DEFECTIVEを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10571件
To provide a method of easily inexpensively repairing a defective pixel, and to provide a display device in which the defective pixel is repaired by the method.例文帳に追加
欠陥画素を簡便に、かつ、低コストでリペアすることができる欠陥画素のリペア方法及びそれにより欠陥画素がリペアされた表示装置を提供する。 - 特許庁
To obtain a semiconductor testing apparatus which shortens the time required for judging whether the defective bit of a semiconductor memory can be relieved or not and which reduces the memory capacity of a defective-bit storage memory.例文帳に追加
半導体メモリの不良ビット救済可否判定に要する時間を短縮しかつ不良ビット記憶メモリの記憶容量を低減する。 - 特許庁
An interpolation candidate pixel selection unit 340 determines a class of each of pixels in the picked-up image and selects pixels around the pixel on the basis of the class of the defective pixel and a result of the determination of whether the defective pixel is included in the defective pixel group or not.例文帳に追加
補間候補画素選択部340は、撮像された画像における各画素の種別を判定し、欠陥画素の種別と欠陥画素群に含まれるか否かの判定結果とに基づいて画素の周辺画素を選択する。 - 特許庁
To provide a nonvolatile semiconductor storage device capable of preparing an address table of a defective block and shortening a time for detecting the defective block and to provide a system for incorporating the nonvolatile semiconductor storage device, and a defective block detecting method.例文帳に追加
不良ブロックのアドレステーブルの作成および不良ブロックの検出時間を短縮することができる不揮発性半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置組込システムおよび不良ブロック検出方法を提供する。 - 特許庁
Then the device selects the nondefective and defective work substrates by removing the defective work substrates from the tray and, at the same time, a work substrate replenishing device replenishes the vacant housing spaces formed in the tray when the defective work substrates are removed from the tray with discriminated nondefective work substrates.例文帳に追加
不良判定品をトレーから排除することにより良・不良の選別を行なうとともに、不良判定品除去後のトレーにおける空き収容部に、ワーク基板補充装置により良判定品を補充する。 - 特許庁
A defective part N, for which a determination result of a true defective part N is input through the input unit 7 among the defective parts N found on the substrate PB, is displayed by the image display unit 6 as a part which needs to be repaired.例文帳に追加
発見された基板PB上の不良箇所Nのうち、入力器7より真の不良箇所Nであるとの判断結果が入力された不良箇所Nは要修理箇所として画像表示器6に表示される。 - 特許庁
Thus, even when the component independently of the storage time is dispersed among the respective detection elements, since the defective element can be discriminated without being affected by the dispersion, the defective element extract section 15 can accurately extract the defective element.例文帳に追加
よって、蓄積時間に依存しない成分が各検出素子間でバラついている場合であっても、その影響を受けることなく欠陥素子の判定を行うことができるので、正確に欠陥素子を抽出することができる。 - 特許庁
To provide a defective pixel correcting method capable of correcting the pixel value of a defective pixel with high accuracy without deteriorating resolution feeling in comparison with the conventional method that uses ambient pixel information to correct a defective pixel, and to provide a photographing device.例文帳に追加
周囲の画素情報を用いて欠陥画素を補正する従来の方法に比べて、解像感を落とすことなく、欠陥画素の画素値を精度よく補正できる欠陥画素補正方法及び撮影装置を提供する。 - 特許庁
The defective pixel position information obtained by the extraction is the positional information of defective pixels increased during the period of using a plane sensor by a user and the increased defective pixel position information also can be used for correcting an image.例文帳に追加
この抽出により得られた欠陥画素位置情報は、ユーザが平面センサを利用している最中に増加した分の欠陥画素の位置情報であり、この増加欠陥画素位置情報をも画像補正の対象とすることができる。 - 特許庁
To provide a detection method of a defective pixel in a two-dimensional array X-ray detector, and a detection device of the defective pixel detecting the defective pixel having a growing property wherein the size becomes larger in a short time.例文帳に追加
短時間でその大きさが大きくなる成長性を有する欠損画素を検出することが可能な二次元アレイX線検出器における欠損画素の検出方法および欠損画素の検出装置を提供する。 - 特許庁
To obtain an apparatus and method for prepairing a defective pixel of a flat panel display device which can perform a repair operation for a bright spot defective pixel and a dark spot defective pixel, and confirm whether the repair operation is successful or not by using a single apparatus.例文帳に追加
輝点欠陥画素、滅点欠陥画素のリペア加工とそのリペア加工の成否の確認が1台の装置で行うことができるフラットパネルディスプレイディバイスの欠陥画素リペア装置及びその欠陥画素リペア方法を得る。 - 特許庁
To provide a defective pixel correction method and apparatus for preventing a defective pixel portion from getting unnatural in comparison with surrounding pixels even when an object with a fine picture pattern is imaged in an imaging device in which a defective pixel is present.例文帳に追加
欠陥画素の存在する撮像素子において、細かい絵柄の被写体を撮像した場合にも、欠陥画素部分が周囲の画素と比較して不自然になることを防止する欠陥画素の補正方法及び装置を提供する。 - 特許庁
Furthermore, even after physical reformatting is performed, a defective cluster, if any, in the spare area 15 can still be recognized as a defect and the control operation can be performed so that a replacement cluster is not re-allocated to the defective cluster (i.e., the defective cluster is not used).例文帳に追加
また、物理再フォーマットを行った後も、スペア領域15中の欠陥クラスタに対して欠陥であることを認識して、そこを交替クラスタとして再割り当てしない(使用しない)ように制御することができる。 - 特許庁
To provide a defective spot detection method of a waterproof sheet capable of detecting a defective spot of an impervious sheet visually, even at a site having large noise, and detecting defective spots without laying double waterproof sheets.例文帳に追加
騒音の大きな現場においても目視で遮水シートの欠陥箇所を検知することができ、しかも防水シートを二重にして敷設することなく欠陥箇所の検知が可能な防水シートの欠陥箇所検知方法を提供する。 - 特許庁
Then, the system controller 40 decides whether defective pixels are increased, by comparing the number of pixels of defective pixels detected by a position detector 51 with the number of pixels of defective pixels memorized by a positional information storage 52.例文帳に追加
その後、システムコントローラ40は、位置検出部51によって検出された欠陥画素の画素数と、位置情報記憶部52に記憶された欠陥画素の画素数とを比較して、欠陥画素が増加したか否かの判定を行う。 - 特許庁
A digital signal processing section 32 carries out processing of interpolating the pixel of the image data for the ordinary recording existing in the address of the defective pixel recorded in the ROM 46 with surrounding homochromatic pixels and filling back the defective pixel to correct a defective image.例文帳に追加
デジタル信号処理部32は、ROM46内に記録してある欠陥画素のアドレスに存在する通常記録用の画像データの画素を周囲の同色画素から補間して埋め戻す処理を行うことにより、キズを補正する。 - 特許庁
To provide a method of a detecting defective part in a coating capable of detecting the presence of the coating defective part of an embedded metal pipe, and a position of the coating defective part, without traffic regulation, or with only a short time of the traffic regulation.例文帳に追加
埋設金属管の塗覆装欠陥部の有無ならびに塗覆装欠陥部の位置を交通規制をしないで、若しくは短時間の交通規制のみで検出可能な塗覆装欠陥部検出方法を提供する。 - 特許庁
The control unit CONT makes a negative pressure generated near a defective nozzle whereat the jetting failure of the fluid is detected by the detecting part, and also drives a driving element corresponding to the defective nozzle to discharge the fluid from the defective nozzle.例文帳に追加
制御部CONTは、検出部により流体の噴射不良が検出された不良ノズルの近傍に負圧を発生させるとともに、不良ノズルに対応する駆動素子を駆動して不良ノズルから流体を排出させる。 - 特許庁
To provide a defective image preserving device capable of preserving a defective image during a long period such as the time until a fault flow-out accident is visualized or the like and a defective image reproducing unit capable of reproducing the preserved image.例文帳に追加
不良の流出事故が顕在化するまで、等の長い期間において欠陥画像を保存しておくことができる欠陥画像保存装置と、その保存した画像を再生することができる欠陥画像再生装置とを提供する。 - 特許庁
When a defective part 3 is generated on an abrasion resistant part 2 to be attached to a base member 1, a repairing material 4 is applied to the defective part 3 and heated, the repairing material 4 is melted in the defective part 3, and new abrasion resistant parts 5, 6 are attached.例文帳に追加
基材1に被着させる耐摩耗部2に欠陥部3が発生した場合、その欠陥部3に補修材4を被着させて加熱し、補修材4を欠陥部3に溶け込ませた後、新たな耐摩耗部5,6を被着させる。 - 特許庁
As the block status, there are information indicating a non-defective block and information indicating a defective block, and in the physical block with the management information written therein, information indicating an FOh or OFh defective block is written as a block status.例文帳に追加
ブロックステータスとしては、良品ブロックを示す情報と不良ブロックを示す情報とがあり、管理情報が書き込まれた物理ブロックには、F0h或いは0Fhの不良ブロックを示す情報がブロックステータスとして書き込まれる。 - 特許庁
In an initial inspection, defect detection processing for the solid- state image pickup element is performed, a defect number is attached to the detected defective pixel, and defect information (a defective part and a defective level) is successively stored in a memory space block 10.例文帳に追加
初期検査時において、固体撮像素子の欠陥検出処理を行い、この検出された欠陥画素に欠陥番号を付して欠陥情報(欠陥個所、欠陥レベル)を順次メモリ空間ブロック10に格納していく。 - 特許庁
By scanning the liquid crystal display device with laser beam to illuminate a defective region such as a bright defect or the like, the manufacturing device can decrease the transmittance in the defective region and can manufacture a liquid crystal display device having the defective region hardly visible.例文帳に追加
レーザ光を走査して液晶表示装置の輝点欠陥等の欠陥領域に照射することにより、欠陥領域の透過率を低減し、欠陥領域を目立たなくした液晶表示装置を製造することができる。 - 特許庁
Or the defective capacitance in the display abnormality of a pixel can be revised, by preparing a switching element for repair in the pixel and by cutting off a defective switching element, when a defect is generated in the switching element and by connecting the switching element for repair, instead of the defective switching element.例文帳に追加
または補修用スイッチング素子を画素内に準備しておきスイッチング素子に欠陥が生じた場合欠陥スイッチング素子を切り離し補修用スイッチング素子を接続して画素の表示異常の不具合品を手直しできる。 - 特許庁
Thus, at the part, defective charging of the toner T occurs and a defective image occurs on a paper moreover, so that the operator can get to know the replacing time of the toner T by coming with the occurrence of the defective image.例文帳に追加
これにより、当該部分ではトナーTに帯電不良が生じ、更には用紙上に画像不良が生じるから、オペレータはこの画像不良が生じたことをもってトナーTの交換時期に至ったことを知ることが出来る。 - 特許庁
From the number of the defective semiconductor chip and the group address of the semiconductor chip 30 to be measured for simultaneous measurement, an address is assigned to the defective semiconductor chip so that the address of the defective semiconductor chip may be presented for the creation of a wafer decision map.例文帳に追加
該不良半導体チップの番号と同時測定対象半導体チップ30のグループアドレスとから該不良半導体チップにアドレスを割り当て、該不良半導体チップのアドレスをウエハ判定マップの作成に供する。 - 特許庁
A retrieval circuit 5-1 retrieves, based on an input block address, defective block addresses stored in the first storage part 5-2 and reads, when a defective block address matched thereto is present, an alternative block address corresponding to this defective block address.例文帳に追加
検索回路5-1は、入力されたブロックアドレスに基づき、第1の記憶部5-2内に記憶された不良ブロックのアドレスを検索し、これらが一致した場合、不良ブロックのアドレスに対応した代替ブロックのアドレスを読み出す。 - 特許庁
This dimensional defective separator is composed of a discriminating device 20 for automatically discriminate whether or not it is a defective falling wide of a specified dimension in an outside dimension of a product on a carrying stand 10 cut from log paper R and a dropping device 30 for dropping the dimensional defective from above the carrying stand on the basis of dimensional defective discriminating output by the discriminating device.例文帳に追加
ログペーパーRから切断された搬送台10上の製品の外形寸法が規定寸法から外れる不良品であるか否かを自動的に判別する判別装置20と、判別装置による寸法不良品判別出力に基ずいて寸法不良品を搬送台上から落下させる落下装置30とからなる。 - 特許庁
To provide a method for modifying a defective part of a photomask having gradation by which a minute defective part can be modified with an existing device for modifying a defective part of a photomask and by which the remaining film amount of resist on a transfer substrate can be controlled, with respect to a method for modifying a defective part of a transluecent film of a photomask having gradation, and to provide a photomask.例文帳に追加
階調をもつフォトマスクの半透明膜の欠陥修正方法において、現状のフォトマスク欠陥修正装置を用いて微小欠陥を修正することが可能であり、被転写基板上のレジスト残膜量を制御し得る階調をもつフォトマスクの欠陥修正方法およびフォトマスクを提供する。 - 特許庁
A semiconductor device 1 includes a BIST circuit 42 which detects a defective bit of a connected DRAM, and obtains an address of the detected defective bit, a nonvolatile eFuse macro 13 holding the address of the defective bit of the DRAM 2 detected by the BIST circuit 42, and a repair register 51 storing bit information of the address of the defective bit.例文帳に追加
半導体装置1は、接続されるDRAM2のビット不良を検出し、検出したビット不良のアドレスを得るBIST回路42と、BIST回路42により検出されたDRAM2のビット不良のアドレスを保持する不揮発性のeFuseマクロ13と、ビット不良のアドレスのビット情報を記憶するリペアレジスタ51とを有する。 - 特許庁
Regarding the same semiconductor wafer, the defective chip on the defective map is synthesized with the probe map as the defective chip, and a mark is put on the "defective" chip on the basis of the synthesized probe map.例文帳に追加
同一半導体ウエハについて、パターン検査で得られた欠陥情報からなる欠陥マップとプローブ検査で得られた電気的特性の良否情報からなるプローブマップとを取り込み、前記欠陥マップ上の欠陥チップを不良チップとして前記プローブマップに合成し、その合成したプローブマップに基づき「不良」のチップにマークを付ける。 - 特許庁
The boundary of a region of defective-item feature value is corrected such that the region of the defective-item feature value, a region containing feature value extracted from the object to be inspected determined as a defective item by the discriminator, may be larger than a region of defective-item characteristic region determined by the learning of the support vector machine.例文帳に追加
そしてその識別器が不良品と判定する検査対象物から抽出される特徴量が含まれる領域である不良品特徴量領域が、サポートベクターマシンの学習により決定された不良品特徴量領域よりも広くなるように、不良品特徴量領域の境界が修正されている。 - 特許庁
A defective discriminator 152 extracts the addresses of a predetermined number from a higher order whose data value is large at a point when data value of at least one address on the frame memory 20 for defective detection reaches a predetermined standard value, determines that the pixel corresponding to the address is a defective pixel, and registers it in a defective position information 19a.例文帳に追加
欠陥判定部152は、欠陥判定用フレームメモリ20上の少なくとも1つのアドレスのデータ値が所定の基準値に達したときに、その時点でデータ値が大きい順に上位から所定数のアドレスを抽出し、当該アドレスに対応する画素を欠陥画素と判定して欠陥位置情報19aに登録する。 - 特許庁
A CPU 10 detects a defective area in the recording area of an optical disk 4, secures an alternative area having the same size as that of the detected defective area for the defective area from the free area of the recording area, and records defect alternating information composed of the addresses and sizes of the alternative and defective areas on the optical disk 4.例文帳に追加
CPU10は、光ディスク4の記録領域の欠陥領域を検出し、その検出された欠陥領域に対するその欠陥領域と同サイズの代替領域を記録領域の空き領域から確保し、代替領域と欠陥領域のアドレス及びサイズの欠陥代替情報を光ディスク4に記録する。 - 特許庁
When a defective sector with data defects is detected as the result of a data read failure upon read access to a logic disk 12, a data defect registering part 113 causes defect information that indicates the data defects in the defective sector to be recorded in the defective information area of an alternative sector to which the defective sector is allocated.例文帳に追加
データ欠損登録部113は、論理ディスク12へのリードアクセス時のデータ読み出し失敗によりデータ欠損のある不良セクタが検出された場合、当該不良セクタに関し、当該不良セクタが割り当てられる代替セクタの欠損情報領域に“データ欠損あり”を示す欠損情報を記録する。 - 特許庁
To provide a defective factor estimation method allowing estimation without missing a treatment chamber that is a defective product occurrence factor even if a production device uses a plurality of treatment chambers, and not allowing erroneous estimation that a group that is not a defective factor is the defective factor even if the production device comprises a plurality of groups.例文帳に追加
製造装置が複数の処理室を用いていても、不良品発生要因となっている処理室を見逃すことなく推定できると共に、製造装置が複数のグループから構成されていても、不良要因でないグループも不良要因であると誤推定してしまうことがない不良要因推定方法を提供する。 - 特許庁
A defective level of a defective pixel of an imaging element is detected, a peripheral luminance level of a defective pixel periphery is calculated, and defective pixel correction of only a defective pixel which is visually conspicuous is performed to obtain an excellent image whose decreases in resolution and resolving feeling, false color generation, etc., are minimized and also to prevent the defective pixel correction from being excessively performed.例文帳に追加
撮像素子における欠陥画素の欠陥レベルを検出するとともに、欠陥画素周辺の周辺輝度レベルを算出し、欠陥画素周辺の周辺輝度レベルと欠陥画素の欠陥画素レベルとから、視覚的に欠陥画素が目立ちやすい画素についてのみ欠陥画素補正を行うようにすることにより、解像度、解像感の低下、偽色の発生などを最小限に抑えた良好な画像が得られるようにして、欠陥画素補正が過度に行われるのを防止するようにする。 - 特許庁
BODY FLUID TREATMENT DEVICE AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECTIVE CONNECTION IN BODY FLUID CIRCUIT例文帳に追加
体液処理装置および体液回路内の接続不良の検出方法 - 特許庁
ERASING PULSE SETTING METHOD FOR NONVOLATILE MEMORY, AND DEFECTIVE ERASING SCREENING METHOD例文帳に追加
不揮発性メモリの消去パルス設定方法及び消去不良スクリーニング方法 - 特許庁
To prevent defective images due to blisters, and also to reduce dispersion of gloss.例文帳に追加
ブリスターによる画像欠陥を防止すると共に、グロスのばらつきを少なくする。 - 特許庁
METHOD OF REPAIRING DEFECTIVE PART OF CABLE HOUSING CONDUIT AND CONDUIT MATERIAL USED FOR IT例文帳に追加
ケーブル収容管路の欠損部の補修方法及びそれに用いる管路材 - 特許庁
To prevent any defective stacking when recovering slide mounts after reading an image.例文帳に追加
画像読み取り後のスライドマウントを回収する際の集積不良を防止する。 - 特許庁
When the defective sector region is present widely, file management information is recorded.例文帳に追加
不良セクタ領域が広範囲に存在する時、ファイル管理情報を記録する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING DEFECTIVE PROCESS, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
不良工程推定方法、不良工程推定装置、プログラム、並びに記録媒体 - 特許庁
To detect a defective portion (film crack and resin crack) in a resin layer of a laminate film.例文帳に追加
ラミネートフィルムの樹脂層の欠損部分(膜割れ、樹脂割れ)を検出する。 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR REPAIRING DEFECTIVE PIXEL OF FLAT PANEL DISPLAY DEVICE例文帳に追加
フラットパネルディスプレイディバイスの欠陥画素リペア装置及びその欠陥画素リペア方法 - 特許庁
An error detecting section 203 detects defective data included in the data of the content.例文帳に追加
エラー検出部203はコンテンツのデータに含まれる欠陥データを検出する。 - 特許庁
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