「IMAGE INSPECTION」に関連した英語例文の一覧と使い方(69ページ目) - Weblio英語例文検索

An inspection method of resin pellets is constituted so that resin pellets 9 are supplied to a feed passage 10 illuminated by a shadowless light source to be moved along the feed passage 10 and line sensor cameras 4, 5 are arranged so that the visual fields thereof transverse the feed passage 10 to photograph the resin pellets passing through the visual fields and the obtained image data is analyzed to detect the flaw of the resin pellets.例文帳に追加

無影光源に照明された搬送路10に樹脂ペレット9を供給して樹脂ペレット9を搬送路10に沿って移動させ、ラインセンサーカメラ4,5を、その視野が搬送路10を横切るように配置してその視野を通過する通過する樹脂ペレット9を撮影し、得られた画像データを解析し樹脂ペレット9の欠陥を検知するよう構成する。 - 特許庁

Illumination light is irradiated to enter an inspection domain obliquely from the side on which a pattern of TAB tape is formed by a reflection illumination means 12, and illumination light is irradiated from the opposite side to the side on which the pattern is formed by a transmission illumination means 13, to thereby image the pattern by an imaging means 11.例文帳に追加

ＴＡＢテープのパターンが形成されている側から、反射照明手段１２により、検査領域に対して斜めに入射するように照明光を照射するとともに、パターンが形成されている側とは反対側から透過照明手段１３により照明光を照射し、撮像手段１１によりパターンを撮像する。 - 特許庁

When inspecting a work (PDP) 10 to be inspected in which phosphors for emitting each color of RGB, respectively, are arranged, a camera 20 images the work 10 to input an inspecting image by irradiating an ultraviolet light supplied from a UV light source 36 at an angle by a light guide 22 to a prescribed inspection position on the work 10.例文帳に追加

ＲＧＢの各色をそれぞれ発光する蛍光体が配列形成されている検査対象物であるワーク（ＰＤＰ）１０を検査する際、前記ワーク１０における所定の検査位置に対して、ＵＶ光源３６から供給される紫外光をライトガイド２２により斜めに照射し、カメラ２０により撮像して検査画像を入力する。 - 特許庁

When detection signals outputted from each photodetector of the line sensor of an image reading unit 28 are corrected as the inspection chart has been completely read, the correction data corresponding to the combination of the photodetector and the color of a read pattern are read out from the filter correction table 32, and a correction process is carried out by use of the correction data.例文帳に追加

検査チャートを読み取った時に画像読取部２８のラインセンサの各光検出器が出力する検出信号を補正する際、当該光検出器とそのとき読み取っているパターンの色との組合せに対応する補正データをフィルタ補正テーブル３２から読み出し、これを用いて補正を行う。 - 特許庁

To obtain three images which are to be compared in double detection through main scanning toward the same direction, and to perform main scanning in both the normal and reverse directions, in defect inspection for scanning a sample surface on which a repeated pattern where a plurality of basic patterns are repeated is formed, and comparing each image on corresponding parts of the plurality of respective basic patterns.例文帳に追加

複数の基本パターンが反復する反復パターンが形成された試料表面を走査し、複数の基本パターン相互の対応部分の画像同士を比較する欠陥検査において、ダブルデテクションで比較される３画像を同一方向に向かう主走査で取得しかつ正逆両方向において主走査を行う。 - 特許庁

To find an actual dimension, based on a still image with a damaged portion picked up to include a noncontact scale marker, safely and efficiently to reduce personal nonaccuracy due to eye estimation, for the purpose of facilitating actual damage dimension (longitudinal and lateral) measurement, in inspection work of a structure.例文帳に追加

構造物点検業務において、損傷実寸（縦横）計測の簡易化を目的として、安全・効率的且つ目測による属人的な非正確性を低減するために、非接触スケールマーカを含むように損傷箇所を撮像した静止画から、実寸を求めることができる計測装置および計測方法および計測プログラムを提供する。 - 特許庁

In the abnormal inspection system 100, the foreign materials or the detective products are detected by analyzing the spectrum image with the support vector machine and thus can be detected, for example, even if the difference of spectrum between a normal part and an abnormal part is slight compared to a conventional principal component analysis, thereby the abnormal part can be detected with higher accuracy.例文帳に追加

この異状検査システム１００では、サポートベクターマシンを用いてスペクトル画像を解析して、異物また不良品を検出するため、従来の主成分分析と比較して、例えば正常部分と異状部分とのスペクトルの差が微弱であっても検出が可能となるため、より高い精度で異状部分の検出を行うことができる。 - 特許庁

An abnormal inspection system 100 (detection device) comprises: a light source unit 10 and a detection unit 20 for imaging an inspected object 3; an analysis unit 30 for analyzing with a support vector machine a spectrum image obtained by imaging and detecting foreign materials or defective products mixed in the inspected object 3.例文帳に追加

異状検査システム１００（検出装置）は、検査対象物３を撮像する光源ユニット１０及び検出ユニット２０と、撮像により得られたスペクトル画像をサポートベクターマシンを用いて解析し検査対象物３中に混在する異物または不良品を検出する分析ユニット３０と、を備える。 - 特許庁

The inspection method for the membrane shape of a stencil mask to be used for manufacturing semiconductors is characterized in that a stencil mask is placed on an XY stage and a sheet beam by a laser is made to be obliquely incident to the surface of the stencil mask so as to obtain an optical cutting image by reflection from the stencil mask.例文帳に追加

半導体製造で使用されるステンシルマスクのメンブレン形状の検査方法において、ステンシルマスクをＸＹステージに配置し、レーザによるシートビームをステンシルマスクの表面に対して斜めに入射し、ステンシルマスクからの反射で光切断像を得ることを特徴とするステンシルマスクのメンブレン形状の検査方法。 - 特許庁

To provide a short pulse hard x-ray generating apparatus that can be used in fields of radiography, medical diagnosis, x-ray fluorescence analysis, and material surface reforming technology requiring high brightness of pulse x-ray, and application industry and medical diagnosis technology field such as non-destruction inspection, permeation image measurement requiring high speed phenomenon.例文帳に追加

輝度の高いパルスＸ線を必要とするラジオグラフィー、医療診断、Ｘ線傾向分析、材料表面改質技術及び高速現象をとらえる必要のある非破壊検査、透過画像計測等のＸ線応用の産業技術、医療診断技術分野等で利用できる、パルスＸ線発生装置 - 特許庁

In order to perform various processing on the input image or the processing result, the MFP 103 comprises a plurality of processing units such as a PDL interpreter 106, an RIP 107 and a printer section 109, and a plurality of inspection units provided in correspondence with respective processing units and inspecting the processing results therefrom.例文帳に追加

ＭＦＰ１０３は、入力画像又は当該処理結果に対して各種処理を行うために、ＰＤＬインタプリタ１０６、ＲＩＰ１０７、プリンタ部１０９等の複数の処理ユニットと、各処理ユニットのそれぞれに対応して設けられ、各処理ユニットによって処理された処理結果を検査する複数の検品ユニットを備えている。 - 特許庁

To provide plane sensor which can inhibit misdiagnosis if used as a sensor for X-ray diagnostic system by forming area for supply of high voltage or area for inspection of element on any area other than pixel matrix, without artifact generation in image due to presence of these areas.例文帳に追加

高電圧を供給するための領域や素子検査のための領域等を画素マトリックスの以外の領域に形成し、これら領域の存在によって画像にアーティファクトが生じることがなく、Ｘ線診断システムの検出器として用いる場合の誤診を防止できるような平面検出器を提供すること。 - 特許庁

In the image display device, a part of dummy pixels arranged in the periphery of a pixel section is changed into the inspection circuit to easily and surely inspect disconnection or the like of data signal lines and scanning lines and pixel control in a small occupied area without requiring an inspector using many probe pins or a complicated additional circuit, and thus a panel is inexpensively manufactured.例文帳に追加

画素部周辺に配置してあるダミー画素の一部を変更し検査回路にすることで、多くのプローブピンを用いた検査機や複雑な追加回路を必要とせず、しかも少ない占有面積で、データ信号線および走査線の断線等の検査や画素制御の検査を簡単かつ確実に行ことができ、これにより安価にパネルを生産することができることを特徴とする。 - 特許庁

The image inspection apparatus is formed by attaching an underframe 14 to the waist level finder 20 and employing a configuration to determine the focal position of a magnifier lens 10c which the waist level finder 20 has by the underframe 14, and in addition, by attaching a film rail frame 15 to the underframe 14 and further attaching an illuminator 26 to the film rail frame 15.例文帳に追加

ウエストレベルファインダ−１０に台枠１４を取付け、この台枠１４によってこのウエストレベルファインダ−１０が備えるル−ペレンズ１０ｃの焦点位置を定める構成とする他に、上記台枠１４にフイルムレ−ル枠１５を取付け、さらには、このフイルムレ−ル枠１５に照明装置１６を取付けて形成する画像検査装置となっている。 - 特許庁

In the discharge inspection method for the droplet discharge head in the organic EL device manufacturing apparatus, the decision for droplets discharged from each nozzle 49 of the droplet discharge head 31 and in the middle of flying are irradiated by a stroboscope 121 and are imaged; the imaged result subjected to image recognition; and it is decided whether the discharge of each nozzle 49 is being conducted normally.例文帳に追加

有機ＥＬデバイス製造装置における液滴吐出ヘッドの吐出検査方法であって、液滴吐出ヘッド３１の各ノズル４９から吐出した飛翔中の機能液滴を、ストロボ１２１により照射して撮像し、その撮像結果を画像認識して、各ノズル４９の吐出が正常に行われているか否かを判定することを特徴とする。 - 特許庁

To perform easily and stably shape measurement of the whole measuring region on the surface to be inspected by determining the shape of a starting point region and the tilt angle of an adjacent region from an image of a starting point interference fringe, and by acquiring successively an adjacent interference fringe corresponding to the adjacent region by performing inclination adjustment of the inspection surface of the tilt angle portion.例文帳に追加

起点干渉縞の画像から起点領域の形状と隣接領域の傾斜角度を求め、この傾斜角度分の被検面の傾き調整を行なって隣接領域に対応した隣接干渉縞を順次得ることによって、被検面の測定領域全域の形状測定を容易かつ安定して実施できるようにする。 - 特許庁

To easily find out an optimum value without requiring much labor even when a user has no experience of a neural network by calculating a feature value from an information signal such as an image, sound and vibration in order to conduct product inspection and fault diagnosis, grasping the feature value as normal distribution and learning the neural network.例文帳に追加

製品検査および故障診断を行うため、画像、音、振動等の情報信号から特徴量を計算し、その特徴量を正規分布として捉えるととも、ニューラルネットワークの学習を行うことにより、手間がかからずに、ニューラルネットワークの経験がなくても容易に最適値が求められるようにすること。 - 特許庁

The circuit board inspection apparatus places an electrooptic device having an electrooptic crystal on a fixed position of the circuit board, irradiates the electrooptic device with a plurality of lighting light sources having different wavelength bands, and detects for every voltage wave form of a plurality of different voltage waveforms applied to the circuit board as an image by a two-dimensional photodetector.例文帳に追加

回路基板の固定位置上に電気光学結晶層を有する電気光学素子を配置し、電気光学素子に異なる波長帯域の複数の点灯光源を照射し、２次元光検出器で回路基板に印加される異なる複数の電圧波形ごとに画像として検出する回路基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

In an ultrasonic image inspection device 1, an ultrasonic transducer 13 irradiates biotissue 8 with the converged beam of an ultrasonic wave having a limited converging angle from the undersurface 92 of a resin plate 9 through an ultrasonic transmission medium W1 and the resin plate 9 in a state that the focus of the ultrasonic wave is matched with the upper surface 91 and receives the reflected wave from the biotissue 8 to convert the same into an electric signal.例文帳に追加

超音波画像検査装置１において、超音波トランスデューサ１３は、樹脂プレート９の上面９１に超音波の焦点を合わせた状態で超音波伝達媒体Ｗ１及び樹脂プレート９を介して下面９２側から生体組織８に対し、有限の集束角を有する超音波の集束ビームを照射するとともに、生体組織８からの反射波を受信して電気信号に変換する。 - 特許庁

The processing means 12 executes a step for extracting the density of a pixel positioned at a prescribed position previously determined relative to a target pixel with respect to the inspection image, a step for determining whether to apply the spatial filter to the noticed pixel based on the extracted density, and a step for applying the spatial filter only to the noticed pixel to which the spatial filter is determined to be applied.例文帳に追加

画像処理手段１２は、前記検査画像について、注目画素を基準として予め決定した所定位置に位置する画素の濃度を抽出するステップと、前記抽出した濃度に基づき、前記注目画素に空間フィルタを適用するか否かを判断するステップと、空間フィルタを適用すると判断した注目画素に対してのみ、空間フィルタを適用するステップとを実行する。 - 特許庁

To solve a problem in which countermeasures for reducing breakage of a low-noise amplifying element constituting an image transmitting device can not be taken since the cause of breakage can not be specified through inspection after the breakage although the low-noise amplifying element breaks owing to mixture of electrostatic noise etc., abnormal approach of a helicopter, radio wave input of a transmitter with large-power output such as a control radar, etc.例文帳に追加

画像伝送装置を構成する低雑音増幅素子が静電ノイズ等の混入、ヘリコプタの異常接近あるいは管制レーダ等の大電力出力の送信機の電波入力等の原因で破損するが、破損後の検査では、破損の原因が特定できない場合が多く、低雑音増幅素子の破壊を少なくする対策が取れない場合が多い。 - 特許庁

The inspection method for ejection of an inkjet device comprising an ink head with a plurality of ejection nozzles includes: a process of continuously ejecting ink from respective ejection nozzles of the ink head to form a parallel line pattern while moving the ink head in the conveyance direction on an image reception base material; and a process of determining defective ejection from line width and pattern interval of the line pattern.例文帳に追加

複数の吐出ノズルを有するインクヘッドからなるインクジェット装置の吐出検査方法であって、検査用受像基材上に、インクヘッドを搬送方向に移動させながら、前記インクヘッドの各吐出ノズルからインクを連続吐出し、平行なラインパターンを形成する工程と、ラインパターンの線幅及びパターン間隔から吐出の良不良を判断する工程と、を有する吐出検査方法。 - 特許庁

When the stop figures of the pattern display device stopped by the command generated during the inspection are captured by the imaging device 2, the data of the captured images output from the imaging device 2 are compared with the reference image data of the registered figures stored corresponding to the command to judge whether the stop figures displayed on the pattern display device 23 are proper or not.例文帳に追加

検査中に発生したコマンドに基づき停止した図柄表示装置の停止図柄を撮像装置２が撮像した際、撮像装置２から出力された撮像画像データとコマンドに対応して記憶された登録図柄の基準画像データとを比較し、図柄表示装置２３に表示された停止図柄の正否を判定する。 - 特許庁

When inspection is performed, a TFT 13b of each pixel 13 is turned on while an adequate voltage is applied to an image signal input terminal to charge each holding capacitance via a signal line 12 first and then the TFT is turned on again to transfer the charge accumulated in the holding capacitance to the signal line and the charge is detected via the image signal input terminal by using an external tester.例文帳に追加

画素電極１３ａとこの画素電極に隣接する画素用（前段）の走査線１１との間に保持容量１３ｃを介在させた構成とし、検査時には先ず画像信号入力端子に適当な電圧を印加した状態で各画素１３のＴＦＴ１３ｂをオンさせて信号線１２を介して各保持容量を充電させ、次に再びＴＦＴをオンさせて上記保持容量に蓄積されていた電荷を信号線に移して画像入力信号端子を介して外部のテスタで検出するようにした。 - 特許庁

To provide a reliable optical semiconductor device according to a request for superfineness in images and high precision in light detection by further improving position precision when joining the optical semiconductor device to an external electric circuit board and by achieving discrimination and detection immediately after joining the optical semiconductor device to the external electric circuit board before discriminating the degree of position deviation by an electrical test (image inspection).例文帳に追加

光半導体装置の外部電気回路基板への接合において、その接合における位置精度をさらに向上させるとともに、その位置ずれの程度を電気テスト（画像検査）で判別する前に、光半導体装置の外部電気回路基板への接合直後に判別・検知できるようにすることにより、画像の精細化および光検知の高精度化の要求に応じた信頼性の高い光半導体装置を提供することである。 - 特許庁

The inspection device for inspecting a plurality of semiconductor elements by using parallel processing through being connected to them, respectively, comprises a drive circuit for outputting a drive signal to the semiconductor elements; a correlated double sampling circuits for eliminating the noise of the image signals outputted from the semiconductor elements; and a serial processing circuit for converting the signals outputted from the respective correlation double sampling circuits into a single serial signal.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体素子を並列処理によって検査する半導体素子の検査装置であって、検査の対象となる複数の半導体素子のそれぞれに接続され、半導体素子に駆動信号を出力する駆動回路と、半導体素子のそれぞれに接続され、該半導体素子から出力される画像信号のノイズを除去する相関２重サンプリング回路とを備え、相関２重サンプリング回路のそれぞれから出力される出力信号を一つのシリアル信号に変換するシリアル処理回路が設けられている。 - 特許庁

An automatic inspection device is composed of a photoelectric converter for converting image information of an object to be inspected to electric signals, a processor for processing the electric signals from the photoelectric converter so as to improve the signals and an arithmetic unit provided with a contention type neural network performing identification and evaluation to learned data and un-learned data on the basis of a specified standard, for which output from the processor is input.例文帳に追加

本発明は、被検査物の画像情報を電気信号に変換する光電変換装置と、前記光電変換装置からの電気信号を改良するためにその信号を処理する処理装置と、前記処理装置からの出力を入力とし特定基準に基づいて学習データと未学習データに対する識別と評価とを行う競合型ニューラルネットワークを有する演算装置とよりなる自動検査装置を提供するもので、上記のような課題を解決した。 - 特許庁