「IMAGE INSPECTION」に関連した英語例文の一覧と使い方(63ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a tomographic method and apparatus for a piping inspection, which implements an image reconstruction operation from imperfect projection data only in a very small angle range since it is difficult for a conventional CT to obtain required perfect data when an image of plant piping is captured in the field, visualizes a minute defect such as a thickness reduction within a specimen, and generates a high-quality tomographic image.例文帳に追加

現地プラント配管撮影のように、従来ＣＴで必要な完全データの取得が困難であり、非常に小さい角度範囲での不完全投影データのみから画像再構成演算を実施し、被検体内部の浅い減肉のような微小欠陥などを画像化できる高画質な断層画像を作成できる配管検査用断層撮影方法および装置を提供することにある。 - 特許庁

When it is judged that the image for reference exists, the shared object concerning the specified inspection or series is generated ex-post facto by series unit, for example, through the use of the image for reference and at least one kind of information among a photographing condition, a photographing range, and a key image position, in the incidental information.例文帳に追加

リファレンス用画像が存在すると判定された場合、リファレンス用画像と、付帯情報のうちの撮影条件、撮影範囲、及びキー画像位置のうちの少なくとも一つの情報とを用いて、特定の検査又はシリーズについての共有オブジェクトを、例えばシリーズ単位で事後的に生成することができる。 - 特許庁

The defect inspection device for inspecting the presence of the defect of an object to be inspected using the neural network is equipped with an artificial flaw forming means for forming the artificial defective image of the object to be inspected by image processing and a learning means for learning the neural network on the basis of the artificially formed defective image.例文帳に追加

ニューラルネットワークを用いて被検物の欠陥の有無を検査する欠陥検査装置において、被検物の人工的な欠陥画像を画像処理により作成する人工欠陥作成手段と、人工的に作成された欠陥画像により前記ニューラルネットワークを学習させる学習手段と、を備える。 - 特許庁

To quantitatively express directional properties(anisotropy) in a three-dimensional structure created by a target to be noticed in an image to a three-dimensional image constructed by a tomogram acquired nondestructively, a sectional image acquired by direct observations using a microscope, or the like by a nondestructive inspection, such as X rays and a nuclear magnetic resonance method.例文帳に追加

エックス線や核磁気共鳴法などの非破壊検査により非破壊で取得された断層画像や顕微鏡などの使った直接的な観察よって取得された断面の画像などから構築された３次元画像に対して、画像内にある注目対象が作る３次元構造の方向性（異方性）を定量的に表現する。 - 特許庁

To efficiently perform lens inspection by providing a plurality of sets of imaging means obtained by combining a camera for imaging a chart image by an on-axis luminous flux with a camera arranged around the camera to image the chart image by an off-axis luminous flux and selecting an appropriate set suitable to a measuring aspect for use by changing movable mirrors.例文帳に追加

軸上光束によりチャート像を撮像するカメラと、その周辺に配置した軸外光束によりチャート像を撮像するカメラとを組み合わせた撮像手段を複数組設け、可動ミラーの切替えにより測定態様に適した適宜のものを選択して使用できるようにし、効率的なレンズ検査を行う。 - 特許庁

A foreign matter inspection device including analysis means which can measure the pattern width and can acquire the luminance distribution for image data of an alignment mark, and image processing means which enables integration processing, subtraction processing, binarization processing, expansion processing and contraction processing includes processing the image data to make the alignment mark clear, and then pattern-matching the alignment mark.例文帳に追加

アライメントマークの画像データのパターン幅計測、輝度分布取得が可能な解析手段と、積算処理、減算処理、２値化処理、膨張処理、収縮処理が可能な画像処理手段を備え、画像データに処理を加えて、アライメントマークを明瞭にした後にパターンマッチングを行うようにする。 - 特許庁

The visual inspection method includes: a process for acquiring image data of a semiconductor chip; a process for binarizing the image data; a process for recognizing a reference line 17 provided in the semiconductor chip and a chipping end 23 from the binarized image data; and a process for measuring a distance from the reference line 17 to the chipping end 23.例文帳に追加

半導体チップの画像データを取得する工程と、前記画像データを二値化処理する工程と、前記二値化処理された画像データから、半導体チップに設けられた基準点１７およびチッピング端２３を認識する工程と、前記基準点１７からチッピング端２３までの距離を測定する工程と、を有する。 - 特許庁

The method for manufacturing the color filter by using an ink-jet system comprises, before colored ink is applied, an advance discharge step of discharging the colored ink onto an image reception layer in advance and an inspection step of inspecting the generation of the ink mist on the image reception layer by using an image recognition unit.例文帳に追加

インクジェット方式によるカラーフィルタの製造方法において、着色インクの塗工を行う前に、予め受像層上に前記着色インクの吐出を行う事前吐出工程と、画像認識装置を用いて前記受像層上のインクミスとの発生検査を行う検査工程と、を具備することを特徴とするカラーフィルタの製造方法を提供する。 - 特許庁

A pattern is extracted by performing registration p1 of a pattern image with respect to a critical portion of the reference mask and registration p2 of a pattern in a critical portion of design data and applying extraction p4 of the critical pattern portion to a pattern image acquired by acquisition p3 of the pattern image of an inspection target mask.例文帳に追加

基準マスクのクリティカル部分についてのパターン画像の登録Ｐ１と、設計データのクリティカル部分のパターンの登録ｐ２を行い、検査対象マスクのパターン画像の取得ｐ３によって得たパターン画像に対してクリティカルパターン部の抽出処理ｐ４を施すことでパターンを抽出する。 - 特許庁

The reed bruise inspection device in which a plurality of illumination lights each of which has a different luminescent color are placed on a camera axis is characterized by automatically conducting a pass/fail judgement through an automatic comparison between a measured value obtained by measuring elements of the image by the image processing device and a standard value stored in the image processing device beforehand.例文帳に追加

そのリード打痕検査装置において、カメラ軸線上に発光色が異なる複数の照明を有し、前記画像に関する要素を前記画像処理装置にて計測し、その測定値と、予め前記画像処理装置に記憶させた基準値とを自動的に比較し、合否判定を自動的に行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an image inspecting method, an image inspecting device and a short-circuit analyzing method which can detect surely a minute short- circuit failure which is generated at the intersection part of a rescue wiring and a source wiring in a liquid crystal display panel only by the same visual image inspection as that in the conventional practice and can discriminate it.例文帳に追加

液晶表示パネル内のレスキュー配線とソース配線の交差部分に生じた微少なショート不良を従来と同じ目視による画像検査だけで確実に検出して識別することができる画像検査方法、画像検査装置およびショート不良解析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This inspection method comprises the steps of computing image- pickup and illumination conditions which optimize an evaluation value based on a plurality of picked-up images obtained by picking up condition-setting articles which are changed in image-pickup and illumination conditions; and inspecting an article to be inspected under the computed image-pickup and illumination conditions, and the same method is applied to the device.例文帳に追加

撮像条件と照明条件を変化させて条件設定用物品を撮像して得た複数の撮像画像に基づいて評価値を最適化する撮像条件と照明条件を演算し、その演算された撮像条件と照明条件において検査対象物品の検査を行なうようにした検査方法およびその方法を適用した装置。 - 特許庁

The image processing method and the metal corrosion inspection method using the method subject a digital image to multivalued processing using a plurality of thresholds, connect pixels of the same value in the multivalued processed image to fix connected areas, and discriminate areas to be extracted according to adjacency relations between the connected areas.例文帳に追加

デジタル画像を複数の閾値により多値化処理し、多値化処理画像中の同じ値の画素同士を連結することにより連結領域を決定し、前記連結領域の隣接関係をもとに抽出する領域を判別することを特徴とする画像処理方法およびこの方法を用いた金属腐食検査方法。 - 特許庁

To observe, at high resolution and stability, the image of a contact hole from a lower-layer current image which can not be observed using a secondary electron image of high aspect ratio and small diameter, related to an inspecting device which displays the inside of an opening reaching to a lower layer from an upper layer on an inspection substrate.例文帳に追加

本発明は、検査基板上の上層から下層に達する開口の内部を表示する検査装置に関し、試料にバイアス電圧をかけることによりアスペクト比が高く、直径の小さい２次電子像では観察不可能なコンタクトホールの像を下層電流像から高分解能、かつ安定に観察することを目的としている。 - 特許庁

The microorganism culture sheet with the mount in which the microorganism culture sheet is fixed to the mount facilitates inoculation of fungus liquid, image data of colonies of the plurality of microorganism culture sheets is formed by shooting, and the number of colonies can be counted based on the image data, efficiently performing image processing process, and a colony number counting process in a microorganism inspection.例文帳に追加

台紙に微生物培養シートを固定した台紙付き微生物培養シートは菌液の接種が容易であり、かつ撮像により複数の微生物培養シートのコロニーの画像データを形成でき、この画像データに基づいてコロニー数をカウントできるため、微生物検査における画像処理工程、コロニー数カウント工程を効率的に行うことができる。 - 特許庁

To provide a system and a method for supporting the development of an image processing and inspecting device for developing an optimum image processing and inspecting device to meet inspection needs of a user and minimizing a newly developing part of hardware and the software for the image processing.例文帳に追加

本発明は、使用者の検査ニーズに合致させた最適な画像処理検査装置の開発が可能であり、尚且つ、画像処理のためのハードウエア及びソフトウエアの新規開発部分を最小限に抑えた画像処理検査装置の開発を支援するためのシステム、及び開発支援の方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

In a white light interferometer using a time-domain correlation image sensor (camera 10), an interference range of a temporally incoherent light source is determined in conformity with a workpiece, a correlation image obtained by the white light interferometer is binarized, and the inspection of the presence of the object within the interference range is performed by the binarized image.例文帳に追加

時間相関イメージセンサ（カメラ１０）を使用した白色干渉計において、時間的にインコヒーレントな光源の干渉範囲を検査対象に合わせて決定し、前記白色干渉計で得られる相関画像を２値化して、該２値化された画像により、前記干渉範囲内の対象物有無検査を実施する。 - 特許庁

The visual inspection device is provided with a feeder feeding chip components 11, a transparent disc 2 conveying the chip components 11 from the feeder, an image pickup part 6 picking up images of the conveyed chip components 11, and a sorting mechanism sorting the chip components 11 on the basis of quality grades of the chip components 11 determined from pieces of image data picked up by the image pickup part 6.例文帳に追加

外観検査装置は、チップ部品１１を供給するフィーダーと、フィーダーからの上記チップ部品１１を搬送する透明円板２と、搬送されているチップ部品１１の撮像を行う撮像部６と、上記撮像部６で撮像された画像データから判定したチップ部品１１の良否に基づいて、チップ部品１１を選別する選別機構とを備えている。 - 特許庁

The X-ray inspection device 10 forms an X-ray image based on a detection result in an X-ray line sensor 14 with a control computer 20, inspects entrainment of a foreign substance based on the X-ray image, and specifies a part considered to be the background part by extracting brightness of each part in the whole X-ray image.例文帳に追加

Ｘ線検査装置１０では、制御コンピュータ２０が、Ｘ線ラインセンサ１４における検出結果に基づいてＸ線画像を形成し、このＸ線画像に基づいて異物混入の検査を行う装置において、全体のＸ線画像における各部の明るさを抽出して背景部分と思われる部分を特定する。 - 特許庁

In a printing apparatus, printing is performed on the basis of print data obtained by adding a mark 805 indicating a conveying direction range of an area 801 to be inspected to an original image, and an inspection image 84 including the area 801 is acquired from a print result image on the basis of the mark 805 to inspect the print in the area 801.例文帳に追加

印刷装置では、検査対象領域８０１の搬送方向の範囲を示す目印８０５が元画像に追加された印刷データに基づいて印刷が行われ、印刷結果画像から検査対象領域８０１を含む検査画像８４が目印８０５に基づいて取得されて検査対象領域８０１における印刷の検査が行われる。 - 特許庁

The inspection device (14) is equipped with an imaging means (140) for imaging objects and an image data processing means (144) for calculating a foreign matter determining standard value for each partial image data, showing a part of the matter and detecting foreign matters in the matter in a partial image data unit, on the basis of the foreign matter determining standard value.例文帳に追加

本発明の検査装置（１４）は、物体を撮像する撮像手段（１４０）と、前記物体の一部分を表わす部分画像データごとに異物判定基準値を求め、該異物判定基準値に基づいて前記物体中の異物を前記部分画像データ単位で検出する画像データ処理手段（１４４）と、を備える。 - 特許庁

The lead bruise inspection device is to inspect a lead of a semiconductor device such that a semiconductor device having a plurality of leads which jut from a package and are arranged in a row is installed on a semiconductor device installation part in a dark room, an image of the leads is taken by a camera while illumination light irradiates to the leads, and the image signal is picturized by a image processing device.例文帳に追加

本発明のリード打痕検査装置は、パッケージから突出し列をなす複数のリードを有する半導体装置を暗室の半導体装置載置部に載置し、前記リードに照明光を照射した状態で、前記リードをカメラで撮像すると共に、その撮像信号を画像処理装置で画像化する半導体装置のリード打痕検査装置である。 - 特許庁

When a program stored in a program storage memory 4 is executed, a CPU 6 performs a difference process for calculating a luminance difference by putting a previously registered instruction image over a picked-up image of an object of inspection obtained by a TV camera 1, and performs multiplication by previously registered values of weight (deviation data) by pixels of the instruction image of the object to recalculate a difference value.例文帳に追加

スタートしてプログラム格納用メモリ４に格納してあったプログラムが実行されるとＣＰＵ６は予め登録してある教示画像を、ＴＶカメラ１で撮像した検査対象物の撮像画像に重ねて輝度差を計算する差分処理を行い、この差分処理に更に予め登録してある対象物の教示画像の各画素毎の重み（偏差データ）の値を乗じて差分値を再計算する。 - 特許庁

An inspection support program performs character recognition of image data included in content data to acquire a character recognition result, and if the content data further includes substitute information of the image data, causes a computer to execute output processing of the substitute information and character recognition result of the image data in association.例文帳に追加

画像データを含むコンテンツデータに含まれる前記画像データを文字認識して文字認識結果を取得し、コンテンツデータに画像データの代替情報が更に含まれているとき、画像データの代替情報と文字認識結果とを対応付けて出力する処理をコンピュータに実行させることで上記課題を解決する。 - 特許庁

The wire rope inspection device includes: a camera 10 for photographing continuously the wire rope 100 in operation; an image preservation means for preserving the photographed image by correlating the photographed image with a wire rope position; an image display part 16 for displaying the photographed image of the wire rope corresponding to a designated position by designating the wire rope position to be displayed; and a strand disconnection display part 18 for inspecting strand disconnection of wire rope 100 by image processing.例文帳に追加

ワイヤーロープ検査装置において、ワイヤーロープ１００を走行しながら連続撮影を行うカメラ１０と、撮影画像とワイヤーロープ位置の対応付けを行って撮影画像を保存する画像保存手段と、表示したいワイヤーロープ位置を指定することで、その指定位置に対応するワイヤーロープの撮影画像を表示する画像表示部１６と、画像処理によってワイヤーロープ１００の素線切れを検査する素線切れ検出部１８とを備えた。 - 特許庁

To provide a conductive plastic sheet having anti-static performance for protecting an electronic component included and sufficient mechanical strength, and preventing malfunction caused by halation in image processing for quality inspection, as for an emboss carrier tape.例文帳に追加

エンボスキャリアテープ用として、内容物である電子部品の保護のため帯電防止性能と充分な機械的強度を有し、かつ品質検査時の画像処理時のハレーションによる誤動作の問題がない導電性プラスチックシートを提供すること。 - 特許庁

A device for performing analysis operation for determining the height is formed by adding an analysis software for performing the operation for determining the height as additional module to a two-dimensional inspection device comprising an existing photographing means and an image analysis software.例文帳に追加

この高さを求める解析演算を行う装置としては、既存の撮影手段と画像解析ソフトウェアとからなる２次元検査装置に高さを求める演算を行うための解析用ソフトウェアを追加モジュールとして付加したものとする。 - 特許庁

The images of magnetic field distribution of the surfaces of permanent magnets 1 taken by a powder figure method are analyzed by a binarizing type image analyzing method and collated with a preset standard and the permanent magnets 1 are stratified to perform the inspection of the permanent magnets 1.例文帳に追加

粉末図形法によって写し出される永久磁石１の表面における磁界分布の像を、２値化方式画像解析するとともに、予め設定された基準と照合し、永久磁石１を層別することによって永久磁石１の検査を行なう。 - 特許庁

The wiring defect and the COG mounting connection defect latent in the liquid crystal module are surely detected by introducing power ON/OFF in the conduction aging image inspection while suitable electric stress is given to the liquid crystal module.例文帳に追加

液晶モジュールに適切な電気的ストレスを与え、液晶モジュールに潜在する配線不具合や、ＣＯＧ実装接続不具合を通電エージング画像検査において電源ＯＮ／ＯＦＦを導入することで確実に不具合を検出する事を目的とする。 - 特許庁

A stage control system 141 in a review operation control mechanism 14 selects only coordinate data which meet predetermined conditions from a mask image database 142 out of coordinate data of defect positions obtained by a defect inspection as regions subjected to the review, for example.例文帳に追加

レビュー操作制御機構１４におけるステージコントロールシステム１４１は、例えば、欠陥検査で得られた欠陥位置の座標データのうち、マスク画像データベース１４２からの所定条件に合致した座標データのみをレビュー対象領域として選択する。 - 特許庁

To provide an inspection method and apparatus of defects in a magnetic head for precisely detecting defects at a specific part of the head by extracting defects at that part from a captured image even if an imaging system has shading.例文帳に追加

撮像系にシェーディングがあっても、ヘッドの特定の部分の欠陥を撮像画像から抽出してその部分の欠陥を精度よく検出することができる磁気ヘッドの欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a defective image even when a defect is present under an optically transparent film, in the case where the defect is observed by using an SEM based on defect position data outputted from a defect inspection device by an optical means.例文帳に追加

光学的手段による欠陥検査装置により出力された欠陥位置データに基づいてＳＥＭを用いて該欠陥を観察する場合において、該欠陥が光学的に透明な膜の下に存在する場合でも、欠陥画像の取得を行えるようにする。 - 特許庁

A hospital 10 as a client is provided with photographing equipment 11 such as a fundus camera to take a photo of eyegrounds and a client doctor terminal 12 to make a request to other diagnostician A by recording the photographed image, inspection information, and patient information or the like.例文帳に追加

依頼元の病院１０には、眼底画像を撮影するための眼底カメラなどの撮影装置１１と、撮影した画像と共に検査情報、患者情報などを記録して他の診断医Ａに依頼を行うための依頼医用端末１２を備えている。 - 特許庁

The image reader inspects black level adjustment when a light shielding state is maintained (when a platen cover is closed), and postpones the inspection of the black level adjustment when the light shielding state is canceled (when the platen cover is open).例文帳に追加

画像読取装置は、遮光状態が維持されている場合（プラテンカバーが閉じている場合）に、黒レベル調整の検査を行い、遮光状態が解除されている場合（プラテンカバーが開いている場合）に、黒レベル調整の検査を延期する。 - 特許庁

An observation precision verifying means 3 evaluates observation precision of the national composition radar rainfall amount data, using visual inspection, specification of a rainfall period, a selected ground rainfall amount observation point, an integrated rainfall amount image, index value analysis and a hyetograph, over the whole year.例文帳に追加

観測精度検証手段３は、全国合成レーダ雨量データの観測精度を年間を通した目視点検、降雨期間の特定、選定された地上雨量観測地点、累加雨量画像、指標値解析、ハイエトグラフを用いて評価する。 - 特許庁

To provide a multiple beam scanning color inspection device which can acquire a three-dimensional color image, and the beam scanning device performs a scan deflecting the beam from a light emitting element by a rotating polygon mirror, and reads information on a light beam irradiated object.例文帳に追加

発光素子からのビームを回転するポリゴンミラーにて偏向させて走査を行い、このビームが照射された物体の情報を読み取る、ビーム走査装置であって、３次元カラー画像を取得可能なマルチビーム走査カラー検査装置を提供することである。 - 特許庁

The failure analysis device 10 comprises: an inspection information acquisition section 11 for acquiring the failure observation image P2 of the semiconductor device; a layout information acquisition section 12 for acquiring layout information; and a failure analysis section 13 for analyzing failure in the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

To reduce the generation of a pseudo-defect when a lightness difference exists between two compared images, in an image defect inspection device and a method for detecting a difference between fellow picture elements corresponding to the two images to detect a picture element portion as a defect when the difference exceeds a detection threshold.例文帳に追加

２画像の対応する各画素同士の画素値の差分を検出して、この差分が検出閾値を超えるとき画素部分を欠陥として検出する画像欠陥検査装置及び方法において、比較する２画像に明度差がある場合の疑似欠陥の発生を低減する。 - 特許庁

In the image obtained when not blocked by the shutter 54, because the light incident from an adjacent groove 52A and reflected internally returns to the camera side from the groove 52 for kerf inspection, the color on the adjacent groove 52A side turns white and the color on the opposite side turns black.例文帳に追加

シャッタ５４によって遮蔽しない場合の画像は、隣接溝５２Ａから入射して内部反射した光が、カーフチェック用の溝５２からカメラ側に戻るため、隣接溝５２Ａ側の色が白色となり、その反対側の色が黒色となっている。 - 特許庁

A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device.例文帳に追加

本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁

To prevent stray light, such as lens-reflected light reaching an image surface from disturbing the inspection sensitivity in a dark field defect detection method by high elevation angle illumination for detecting groove bottom short-circuit defects or scratch, after the completion of etching.例文帳に追加

エッチング完了後の溝底ショート欠陥やスクラッチを検出するための高仰角照明による暗視野欠陥検出方法において、レンズ反射光などの迷光が像面に到達することによる検査感度を阻害することを防止する。 - 特許庁

To provide a method and a device capable of performing with high accuracy in a noncontact manner, propriety determination of a fine diameter wire bonding, such as, a semiconductor device or an LED device which cannot be determined by conventional image inspection methods, or the like.例文帳に追加

従来の画像検査方法等では判定できなかった半導体デバイスやＬＥＤデバイス等の微小径ワイヤボンディングの良否判定を、非接触で高精度に行うことができる方法及び装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A monitoring device 7, with image information transmitted from a camera part 38 of a guide light 11, functions to display information of a state surrounding the guide light 11 in an inspection mode by a monitor 71, according to one embodiment.例文帳に追加

本実施形態によれば、誘導灯11のカメラ部38からの画像情報が送信された監視装置7は、点検モード実施中であればその期間中に点検モードを実施中の誘導灯11の周囲の状況の情報をモニタ71で表示するように機能する。 - 特許庁

To provide a camera inspection device in a car of an elevator for easily checking the camera function, by enabling a two-dimensional bar code to be read in a camera as an image, by holding up a preprepared camera function analyzing two-dimensional bar code over the camera in the car.例文帳に追加

予め準備したカメラ機能解析用二次元バーコードをかご内カメラにかざし、二次元バーコードを画像としてカメラに読み込ませることで、カメラ機能のチェックを容易に行えるようにしたエレベータのかご内カメラ点検装置を得る。 - 特許庁

To provide a device for visual inspection of soldering capable of determining precise acceptance using image data capturing reflected light from a printed circuit board and creating reference data of the reference of the acceptance in a short time, and a method therefor.例文帳に追加

本発明は、プリンタ基板からの反射光を取り込んだ画像データを用いて正確な良否判定を行うことができ、良否判定の基準となる基準データの作成を短時間で行うことができるはんだ付け外観検査装置およびはんだ付け外観検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁