「IMAGE INSPECTION」に関連した英語例文の一覧と使い方(68ページ目) - Weblio英語例文検索

The inspection device 100 for inspecting a photosensitive circuit (image pickup element) formed on a wafer W includes: a lighting part 11 including a light source 111 to irradiate the photosensitive circuit with light from the light source 111; a support 12 supporting the lighting part 11 so that the lighting part is movable relative to the photosensitive circuit; and a drive part 13 driving the support 12 to move the lighting part 11 to the photosensitive circuit.例文帳に追加

ウェハＷ上に形成された感光回路（撮像素子）を検査するための検査装置１００は、光源１１１を有し、感光回路に光源１１１からの光を照射する照明部１１と、この照明部１１を、感光回路に対して相対移動可能に支持する支持部１２と、この支持部１２を駆動させて、照明部１１を感光回路に対して移動させる駆動部１３と、を有して構成される。 - 特許庁

When the bonding state of a semiconductor chip bonded to a board via the adhesive is inspected, an inspection line IL which surrounds the circumference of the semiconductor chip is set in a position separated by a prescribed distance D corresponding to one to two pixels from the edge E of the semiconductor chip, in an image obtained by imaging the semiconductor chip bonded to the board via the adhesive.例文帳に追加

基板に接着材を介してボンディングされた半導体チップのボンディング状態の検査において、基板に接着材を介してボンディングされた半導体チップを撮像した画像において半導体チップのエッジＥから１〜２画素に相当する所定距離Ｄだけ隔てた位置に半導体チップの周囲を取り囲む検査ラインＩＬを設定する。 - 特許庁

This inspection method of the solar cell includes the steps of: preparing a solar cell 1 to which a connection conductor 2 coated with a solder is attached; mounting the solar cell 1 onto a metal base 17 having a rough surface; and inspecting an attachment part of the connection conductor 2 by use of an image processor 20.例文帳に追加

ハンダ被覆した接続導線２が取付けられた太陽電池素子１を準備する工程と、太陽電池素子１を、表面が粗面状を成す金属基台１７上に載置する工程と、接続導線２の取付け部を、画像処理装置２０を用いて検査する工程とを具備した太陽電池素子の検査方法とする。 - 特許庁

In the defect-inspecting apparatus for inspecting the defects to be inspected by applying image processing, which uses a captured signal outputted from a capturing section for capturing an inspection target, the capturing section has at least two cameras having different resolutions, defects are detected by the high-resolution camera, and the color of the defects is detected by a low-resolution camera.例文帳に追加

検査対象を撮像する撮像部から出力された撮像信号を用いて画像処理を行い前記検査対象の欠陥検査を行う欠陥検査装置において、 前記撮像部は、解像度の異なる少なくとも２台のカメラを有し、 高解像度のカメラで欠陥を検出し、低解像度のカメラで前記欠陥の色の検出を行うように構成する。 - 特許庁

In the inspection, high-luminance areas generated by respective illumination colors are extracted from an image formed by the camera 1, and the whole range, where these areas are distributed with spacings corresponding to distances between the LEDs, is specified as a color area corresponding to the illumination colors, and the number of component pixels in each color area is checked with a prescribed reference value.例文帳に追加

検査の際には、カメラ１により生成された画像から各照明色による高輝度領域を抽出し、これらの領域がＬＥＤ間の距離に応じた間隔を隔てて分布する範囲全体を、照明色に対応する色領域として特定し、各色領域の構成画素の数を所定の基準値と照合する。 - 特許庁

The defect inspection apparatus includes a probe image processing means for displaying the plurality of probes on a display means; a means for selecting a probe to be operated among the plurality of probes displayed on the display means; and a means for simultaneously displaying the means for selecting the probe the selected probe as being an operable probe and a probe in an unselected state.例文帳に追加

不良検査装置は、複数のプローブを前記表示手段に表示するプローブ画像処理手段を有し、前記表示手段に表示した前記複数のプローブの内、操作のなされるプローブを選択する手段を有し、該プローブを選択する手段、選択されたプローブが操作可能なプローブであることおよび非選択状態のプローブであることを同時に表示する手段を有する。 - 特許庁

This device for inspection defects is designed so that by adopting achromatic reflecting objective lens, sensitivity is improved by inhibiting brightness variations due to multiple-wave length illumination (i.e., illumination by illuminating radiation of multiple-wavelength band), and also by manifesting defects through optional wavelength detection; and moreover, so that it can acquire identical spatial image on the sample, with various multiple kinds of optical images.例文帳に追加

本発明は、色収差のない反射対物レンズを採用することにより、多波長照明（複数の波長帯域を有する照射光による照明）による明るさ変動を抑制すると共に波長選択検出によって欠陥を顕在化して感度向上を図り、しかも試料上の同一空間像を異なる複数種の光学像で取得できるように構成した欠陥検査装置である。 - 特許庁

In inspection processes in accordance with the manufacture of the operation panel for automobile interiors, the switch 52 mounted on a work is photographed by illuminating it, width of a groove shade around the switch 52 reflected on its image is measured and whether or not the switch 52 is mounted with a prescribed clearance is judged by comparing a measurement value with a value of preliminarily registered reference data.例文帳に追加

自動車内装用操作パネルの製造に伴う検査工程において、ワークに取り付けられたスイッチ５２を照明して撮影し、その画像に写ったスイッチ５２の周囲の溝影の幅を測定し、その測定値と予め登録された基準データの値とを比較することにより、スイッチ５２が所定の隙間で取り付けられているかどうかを判定する。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

A light beam is radiated to the inspected surface F from the image object 21 having a plurality of substantially linear light beam radiation sections 21a, 21a, etc arranged in substantially parallel so as to form a circular arc surrounding an inspection surface radially about the inspected surface F as a substantially center, thereby forming a bright section and dark section on the inspected surface F.例文帳に追加

被検査面Ｆを略中心として放射状に、且つ、併せて検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されている略直線状の光線照射部２１ａ・２１ａ・・・を備えた像対象物２１から、被検査面Ｆに光線束を照射することによって、該被検査面Ｆに明部と暗部とを形成する。 - 特許庁

A flap spacing deciding means 51 retrieves the binary image data 40 for a straight line, composed of black points successively changing on the coordinate x but constant on the coordinate y within a flap determined spacing inspection range based on the first and second horizontal reference coordinates, and decides whether the straight line length is within the prescribed normal range, thereby inspecting the flap spacing of the corrugated cardboard box 1.例文帳に追加

フラップ間隔判定手段５１は、前記第１水平基準座標と前記第２水平基準座標に基づいて決定したフラップ間隔検査範囲内で、２値画像データ４０に対して、ｙ座標が同一でｘ座標が連続して黒点により構成される直線を検索し、該直線の長さが所定の正常範囲内にあるか否かを判別して段ボール箱１のフラップ間隔の検査を行なう。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device, which uses an X-ray flat panel detector, performing complementary processing even with respect to a clustered flaw, capable of preventing the occurrence of an error in the decision of quality by an operator even if a false image is produced by the complementary processing and capable of using the X-ray flat panel detector over a long period of time in its turn.例文帳に追加

Ｘ線フラットパネル検出器を用いたＸ線検査装置において、クラスタ状の欠陥についても補完処理を行い、しかも、その補完処理により擬似的な像が生じても、オペレータによる良／不良判定に誤りが生じることを防止することができ、ひいては長期にわたってＸ線フラットパネル検出器を使用することのできるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

An ACF attachment state inspection apparatus includes: an illumination part 1 for applying illumination light to a flexible substrate 10 to which an ACF is attached at a predetermined angle with the surface of the flexible substrate 10; and imaging parts 4, 5 arranged at a predetermined angle with the surface of the flexible substrate 10 to image reflected light obtained by reflecting the illumination light on the surface of the flexible substrate 10.例文帳に追加

ＡＣＦが貼付されたフレキシブル基板１０に対して、フレキシブル基板１０の表面と所定の角度を持って照明光を照射する照明部１と、フレキシブル基板１０の表面と所定の角度を持って配置されて、フレキシブル基板１０の表面から照明光が反射した反射光を撮像する撮像部４，５とを備える。 - 特許庁

The plate inspection apparatus 101 carries out steps of converting the division plate data of arbitral two colors into a RGB image (step 201 and step 202), subjecting the data to gray scale conversion (step 203), to binarizing process (step 204) and AND process (step 205) to extract an overlapped part of the division plate data, and enhancing the overlapped part (step 206).例文帳に追加

検版装置１０１は、任意の２色の分版データをＲＧＢ画像に変換し（ステップ２０１、ステップ２０２）、グレイスケール変換（ステップ２０３）、二値化処理（ステップ２０４）及びＡＮＤ処理（ステップ２０５）を経て、分版データの重複部分を抽出し、当該重複部分を強調処理する（ステップ２０６）。 - 特許庁

In the printed circuit board inspecting device having a light source section 4 where light sources 8, 9, and 10 for emitting each color light of R, G, and B are arranged in different elevation angle directions, each brightness of R, G, and B is adjusted by an adjustment magnification that is registered in a memory 13, and an inspection is executed by an image after the adjustment.例文帳に追加

Ｒ，Ｇ，Ｂの各色彩光を発光する光源８，９，１０が異なる仰角方向に配置された投光部４を具備する基板検査装置において、はんだ付け部位を含む画像領域について、Ｒ，Ｇ，Ｂの各輝度値をメモリ１３に登録された調整倍率を用いて調整し、その調整後の画像を用いて検査を実行する。 - 特許庁

The visual inspection apparatus is provided with an imaging means which images a carton blank by including its skived and hemmed part so as to output an imaging signal; an illumination means for irradiating an imaging region with ultraviolet light or visible light in the imaging means so as to be changed over; and an input means to which the imaging signal is input so as to be stored in a memory as a captured image.例文帳に追加

カートンブランクをそのスカイブヘミング加工部を含めて撮像し撮像信号を出力する撮像手段と、前記撮像手段における撮像領域に対して切替えにより紫外光または可視光のいずれかを照射する照明手段と、前記撮像信号を入力し撮像画像としてメモリに記憶する入力手段と、を具備するようにした外観検査装置。 - 特許庁

The welding electrode inspection device 1 has a camera 2 as an image sensor arranged such that its light axis is oblique to the axial direction of the pair of welding electrode tips 5, and a reflection mirror 3 arranged opposedly to the camera 2 on the opposite side of the camera 2 interposing a gun space 52 formed between the pair of welding electrode tips 5.例文帳に追加

溶接電極検査装置１は、一対の溶接電極チップ５の軸方向に対して光軸が斜めになるように配設した画像センサとしてのカメラ２と、一対の溶接電極チップ５の間に形成されるガンスペース５２を挟んでカメラ２と反対側において、該カメラ２に対向配置される反射鏡３とを有する。 - 特許庁

The quality inspection device is equipped with an imaging device 3 for imaging a folded laminate 1, which is formed by superposing a plurality of sheets one upon another while folding them, from above to form imaging data and an image processor for judging the presence of the defectiveness of the folded laminate on the basis of the imaging data formed by the imaging device.例文帳に追加

複数枚のシートを折り畳みながら積み重ねるように形成した折り畳み積層体１に対して、上方から撮像し撮像データを生成する撮像装置３と、撮像装置で生成された撮像データに基づき折り畳み積層体不良の有無を判定する画像処理装置と、を備えた構成とする。 - 特許庁

To provide an inspection device of a resin cap, which includes an illumination imaging system for binarizing a pixel group corresponding to a peripheral part of a cap and a pixel group corresponding to the center part of the cap by using a common threshold when an image photographed with a camera is binarized in the case of inspecting the resin cap.例文帳に追加

樹脂製キャップを検査する場合、カメラで撮影された画像を２値化する際に、キャップの周辺部分に対応した画素群とキャップの中央部分に対応した画素群とを共通なしきい値を用いて２値化することができる照明撮像系を備えた樹脂製キャップの検査装置を提供する。 - 特許庁

In this apparatus, the wafer surface information, such as scratch information and contamination information of the wafer surface, which are detected by a wafer surface inspection device 11, is accumulated particularly as image information and digital information, and by superposing the accumulated information, the tendency for occurrence of the scratches and the contamination in a prescribed step can be detected.例文帳に追加

ウエハ表面検査装置１１によって検出されたウエハ表面のキズ情報及びヨゴレ情報等のウエハ表面情報を特に画像情報や数値情報として蓄積し、当該蓄積された情報同士を重ね合わせることによって所定の工程におけるキズやヨゴレの発生傾向を簡易に検出することができるようにする。 - 特許庁

Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.例文帳に追加

検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁

This stereoscopic microscope inspection system has an objective system having an object plane to be arranged with the object to be observed or the intermediate image, a left side eyepiece system to which an incident beam flux on the left side of the objective lens is supplied and a right side eyepiece system to which the incident beam flux on the right side of the objective lens is supplied.例文帳に追加

この立体顕微鏡検査システムは、観察されるべき物体又は中間像を配置する物体平面を有する対物システムと、対物レンズの左側に入射するビーム束が供給される左側接眼システムと、対物レンズの右側に入射するビーム束が供給される右側接眼システムとを備えている。 - 特許庁

An illumination optical system 20A of this pattern inspection device guides incoherent light emitted from an emission face F of an optical fiber array 21 toward a long and narrow illumination region R formed on the surface of a printed circuit board 7 by using nonaxisymmetric image formation elements such as a cylindrical lens 22 or the like.例文帳に追加

パターン検査装置の照明光学系２０Ａは、オプティカルファイバーアレイ２１の出射面Ｆから出射されるインコヒーレント光を、シリンドリカルレンズ２２などの非軸対象結像要素を用いて、プリント基板７の表面に形成される細長形状の照明領域Ｒに対して導く。 - 特許庁

The surface unevenness inspection apparatus includes a line sensor 2, an illumination device 1 for generating contrast patterns with a plurality of phases in parallel with the line sensor 1 and an arithmetic unit 5 for combining linear imaging data imaged by the line sensor 2 with a frame image and is configured so that contrast patterns with a plurality of phases having different irradiation angles are applied to the same imaging target line.例文帳に追加

ラインセンサ２、ラインセンサと並行で、複数位相の明暗パターンを生成する照明装置１、ラインセンサで撮像された線状の撮像データをフレーム画像に合成する演算装置５を具備し、同一の撮像対象ラインに対し、照射角度の異なる複数位相の明暗パターンが照明されるように構成される。 - 特許庁

In a zoom lens inspection method in which a zoom lens 2 is inspected by image-forming a resolution chart 1 by the zoom lens 2 which is regarded as a specimen, a front converter 3 having an angular magnification less than one is disposed between the resolution chart 1 and the zoom lens 2 which is set to a state other than the angular magnification.例文帳に追加

被検体としてのズームレンズ２により解像力チャート１を結像させて該ズームレンズ２を検査するズームレンズの検査方法において、解像力チャート１と、広角端以外の状態に設定されたズームレンズ２との間に、１未満の角倍率を有するフロントコンバータ３を配置する。 - 特許庁

To solve the problem that, in a defect inspection system using a plurality of detectors such as an upright detector and an oblique detector, if illumination light and wafer height are adjusted to the detection field of view of one detector, a defocused image is detected by other remaining detectors, resulting in degradation of the detection sensitivity.例文帳に追加

欠陥検査装置において、上方検出系や斜方検出系などの複数の検出系を使用する場合、一つの検出系の検出視野に対して照明光およびウェハ高さを合わせた場合、他の検出系においてデフォーカスした像を検出してしまうため、欠陥検出感度が低下するという問題を解決する。 - 特許庁

When the print processing is restarted, the image forming apparatus control unit controls a printing unit to perform print processing on a specific number of sheets and then, to start print processing on sheets following the specific number of sheets after determining that the result of inspection for the specific number of sheets does not indicate a print failure (S703 to S707).例文帳に追加

そして、当該印刷処理が再開した場合、特定枚数のシートに対する印刷処理を実行させ、当該特定枚数のシートに対する検品処理の結果が印刷不良を示していないことを確認した上で、当該特定枚数のシートに続くシートに対する印刷処理を開始させるように制御する（Ｓ７０３〜Ｓ７０７）。 - 特許庁

Row detection processing to be executed by a liquid crystal substrate inspection device includes a step (S410) for reading an image, a step (S500) for executing defective candidate extraction processing, a step (S700) for executing row detection processing, a step (S1000) for executing defective row discrimination processing, and a step (S420) for outputting a result.例文帳に追加

液晶基板検査装置が実行する列の検出処理は、画像を読み込むステップ（Ｓ４１０）と、欠陥候補抽出処理を実行するステップ（Ｓ５００）と、列検出処理を実行するステップ（Ｓ７００）と、欠陥列判定処理を実行するステップ（Ｓ１０００）と、結果を出力するステップ（Ｓ４２０）とを含む。 - 特許庁

After acquiring images for the whole surface of the photomask in the orthogonal state, the photomask is rotated by 90° (step S2), and a direction to reciprocate the irradiation spot of the laser within the micro range is set parallel to the main direction of the pattern to acquire an image (step S3, inspection in a 90° direction).例文帳に追加

この直交させた状態でフォトマスクの全面に対して画像を取得した後、フォトマスクを９０°回転させて（ステップＳ２）、微小範囲でレーザーの照射スポットを往復させる方向がパターンの主たる方向に対して平行になるようにして画像を取得する（ステップＳ３、９０°の向きでの検査）。 - 特許庁

A defect inspection device is provided with a first irradiating means S for irradiating a sample 9 by emitting primary electron beams, mapping optical mechanisms 11 to 13 or imaging secondary electrons emitted from the surface of the sample 9 irradiated with the secondary electron beams, a detector D for detecting the secondary electrons, and an image treatment mechanism 18 for treating signals from the detector D.例文帳に追加

欠陥検査装置は、一次電子線を放出して試料９を照射するための第１の照射手段Ｓと、一次電子線で照射された試料９の表面から放出された二次電子を結像させるための写像光学機構１１〜１３と、二次電子を検出するための検出器Ｄと、検出器Ｄからの信号を処理する画像処理機構１８とを具備する。 - 特許庁

Then the arithmetic processing unit compares mask pattern inspection data to the mask pattern image data so as to specify a defective portion of the mask pattern, generates positional information of the defective portion, and identifies a tendency of occurrence of the defect on the photomask, based on the positional information and the density information for the respective plurality of small regions.例文帳に追加

そして、前記演算処理部（２５）は、前記マスク検査用データ（１３）と前記マスクパターン画像データとを比較して前記マスクパターンの欠陥部分（Ｅ１〜Ｅ４）とし、前記欠陥部分（Ｅ１〜Ｅ４）の位置情報を生成し、前記位置情報と前記複数の小領域ごとの密度情報（［Ａ］〜［Ｃ］）とに基づいて、前記フォトマスクに発生する欠陥の発生傾向を特定する。 - 特許庁

In a logical operation sequence inspection part 11, if a same sequence as a pre-registered logical operation sequence is detected in a line of input image data, additional information is corrected in an additional information correction part 13, based on correction information of additional information pre-registered in corresponding to the logical operation sequence.例文帳に追加

論理演算シーケンス検査部１１において、入力画像データの列から、予め登録されている論理演算シーケンスと同一のシーケンスを検出すると、付加情報修正部１３において、当該論理演算シーケンスに対応して登録されている付加情報の修正情報に基づいて付加情報を修正する。 - 特許庁

Then, control signals are sent out to the outside of the image diagnostic apparatus in conjunction with the operation of setting and canceling the subject information by the subject information setting means, and by this control signals, the door 4 of a medical examination room or an inspection room is locked and a display device 5 displays "under medical examination" or the like automatically.例文帳に追加

そこでこの被検者情報設定手段によって被検者情報を設定したり解除したりする操作に連動して、画像診断装置外へ制御信号を送出するようにし、この制御信号によって、自動的に診察室や検査室のドアー４を施錠したり、表示器５に「診察中」などの表示をしたりするようにした。 - 特許庁

To provide an inspection method of a liquid ejector for inspecting occurrence of pressure leakage or air trap due to poor adhesion directly and easily, and to provide a method for manufacturing a liquid ejector free from pressure leakage, and an ink jet printer having the function of automatically inspecting occurrence of air trap and eliminating air trap automatically thus printing an image of good quality continuously.例文帳に追加

接着不良による圧力漏れの発生の有無や、エアトラップの発生の有無を、直接的かつ容易に検査することができる、液体吐出装置の検査方法と、圧力漏れのない液体吐出装置を製造するための製造方法と、エアトラップの発生の有無を自動的に検査すると共に、自動的に解消する機能を有し、画質の良好な画像を、連続して印刷できるインクジェット印刷装置とを提供する。 - 特許庁

Next, when it is instructed to select the medical image of the transmission object from an operation input 12 out of a plurality of inspections indicated, CPU1 sets priority to be transmitted for every inspection according to priority setting conditions, and it resets the priority into the instructed one when it receives the input of instruction to set the priority from the operation input 12.例文帳に追加

次いで、表示された複数の検査のうち、送信対象の医用画像を操作入力部１２から選択指示されると、優先度設定条件に従って検査毎に送信する優先度を設定し、操作入力部１２から優先度を設定する指示の入力を受けると指示された優先度に再設定する。 - 特許庁

A gateway device 1 receives work report information from an inspection terminal 2, acquires related information in preparation time of the work report information through a network 7 from the temporary information storing server 3 and the image storing server 6 specified by the work report information, and it generates new work report information by adding the related information to the original work report information or updating it.例文帳に追加

ゲートウェイ装置１は、点検用端末２からの作業報告書情報を受信し、その作業報告書情報に指定された情報一時蓄積サーバ３や画像蓄積サーバ６からネットワーク７を通じて作業報告書情報の作成時間における関連情報を入手し、これを元の作業報告書情報に付加又は更新して新たな作業報告書情報を生成する。 - 特許庁

In the case of preparing an introduction letter by providing an application for preparing an electronic introduction letter, necessary information such as medical treatment history/drug history or inspection result/image data until that time is added as data so that one introduction letter can be prepared while being interlocked with the other department systems such as an electronic medical record system 201 or a DICOM server 202.例文帳に追加

本発明では、電子紹介状作成のためのアプリケーションを提供し、紹介状を作成にあたって、電子カルテシステム２０１や、ＤＩＣＯＭサーバ２０２等のその他の部門システムと連動することで、今までの診療履歴／薬歴や検査結果／画像データ等の必要な情報をデータとして付加して一通の紹介状を作成する。 - 特許庁

To provide a method of easily inspecting a sheet for electrophoresis display device without requiring sub-materials for inspection nor a large-scale apparatus for image processing, and to provide a method of efficiently manufacturing the sheet for electrophoresis display device, from which an electrophoresis display device having excellent display characteristics can be fabricated, at a low cost using the inspecting method.例文帳に追加

検査用の副資材や画像処理用の大がかりな装置を必要とせず、電気泳動表示装置用シートを簡便に検査する方法、ならびに、この検査方法を利用して、優れた表示特性を示す電気泳動表示装置を作製可能な電気泳動表示装置用シートを低い製造コストで効率よく製造する方法を提供すること。 - 特許庁

In the height measuring device, constituted to calculate the height of an inspection portion from the height position of focus plane FS obtained corresponding to initially detected light quantity peak, after initiating reading of scanned image from a memory device 32, the order of reading the scanned images is set either to the normal order or the reverse order of the gained order of the scanned images.例文帳に追加

記憶装置３２から走査画像の読み出しを開始した後、最初に検出した光量ピークに対応して求められる焦点面ＦＳの高さ位置から被検部位の高さを算出する構成の高さ測定装置において、走査画像の読み出し順を、走査画像の取得順に対して同順、逆順のいずれについても設定できるようにする。 - 特許庁

To provide a display and processing method and a device for information below water surface, capable of displaying information below water surface which can be grasped directly via visual inspection of the relation between the vessel position on water surface and a target image formed by a detection information, and to provide a display processing program for information below water surface and a display device for information below water surface.例文帳に追加

探知情報に基づいて生成されるターゲット像と水面上の船舶位置との関係が視認により直接的に把握できる水面下情報の表示を可能にする水面下情報表示処理方法及び装置、水面下情報表示処理プログラム、並びに、水面下情報表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for processing images by a line sensor wherein a time for processing images is short, thus enabling images to be quickly and surely analyzed at the visual inspection for electronic parts, etc., without troubles of deviating an imaging boundary of line sensor cameras and lines of the line sensor cameras when image data from a plurality of the line sensor cameras are to be synthesized.例文帳に追加

複数のラインセンサカメラからの画像データの合成に当たり、カメラ同士の撮像境界及びラインセンサカメラ同士のラインずれの問題がなく、画像処理時間が短く、電子部品の外観検査などにおける画像解析を迅速且つ的確に行なうことを可能ならしめるラインセンサによる画像処理装置及び画像処理方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The inspection device is equipped with a plurality of detection devices 11, 12 to receive electron beams emitted from a sample W and to obtain image data expressing the sample W, and a switching mechanism M to make the electron beams incident on one out of a plurality of the detection devices 11, 12, and the plurality of the detecting devices 11, 12 are arranged in the same container MC.例文帳に追加

検査装置は、試料Ｗから放出された電子ビームを受け取って、試料Ｗを表す画像データを取得する複数の検出装置１１、１２と、複数の検出装置１１、１２のうちの一つに電子ビームを入射させるための切り換え機構Ｍとを具備し、複数の検出装置１１、１２が同一の容器ＭＣ内に配置されていることを特徴とする。 - 特許庁

In the confirmation operation screen to confirm the determination result regarding a component determined to be defective in an automatic appearance inspection, the image list is displayed in which images of components determined to be defective are sorted in descending order of deviation of measured values from a determination standard used for detecting a defect for each defect type, and the designation of a boundary position between conforming/defective is received.例文帳に追加

自動外観検査において不良と判定された部品に関する判定結果を確認するための確認操作画面において、不良と判定された部品の画像を、不良の種毎に、その不良の検出に用いられた判定基準に対する計測値の逸脱度合いの大きいものから順に並べた画像リストを表示し、良／不良の境界位置の指定を受け付ける。 - 特許庁

To provide an ultrasonic diagnostic apparatus capable of shortening an inspection time by raising through-put without requiring the rotary operation of an acquired image, etc., by displaying stress echo scores into a determined report form from 3D volume data, and relieving burden on a patient and an operator, and to provide a diagnostic program for the apparatus.例文帳に追加

３Ｄボリュームデータからストレスエコーのスコアを決められたレポート形式に合わせて表示することで、取得した画像の回転操作等を必要とせず、スループットを向上させることで検査時間の短縮化を墓の、患者及び操作者への負担を軽減させることのできる超音波診断装置及び該装置の診断プログラムを提供することである。 - 特許庁

From light-receiving luminance distribution data obtained by photographing an image to be inspected which is displayed on a liquid crystal panel by a CCD camera, a start point camera pixel S whose light-receiving luminance is maximum is extracted and peripheral camera pixels starting from the start camera pixel S and satisfying a prescribed merged luminance condition are successively merged to form an inspection unit area.例文帳に追加

液晶パネルによって表示される検査対象画像をＣＣＤカメラによって撮像して得られる受光輝度分布データにおいて受光輝度が最大の始点カメラ画素Ｓを抽出し、これを始点として所定の併合輝度条件を満たす周囲のカメラ画素を順次併合することによって検査単位領域を形成する。 - 特許庁