for correction of the nonuniformities in density respectively; producing data reflecting the correlation from the results of read images on both of the mediums; and producing a correction table for the nonuniformities in density based on the data.例文帳に追加

画像印字対象の記録媒体と、濃度むら補正用の記録媒体の夫々に対して、テストパターンである所定の階調画像を記録し、それぞれを読み取った結果から、相関関係を考慮したデータ類を作成し、これを用いて濃度むら補正用テーブルを作成する。 - 特許庁

Using test print (print P1 for confirmation and print P2 for color correction) created at a store terminal 1, a color correction data generation terminal 2 determines whether to generate color correction data or not based on the colorimetry result for print P1 for confirmation and generates color correction data based on the colorimetry result for print P2 for color correction.例文帳に追加

店舗端末１において作成されたテストプリント（確認用プリントＰ１及び色補正用プリントＰ２）を用いて、色補正データ生成端末２において、確認用プリントＰ１の測色結果に基づいて色補正データを生成するか否かを決定するとともに、色補正用プリントＰ２の測色結果に基づいて色補正データを生成する。 - 特許庁

The data amount of the number of days defined by a parameter definition table is extracted from an order database 11 and a test results database 12 in a server 1, data read processing in which it is stored in an intermediate server is executed and after that, the data amount for the number of days defined by the parameter definition table is extracted from the intermediate server and is shown on a display device.例文帳に追加

サーバ１内のオーダデータベース１１と検査結果データベース１２から、パラメータ定義テーブルにより定義された日数分のデータ量を抽出し中間サーバ２４に格納するデータ読込み処理を実行し、その後、中間サーバ２４からパラメータ定義テーブルにより定義された日数分のデータ量を抽出し表示装置２８に表示するオーダリングシステム。 - 特許庁

A test data server device 30 groups the received position information, reads a paper identification number of the paper correlated to the position information unique to the paper matching with the data in the group and information contents correlated to the position information unique to the seal matching with the data in the group from a contents position correspondence DB 301 and stores them.例文帳に追加

検査データサーバ装置３０は、受信された位置情報をグループ化し、該グループ内のデータに合致する前記用紙に固有の位置情報に対応付けられた前記用紙の用紙識別番号と、グループ内のデータに合致するシールに固有の位置情報に対応付けられた情報内容とを内容位置対応ＤＢ３０１から読み出し記憶する。 - 特許庁

If no empty channel exists for storing data, data already stored in a topmost store channel among all the store channels are erased and shifted and test data of a selected disc are stored in the last channel, and the store contents are shown on the LCD display 15 so that a desired music among the shown contents can be playbacked.例文帳に追加

データ格納の際に空チャンネルがない場合に全格納チャンネルのうちの最先の既格納データを消去してシフトし、最後のチャンネルに、選択されたディスクのテキストデータを格納し、ＬＣＤ表示部１５に格納内容を表示してその表示内容のうちから所望の曲再生をし得る状態となるように構成している。 - 特許庁

This optical disk recording medium 10 for recording each program having a track number added in a program area is constructed in such a manner that time equivalent to a desired reproducing position is set in an index 00 indicating a pause zone of a track number 1, and various data such as optional test data are recorded in an index 01 indicating the data zone of the track number 1.例文帳に追加

プログラム毎にトラック番号が付された状態でプログラムエリアに記録される光ディスク記録媒体１０であって、トラック番号１のポーズ区間を示すインデックス００に所望の再生位置に相当する時間を設定すると共に、トラック番号１のデータ区間を示すインデックス０１に任意のテストデータ等の各種データを記録する、ことを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor test circuit includes: a plurality of the semiconductor macros having respective bypass circuits for internally bypassing data; a combination circuit for connecting two semiconductor macros; an input circuit for inputting the data input from the outside to the semiconductor macro at the first stage; and an output circuit for outputting the data obtained from the semiconductor macro at the last stage.例文帳に追加

半導体テスト回路は、内部でデータをバイパスするバイパス経路をそれぞれ有する複数の半導体マクロと、２つの半導体マクロ間を接続する組合せ回路と、外部から入力されたデータを先頭の半導体マクロに入力する入力回路と、終端の半導体マクロから得られたデータを出力する出力回路とを備える。 - 特許庁

In the process, binarization data for making only the gradation voltage wiring L to be selected from a first TEST terminal 5a is input and digital gradation data showing gradation corresponding to the gradation voltage wiring L is input from a gradation data input terminal 12 for detecting high level output from an output terminal 10 corresponding to the digital gradation data.例文帳に追加

このとき、第１のＴＥＳＴ端子５ａから前記選択されるべき階調電圧用配線Ｌのみをハイレベルにする２値化データを入力するとともに、階調データ入力端子１２から該階調電圧用配線Ｌに対応する階調を示すディジタル階調データを入力し、該ディジタル階調データに対応する出力端子１０からハイレベルの出力がされるか否かを検出する。 - 特許庁

In setting data on a travel path for controlling the position of the rotary cutting tool, bending in the whole NC machine tool finely corresponding to the current cutting status is previously tested (mainly FEM numerical value analysis), and corrected travel path data corrected based on the test data is set as travel path data, whereby the tool is once delivered along the travel path (a cutting path).例文帳に追加

回転切削工具の位置を制御する移動経路データの設定に際し、現実の切削状況に微細に対応するＮＣ工作機械全体での撓みを予め実験（主としてＦＥＭ数値解析）しておき、該実験データに基づき補正された補正移動経路データを移動経路データとして設定することによって、移動経路（切削経路）に沿って一度工具を送り出すことを特徴とする。 - 特許庁

If a person skilled in the art is unable, on the basis of the prior art, to predict that the said use or action stated in the invention can be carried out, the qualitative or quantitative data of the laboratory test (including animal test) or clinical test shall be sufficiently provided for the person skilled in the art to be convinced that the technical solution of the invention can solve the technical problem or achieve the technical effect as expected. 例文帳に追加

当業者が、先行技術に基づいて、当該発明に記載されている用途又は作用を実現できることを推測できない場合、当該発明の技術的解決策により、技術課題を解決し、又は予測される効果を実現できることを当業者が確認できるように、実験室検査(動物実験等)又は臨床検査による定性的又は定量的データを十分に示さなければならない。 - 特許庁

Hereby, data of the plurality of dislocations or the like are acquired by one-time test in comparison with a method using a strain gage or a method by image analysis using marking by a pen, and the deformation behavior can be measured accurately.例文帳に追加

これにより、歪みゲージを用いる方法やペンによるマーキングを用いた画像解析による方法に比べ、一度の試験で複数個の変位等のデータが得られて、精度良く、変形挙動を測定することができる。 - 特許庁

To shorten the time in determining optimum recording laser power by recording and reproducing prescribed data to and from a test region of a recording medium such as a magneto-optical disk, and to determine more exact recording laser power.例文帳に追加

光磁気ディスク等の記録媒体において、テスト領域に所定のデータを記録・再生して最適な記録レーザパワーを求める際の時間を短縮すると共により正確な記録レーザパワーを求めることを目的とする。 - 特許庁

This web test module is provided with a light source for illuminating a part of the web, a contact-type imaging sensor which has a plurality of sensing elements, and a processor for receiving and processing image data which indicate printed webs.例文帳に追加

ウェブ検査モジュールは、ウェブの一部分を照明する光源と、複数の検出要素を有する接触式画像センサと、印刷済みウェブを示す画像データを受け取って処理するための処理器とを備えている。 - 特許庁

In an output buffer 49 of a DRAM, a level shifter 77 outputs a boosting potential VPP in accordance with it that an internal data signal ZRDHI is made a 'L' level or a test mode signature TMSIG1 is made a 'H' level.例文帳に追加

ＤＲＡＭの出力バッファ４９において、レベルシフタ７７は、内部データ信号ＺＲＤＨ１が「Ｌ」レベルになるか、テストモードシグネチャＴＭＳＩＧ１が「Ｈ」レベルになったことに応じて昇圧電位ＶＰＰを出力する。 - 特許庁

To provide a compact integrated circuit in which a data storing function (or a latch function), a level shifting function, and a decoding function are integrated, and also to provide a source driver apparatus having a small-sized chip and reducing the time of a reliability test.例文帳に追加

データ保存機能（またはラッチ機能）、レベルシフト機能、およびデコード機能が統合されたコンパクトな集積回路を提供し、チップサイズが小さく信頼性テストの時間を減らすことができるソースドライバ装置を提供する。 - 特許庁

The terminal device 20 has a display controller 22a which displays a shmoo plot about at least two of shmoo data sets obtained by the test apparatus main unit 10, on the display section 26 in their superimposed state.例文帳に追加

端末装置２０は、試験装置本体１０で得られたシュムデータのうちの少なくとも２つのシュムデータについてのシュムプロットを、重ね合わせた状態で表示部２６に表示する表示制御部２２ａを備える。 - 特許庁

Since the operation device 3 is erected to be held to an inclined state at the time of operation, operation can be easily carried out and a load value or the like is displayed and the filling-up of visual data can be achieved and test operation is made accurate and easy.例文帳に追加

また、操作に際しては起立させ、傾斜保持させるので、操作は容易に行なえるとともに荷重値等が表示され、視覚情報の充実化が図られ、試験操作を正確、容易ならしめる。 - 特許庁

A semiconductor memory device 100A is provided with memory cell arrays 10A, 10B, a data bus 40, a reference voltage generating circuit 72, a voltage drop circuit 73, a VPP generating circuit 76, a circuit group 77, and a test circuit 80.例文帳に追加

半導体記憶装置１００Ａは、メモリセルアレイ１０Ａ，１０Ｂと、データバス４０と、基準電圧発生回路７２と、電圧降圧回路７３と、ＶＰＰ発生回路７６と、回路群７７と、テスト回路８０とを備える。 - 特許庁

An output signal from an output buffer BUF1 of the test output data TOUT0 is monitored by connecting a tester to an input/ output terminal P0, and the signal is inputted into input circuits (BUF2, FF3).例文帳に追加

テスト出力データＴＯＵＴ０の出力バッファＢＵＦ１からの出力信号を入・出力端子Ｐ０にテスタを接続して監視するとともに、その信号を入力回路（ＢＵＦ２，ＦＦ３）に入力する。 - 特許庁

By north-south inverting processing and area name substituting processing, sort of virtual test data is generated, and the original area in the real drawing is made impossible to be known from the drawing 2a.例文帳に追加

道路境線などの南北反転処理と地域名の置換処理とによりいわば仮想のテスト用データを作成し、これの図面２ａからは本来の実図面の地域がどこであるか分からないようにしている。 - 特許庁

To suppress the power consumption by considerably reducing the number of delay elements to be inserted to data lines of shift registers in order to secure a hold time in the shift operation of a scan shift register in scan test circuit design.例文帳に追加

スキャンテスト回路設計において、スキャンシフトレジスタのシフト動作におけるホールド時間保証として、シフトレジスタのデータラインに挿入する遅延素子の数を大幅に削減可能として、消費電力を抑える。 - 特許庁

A set of first and second time-dependent material aging effect parameters is determined by shifting and matching the series of relaxation test data between respective pairs out of the plurality of material property tests.例文帳に追加

１セットの第１および第２時間依存材料経時変化効果パラメータは、一連のリラクセーション試験データを複数の材料特性試験のうちのそれぞれのペア間でシフトさせて一致させることによって、決定される。 - 特許庁

A supervisory control part obtains the welded state of toner on the fixing test image by referring to table data based on the intensity information, judges the image state and further detects the dispersion of the image state.例文帳に追加

そして統括制御部５４は、これらの強度情報に基づきテーブルデータを参照して定着テスト画像におけるトナーの溶融状態を求め画像状態を判断し、さらに画像状態のバラツキをも検出する。 - 特許庁

To enable switching an operating mode with making pin number of an IC minimum after that setting data for an IC operating mode such as a test mode can be input to the IC without a dedicated mode switching port (terminal) placed in the IC.例文帳に追加

テストモード等のＩＣ動作モードの設定データを、ＩＣにモード切替え専用ポート（端子）を設けずにＩＣへ入力できるようにして、ＩＣのピン数を最少にしながらその動作モードを切替え可能にする。 - 特許庁

In the method, when a print preview display operation or a test print operation common to text files to be created is received, a data reading unit 14 reads plural sets of information for each type of information.例文帳に追加

この方法は、作成される文書ファイルについて共通の印刷プレビュー表示又はテスト印刷を行う操作を受け付けた際に、データ読み取り部１４が複数セットについて種類毎に情報を読み出す。 - 特許庁

A multi-election circuits 320 and 330 activate more write digit lines WDL in parallel than in the case of normal data writing, by responding to the multi selection signals MSLa and MSLb when a disturbing test is carried out.例文帳に追加

マルチセレクション回路３２０，３３０は、ディスターブ試験時には、マルチセレクション信号ＭＳＬａ，ＭＳＬｂに応答して、通常のデータ書込時よりも多い本数のライトディジット線ＷＤＬを並列に活性化する。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test or alpha blending using alpha values set in pixels for image data, and a decoration symbol images are gradually and stepwisely changed during variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁

A third FF circuit 13 outputs third hold data Dm3 of an LL level or H level from its output terminal Q, in accordance with a test pattern input from the scan-in terminal S1 of a first FF circuit 11.例文帳に追加

第３ＦＦ回路１３は、第１ＦＦ回路１１のスキャンイン端子ＳＩから入力されるテストパターンに応じて、Ｌレベル又はＨレベルの第３保持データＤｍ３を出力端子Ｑから出力する。 - 特許庁

The receiver 40 receives the test result data transmitted by the transmitter 30, displays its contents on a display 45, and issues an alarm at the presence of anomalies by optical display or by speech, when there are anomalies.例文帳に追加

受信機４０は、送信機３０が送信した試験結果データを受信し、その内容を表示器４５で表示するとともに異常があった場合にはその旨の警告を光学的な表示あるいは音声で行う。 - 特許庁

Accordingly, even in the normal mode, the other master device is never affected by the switching to the test mode, and the data of the highly competitive memory are set, whereby the performance of the plurality of master devices can be improved.例文帳に追加

ノーマルモード時においても、テストモードとの切替で他方のマスターデバイスに影響を与えることがなく、競合が多いメモリのデータを置いておくことで、複数マスターデバイスのパフォーマンスの向上を図ることができる。 - 特許庁

To reduce costs for testing by carrying out a performance test at a high speed when data are serially transmitted to/from the outside, and are transmitted in parallel for reading/writing them from/in memory cells.例文帳に追加

本発明は、外部とのデータの受け渡しを直列データで行い、メモリセルへのデータの読み書きを並列データで行う半導体集積回路に関し、動作試験を高速に行い、試験コストを低減することを目的とする。 - 特許庁

A controller 80 is connected with the thermistor 60 and selects one parameter of optimization object from parameters related to recording on the disk 10, and records optional data on a test track to acquire first bit error rate.例文帳に追加

コントローラ８０は、サーミスタ６０と結合されてディスク１０上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択し、テストトラックに任意のデータを記録して第１ビットエラー率を獲得する。 - 特許庁

To provide a method for processing test data of a semiconductor which can detect abnormality in a fabricating process even if the number of defective products is small, and quickly research causes of generating the defective products.例文帳に追加

不良品の発生数が少ない場合でも、製造工程の異常を検出することができ、不良品の発生原因の調査を早期に行うことができる半導体試験データ処理方法を提供する。 - 特許庁

An instance retrieval part 15 searches for instances similar to the input music from an instance data base 2 wherein test pieces of instances and polyphonic melodies of arrangement instances are represented by object items and stored.例文帳に追加

事例検索部１５によって，事例の課題曲と事例の編曲例の多声旋律をあらかじめオブジェクト項で表現して蓄積している事例ベース２０から入力楽曲に類似する事例を検索する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To generate an expected value required at the time of write-in test of byte mask for a memory in which a burst address in generated and in/from which parallel pattern data columns given externally to this burst address can be written and read out.例文帳に追加

メモリの内部でバーストアドレスを発生し、このバーストアドレスに外部から与えた並列パターンデータ列を書き込み、読み出すことができるメモリに対し、バイトマスク書き込み試験時に必要とする期待値を発生させる。 - 特許庁

A method, system and related technology for preparing test data for stem cell post-transplantation diagnosis are provided, each comprising the step of determining the chimerism of a main tissue-compatible gene conjugate.例文帳に追加

本発明は、主要組織適合遺伝子複合体のキメリズムを決定する工程を包含する、幹細胞移植における移植後診断のための検査データを生成する方法、システム、および関連技術に関する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

Since the comparison circuit and the data register are controlled by the built-in CPU and trimmed in a self completion manner, trimming parallel to the plurality of LSIs is facilitated and a test time can be shortened as a whole.例文帳に追加

上記の比較回路やデータレジスタを内蔵ＣＰＵで制御し、トリミングを自己完結で行うため、複数のＬＳＩに対する並列的なトリミングが容易であり、全体としてのテスト時間を短縮できる。 - 特許庁

A membranous model having thereinside cavities reproducing body cavities, such as a blood vessel, formed on the basis of tomogram data of a test subject is buried in a base material with physical properties analogous to those of biotissue.例文帳に追加

被検体の断層像データに基づき形成された血管などの体腔を再現した腔所をその内部に有する膜状モデルが生体組織に類似した物理特性を有する基材に埋設されている。 - 特許庁