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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > IMAGE INSPECTIONに関連した英語例文

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IMAGE INSPECTIONの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3431



例文

To realize a density data conversion method and a device capable of acquiring equivalent thickness image density data having excellent linearity to the work thickness, and to provide an X-ray inspection system having high measuring accuracy of a volume, a mass or the like.例文帳に追加

ワーク厚さに対する直線性の良好な等価厚画像濃度データが得られる濃度データ変換方法および装置を実現し、体積や質量等の測定精度が高いX線検査システムを提供する。 - 特許庁

The inspection device 1 is equipped with a feed means 10 for feeding a glass substrate G and a camera 21 for taking the image of the state of the pattern formed on the glass substrate G during the feed by the feed means 10.例文帳に追加

検査装置1は、ガラス基板Gを搬送する搬送手段10、および、搬送手段10により搬送中のガラス基板G上に形成されたパターンの状態を撮像するカメラ21を備えている。 - 特許庁

When the photographed image, obtained by photographing the packaging substrate P in which an electronic component E has been carried, is compared and collated with reference data included in the inspection data and inspected, the object is the method of creating the inspecting data.例文帳に追加

本発明は、電子部品Eが搭載された実装基板Pを撮像して得られる撮像画像を、検査用データに含まれる基準データと比較照合して検査するに際し、検査用データを作成する方法を対象とする。 - 特許庁

A primary candidate extraction part 11 binarizes the gradation image of the surface of a wood material divided into a plurality of inspection target regions photographed by the line sensor camera, and extracts a primary defect candidate region.例文帳に追加

一次候補抽出部11は、複数の検査対象領域に区画されている木材の表面をラインセンサカメラにより撮像した濃淡画像を2値化し、一次欠陥候補領域を抽出する。 - 特許庁

例文

A low-pass filter is applied to a picture element inside the image so that a center of the low-pass filter selectively shifts in regard to a present picture element on the basis of an inspection when the low-pass filter is applied.例文帳に追加

ローパスフィルタを適用するとローパスフィルタの中心が検査に基づいて現画素に対して選択的にシフトするように、ローパスフィルタを画像の中の画素に適用する。 - 特許庁


例文

The inspection step inputs the feature amount acquired from an image after mounting work in the support vector machine that generated the discriminator and determines whether a component is present or absent.例文帳に追加

そして、実装作業後画像から取得した実装作業後特徴量を、識別器を生成したサポートベクタマシンに入力して部品の有無を判定する。 - 特許庁

A component pattern figure is displayed on a screen of a display 14, an inspection order is indicated on the component pattern figure by a mark, and the inspected component 1 is image-picked up by a CCD camera 7.例文帳に追加

表示装置14の画面に部品パターン図を表示するとともに、その部品パターン図に検査順序をマークで指示する一方、検査台に載置された被検査部品1をCCDカメラ7で撮像する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device accurately detecting a foreign substance by accurately specifying and correcting a background part in an X-ray image.例文帳に追加

X線画像における背景の部分を正確に特定して補正を行うことで高精度な異物検出を行うことが可能なX線検査装置を提供する。 - 特許庁

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.例文帳に追加

ウェーハ7の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁

例文

To easily approach an image RT apparatus to a plurality of inspected objects arranged within a factory plot to carry out efficiently X-ray inspection work in a short time.例文帳に追加

工場敷地内に配置された複数の被検査体に対し、イメージRT装置を容易に接近できるようにし、X線検査作業を短時間に、かつ効率的に実施できるようにする。 - 特許庁

例文

To provide an image processing method and apparatus that can be made fast, high in precision, and low-cost even when an inspection range of a product is wider in a moving direction (in a lateral direction) than a photographic range.例文帳に追加

製品の検査範囲が撮影範囲よりも移動方向(横方向)に広い場合であっても、高速化、高精度化および低コスト化が可能な画像処理方法および装置を提供する。 - 特許庁

To heighten inspection accuracy of PET (Positron Emission Tomography) examination by heightening resolution performance of a distribution image of a positron emissive nuclide when performing PET examination in a narrow range of a part of a subject, in a PET device capable of performing PET examination of a whole body.例文帳に追加

全身のPET検査が可能なPET装置において、被検体の一部の狭い範囲をPET検査する場合のポジトロン放出性核種の分布像の分解性能が高め、PET検査の検査精度を高める。 - 特許庁

In the background pattern direction calculating step ST4, the comparison of inspection data with respective comparison data is performed while moving the respective comparison data in a scanning direction and the background pattern direction of a taken image is calculated on the basis of the comparison results.例文帳に追加

背景パターン方向算出工程ST4は、検査データおよび各比較データの比較を、各比較データを前記走査方向に移動しながら行い、その比較結果に基づいて撮像画像の背景パターン方向を算出する。 - 特許庁

To provide a compound machine and a printing image inspection method in the compound machine which can inspect printing result, without changing the hardware configuration of the conventional compound machine.例文帳に追加

従来の複合機のハードウェア構成を変更することなく、印刷結果を検査することができる複合機および複合機における印刷画像検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device constituted so as to display an input screen, capable of grasping operation content intuitively in a case ready to execute arithmetic operation or logical operation using an X-ray image.例文帳に追加

X線画像を用いた算術演算や論理演算を実行しようとする場合に、直感的に演算内容を把握することができる入力画面を表示するようにしたX線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus in which even when an uninspected substrate or a substrate rejected in inspection is mixed, such a substrate can surely be identified in the course of the assembly of the apparatus.例文帳に追加

未検査基板、検査不合格基板が混入した場合であっても、装置組立の段階で確実にこのような基板を識別できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a feed driver for stable continuous image inspection of hoop-like products, which enhances reliability of measurement and reduces the frequency of line stops due to decision error.例文帳に追加

測定の信頼を高め、判定誤差によるラインの停止頻度を低減し、安定したフープ状製品の連続画像検査用送り駆動装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method that improves pseudo resolution by image processing and detects a defect in a workpiece to be inspected with high accuracy.例文帳に追加

画像処理による擬似的な解像度の向上を実現し、検査対象であるワークに存在する欠陥を高精度に検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a camera inspection device which is capable of precisely detecting a stain in image data by reducing an influence of luminance shading that an optical system of a camera has.例文帳に追加

カメラの光学系がもつ輝度シェーディングの影響を低減して、画像データ中のシミを精度よく検出することができるカメラ検査装置を提供する。 - 特許庁

That is, the pitch of inspection patterns simultaneously displayed is different from the pitch of the data lines to which the same image signal is supplied when driving a liquid crystal device.例文帳に追加

即ち、同時に表示される検査パターンのピッチは、液晶装置の駆動時に同一の画像信号が供給されるデータ線のピッチと異なる。 - 特許庁

At a seat determining part 4, each inspection seat is separately inspected in using/non-using states from image data of the frame memory 2 for determining a using state of the whole seats on the basis of the inspected results.例文帳に追加

座席判定部4では、フレームメモリ2の画像データから、各検査座席について個別に使用/未使用状態を検査し、これら検査結果に基づき車内の全座席の使用状態を判定する。 - 特許庁

To provide a lighting inspection method to easily detect and evaluate the fault and variation of an image pickup element, or deviation and variation of lighting conditions and a method for manufacturing a plane display device using the above method.例文帳に追加

撮像素子の不具合やバラツキ、または照明条件のズレやバラツキを容易に検出し評価できる点灯検査方法、及びこれを用いた液晶表示装置その他の平面表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

By utilizing the charge by the electron beam irradiation, a defect is detected by performing inspection, by acquiring a potential contrast image in a state in which the difference in the electrical resistance value between the normal part and the defective part is increased sufficiently.例文帳に追加

電子ビーム照射による帯電を利用し、正常部と欠陥部の電気抵抗値の差を十分増大させた状態で電位コントラスト像を取得して検査を行い欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an inspection device and method which inspects precisely and quickly a defect in an image display panel for displaying images in two or more of different directions.例文帳に追加

異なる2つ以上の方向に画像を表示する画像表示パネルの欠陥を高精度、かつ、高速に検出する検査方法、および、検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection method and device which enable even an inexperienced operator to easily conduct the optimum-setting of image-pickup and illumination conditions, and impose only a very small burden.例文帳に追加

撮像条件や照明条件の最適設定について、未熟なオペレータであっても適正に行なうことが容易であり、負荷が極めて小さい検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

Images of the foreign matter particles in respective positions on a reference wafer are acquired using a microscope type surface inspection device, and are image-processed to calculate particle sizes of the respective foreign matter particles.例文帳に追加

また、顕微鏡型表面検査装置を用いて、基準ウェーハの各位置における異物粒子の画像を取得し、画像処理を行って各異物粒子の粒径を算出する。 - 特許庁

The visual inspection system based on the image of a sheet-like article comprises means for setting a boundary luminance level as a specified luminance level of a image, i.e., the image of a reference sheet-like article, and means for setting a non-inspection area based on an area exceeding the boundary luminance level in the image of a sheet-like article being inspected.例文帳に追加

薄板状物品の撮像画像に基づいて外観検査を行う外観検査装置において、基準となる薄板状物品の撮像画像である基準画像における所定の輝度レベルとして境界輝度レベルを設定する境界輝度レベル設定手段と、検査対象となる薄板状物品の撮像画像である検査対象画像において前記境界輝度レベルを超える輝度レベルの領域に基づいて非検査領域を設定する非検査領域設定手段と、を有するようにした外観検査装置。 - 特許庁

This incorrect collating detecting method in a bookbinding machine is performed on the basis of the comparison between a standard image, which is the picked-up image of a regular signature, and the image of an object of inspection, which is the picked-up image of the signature as the object of inspection.例文帳に追加

正規の折丁の撮像画像である基準画像と検査対象の折丁の撮像画像である検査対象画像に基づいて製本機において乱丁を検知する方法であって、前記基準画像における所定領域を設定する領域設定過程と、前記所定領域および前記所定領域に対応する前記検査対象画像の対応領域において特徴パラメータを演算する特徴パラメータ演算過程と、前記所定領域の特徴パラメータと前記対応領域の特徴パラメータとを比較して前記検査対象の折丁が乱丁であるか否かを判定する特徴パラメータ比較過程と、を有する乱丁検査方法。 - 特許庁

To provide a toner container, an image forming apparatus and a developing device improving and stabilizing color reproducibility on an output image even when a variation in the coloring degree is caused without increasing manufacturing cost or inspection cost.例文帳に追加

トナーの製造コストや検査コストを高コスト化することなく、トナーの着色度にバラツキが生じても出力画像上の色再現性を良好化かつ安定化することができる、トナー容器、画像形成装置、及び、現像装置を提供する。 - 特許庁

The welding electrode inspection device is constituted such that the camera 2 can detect the image of one welding electrode tip 501 of the pair of welding electrode tips 5 directly and can detect the image of the other welding electrode tip 502 indirectly through the reflection mirror 3.例文帳に追加

一対の溶接電極チップ5のうちの一方の溶接電極チップ501を、カメラ2によって直接的に画像検出すると共に、他方の溶接電極チップ502を、反射鏡3を介してカメラ2によって間接的に画像検出することができるよう構成されている。 - 特許庁

In this inspection method of photographing an inspected surface of an article with a CCD camera and inspecting the article surface based on the image, any two pixels are selected from pixels showing the inspected surface in the image, and the article surface is inspected by comparison thereof.例文帳に追加

物品の被検査面をCCDカメラにより撮影し,その画像によって物品表面を検査する方法であって,画像中において被検査面を示している画素から任意の2つの画素を選択し,それらを比較することによって物品の表面を検査をする。 - 特許庁

In a pattern inspection device 1, an image to be inspected of multiple gradation of a substrate 9 by irradiating an electron beam onto the substrate 9 from an electron beam exit part 31 and detecting electrons from the substrate 9 with an image acquiring part 33.例文帳に追加

パターン検査装置1では、電子ビーム出射部31から基板9上に電子ビームが照射され、画像取得部33により基板9からの電子が検出されることにより基板9の多階調の被検査画像が取得される。 - 特許庁

The QC phantom is provided for performing the inspection of a radiation image reader, and at least the surface of a metal member constituting a pattern for image quality evaluation used in the QC phantom is interrupted from air.例文帳に追加

放射線画像読取装置の検査を行うためのQCファントムであって、少なくとも、前記QCファントム中に用いられている画質評価用パターンを構成する金属部材表面が空気から遮断されていることを特徴とするQCファントム。 - 特許庁

This infrared image inspection device 10 is provided with a heating source 11, a shielding body 16 having an infrared reflecting face, an infrared camera 12, and a signal processing system 13 having an infrared image signal processing part 22 connected to the infrared camera 12 via a signal cable 14.例文帳に追加

赤外線映像検査装置10は、加熱源11と、赤外線反射面を有する遮蔽体16と、赤外線カメラ12と、赤外線カメラ12に信号ケーブル14を介して接続した赤外線映像信号処理部22を有する信号処理系13とを具備する。 - 特許庁

For instance, nuclear magnetic resonance signals generated from an inspection object are acquired in a steady state shifting sequence performed between the signal acquisition sequences for the image reconstitution, and the reception gain in the signal acquisition sequence for the image reconstitution is set on the basis of the acquired nuclear magnetic resonance signals.例文帳に追加

例えば、画像再構成用信号取得シーケンスの間に行う定常状態移行シーケンスにおいて、検査対象から生じる核磁気共鳴信号を取得し、これに基づき、画像再構成用信号取得シーケンスにおける受信ゲインを設定することができる。 - 特許庁

To obtain a charged particle beam device which conducts an inspection at high speed with high sensitivity by acquiring an observation image of high resolution and high contrast through efficiently detecting a secondary signal without increasing aberration of a primary electron beam, and by detecting defects from the observation image.例文帳に追加

一次電子線の収差を増やさずに二次信号を効率よく検出することにより高分解能でかつ高コントラストな観察像を取得し、観察像により欠陥を検出することにより検査速度を高速・高感度にする荷電粒子ビーム装置を得る。 - 特許庁

The defect inspection device includes a signal processing device for imaging an image of a photomask in various illumination conditions, detecting a defect of the photomask by using an output signal from an A/D converter, and outputting a color image of the photomask including the detected defect.例文帳に追加

フォトマスクの画像を種々の照明条件のもとで撮像し、A/D変換器からの出力信号を用いてフォトマスクの欠陥を検出し、検出された欠陥を含むフォトマスクのカラー画像を出力する信号処理装置とを具える。 - 特許庁

Wafer transfer images estimated by the wafer transfer simulator 400 are sent to a comparing circuit 301 and, when it is determined that there is a defect, the coordinate and the wafer transfer image as a basis for the defect determination are stored as transfer image inspection results 206.例文帳に追加

ウェハ転写シミュレータ400で推定されたウェハ転写像は比較回路301に送られ、比較回路301で欠陥と判定されると、その座標と、欠陥判定の根拠となったウェハ転写像とが、転写像検査結果206として保存される。 - 特許庁

This inspection device 200 includes an electronic camera 210 for imaging a side surface of the piled sheets S, and an image processing device 220 for detecting continuity of the sheets based on a difference between a gradation of each pixel in an image formed by the electronic camera 210 and a gradation of a pixel adjacent thereto.例文帳に追加

本発明に係る検査装置200は、積み重なったシートSの側面を撮像する電子式カメラ210と、電子式カメラ210により形成された画像における各画素の階調とこれに隣接する画素の階調との差に基づいて、シートの連続性を検出する画像処理装置220と、を含む。 - 特許庁

In the printer, a page identifier 95 printed on each page of the printing medium is imaged by an image capturing section, and a page identification result acquired from an output of the image capturing section and page identification information included in print data are compared with each other by an inspection section.例文帳に追加

印刷装置では、印刷媒体の各ページに印刷されたページ識別子95が撮像部により撮像され、検査部において、撮像部の出力から取得されたページ識別結果と印刷データに含まれるページ識別情報とが比較される。 - 特許庁

This substrate inspection apparatus 1 which inspects a substrate based on a scanned image obtained by two-dimensionally scanning a charged particle beam on the substrate is provided with a coordinate data acquiring means 7 for acquiring coordinate data of a specific portion in a region to be inspected on the substrate from the scanned image.例文帳に追加

基板検査装置1は、荷電粒子ビームを基板上で二次元的に走査させて得られる走査画像に基づいて基板検査を行う基板検査装置において、走査画像から基板上の検査対象領域の特定部位の座標データを取得する座標データ取得手段7を備える。 - 特許庁

A pill inspection apparatus 21 includes: a lighting device 22 illuminating with light a pill housed in a pocket of a container film; a camera 23 photographing an area of the pill illuminated by this device; and an image processing device 24 processing an image signal output from the camera 23.例文帳に追加

錠剤検査装置21は、容器フィルムのポケット部に収容された錠剤に対し光を照射可能な照明装置22と、これにより照明された範囲内の錠剤を撮像可能なカメラ23と、カメラ23から出力される画像信号を処理する画像処理装置24とを備えている。 - 特許庁

To provide illumination applying light to the inner surface of a cylindrical article from a plurality of directions, obtaining stable brightness, even if a surface for imaging the cylindrical article is a glossy surface, such as a surface of metal, and obtaining a captured image for improving precision of an image inspection.例文帳に追加

筒状物品の内側面に対し複数方向からの光を照射でき、筒状物品の撮像する面が金属等の表面のような光沢面であっても安定した明度を得ることができ、画像検査の精度を向上できる撮像画像が得ることができる照明を提供する。 - 特許庁

The tablet inspection apparatus 21 includes a lighting system 22 for irradiating a tablet stored at a pocket section of a vessel film with a light; a camera 23 for imaging reflected light from the tablet irradiated with a light; and an image processing unit 24 for processing an image signal output from the camera 23.例文帳に追加

錠剤検査装置21は、容器フィルムのポケット部に収容された錠剤に対し光を照射可能な照明装置22と、光の照射された錠剤からの反射光を撮像可能なカメラ23と、カメラ23から出力される画像信号を処理する画像処理装置24とを備えている。 - 特許庁

To provide an image processing method, an image processing device, a program, and a recording medium capable of detecting defects of irregularities and stabilizing inspection, independently of the type of tire, the state of tire surface, and positional relation of illumination.例文帳に追加

タイヤの種類、タイヤ表面の状態および照明の位置関係に依存することなく、凹凸欠陥を検出することができ、検査の安定化を図ることができる画像処理方法、画像処理装置、プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁

An image P5 with a stripe pattern 5 reflected on an inspection target surface SP is photographed at a shallow angle, and an image P5a with one or more continuous unit stripes 5a reflected on is specified from among the stripe pattern-reflected images P5 existing in a predetermined distance range counted from the edge in a closer side to a workpiece W.例文帳に追加

縞パターン5が検査対象面SPに写り込んだ画像P5を浅い角度で撮像するとともに、ワークWに近い側の端縁から数えて所定距離の範囲にある縞パターン写り込み画像P5の中から1又は連続する複数の単位縞5aの写り込み画像P5aを特定する。 - 特許庁

The image processing system 1A comprises a terminal 2A for creating variable data 11, an image processing server 3A for creating print data for normal output and for inspection output on the basis of the variable data 11 and a template 12, and a printer 4 for printing the print data on a recording medium, or the like.例文帳に追加

画像処理システム1Aは、バリアブルデータ11を作成する端末2A、バリアブルデータ11及びテンプレート12に基づいて通常出力用及び検品出力用の印刷データを作成する画像処理サーバ3A、印刷データを記録媒体に印刷するプリンタ4等からなる。 - 特許庁

An image processing device 10 sets an inspection area of45° per image, for areas other than an area 11 of a handhold 2a, and inspects presence or absence of a defect by comparing the density distribution (light quantity value) for the whole 360° circumference.例文帳に追加

記憶装置9に格納された画像に基づいて、画像処理装置10は取っ手部2aの領域11以外に対して、1画像当たり45°以上の検査領域を設定し、360°全周の濃淡分布(光量値)を比較することにより欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

To provide an X-ray CT apparatus capable of radiographing a scanogram image of only one direction prior to the main scanning of a testee body, using it and easily executing an X-ray CT inspection under an appropriate radiographing condition from the viewpoints of image quality and an exposure dose.例文帳に追加

被検体の本スキャンに先立って1方向のみのスキャノグラム画像を撮影しそれを用いて、画質と被曝線量の観点から適正な撮影条件でのX線CT検査を容易に行うことのできるX線CT装置を実現する。 - 特許庁

例文

To prevent an operator's finger from touching a destaticizing needle at the time of inspection or at the time of jamming disposal by making a destaticizing part movable in a direction where it comes close to an image carrier and a direction where it is separated from the image carrier with simple constitution which does not require power supply.例文帳に追加

電力供給を必要としない簡易な構成で除電部を像担持体に接近する方向と像担持体から離反する方向とに移動させられるようにし、点検時やジャム処理時などに作業者の手指を除電針に接触させないようにする。 - 特許庁

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