「二次ビーム」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

二次電子を検出器で検出した後、その検出信号を処理する具体的な信号処理回路を提供し、マルチビームを使用する利点を最大限に活用し得る電子線装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electron beam device, capable of maximally utilizing an advantage of using multi-beams by providing a specific signal processing circuit processing a detection signal, after detecting a secondary electron by a detector. - 特許庁

振動検出用光センサー１は光源２、偏光ビームスプリッター３、対物レンズ４、波長板ユニット５及び二次元イメージセンサー６，１４を備える。例文帳に追加

The optical sensor 1 for vibration detection includes a light source 2, a polarization beam splitter 3, an objective lens 4, a wave plate unit 5, and two-dimensional image sensors 6 and 14. - 特許庁

試料表面に荷電粒子ビームを照射して試料表面の各部位の二次電子画像を得る工程と、その画像に基づいて電気特性の不良なパターンを検出する工程を含む。例文帳に追加

The method comprises the step of obtaining secondary electron images of sites on a sample surface by irradiating the sample surface with charged particle beams, and the step of detecting a pattern having bad electric properties based on the images. - 特許庁

モードＳ二次監視レーダにおけるビームスケジュールの使用効率の低下を抑制するとともに、航空機の監視の精度および信頼性を向上する。例文帳に追加

To suppress the reduction of use efficiency of beam schedule in a mode S secondary surveillance radar and improve the accuracy and reliability of monitoring an aircraft. - 特許庁

試料の垂直方向に対して傾斜させた電子ビームを試料に照射して二次元像を得るときに、試料の上下振動が原因で検査時間が長くなることを防止できる走査形電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope that prevents an inspection time from being extended due to vertical vibration of a sample when obtaining a two-dimensional image by irradiating the sample with an electron beam inclined with respect to the perpendicular direction of the sample. - 特許庁

液滴は塩溶液の形態でコーティング材料の化学的前駆体を含有し、及びプロセスビーム内の熱挙動によって粒子（２）を含む二次小球へと変換される。例文帳に追加

The droplet contains a chemical precursor of the coating material in the form of a salt solution and is converted into a secondary globule containing particles (2) by thermal behavior in the process beam. - 特許庁

二色性の分離器から提供された各々の単色性の成分の色に対して、縮小リレー（８２）は、次に、増加した開口数で空間光変調器（３０）に源の照明を提供するために、照明ビームを縮小する。例文帳に追加

For the colors of the respective monochromatic components provided from the dichroic separator (27), a reducing relay (82), next, reduces the illumination beam in order to provide the space light modulator (30) with illumination of the source at an increased numerical aperture. - 特許庁

陽子ビームを入射して二次荷電粒子を発生させる金属性ターゲットで、核破砕反応から発生する多量の熱量を効率よく連続して迅速に除熱する。例文帳に追加

To efficiently, continuously and quickly cool and remove a plenty of heat generated by nuclear spallation reaction in a metal target generating secondary charged particles by introducing proton beam. - 特許庁

Ｓｉ基板１の表面側からイオンビームでエッチングを行い、フォトレジスト２ｂの形状をＳｉ基板１の表面に転写し、マイクロレンズ３が二次元に配列されたパターンを形成する。例文帳に追加

The surface side of the base plate 1 is etched with an ion beam, and the shape of the photoresist 2b is transferred to the surface of the base plate 1 so as to form the pattern where the microlenses 3 are two-dimensionally arrayed. - 特許庁

少なくとも一つの屈折部を含む電極タブを備えることで、二次電池の隣接単位セルを電気的に接触させる場合、屈折部によりレーザービームの誤照射を防止し得る。例文帳に追加

Since it is equipped with the electrode tab to include at least one refractive part, in the case of electrically contacting the neighboring unit cells of the secondary battery, erroneous irradiation of a laser beam can be prevented by the refractive part. - 特許庁

振動検出用光センサー１は、光源２、偏光ビームスプリッター３、対物レンズ４、波長板ユニット５、及び光検出部として二次元イメージセンサー６，１４を備える。例文帳に追加

A vibration detection optical sensor 1 includes a light source 2; a polarization beam splitter 3; an objective lens 4; a wavelength plate unit 5; and a two-dimensional image sensor 6 as a light detection part. - 特許庁

二次元イメージセンサーの出力信号からビームスポット形状の面積又は半径を測定することによって、振動板の位置又は変位量を検出する。例文帳に追加

Areas or radii of the beam spot shapes are measured based on an output signal of the two-dimensional image sensor, so as to detect a position or displacement magnitude of the diaphragm. - 特許庁

コントローラ３３は、コイル部９を制御して、電子ビームのターゲット部Ｔでの照射野内にターゲット体２３が常に含まれるように、照射野をターゲット部Ｔ上において二次元的に走査する。例文帳に追加

The controller 33 controls the coil 9 to two-dimensionally scans the irradiation field on the target T so that the target body 23 is always included in the irradiation field in the target T of the electron beam. - 特許庁

二次元イメージセンサーの受光面６ａ，１４ａには、振動板の反射面８ａの位置に対応して、同心で異なる半径の円形のビームスポット形状が入射する。例文帳に追加

Circular beam spot shapes with concentric and different radii are made incident on a light-receiving surface 6a of the two-dimensional image sensor in accordance with a position of a reflection surface 8a of the diaphragm. - 特許庁

二次元走査に要する時間を短縮することができ、Ｓ／Ｎ比の良い高分解能の画像を取得することができ、ビーム照射による試料の帯電の影響を低減できる荷電粒子線装置を提供する。例文帳に追加

To provide a charged particle beam device capable of shortening time needed for two-dimensional scanning, obtaining images of high resolution with a good S/N ratio, and decreasing an adverse effect of static charge on a sample due to beam irradiation. - 特許庁

このＬＳＩに電子ビームを照射し、電源線電圧の立ち上がり直後の期間Ｔ１と、立ち下がり直後の期間Ｔ２でそれぞれＬＳＩから放出される二次電子の量を検出する。例文帳に追加

This LSI is irradiated with electronic beams, and the quantity of secondary electrons radiated from the LSI is detected in a period T1 just after the rising of the power line voltage, and in a period T2 just after the falling of the power line voltage. - 特許庁

この眼底Ｅｒでの反射光は対物レンズ１を経てビームスプリッタ２で反射され、受光側開口絞り７、投影レンズ８、超高速光学シャッタ９を経て二次元カラー画像撮像手段１０に投影される。例文帳に追加

The reflected light in this eyeground Er is reflected by a beam splitter 2 via the objective lens 1, and is projected on a two-dimensional color image imaging means 10 via a light receiving side aperture diaphragm 7, a projection lens 8, and a superhigh speed optical shutter 9. - 特許庁

複数のビームでそれぞれ異なる角度で乳房をスキャンして得られた映像を３次元に再構成することにより、乳房の異常有無を容易に把握できるようにする二重照射方式の乳房撮影装置に関する。例文帳に追加

To provide a dual radiation type mammography apparatus, easily acquiring the presence or absence of abnormality of breasts by reforming an image captured by scanning the breasts at different angles by a plurality of beams into a three-dimensional image. - 特許庁

そして、荷電粒子ビーム装置から読み出した登録データと二次荷電粒子像との関連付けによって、高精度かつ容易に加工位置を決定することができる。例文帳に追加

Then, by associating the registered data read from the charged particle beam apparatus with the second charged particle image, it is possible to accurately and easily determine the processing position. - 特許庁

エネルギビームを用いた溶接によって金属箔と集電端子とが溶接され、しかもその溶接面積の大きさを適切に選択した二次電池を提供する。例文帳に追加

To provide a secondary battery where a metal foil and a collecting terminal are welded to each other with welding work using energy beams and still the size of their welding area is adequately selected, and to provide its manufacturing method. - 特許庁

試料上の測長対象の測長を行う試料の測長方法において、二次信号に基づいて得られた測長対象の測長値をビーム径寸法値に関する値で補正する。例文帳に追加

In the length measuring method for the sample in which the length of a length measuring object on the sample is measured, the length measured value of the length measuring object obtained on the basis of a secondary signal is corrected by a value related to a beam diameter size value. - 特許庁

試料１０の表面が所定の電気抵抗値を有する抵抗膜４２により被覆され、荷電粒子ビーム２が試料１０に照射され、試料表面から発生される二次荷電粒子等が検出部１８により検出される。例文帳に追加

The surface of the sample 10 is coated with a resistance film 42 having a predetermined electric resistance value, the charged particle beam 2 is radiated to the sample 10, and a secondary charged particle or the like generated from the sample surface is detected by the detector 18. - 特許庁

負極集電体5を外装缶6の底部62中央の凹部621に対し、二段階に分けてエネルギービーム（レーザ）を照射して、溶接と焼き鈍し処理を順次行う。例文帳に追加

A negative electrode collector 5 is irradiated with energy beams (laser) in two divided steps and then put under welding and annealing processes sequentially to a concave part 621 at the center of a bottom part 62 of the outer package can 6. - 特許庁

試料のPN特性に応じて選択した荷電粒子ビーム照射によって得られた二次電子像の電位コントラスト差から、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク不良箇所を検出する。例文帳に追加

Based on a potential contrast difference of the secondary electron images obtained by the irradiation with the charged particle beams selected depending on PN property of the sample, a failure point of leakage generated due to a defect inside the semiconductor device is detected. - 特許庁

試料に照射ビームを照射し、試料から生じる二次放射線を検出し、試料表面の画像を検出する検出装置において、分解能を向上させ、検査のスループットを向上させる。例文帳に追加

To realize a detecting unit improved in resolution and in check throughput, which irradiates a sample with a radiation beam, detects a secondary radiation emitted from the sample, and detects the image of the surface of the sample. - 特許庁

電子源から発生した電子ビーム１で配線パターン３が形成された試料４上を二次元走査し、この走査により試料４から得られる信号に基づく試料像を表示部７に表示させる様に成す。例文帳に追加

A sample 4 having a wiring pattern 3 formed thereon is two-dimensionally scanned with an electron beam 1 emitted from an electron source, and a sample image based on a signal obtained from the sample 4 through the scan is displayed on a display part 7. - 特許庁

次いで、前記複数のビームを焦点させることによって、試料Ｘから発生した複数の第二高調波を検出し、試料Ｘの物理特性を計測する。例文帳に追加

Next, a plurality of second higher harmonics generated from the sample X are detected by focusing a plurality of the beams and the physical characteristics of the sample X are measured. - 特許庁

β、γまたはＸ線のコーン形または扇形ビームの放射源を、円形の連続進路で移動させるか、または予定のポイントの二次元グリッドの間を、進行させる。例文帳に追加

A radiation source of a conical or fan-shaped beam of β, γor X-ray is moved along a circular continuous course, or traveled between two-dimensional grids of predetermined points. - 特許庁

主機能に干渉せずに、市街灯またはＤＲＬの少なくとも１つの補足的二次機能を満たすカットオフ付主点灯ビームを出すことができる前照灯を提供する。例文帳に追加

To provide a headlamp capable of emitting a principal lighting beam with cut-off satisfying at least one supplemental secondary function of a street lamp or a DRL without interfering with a main function. - 特許庁

試料表面の画像を検出する電子線装置において、マルチビームを用いる場合の二次電子像の拡大率及び合焦条件を容易に合わせることを可能にする。例文帳に追加

To make it possible to easily match a rate of enlargement of a secondary electron image and focusing conditions in the case where multi-beams are used in an electron beam system for detecting an image on the surface of a sample. - 特許庁

二次高真空ビームの動作圧力を下げる時間を少なくするか又はそれをなくすほど十分に低くワークピース試料チャンバ内の圧力を維持するＬＶＳＥＭタイプの荷電粒子検出器を提供する。例文帳に追加

To provide an LVSEM type charged particle detector shortening the time for reducing operation pressure of a secondary high vacuum beam, or maintainig the pressure in a work piece sample chamber sufficiently low to the extent of eliminating the time for reducing the operation pressure. - 特許庁

飛行時間型二次イオン質量分析装置において、試料へ照射される一次試料へ照射される一次ビームの広がりを、数値あるいは実験的で求め、この広がりをボケ関数として用い、画像復元することにより、ボケを低減する。例文帳に追加

To reduce blur in a time-of-flight secondary ion mass analysis spectrometer, by obtaining spread of a primary beam irradiated into a sample numerically or experimentally, and by using this spread as a blurring function and restoring an image. - 特許庁

本発明は、電気部品の上に一次粒子ビームを配置することと、交流信号を電気部品の前に配置された電極に供給し、交流信号の周波数を変化させることと、電気部品より放出され電極を通過した二次粒子を検出し、二次粒子信号を形成することと、及び、対応する二次粒子信号を評価することと、を含む。例文帳に追加

The method includes placement of a primary particle beam 8 on an electric part, supply of AC signals to an electrode which is placed upstream of the electric part and change of frequency of the AC signals, detection of secondary particles 5 emitted from the electric part and passed through the electrode, formation of secondary particle signals, and evaluation of the corresponding secondary particle signals. - 特許庁

ターゲットＴに電子流ＥＦを照射するための電子線光源において、二次元配列され、電子ビームＥＢを形成する複数の電子銃１０と、前記電子銃１０により形成される電子ビームＥＢの電流密度をガウシアン分布とし、これらをオーバーラップさせることで、前記電子流ＥＦを形成する第３グリッド５とを具備する。例文帳に追加

The electron beam light source for irradiating an electron current EF against a target T, is provided with a plurality of number of electron guns 10 which are arranged two-dimensionally and which form electron beams EB, and a third grid 5 which forms the electron current EF, by making the current density have a Gaussian distribution and by making them overlapped. - 特許庁

従来の半導体解析において外観形状観察だけでは検出することが不可能な、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク等の不良箇所を、二次電子像の電位コントラスト差から検出する、荷電粒子ビームおよび集束イオンビームによる半導体装置の検査方法および検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device of inspecting a semiconductor device by charged particle beams and focused ion beams, for detecting, from a potential contrast difference of secondary electron images, a failure point such as leakage due to a defect in the semiconductor device, which cannot be detected merely through appearance shape observation in conventional semiconductor analysis. - 特許庁

超音波診断装置の走査部により、被検体に対して、第一方向ａに沿って、フォーカス位置Ｆにおけるビーム幅が異なる超音波ビームＢｓ，Ｂｂによる走査を行なって走査面Ｔ１又はＴ２を形成し、また第一方向とは異なる第二方向に沿って前記走査面Ｔ１，Ｔ２を複数形成することにより、三次元領域の走査を行なう。例文帳に追加

A scanning section of this ultrasonic diagnostic apparatus scans a subject along a first direction (a) by ultrasonic beams Bs and Bb having different beam widths in a focus position F to form a scanning face T1 or T2 and also scans a three-dimensional region by forming a plurality of scanning faces T1 and T2 along a second direction different from the first direction. - 特許庁

二次元イメージセンサーは受光面６ａ，１４ａに同心で異なる半径の円形ビームスポット形状が振動板の反射面８ａの位置に対応して入射し、その出力信号からビームスポット形状の面積又は半径を測定して振動板の位置又は変位量を検出する。例文帳に追加

On the light-receiving surfaces 6a and 14a of the two-dimensional image sensors, circular beam spot shapes concentric and having different radii are made incident corresponding to the position of the reflection surface 8a of the diaphragm and, from an output signal, the area or the radius of the beam spot shape is measured to detects the position or the displacement magnitude of the diaphragm. - 特許庁

赤外顕微鏡による観察を行いながら荷電粒子ビーム装置における加工・観察対象箇所１が視野内にくるように移動し、加工・観察対象箇所１周辺に光学観察系と同軸に配置されたレーザー光学系７によって、荷電粒子ビーム装置における二次荷電粒子像の目印となるレーザーマーク２をつける。例文帳に追加

A laser mark 2 to be the positioning mark for a second charged particle image in the charged particle beam apparatus is made at the periphery of a processing/observation object area 1 by moving the processing/observation object area 1 in the charged particle beam apparatus so as to come into the visual field while performing an observation with an infrared microscope and by using a laser optical system 7 arranged coaxially with an optical observation system. - 特許庁

イオンビーム照射によるスパッタエッチングによって試料１の表面から放出される二次イオン４を検出し、試料１中に含まれる元素の深さ方向分布を測定する際に、試料１を酸素雰囲気２に曝した状態でイオンビームを照射して、試料１の極表面での元素分布評価を行う。例文帳に追加

When a secondary ion 4 released from the surface of a sample 1 through sputter etching by ion beam radiation is detected, and the depth-wise distribution of the element containing in the sample 1 is measured, an ion beam is irradiated in a state where sample 1 is exposed to an oxygen atmosphere 2, and the element distribution on the extreme surface of the sample 1 is evaluated. - 特許庁

一次電子ビーム２の照射によって試料１４表面から放出された二次電子１８は、試料室内に配置された複数の電極の作る電界によって、試料表面から電界供給電極１１に向かってドリフトする。例文帳に追加

A secondary electron 18 emitted from a sample 14 surface by irradiation of a primary electron beam 2 is drifted from the sample surface toward an electric field supply electrode 11 by an electric field made by a plurality of electrodes arranged in the sample room. - 特許庁

一次電子線の収差を増やさずに二次信号を効率よく検出することにより高分解能でかつ高コントラストな観察像を取得し、観察像により欠陥を検出することにより検査速度を高速・高感度にする荷電粒子ビーム装置を得る。例文帳に追加

To obtain a charged particle beam device which conducts an inspection at high speed with high sensitivity by acquiring an observation image of high resolution and high contrast through efficiently detecting a secondary signal without increasing aberration of a primary electron beam, and by detecting defects from the observation image. - 特許庁

本発明では、FIBカラムとSEMカラムを備える複合荷電粒子線装置に、電子ビームを試料に照射したときに発生する後方散乱電子が試料室の構造物に衝突することによって放出される二次電子（本明細書では、三次電子という）を検出するSE3検出器を設けている。例文帳に追加

A composite charged particle beam device equipped with an FIB column and an SEM column is provided with an SE3 detector detecting a secondary electron (referred to herein as a third-order electron) emitted by a back scattered electron generated when a sample is irradiated with an electron beam and colliding a structure in a sample chamber. - 特許庁

評価装置は、試料１０の表面に一次光学系を介して複数の電子線を供給する電子ビーム生成手段１〜９と、試料１０の表面から放出される二次電子線を検出器１７に導く二次光学系１４、１５と、試料１０を複数の電子線に対して相対的に移動させる移動手段１２、Ｓとを具備する。例文帳に追加

This evaluating device is provided with electron beam generating means 1 to 9 for supplying plural electron beams to a surface of a sample 10 via the primary optical system, the secondary optical systems 14 and 15 for introducing a secondary electron beam emitted from the surface of the sample 10 to a detector 17, and moving means 12 and S for relatively moving the sample 10 to the plural electron beams. - 特許庁

共振器光ファイバジャイロにおける第二次高調波歪みを抑制するための装置及び方法は、変調された信号に従って、光ファイバ共振器を通って進む、複数の対向伝搬レーザビームのうちの少なくとも１つを発生するレーザを変調駆動することを含む。例文帳に追加

The device and the method for suppressing the second order harmonic distortion in a resonator fiber optic gyroscope includes modulating and driving a laser to generate at least one of a plurality of counter propagating laser beams traveling through the fiber optic resonator according to a modulated signal. - 特許庁

電子銃から放射された電子ビームが、静電レンズ４−１及び対物レンズ１１−１等を介して、Ｘ−Ｙ−θステージ９−１に載置された試料Ｗに照射されと、試料Ｗから二次電子又は反射電子が放出される。例文帳に追加

When electron beam irradiated from an electron gun is irradiated on a sample W placed on an X-Y-θ stage 9-1 through an electrostatic lens 4-1 and an objective lens 11-1 or the like, secondary electron or reflective electron is emitted from the sample W. - 特許庁