「IMAGE INSPECTION」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

In UV hardening of a sealing part 156, provided in the region between an image display region 10a and an inspection circuit part 170 on a TFT array substrate 10, the inspection circuit part 170 has already completed the role of inspecting the pixel circuit part.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板１０上において、画像表示領域１０ａ及び検査回路部１７０間の領域に設けられた封止部１５６をＵＶ硬化させる際には、データ線駆動回路１０１等の周辺回路部に比べて封止部１５６に近い領域に配置された検査回路部１７０にＵＶ光が照射されたとしても、既に検査回路部１７０は画素回路部を検査する役割を完了している。 - 特許庁

The SEM-type inspection apparatus for repeatedly scanning a sample with electron beams, generating inspection images and reference images based on secondary electrons or reflection electrons generated from the sample, and obtaining a defective section from the differential image has a function for varying the number of pixels in the repeated scanning direction of the electron beams in the images generated.例文帳に追加

試料に電子線ビームを繰り返し走査させ、試料から発生する２次電子または反射電子に基づき検査画像および参照画像を生成し、それらの差分画像から欠陥部を求めるＳＥＭ式検査装置において、生成画像における電子線ビームの繰り返し走査方向の画素数を可変にする機能を備える。 - 特許庁

The substrate inspection device 1 has an integrated constitution that a substrate holding mechanism for holding a printed circuit board P to move the same, an imaging mechanism for imaging the substrate P, a controller 63 for judging quality from image data, a liquid crystal display panel 4 for displaying an inspection result, etc. are incorporated in a base from 10 and covered with a casing Ca from outside.例文帳に追加

基板検査装置１は、プリント基板Ｐを保持し移動させる基板保持機構、基板Ｐを撮像する撮像機構、画像データに基づいて良否判定を行うコントローラ６３および検査結果を表示する液晶表示パネル４等を共通のベースフレーム１０に組み込み、これらをケーシングＣａにより外側から覆った一体構成を有する。 - 特許庁

A gas detector is provided with a sensor for detecting a specified detection objective gas in an atmosphere in the inspection objective field, and is provided with an image pick-up camera for photographing the situation in the inspection objective field, which is driven based on a gas detection signal transmitted when the detection objective gas is detected by the sensor.例文帳に追加

ガス検知装置は、検査対象現場の雰囲気中における特定の検知対象ガスを検知するセンサを備えてなり、当該センサによって検知対象ガスが検知されたときに発信されるガス検知信号に基づいて駆動される、当該検査対象現場の状況を撮影する撮像カメラが設けられていることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method and a device for packaging an element with heat dissipation structure which form a fillet large, the fillet being formed at the distal end of the heat dissipation structure, in packaging of the element with the heat dissipation structure by a reflow system and thereby improve visibility in a visual inspection and a camera image inspection.例文帳に追加

放熱構造を備えた素子のリフロー方式による実装において、放熱構造の先端部に形成されるフィレットを大きく形成し、これによって目視検査及びカメラ画像検査における視認性を向上させることができる、放熱構造付き素子の実装方法、及び、放熱構造付き素子の実装装置を提供する。 - 特許庁

When performing detection/automatic classification of a defect of the inspection object 1 having a repeated pattern such as a liquid crystal display device or a semiconductor wafer, the repeated pattern is divided beforehand into a plurality domains, and databases 71, 72, 73 for automatic classification differentiated by a domain on the repeated pattern to which a defect portion detected from an inspection image belongs are created.例文帳に追加

液晶表示装置や半導体ウェハ等の繰り返しパターンを持つ検査対象物１の欠陥を検出・自動分類する際、繰り返しパターンを予め複数の領域に分割し、被検査画像から検出された欠陥部位が上記繰り返しパターンのどの領域に属するによって異なった自動分類用データベース７１，７２，７３を作成しておく。 - 特許庁

To provide an inspection device of a fiber-reinforced base material capable of simply and surely inspecting a plurality of types of problems with different features by single image pickup means and single illumination means in the fiber-reinforced base material inspection device for inspecting an external appearance of the fiber-reinforced base material surface by optical means.例文帳に追加

強化繊維基材表面の外観検査を光学的手法で行う強化繊維基材検査装置において、特徴が異なる複数種類の不具合を単一の撮像手段、単一の照明手段で簡易かつ確実に検査することができる強化繊維基材の検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The personal computer 8 for inspection inspects a passive mode which makes a steady light removing function not to operate and an active mode for operating the steady light removing function, on the basis of the pattern of the subject image data outputted from the range-finding module 3, when the inspection chart 1 is integrated on the basis of the respective modes.例文帳に追加

そして、検査用パーソナルコンピュータ８は、検査用チャート１をそれぞれのモードで積分した時に、上記測距モジュール３から出力される被写体像データのパターンにより、定常光除去機能を動作させないパッシブモードと、定常光除去機能を動作させるアクティブモードの検査を行う。 - 特許庁

To provide a product inspection method capable of detecting surely foreign matter by inspection using image data, and capable of preventing erroneous detection, in a specimen having a high risk of generating a problem wherein the foreign matter such as a chip remains after cutting work, such as in a groove part provided in a cylinder hole formed in a caliper body for a disk brake.例文帳に追加

ディスクブレーキ用のキャリパボディに形成されたシリンダ孔内に設けられる溝部のように、切削加工後に切粉等の異物が残存する等の問題が生じる可能性が高い被検査物に対して、画像データを用いる検査によって異物検出を確実に行うことができるとともに、誤検出を防止できる製品検査方法を提供する。 - 特許庁

The liquid crystal substrate inspection device 1 inspects the substrate based on a scan image obtained by two-dimensionally scanning a charged particle beam on a liquid crystal substrate, and comprises the prober frame 2a for supplying an inspection signal to the liquid crystal substrate 10, a heating mechanism 3 for heating the liquid crystal substrate, and the cooling mechanism 4 for cooling the prober frame 2a by contact with the prober frame 2a.例文帳に追加

液晶基板検査装置１は、荷電粒子ビームを液晶基板上で二次元的に走査させて得られる走査画像に基づいて基板検査を行う液晶基板検査装置であり、液晶基板１０に検査信号を供給するプローバフレーム２ａと、液晶基板を加熱する加熱機構３と、プローバフレーム２ａとの接触によってプローバフレーム２ａを冷却する冷却機構４とを備える。 - 特許庁

The component mounting machine comprises an image pick-up section 41 for picking up images of a specified region in a board on which a plurality of components are mounted before and after mounting the component, and an inspection section 43 carrying out a mounting inspection by comparing each imaging data picked up by the section 41 before and after mounting the component.例文帳に追加

部品実装機において、部品実装前と部品実装後の基板上複数部品が実装される所定領域を撮像する撮像部４１と、この撮像部４１によって撮像された部品実装前と部品実装後の各撮像データを比較することにより、実装検査を行う検査部４３とを有する構成とする。 - 特許庁

Since a control unit 25 controls each of the drive units, 21, 27 to 33 based on such optimal positions in correspondence with the inspection items stored in the storage 49, an image intensifier and the table top can be relatively moved to the most desired position automatically, by simply selecting one inspection item, even if the apparatus has the function of posing limitations on the performance to prevent interference.例文帳に追加

制御部２５はメモリ４９に記憶されている検査項目に対応する最適化位置に基づき各駆動ユニット２１，２７〜３３を制御するので、干渉を防止する動作制限の機能を備えている場合であっても、検査項目を選ぶだけで撮影しやすい位置にイメージインテンシファイアと天板を自動的に相対移動させることができる。 - 特許庁

This automobile inspection maintenance device comprises a video camera 18 for picking up images of inspection parts of an inspected car 10, a monitor for displaying the images picked up by the video camera 18, and a talking device for connecting an inspector 12 inspecting the inspected car and the user watching an image of the monitor, and the user can exchange the information and speak his intension with the inspector while watching the images of the monitor.例文帳に追加

自動車車検整備装置は、被検車１０の点検箇所を撮像するためのビデオカメラ１８と、ビデオカメラ１８によって撮像された画像を表示するためのモニタと、被検車を点検する検査員１２とモニタの画像を見るユーザとを接続する通話装置と、を有し、ユーザはモニタの画像を見ながら、検査員との間にて情報の交換及び意思の伝達が可能とする。 - 特許庁

This method comprises steps 21 and 21' for giving parameters intrinsic to the subject and/or the inspection to the magnetic resonance instrument and a step 22 for establishing the optimum setting and/or setting range of a sequence parameter in order to generate the magnetic resonance image in the instrument concerning the combination of the given parameters intrinsic to the subject and/or the inspection.例文帳に追加

−磁気共鳴装置に被検体特有および（または）検査特有のパラメータが与えられるステップ２１、２１´と、磁気共鳴装置が、与えられた被検体および（または）検査特有のパラメータの組み合わせに対して、磁気共鳴画像を発生させるためシーケンスパラメータの最適な設定および（または）設定範囲を確定するステップ２２とを含む。 - 特許庁

This substrate inspection device 1 has an integrated constitution that a substrate holding mechanism for holding a printed circuit board P to move the same, an imaging mechanism for imaging the substrate P, a controller 63 for judging quality from image data, a liquid crystal display panel 4 for displaying an inspection result, etc. are incorporated in a base frame 10 and covered with a casing Ca from outside.例文帳に追加

基板検査装置１は、プリント基板Ｐを保持し移動させる基板保持機構、基板Ｐを撮像する撮像機構、画像データに基づいて良否判定を行うコントローラ６３および検査結果を表示する液晶表示パネル４等を共通のベースフレーム１０に組み込み、これらをケーシングＣａにより外側から覆った一体構成を有する。 - 特許庁

The defect inspection device for processing image information imaging an inspection object having a prescribed area to be inspected by a plurality of area sensors and discriminating a defect based on a characteristic amount calculated from brightness change in the area includes correction means between characteristic amount imaging systems for correcting the difference between the characteristic amounts to the same defect between the plurality of the area sensors in each area sensor.例文帳に追加

所定の被検査エリアを有する検査対象を、複数のエリアセンサにより撮像した画像情報を処理し、前記エリア内の輝度変化から計算した特徴量に基づいて欠陥を識別する欠陥検査装置において、 前記複数のエリアセンサ間の同一欠陥に対する特徴量の差を補正する、特徴量撮像系間補正手段を前記エリアセンサ毎に備える。 - 特許庁

Every time the UV CCD camera 5 photographs a frame of image, the resist pattern 102 under inspection is irradiated with illuminating light having a wavelength in the UV range at an irradiating quantity of 0.5 mJ/cm2 or more, an irradiating threshold not shrinking the resist pattern 102 under inspection or an irradiating quantity below the irradiating threshold, not changing the absorption of an antireflective film.例文帳に追加

また、紫外光用ＣＣＤカメラ５が１枚の画像を撮像する毎に、検査するレジストパターンに対して、紫外域の波長を有する照明光を、０．５ｍＪ／ｃｍ^2以上の照射光量で、且つ、検査対象のレジストパターン１０２を収縮させない照射閾値、或いは、反射防止膜の吸収率を変化させない照射閾値以下の照射光量で照射する。 - 特許庁

Further, the feature amount calculating device comprises a feature amount calculation part for calculating a feature amount from the inspection image, a solder shape quality determination part for determination the quality of the solder shape by using the inspection standard from the solder shape information, and a feature amount output for displaying or outputting the feature amount and quality determination results.例文帳に追加

特徴量算出装置は更に、検査画像より特徴量を算出する特徴量算出部と、半田形状情報より検査基準を用いて半田形状の良否を判定する半田形状良否判定部と、特徴量及び良否判定結果を表示又は出力する特徴量出力部とを含んでいる。 - 特許庁

The automatic microscope includes a microscope for enlarging an image of an inspection body placed on a slide glass 2 arranged on a stage 1, and the automatic microscope has an automatic focusing function of adjusting the relative position of the microscope lens 3 and the stage 1 and focusing the lens 3 on the inspection body placed on the slide glass 2.例文帳に追加

ステージ１上に配置されたスライドガラス２上の検体の像を拡大する顕微鏡を備え、前記顕微鏡のレンズ３と前記ステージ１との相対位置を調整して当該レンズ３の焦点を前記スライドガラス２上の検体に合わせるオートフォーカス機能を有する自動顕微鏡。 - 特許庁

This component mounting substrate inspection device equipped with the mean value acquisition function has a mean value calculation function for storing numerical data of thresholds in image data acquired by solder print inspection such as a solder print area, a solder print width or a solder print position after printing the solder on electric circuit patterns on a plurality of component mounting substrates, and determining the mean value thereof.例文帳に追加

本発明の一実施例の基準値の平均値取得機能を備えた部品実装基板検査装置は、複数の部品実装基板の電気回路パターンに半田を印刷した後のそれら半田の印刷面積、半田の印刷幅、半田の印刷位置などの半田印刷検査で得た画像データにおける閾値の数値データを記憶し、それらの平均値を求める平均算出機能を有することを特徴とする。 - 特許庁

The immunodiagnostic test apparatus includes: a centrifugal separator; and an imager arranged relating to the centrifugal separator, wherein for providing a prediction data relating to failure mode of an apparatus or an inspection element or existing of an agglutination reaction, at least one image of at least one inspection element is captured before the completion of the centrifugal separation time.例文帳に追加

免疫診断検査装置は、遠心分離機と、この遠心分離機に関連して配置されたイメージャーとを含み、装置または検査エレメントの不良モードないし凝集反応の存在に関する予測データを提供するために、遠心分離時間の完了前に、少なくとも１つの検査エレメントの少なくとも１つの画像がキャプチャーされる。 - 特許庁

To solve the problem in conventional inspection apparatus and inspection method using a Fourier transform filter that a reflecting light from an edge of an irregular circuit pattern cannot be removed although the apparatus and method are effective to remove a diffraction light from a repeated pattern, and consequently sophisticated image processing such as processing the edge, distinguishing foreign matters from false failures in the vicinity of the edge, etc., is required.例文帳に追加

従来のフーリエ変換フィルタを用いた検査装置及び検査方法では、繰り返しパターンからの回折光の除去には有効であるが、不規則な回路パターンのエッジ部からの反射光は除去できず、エッジ部処理やエッジ部近傍における異物と疑似不良の識別等高度な画像処理が必要でありる。 - 特許庁

A recording apparatus, equipped with an inkjet type recording head performing a recording on a recording paper based on image information, and a paper carrying means passing the recording paper through the recording head part, is equipped with the recording head for inkjet recording and an inspection liquid discharging head discharging an inspection liquid which reacts with an ink discharged from the recording head to develop a color.例文帳に追加

画像情報に基づいて記録用紙に記録を行なうインクジェット方式の記録ヘッドと該記録ヘッド部に前記記録用紙を通過させる用紙搬送手段とを備える記録装置において、インクジェット記録用記録ヘッドと、前記記録ヘッドから吐出されたインクと反応して発色する検査液を吐出する検査液吐出ヘッドと、を備えるインクジェットプリンタ記録ヘッド評価装置を提供する。 - 特許庁

The camera for an inspection by means of visual observation is arranged in a tip part of the motor-driven (hydraulic) arm, and a photographed inspection image is confirmed by a personal computer in a car.例文帳に追加

本発明はモニタ−画像と３の衝突防止センサ−を用いた遠隔操作方式で電動（油圧）伸縮ア−ム２を使用した小型収納方式により、構造物点検車輌の小型化を図り、さらに橋梁診断のためのパソコン機器と診断ソフトを搭載可能とし、電動（油圧）ア−ムは均等に伸縮可能な構造とした。 - 特許庁

The pinworm egg inspection device 10 includes an excitation light irradiation section 52 irradiating the sample with ultraviolet rays to excite the pinworm eggs; an image data acquisition section 20 acquiring image data which are data of an image containing fluorescence to be generated by the excited pinworm eggs; and an analysis section 60 finding pin worms by detecting the fluorescence based on the image data.例文帳に追加

ぎょう虫卵検査装置１０は、試料に紫外光を照射してぎょう虫卵を励起させる励起光照射部５２と、励起されたぎょう虫卵が発生させる蛍光を含む画像のデータである画像データを取得する画像データ取得部２０と、画像データに基づいて、蛍光を検出することによってぎょう虫を発見する解析部６０と、を備える。 - 特許庁

To significantly improve convenience of data processing by storing all of image data in a primary storage device, namely, a memory that allows direct access to any part of the image data, in a device that collects a large amount of image data in a defect inspection device or the like for semiconductor photomasks and allows a computer to detect defects on photomasks on the basis of the image data.例文帳に追加

半導体用フォトマスクの欠陥検査装置等の大量の画像データを収集し、その画像データに基づいてコンピュータがフォトマスク上の欠陥を検出する装置などでは、画像データの任意の部分に直接アクセスできる一次記憶装置、即ちメモリ上にその全てを収納できるならばデータ処理の利便性が飛躍的に向上する。 - 特許庁

The scanning electron microscope includes: a pattern existence determining part 1012 that determines the existence of a pattern with respect to an individual frame image and sub-frame image constituting a synthesis image for inspection/length-measurement; a magnification correction part 1014; a distortion correction part 1018; an image synthesis part 1015; and a storage unit 1111 that compresses and stores those images therein in a video form.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、パターンの検査・測長のための合成画像を構成する個々のフレーム画像やサブフレーム画像に対してパターンの有無を判定するパターン有無判定部１０１２や倍率補正部１０１４、歪曲補正部１０１８、画像合成部１０１５及びそれら画像を動画形式で圧縮保存する記憶部１１１１を備える。 - 特許庁

In the surface inspection method for detecting the surface flaw of the strip by irradiating the surface of the fed strip with light, detecting the reflected light from the surface of the strip to convert the same to an image signal and subjecting the image signal to image processing, the feed speed of the strip is detected and the image processing resolving power is altered corresponding to the feed speed.例文帳に追加

搬送される帯状体の表面に対して光を照射し、前記帯状体の表面からの反射光を検出して画像信号に変換し、その画像信号を画像処理することにより前記帯状体の表面欠陥を検出する表面検査方法において、前記帯状体の搬送速度を検出し、その搬送速度に対応して、画像処理分解能を変更する。 - 特許庁

A tablet inspection device 8 includes: an imaging part 30 which images the carried object to be inspected and outputs an image obtained by imaging the object to be inspected; and a calculation part 80 which acquires the image from the imaging part 30 and calculates a parameter for inspecting the object to be inspected by image processing, on the basis of feature quantities in the acquired image.例文帳に追加

錠剤検査装置８は、搬送された被検査物を撮像し、当該被検査物が撮像された画像を出力する撮像部３０と、撮像部３０から画像を取得し、被検査物を画像処理により検査するためのパラメータを、取得した画像における特徴量に基づいて算出する算出部８０とを備える。 - 特許庁

In SEM image comparison type inspection equipment, the potential contrast image is compared between a specified pattern being inspected and a reference pattern to generate a comparison image including one of two binarized contrasts, dimensions based on the contrast of the comparison image are measured and characterized dimensions being varied through fabrication of the semiconductor device are analyzed from the measurements.例文帳に追加

ＳＥＭ式画像比較型検査装置において、所定のパターンを有する被検査パターンとおよび参照パターンの電位コントラスト画像を比較することにより、二値化されているコントラストの一方のコントラストのみを含む比較画像を生成し、当該比較画像のコントラストに基づく寸法を測定し、当該測定結果から、前記半導体形成によりばらつきが生じる特性化寸法を解析する。 - 特許庁

This laminography inspection system is equipped with a radioactive source, a plurality of linear image detectors to demarcate an image plane, a fixed table to dispose the test object at a fixed position between the radioactive source and the image detector, and a computer device to process a plurality of the images of the test object which are acquired from the image detectors.例文帳に追加

断層撮影検査システムが、放射線源、影像平面を画定する複数の線形影像検出器、放射線源と影像検出器の間の固定された位置に試験物体を配置する固定式テーブル、および影像検出器から獲得された試験物体の複数の影像を処理するコンピュータ装置を備える。 - 特許庁

To provide a developing device which can stably supply a high- precision image with superior 1-dot reproducibility by stabilizing a developing bias voltage and preventing image adverse effect such as a fogging image by preventing the developing bias voltage from overshooting or undershooting while simplifying an inspection stage for a product and improving the yield, and an image forming apparatus equipped with the developing device.例文帳に追加

製品の検査工程の簡略化、歩留まりの向上を図りつつ、現像バイアス電圧のオーバーシュートやアンダーシュートを防止して現像バイアス電圧の安定化を図り、カブリ画像等の画像弊害を防止し、１ｄｏｔ再現性に優れた高精度画像を安定して供給することができる現像装置及びこの現像装置を備える画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The loading location accuracy inspection apparatus 21 for inspecting loading location accuracy of a light emitting element 23 in an optical element module 22 includes an image pickup device 24, an image processing apparatus 25 into which a signal from the image pickup device 24 is input, and a display apparatus 26 for outputting the result processed with the image processing apparatus 25.例文帳に追加

搭載位置精度検査装置２１は、光素子モジュール２２における発光素子２３の搭載位置精度を検査するための装置であって、撮像デバイス２４と、この撮像デバイス２４からの信号が入力される画像処理装置２５と、画像処理装置２５で処理された結果を出力するための表示装置２６とを備えている。 - 特許庁

To provide a medical image diagnostic device and a medical image storage system warning an operator and urging the operator to efficiently and properly secure free space by displaying the capacity of the free space for image storage, in addition to inspection appointment information displayed in the medical image diagnostic device.例文帳に追加

医用画像診断装置に表示する検査予約情報に画像保存のための空き領域の容量をも併せて表示させることによって操作者の注意を喚起し、空き領域の容量の確保を効率よく的確に行うことを促すことのできる医用画像診断装置及び医用画像保存システムを提供する。 - 特許庁

In the X-ray inspection equipment driven by external electric power or power supplied by the internal battery, only an image correction processing is performed when driving power is supplied from the internal battery, and when it is supplied by an external power source, after the image correction, the image processing to make an image for diagnosis is performed, and also the data storing process is performed.例文帳に追加

外部電力、あるいは内部バッテリから供給される電力によって駆動されるＸ線検査装置において、駆動電力が内部バッテリから供給されている場合には、画像補正処理のみを行い、外部から供給されている場合には画像補正後、診断用画像を作成するための画像処理を行って保存する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method and apparatus with easy sensitivity adjustment capable of both inspecting locational deviation in an image to be inspected, image distortion, etc., by considering brightness between the images and of reducing misreports and highly sensitively detecting defects only by setting a threshold value in defect inspection for comparing the image to be inspected with a reference image and detecting the defects from their difference.例文帳に追加

検査対象画像を参照画像と比較してその差異から欠陥を検出する欠陥検査において、対象画像内の位置ずれや画像歪み等について、画像間の明るさを合わせ込んで検査を行うとともに、しきい値設定のみで虚報の低減と欠陥の高感度検出を両立させ、感度調整が容易な欠陥検査方式及び装置を提供する。 - 特許庁

In a medical image display system 100, a range to be displayed under a photographing condition different from the data of a medical image currently displayed at a display part 35 is specified, and when the different photographing condition of the same inspection different from the photographing condition of the medical image data is selected further, the medical image data of the selected different photographing condition are retrieved from a data base.例文帳に追加

医用画像表示システム１００では、表示部３５に表示中の医用画像データとは別の撮影条件で表示する範囲が指定され、更に、当該医用画像データの撮影条件とは異なる、同一検査の別の撮影条件が選択されると、その選択された別の撮影条件の医用画像データをデータベースから検索する。 - 特許庁

When a defective part for an arbitrary substrate is reported from a visual inspection process 14, a mounting failure analysis device 22 acquires the image data on each process work state of the substrate from the image data management apparatus 21, and analyzes the cause of failure from the image of work state in a previous process starting from the image of the process where the defective part has occurred.例文帳に追加

実装不良解析装置２２は、外観検査工程１４から、任意の基板に対する不良箇所の通知を受けた場合、基板の各工程作業状態の画像データを画像データ管理装置２１から取得し、不良箇所の発生した工程の画像を起点としてその工程より前の工程の作業状態の画像から不良原因の解析を行う。 - 特許庁

The lighting system is provided with image forming elements (liquid crystal panels 14 to 16) modulating and emitting light from a light source 11 for every pixel, an irradiation means 18 irradiating the imaging element to be inspected with light emitted from each pixel of the image forming elements and a controlling means 21 controlling each pixel of the image forming elements on the basis of image data for inspection of the imaging element.例文帳に追加

光源１１からの光を各画素ごとに変調して射出する画像形成素子（液晶パネル１４〜１６）と、画像形成素子の各画素から射出される光を検査対象の撮像素子に照射する照射手段１８と、撮像素子の検査用の画像データに基づいて画像形成素子の各画素を制御する制御手段２１とを備える。 - 特許庁

The apparatus for inspecting character blur is provided with a binary image generating means for generating a binary image by binarizing an inspection object image by a predetermined threshold, an independent region counting means for counting the number of independent regions in the binary image, and a judging means for judging that it is a character blur defect when the number exceeds a criterion number.例文帳に追加

検査対象画像を所定のしきい値で２値化し２値化画像を生成する２値化画像生成手段と、前記２値化画像における独立領域の個数を計数する独立領域計数手段と、前記個数が判定基準個数を超えているときに文字カスレ不良であると判定する良否判定手段とを具備するようにした文字カスレ検査装置。 - 特許庁

The inspection means 40 of the image communication apparatus 10 inspects the communication channel quality of the network, a selection means 42 selects a coding system whereby as the communication channel quality is more deteriorated, the abnormity of coded image data less affects the deterioration in the image data after decoding, and a coding/decoding section 41 transmits the image data coded by the selected coding system to a transmission destination terminal.例文帳に追加

画像通信装置１０の検査手段４０はネットワークの通信回線品質を検査し、選択手段４２は通信回線品質が劣化するほど、符号化された画像データの異常が復号後の画像データの劣化に影響し難い符号化方式を選択し、符号化・復号化部４１は、この選択された符号化方式で符号化した画像データを送信先端末に送信する。 - 特許庁

The inspection adjustment device for the image reader analyzes image data transferred from an image reader that is a device to be inspected to calculate a color slurring amount and adjusts a current supplied to a motor that moves a read unit provided for the image reader in a subscanning direction on the basis of a value set corresponding to the color slurring amount.例文帳に追加

画像読み取り装置の検査調整装置において、被検装置とする画像読み取り装置より転送を受けた画像データを解析して色ズレ量を算出し、前記の色ずれ量に応じて設定した値をもって前記の画像読み取り装置に備える読み取りユニットを副走査方向に移動させるモータに通電する電流値の調整を行なう。 - 特許庁

This image file processing method is provided with a display process (S14) for displaying information regarding a location of a folder in which a specified image file is stored when the desired image file is instructed from a list display of a plurality of image files processed by alteration inspection processing (S11).例文帳に追加

改変検査処理により処理された複数の画像ファイルの一覧表示から所望とする画像ファイルが指示された場合（Ｓ１１）、指定された画像ファイルが格納されているフォルダの場所に関する情報を表示させる表示工程（Ｓ１４）を備えることを特徴とする画像ファイル処理方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁

When a camera 3A is positioned at a position corresponding to a region 30 to be imaged so as to image and obtain an image 40 to be treated in inspection, a region 41 corresponding to the image 40 to be treated is sampled on the image 103 as a whole, and amounts Δx, Δy of displacement for the region 30 to be imaged in this region 41 are calculated.例文帳に追加

検査時に、撮像対象領域３０に対応する位置にカメラ３Ａを位置決めして撮像し、処理対象画像４０を取得すると、全体画像１０３上でこの処理対象画像４０に対応する領域４１を抽出し、この領域４１の撮像対象領域３０に対するずれ量Δｘ，Δｙを算出する。 - 特許庁