「IMAGE INSPECTION」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

The personal computer (PC) calculates an average value of a luminance histogram on each layer of the slice images, and extracts a slice image having a calculated maximum average value of the luminance histogram as an optimal image for the inspection of the state of the solder joint part.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ（ＰＣ）は、各層のスライス画像について輝度ヒストグラムの平均値を算出して、算出した輝度ヒストグラムの平均値が最大のスライス画像をはんだ接合部の状態の検査に最適な画像として抽出する。 - 特許庁

A dent level is detected from the standard deviation of the image brightness in the inspection region and the number of the dents is calculated from the area or shape of a white part due to binarized image data, to decide the intensity of the dents formed to a panel electrode, the number of the dents, positional shift of the dents, mixing of foreign objects and the like.例文帳に追加

前記検査領域内の画像輝度の標準偏差から圧痕レベルの検出を行い、二値化画像データによる白部分の面積と形状から圧痕数を算出し、パネル電極に形成した圧痕の強弱、数、位置ずれ、異物混入等を判定する。 - 特許庁

To reduce a time required for an inspection by obtaining a three- dimensional blood stream image without requiring an additional mechanism in an ultrasonic diagnosing instrument and estimating a blood stream direction in a short time concerning a blood vessel running direction only by a software processing regardless of a three-dimensional blood stream image observing direction.例文帳に追加

装置に付加的な機構の必要なしに３次元血流像を得て、３次元血流像の観察方向の如何に関わらず、ソフトウェア的な処理のみで血管走行方向に対する血流方向を短時間で推測でき、検査に要する時間を減少させる。 - 特許庁

A mount base which holds a printed wiring board 1 mounted with an electronic component 2 is equipped with a printed wiring board attitude controller which makes the printed wiring board 1 takes such an attitude that an active optical image pickup device 3 can takes an angular photofluorographic image of an inspection area.例文帳に追加

電子部品２を搭載したプリント配線板１を保持する載物台は、能動光学撮像装置３が検査領域を有角透視撮像し得る姿勢をプリント配線板１に取らせるプリント配線板姿勢制御装置を備える。 - 特許庁

To efficiently carry out a work for removing a jammed recording sheet in a conveying path and for maintenance inspection, in an image forming apparatus with a both sides conveying path branching from an ejecting conveying path provided on downstream side of a fixing unit and feeding the recording sheet to upstream side of a position where a toner image is transferred.例文帳に追加

定着装置の下流側に設けられた排出搬送路から分岐し、記録シートをトナー像が転写される位置の上流側に送り込む両面搬送路を備えた画像形成装置において、搬送路で詰まった記録シートの除去や保守点検の作業を効率よく行う。 - 特許庁

A general purpose PC terminal 40 which reads a virtual endoscope viewer program 351 stored in a medium M constructs three-dimensional volume data on the basis of a plurality of sheets of tomographic image data (tomographic image data file group) of the inspection object part of an endoscopy object patient stored in the medium M.例文帳に追加

メディアＭに記憶された仮想内視鏡ビューワプログラム３５１を読み込んだ汎用ＰＣ端末４０は、メディアＭに記憶された内視鏡検査対象患者の検査対象部位の複数枚分の断層画像データ（断層画像データファイル群）に基づいて３次元ボリュームデータを構築する。 - 特許庁

To securely obtain an entire surface image of a tablet and the like when performing quality determination and to immediately determine quality by acquiring the entire surface image with a once pickup with an inspection device having a simple structure, which determines quality of appearance of the tablet and the like.例文帳に追加

錠剤等の外観の良否を判定する検査装置をシンプルな構造とし、良否の判定に際しても錠剤等の全面画像を確実に得ることができ、また、このような全面画像を一度の撮像で得て直ちに良否の判定ができるようにする。 - 特許庁

To provide a high-quality image by continuing projection data over a detector sensitive face, in a method for reconstructing a three-dimensional image from the cone beam projection data of a target to be inspected which is disposed in an inspection zone.例文帳に追加

検査ゾーンに配置された検査されるべき対象の円錐ビーム投影データから３次元画像を再構成する方法において、検出器感応面を越えて投影データを連続させることにより更に高い画質の画像を得ることを目的とする。 - 特許庁

The defect inspection of a panel 2 to be inspected transmits parallel light fluxes PL from a light condensing lens 13 to the image region of the panel 2 and directly projects a defect in the image region of the panel 2 to a CCD sensor 25.例文帳に追加

被検査パネル２の欠陥検査において、集光レンズ１３からの平行光束ＰＬを被検査パネル２の画像領域に透過させ、被検査パネル２の画像領域における欠陥がＣＣＤセンサー２５に直接的に投影される構成とした。 - 特許庁

The inspection apparatus captures the image of the base of a lead 32 by using a camera 13, the data of the captured image is converted into two-valued data and the two-valued data of the glossy surface of the lead 32 is created, and whether the semiconductor device 11 is a defective is determined though comparison with a reference value.例文帳に追加

前記した検査装置は、カメラ１３によってリード３２の底面を撮像し、撮像したデータを２値化してリード３２の光沢面の２値化データを作成し、基準値と比較して半導体装置１１の良否を判定する。 - 特許庁

In the defect inspection apparatus for determining an inconsistency part as the defect by comparing the image of a pattern formed to be the same pattern, the amount of the characteristics of the image of a region where a plurality of the optical conditions are dealing is plotted to the characteristic space and an aberrant value in the characteristic space is detected as a defect.例文帳に追加

同一パターンとなるように形成されたパターンの画像を比較して不一致部を欠陥と判定する欠陥検査装置を複数の光学条件の対応する領域の画像の特徴量を特徴空間にプロットし、特徴空間上のはずれ値を欠陥として検出。 - 特許庁

To provide an image processing device, an image processing method, a program, and a recording medium that are capable of shortening inspection time by determining the color of a pixel at a high speed with high accuracy even when a pixel of a color having a large brightness difference with of a pixel of another color does not exist.例文帳に追加

他の色の画素との輝度差の大きい色の画素が存在しない場合であっても、高速かつ高精度に画素の色を判定し、検査時間を短縮することができる画像処理装置、画像処理方法、プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a file management device which realizes conversion of DICOM-style files with various attributes obtained by adding patient data and inspection data to a medical image in particular to the files with the same attribute and storing and managing them in a device as for the management of an image file having a specific attribute.例文帳に追加

特定の属性を持つ画像ファイルの管理に関する装置であって、特に医用画像に患者データと検査データを付した、様々な属性を持ったＤＩＣＯＭ形式のファイルを同一の属性のファイルに変換して保管・管理することを可能にするファイル管理装置を提供する。 - 特許庁

Then at the time of image pickup, a camera 40 with an image pickup optical system whose focal length is fixed is positioned so as to be focused on the tip part of an object part of inspection i.e., the ground electrode W2 in reference to information on the measured reference part location.例文帳に追加

そして、撮影に際しては、撮影光学系の焦点距離が固定されたカメラ４０を、測定した基準部位置の情報を参照して、検査対象部分すなわち接地電極Ｗ2の先端部に対し合焦するように位置合わせするようにする。 - 特許庁

This device is provided with an imaging means 10 for imaging an inspection object (work W), lighting means 20, 30 for irradiating the work W with light when imaged, and an image processing means 41 for processing an obtained image of the work W to determine the quality of the work W, based on a processed result.例文帳に追加

この装置は、検査対象(ワークW)を撮像する撮像手段10と、撮像時にワークWに光を照射する照明手段20,30と、得られたワークWの画像を処理して、この処理結果に基づいてワークWの外観の良否を判定する画像処理手段41とを具える。 - 特許庁

An image acquisition part 12 of an inspection result form creation device 10 acquires a drawing 11 with a measurement value written thereon as image data 13, and a drawing information decoding part 14 converts a drawing information code into dimension information, and a character reading part 15 extracts a measurement value.例文帳に追加

検査成績書作成装置１０の画像取得部１２が測定値記入済み図面１１を画像データ１３として取得し、図面情報復号化部１４で図面情報符号を寸法情報に変換し、文字読取部１５で測定値を抽出する。 - 特許庁

To provide a image photographing method of flaw detection and a flaw inspection device for producing effects of improved resolution in flaw detection, without having to use high-resolution camera in photographing an image for detecting streak flaws on the surface of a metal plate by means of an area camera.例文帳に追加

エリアカメラを用いて金属板の表面のスジ状の欠陥を検出するための画像を撮像する際に、高分解能のカメラを用いずに、欠陥検出での分解能を向上させた効果をもたらす欠陥検出用画像の撮像方法、及び欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

The image defect inspection device 10 of the present invention is provided with a correlation value calculating means 20 for calculating a correlation value between a differential image in the two collated images and at least one out of the two images, and the detection of the defect is restrained in response to an increase of the correlation value.例文帳に追加

画像欠陥検査装置１０を、本発明では対比される２画像の差画像とこれら２画像のうちの少なくとも一方との間の相関値を算出する相関値算出手段（２０）を備えて構成し、この相関値の増加に応じて欠陥の検出を抑制する。 - 特許庁

While being conveyed by the conveyor 40, the inspection object 50 is imaged relative to an X-ray image of a part including the left side part and an X-ray image of a part including the right side part respectively by the X-ray area cameras 31, 32, to thereby inspected nondestructively.例文帳に追加

被検査物５０は、コンベア４０に搬送されつつ、Ｘ線エリアカメラ３１，３２により、それぞれ左側部を含む部分についてのＸ線画像と右側部を含む部分についてのＸ線画像とを撮像され、非破壊検査される。 - 特許庁

A leakage flux of a metal 10 in an inspection object structure is detected by using a high-sensitivity magnetometric sensor 21 such as SCUID, and the detected magnetic signal is stored in a storage part 22, and stored magnetic data are mapped as a magnetic image in required two-dimensional distribution by an image processing part 23.例文帳に追加

被検査対象構造物の金属１０の漏えい磁束を、ＳＱＵＩＤ等の高感度磁気センサ２１を用いて検出し、その検出磁気信号を記憶部２２に記憶し、記憶した磁気データをイメージ処理部２３にて所要の二次元的分布に磁気イメージとしてマッピングする。 - 特許庁

The binarization image processing part 7 binarization-processes an image signal of the chip component 1 to discriminate a difference between brightness of the curved part R in an outer peripheral edge of the chip component 1 serving as an inspection object, and brightness of a plane in the periphery of the curved part R.例文帳に追加

２値化画像処理部７は、検査対象となるチップ部品１における外周縁の湾曲部Ｒの輝度と、湾曲部Ｒの周囲における平面の輝度との相違を区別するように、チップ部品１の画像信号を２値化処理する。 - 特許庁

In the image acquisition device 1, a current exceeding an allowable current at the continuous lighting time is inputted into the LED 31, and flash light is irradiated to the object 9 moved by the conveyor 2, and the image of an inspection domain on the object 9 is acquired.例文帳に追加

画像取得装置１では、連続点灯時の許容電流を超える電流がＬＥＤ３１に入力されて、コンベア２により移動する対象物９に対してフラッシュ光が照射され、対象物９上の検査領域の画像が取得される。 - 特許庁

This inspection method for a three-dimensional object arranged on a sheet-like body is provided with a process for acquiring an image picked up from a direction capable of imaging a side face of the three-dimensional object, using a wide angle lens, and a process for inspecting the three-dimensional object based on the image.例文帳に追加

板状物体上に配置されている三次元物体を検査するための方法であって、広角レンズを用いて三次元物体を側面が映し出される方向から撮像した画像を取得する工程と、画像に基づいて前記三次元物体を検査する工程とを備える。 - 特許庁

In the case of a plurality of defect data, the defect map is displayed by searching for a similar defect on an image, performing trend display of the searched result, and specifying one searched result on the trend, and the defect on the defect map is specified, thus displaying the defect image in inspection.例文帳に追加

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。 - 特許庁

To provide a sample inspection device and a creation method for an absorption current image which can acquire a clear absorption current image from an absorbed current detected by using a plurality of probes without including difference in amplification rate in input, and can improve measurement efficiency.例文帳に追加

複数本の探針を用いて検出された吸収電流から、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像を取得し、測定効率を向上させることができる試料検査装置及び吸収電流像の作成方法を提供する。 - 特許庁

In a defect detection processing part 7, the difference in pixel value units, between the inspection object image 6a and the reference image 6b decomposed into space elements, is determined based on the detection gradation threshold set in a defect discrimination condition file 8, and thereby defect is detected.例文帳に追加

欠陥検出処理部７においては、欠陥判別条件ファイル８に設定されている検出諧調閾値を基に、空間要素に分解した被検物体像６ａとリファレンス画像６ｂの画素値単位に相違を求め、欠陥を検出する。 - 特許庁

Also, a high speed defect inspection can be performed by configuring the system of these image processing parts with a task control part for performing the partition of an image and the task generation so as to perform the defect determination process in parallel or sequentially in accordance to the task.例文帳に追加

また、これらの画像処理部のシステム構成を、画像の分割，タスクの生成を行うタスク管理部とからなり、タスクに応じて並列もしくは時系列に欠陥判定処理を行う構成とすることにより，高速な欠陥検査を行えるようにした。 - 特許庁

An imaged image of the electronic component on the mounting substrate acquired by photographing the mounting substrate which is an inspection object is collated with the artificial image, and compared with loading position data of the electronic component on the mounting substrate, to thereby inspect the mounting state of the electronic component on the mounting substrate.例文帳に追加

検査対象の実装基板を撮影して得られる該実装基板上の電子部品の撮像画像を前記人工画像と照合し、実装基板における電子部品の搭載位置データと比較することにより、該実装基板上の電子部品の実装状態を検査する。 - 特許庁

This inspection device 100 of the solid imaging element includes an element driving means 23, an optical condition setting means 25, an operation means 29 for applying image processing to imaged image data, and a determination means for determining a quality of the solid imaging element 21.例文帳に追加

固体撮像素子の検査装置１００は、素子駆動手段２３と、光学条件設定手段２５と、撮像画像データに対して画像処理を施す演算手段２９と、固体撮像素子２１の良否判定を行う判定手段とを備える。 - 特許庁

The visual inspection device 21 calculates a positional shift amount between the proper imaging position by the imaging apparatus 23, and the imaging object position of the PTP film 20, based on an image picked up by the imaging apparatus 23, and calculates the proper imaging timing, based on the imaging timing of the image and the positional shift amount.例文帳に追加

そして、外観検査装置２１は、撮像装置２３により撮像された画像を基に、撮像装置２３による適正撮像位置と、ＰＴＰフィルム２０の撮像対象位置との位置ズレ量を算出し、前記画像の撮像タイミングと前記位置ズレ量とを基に適正な撮像タイミングを算出する。 - 特許庁

In the circuit pattern inspection system, when a semiconductor wafer having a plurality of chip areas (dies) having the same circuit pattern is inspected, a detection image for each chip area is displayed on a monitor, and a circuit pattern defect is inspected based on the detection image for each chip area.例文帳に追加

回路パターン検査装置では、同一の回路パターンを有する複数のチップ領域（ダイ）を有する半導体ウエハを検査するとき、チップ領域毎の検出用画像をモニタに表示し、チップ領域毎の検出用画像から、回路パターンの欠陥を検査する。 - 特許庁

This wrinkle inspecting device comprises a CCD camera which picks up an image of the wrinkles generated on the film, the line light source 1 which irradiates light onto at least an imaging region of the camera, and a wrinkle inspection device which analyzes the image photographed by the CCD camera and detects the wrinkles.例文帳に追加

しわ検査装置は、フィルム上に発生しているしわの画像を撮像するＣＣＤカメラと、少なくとも、前記カメラの撮像領域に光を照射するライン光源１と、ＣＣＤカメラが撮像した画像を解析してしわを検出するしわ検査装置を備えている。 - 特許庁

A tablet inspection device 21 includes: an illumination device 22 for applying light to a tablet stored in a pocket part of a container film; a camera 23 for photographing the tablet within the illuminated range; and an image processing device 24 for processing an image signal output from the camera 23.例文帳に追加

錠剤検査装置２１は、容器フィルムのポケット部に収容された錠剤に対し光を照射可能な照明装置２２と、照明された範囲内の錠剤を撮像可能なカメラ２３と、カメラ２３から出力される画像信号を処理する画像処理装置２４とを備える。 - 特許庁

To provide an industrial endoscope device that enables all areas of past recorded images to be checked even in, for example, tracking check after inspection, and that prevents an image from being tampered with, by recording additional information on the photographed image.例文帳に追加

検査終了後の追跡調査等においても過去に記録した画像の全ての領域を確認でき、かつ撮影した画像に付加情報を記録することによって画像の改竄防止を行うことができる工業用内視鏡装置を提供する。 - 特許庁

Then a characteristic change detecting means 5 detects the change of characteristics of the display device based upon the image for inspection read by the image read means 6 and 9 and a maintenance information output means 11 outputs information for maintenance of the display device based upon the detection result of the characteristic change detecting means 5.例文帳に追加

そして、この画像読み取り手段６，９により読み取った検査用の画像に基づいて特性変化検知手段５により、表示装置の特性の変化を検知し、この特性変化検知手段５の検知結果に基づいて保守情報出力手段１１が表示装置の保守のための情報を出力する。 - 特許庁

The inspection device includes: a support member 5 supporting a chip LED 50; an upper illumination mechanism 10 illuminating a surface of the chip LED 50; a camera 6 imaging an image on a surface side of the chip LED 50; and a determination section 8 which analyzes the imaged image and determines whether or not a foreign material exists.例文帳に追加

チップＬＥＤ５０を支持する支持部材５と、チップＬＥＤ５０の表面を照明する上部照明機構１０と、チップＬＥＤ５０の表面側の画像を撮像するカメラ６と、撮像画像を解析して異物の有無を判定する判定部８とを備える。 - 特許庁

Preferably, reconstruction calculation is performed from a projected image acquired by projecting the projected image in each angle phase acquired at each imaging position onto a virtual cylindrical surface 60 having a straight line parallel to the rotation axis of the inspection body and passing the X-ray focal point as the center axis, and then the internal structure data are reconstructed.例文帳に追加

好ましくは、各撮像位置において得られた各角度位相の投影像を、被検査体の回転軸と平行で、Ｘ線焦点を通る直線を中心軸に持つ仮想円筒面６０に射影して得られた投影像から再構成計算を行ない、内部構造データを再構成する。 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

In the inspection method for surface defect, the surface image of a metal band 1 which is conveyed on a production line containing a hot rolling process is photographed by an optical system 20, and a defect which exists on the surface of the metal band 1 is detected on the basis of the photographed surface image.例文帳に追加

本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯１の表面画像を光学系２０で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, for an ultrasonic image inspection, wherein a plane is measured satisfactorily and a clear image is obtained by solving the problem that an error is generated in the height direction of a probe when a height position in which a specimen is placed is changed due to a resin tray.例文帳に追加

樹脂トレイの原因で被検体の置かれる高さ位置が変動する場合などプローブの高さ方向の誤差が生じる場合の問題を解消し、良好な平面測定を行い、鮮明な映像が得られる超音波映像検査方法と超音波映像検査装置を提供する。 - 特許庁

The control computer 20 controls to create X-ray image data using X-rays, to detect defective products from the X-ray image data, and to stop/release quality inspection to detect defective products.例文帳に追加

制御コンピュータ２０は、Ｘ線を使用して物品のＸ線画像データを作成するＸ線画像作成制御、Ｘ線画像データから不良品・不良品を検出する不良品・不良品検出制御、不良品を検出する品質検査の停止・解除を制御する品質検査停止・解除制御を行う。 - 特許庁

An impression level is detected from the standard deviation of image brightness inside the inspection area, and the number of impressions is computed from the area and shape of a white section, produced by binary image data to determine the strength, number, displacement or foreign material mixing of the impression formed on the panel electrode.例文帳に追加

前記検査領域内の画像輝度の標準偏差から圧痕レベルの検出を行い、二値化画像データによる白部分の面積と形状から圧痕数を算出し、パネル電極に形成した圧痕の強弱、数、位置ずれ、異物混入等を判定する。 - 特許庁

To provide a house inspection camera unit which enables the condition of damage to a house structure to be accurately determined by making a resident of a house concurrently observe the same image and information as the image of the condition of the damage to the house structure, taken by an operator, and information on temperature and humidity.例文帳に追加

作業者が撮影している家屋構造体の損傷や被害状況の映像および温度、湿度情報と同じ映像および情報を、家屋住人も同時に観察し、家屋構造体の損傷や被害状況を正確に判断することができる家屋点検カメラ装置を提供する。 - 特許庁

In the implementation substrate inspecting apparatus for comparatively inspecting the whole substrate surface using the uniform image processing algorithm, the inspection speed is achieved and fully copes with the speed of the highest-speed manufacturing line, since an automatically inspected area is limited from the visible image as a whole to a substrate area or a component implementing area.例文帳に追加

基板全面を均一の画像処理アルゴリズムで比較検査する実装基板検査装置において、自動検査の範囲を、視野画像全体から基板領域もしくは部品実装領域に限定したので、最高速製造ラインの速度に十分対応できる検査速度が実現する。 - 特許庁

To provide s method and a device for testing paper capable of performing stable measurement and soundness determination even in the case that transmitted light quantity of the paper and illumination of light change due to the effect of disturbance when performing a 100% inspection for the quality of watermark image of the paper on which the watermark image is formed as code information on a paper machine.例文帳に追加

コード情報としてすかし画像が形成された用紙のすかし画像の品質の検査を抄紙機上で全数検査を行う際、外乱の影響により、用紙の透過光量や照明の照度が変化しても安定した測定及び良否判定が行える検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁