「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(406ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a mobile communication terminal test apparatus for dividing an EVM or a transmission power measurement result into an allocation band and a non-allocation band along an LTE communication system to display each of them identifiably.例文帳に追加

ＬＴＥ通信方式に沿ってＥＶＭ又は送信電力測定の結果を、割当帯域と非割当帯域とに分けてそれぞれを識別可能に表示する移動体通信端末試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an effective test point on a printed circuit board without the need of exclusive parts and space even if the printed circuit board where a damp-proof treatment or insulated treatment is subjected, or surface mounting parts are only mounted.例文帳に追加

専用部品やスペースを必要とせず、防湿処理や絶縁処理を行ったプリント基板や面実装部品のみを実装したプリント基板であっても、有効なテストポイントを提供することを目的とする。 - 特許庁

A test print 1 is generated (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential for forming an image is optimized based on density information obtained in the step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

To provide a current limiting circuit which can shorten the test time of a measured sample by shortening the time needed to raise a source voltage applied to the measured sample up to a set value.例文帳に追加

本発明の課題は、被測定試料に印加する電源電圧が設定値に達するまでの時間を短縮し、被測定試料の試験時間を短縮することができる電流制限回路を提供することである。 - 特許庁

To prevent measurement errors and prevent generating failures in an optical communication device, by regularly monitoring the level of a disturbance light in a communication light, or the like, for transmitting an optical fiber line to be tested during optical pulse test.例文帳に追加

光パルス試験の最中に、試験対象の光ファイバ線路を伝送する通信光等の外乱光のレベル監視を定常的に行い、測定誤りを防ぎ、光通信器の故障させないようにする。 - 特許庁

In the dynamic balancing machine 1, an attachment 5 provided at a vibration unit 4 supports a rotor 2, and vibration produced in the vibration unit 4 when the rotor 2 is rotated is detected to conduct dynamic balancing test of the rotor 2.例文帳に追加

動釣合い試験機１では、振動部４に設けられたアタッチメント５がロータ２を保持し、ロータ２を回転させたときに振動部４に生じる振動を検出することで、ロータ２の動釣合い試験を行う。 - 特許庁

To provide a contact probe pin having both electrical conductivity and durability, and providing low adhesion to an object under test (particularly, tin contained therein) and thereby stably maintaining electrical contact over a long period of time.例文帳に追加

導電性と耐久性を兼ね備えると共に、被検体（特に、それに含まれるＳｎ）の低付着性を実現して長期間に亘って安定な電気的接触を保つことのできるコンタクトプローブピンを提供する。 - 特許庁

The thermosetting resin coating film is classified as 0 as a result of an adhesion test performed based on JIS K 5600-5-6 after the thermosetting resin film is submerged in boiling water for 1 hour and then left standing in the atmosphere for 24 hours.例文帳に追加

また、熱硬化性樹脂塗膜は、沸騰水に１時間浸漬され、次いで大気中で２４時間静置された後、ＪＩＳ Ｋ ５６００−５−６に準拠して行った付着性試験の試験結果の分類が０である。 - 特許庁

The ultrasonic element 20 converts the test signals into ultrasonic waves, transmits them to the ultrasonic conductor 10, receives ultrasonic waves of which lateral oscillations are multiply reflected in the ultrasonic conductor 10, and converts them into the response signals.例文帳に追加

超音波素子２０は、試験信号を超音波に変換して超音波伝導体１０に送信し、超音波伝導体１０内部で横振動の多重反射された超音波を受信して応答信号に変換する。 - 特許庁

Each code word in a super block is projected on orthogonal correction space of a corresponding sent code word by using the projection matrix to obtain a distance metric corresponding to a generalized likelihood ratio test (GLRT) code word.例文帳に追加

射影行列を用いてスーパーブロック内の各コードワードが対応する送信されたコードワードの直交補空間上に射影され、一般化尤度比検定（ＧＬＲＴ）コードワードの対応する距離メトリックを得る。 - 特許庁

An exchange requesting means 8 of a tester 106A outputs a semiconductor device exchange signal 14 to a handler 104A after a test performing means 128 acquires a signal from a CCD 108A and before it processes the signal.例文帳に追加

テスター１０６Ａの交換要求手段８は、試験実行手段１２８がＣＣＤ１０８Ａから信号を取得した後、信号処理を行う前に半導体装置交換信号１４をハンドラー１０４Ａに出力する。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test process and an alpha composition process using alpha values set in respective pixels in image data, and gradually changes the images of ornament symbols with gradation during the variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁

To provide the nonvolatile semiconductor storage device which can test through single measurement whether or not the thresholds of all memory cells are in a proper range after all the memory cells are set in a written or erased state.例文帳に追加

全メモリセルを書き込みまたは消去の状態に設定した後、全メモリセルの閾値が適正な範囲にあるかどうかを１回の測定で高速にテストすることのできる不揮発性半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

The image processor has a means for performing HS and when a test pattern is read in, the microstep division number of an optical motor is set with a value different from that for normal image reading.例文帳に追加

ＨＳを行う手段を有する画像処理装置において、テストパターンを読み込む際に、光学系モータのマイクロステップの分割数を通常の画像読み込みと異なる設定値にする事を特徴とする画像処理装置。 - 特許庁

A test print 1 is formed (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential in image formation is optimized by density information obtained in step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain a contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

Each test circuit chip 21 is connected to the probe terminal 12 via a wire provided for the inside of the card main body 11 and transmits and receives a signal to and from the LSI chip to be tested via the probe terminal 12.例文帳に追加

各テスト回路チップ２１は、カード本体１１の内部に設けられた配線を介してプローブ端子１２と接続されており、プローブ端子１２を介してテスト対象ＬＳＩチップと信号の授受を行う。 - 特許庁

To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.例文帳に追加

入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法を提供する。 - 特許庁

In a semiconductor memory, a DQ (data input/out-put) buffer switching circuit 8 connects either DQ, buffer out of DQ buffers 9a-9d to a DQ, pad P1 for an IO degeneration mode test conforming to signals T1-T4.例文帳に追加

半導体メモリ１において、ＤＱバッファ切換回路８は、信号Ｔ１〜Ｔ４に従って、ＤＱバッファ９ａ〜９ｄのうちのいずれかのＤＱバッファをＩＯ縮退モードテスト用のＤＱパッドＰ１に接続する。 - 特許庁

Before the start of a test, a pattern generating instruction is loaded to a pattern generation instruction storage circuit 110 and a pattern edit instruction is loaded to a pattern edit instruction storage circuit 120 respectively via a BIST control circuit 310.例文帳に追加

テスト開始前までに、ＢＩＳＴ制御回路３１０を介して、パターン発生命令記憶回路１１０にパターン発生命令が、パターン編集命令記憶回路１２０にパターン編集命令が、それぞれロードされる。 - 特許庁

A first plate 10 vertically confronting an optical axis 7a of a test lens 7 is provided with wide side imaging means 11 obtained by combining cameras 14a and 14b for off-axis luminous flux other than a camera for on-axis luminous flux.例文帳に追加

被検レンズ７の光軸７ａに垂直に正対する第一プレート１０に、軸上光束用のカメラのほかに軸外光束用のカメラ１４ａ，１４ｂを組み合わせたワイド側撮像手段１１を設ける。 - 特許庁

With respect to rollers 3 mounted with the wheels 2 of the vehicle 1 during the running test, the torque that is equivalent to a running resistance N, corresponding to the running resistance on an actual road is made to act on the roller 3.例文帳に追加

走行試験中、自動車１の車輪２が載せられるローラ３に対し、実路での走行抵抗に対応する対応する値である走行抵抗Ｎに相当するトルクがローラ３に対し作用させられる。 - 特許庁

A governor 60 to be controlled and an ECU 10 are connected by connecting the ECU 10 and a first cable unit 56, and a reception test is performed by giving a simulation signal by program processing of a testing device 34.例文帳に追加

ＥＣＵ１０と第１ケーブルユニット５６とを接続することにより、模擬制御対象のガバナ６０とＥＣＵ１０とを接続し、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えて受入検査を行う。 - 特許庁

To provide a means for determining whether the stress as prescribed is exerted or not at the disturbance test for a semiconductor storage device, at a low cost and without increasing the area of a chip.例文帳に追加

半導体記憶装置に対するディスターブ試験の際に規定した通りのストレスが印加されたか否かを判定するための手段を、チップ面積を増大させることなく且つ低コストに設けられるようにする。 - 特許庁

To provide a technology capable of implementing a position adjustment and a property test with high sensitivity and detecting defects while separating a position adjustment defect and a property defect in the case where any defect occurs.例文帳に追加

高感度に位置調整と特性試験を実施することができ、不良が生じた場合には位置調整上の不良と特性不良とを切り分けて不良を検出することを可能とする技術の提供。 - 特許庁

To provide a grease composition not only excellent in lubricating properties but also excellent in durability represented by the change of friction factor and abrasion wear after sliding test even in application to resin elements.例文帳に追加

樹脂製部材に適用した場合においても、潤滑性にすぐれているばかりではなく、摺動試験後の摩擦係数の変化や摩耗量によって示される耐久性の点でもすぐれているグリース組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a variable resistor wherein a resistor and a contact between an electrode of a current collecting body and a lead terminal are hardly deteriorated an environmental characteristic test or the like is conducted and which can prevent migration.例文帳に追加

本発明は、抵抗体、及び集電体の電極部とリード端子との接触が、環境特性試験等を行っても劣化することなく、且つマイグレーションの発生を防止できる可変抵抗器を提供すること - 特許庁

The setting value to which the offset quantity is added is set in a register 16, and a signal generation device 11 generates the test signals T1-Tn and a strobe signal ST at the timing according to the set content of the register 16.例文帳に追加

オフセット量が加算された設定値はレジスタ１６に設定され、信号発生装置１１はレジスタ１６の設定内容に応じたタイミングで試験信号Ｔ１〜Ｔｎ及びとストローブ信号ＳＴを発生する。 - 特許庁

To enable to prevent effectively leakage of microwave from the opening for thermocouple insertion in a microwave-heating device, in which the temperature can be measured by inserting a thermocouple from the outside into the test piece inside the heating chamber.例文帳に追加

加熱室内の試料へ外部から熱電対を挿入して温度測定できるマイクロ波加熱装置において、熱電対挿入用の開口からのマイクロ波漏洩を有効に防止できるものを提供する。 - 特許庁

A reagent system is used for the so-called "intrinsic control of an analytical element", specially a test strip, containing organic N-oxide or a nitroso compound, the analytical element includes both a reagent system for detection reaction and a reagent system for inherent control.例文帳に追加

有機N-オキシドまたはニトロソ化合物を含有する分析素子、特に試験ストリップのいわゆる内在コントロール用試薬系であり、検出反応用試薬系と、内在コントロール用試薬系とを含む分析素子である。 - 特許庁

To reduce the labor setting a proof printing mode (test copy mode) by a user and to prevent the forgetting to set in an image forming apparatus enabling a plurality of printing outputs with respect to inputted image data.例文帳に追加

入力した画像データに対して複数部のプリント出力が可能な画像形成装置において、ユーザーによるプルーフプリントモード（お試しコピーモード）を設定する手間を軽減するとともに設定し忘れを防ぐ。 - 特許庁

To provide an electrochemical measuring method capable of detecting selectively a response from only a measuring object, and measuring it quantitatively, even when an interfering substance other than the measuring object coexists in a test sample.例文帳に追加

被検試料中に測定対象以外に妨害物質が共存する場合でも、測定対象のみの応答を選択的に検出し、定量的に測定することができる電気化学的測定方法を提供する。 - 特許庁

In an operation mode which is performed by an engine part alone, such as a density control mode accompanied with patch image formation, a test pattern offset value Tot is obtained as the amount of toner consumption corresponding to the formed image pattern (step S141).例文帳に追加

一方、パッチ画像形成を伴う濃度制御モードのように、エンジン部が単独で行う動作モードでは、形成する画像パターンに応じたトナー消費量としてテストパターンオフセット値Ｔｏｔを求める（ステップＳ１４１）。 - 特許庁

In the test paper for measuring the concentration of the oxidants in air, a coating layer is provided on a sheet-shaped base material, and at least potassium iodide and porous pigment are contained in the coating layer.例文帳に追加

本発明の試験紙は、空気中のオキシダント濃度を測定する試験紙であって、シート状基材上に塗工層を設け、該塗工層に、少なくともヨウ化カリウム及び多孔質顔料を含有させたことを特徴とする。 - 特許庁

In this control unit 10 having a plurality of input terminals and output terminals, an ordinary control mode and a test mode having shorter signal output time than the ordinary control mode are set as the control mode.例文帳に追加

複数の入力端子及び出力端子を備えた制御ユニット１０に、その制御モードとして、通常制御モードと、この通常制御モードよりも信号出力時間などが短いテストモードとを設定する。 - 特許庁

The equipment for evaluating corrosion comprises a rotator 13 fixed with a plurality of test pieces 12 in an autoclave 11, means for rotating the rotator, and means 15 for supplying water 14 into the autoclave 11.例文帳に追加

オートクレーブ１１中で複数のテストピース１２を取り付けた回転体１３と、該回転体１３を回転する手段と、オートクレーブ１１内に供給する水１４を供給する水供給手段１５を具備した。 - 特許庁

Since trimming is executed in a self-contained manner by controlling the comparison circuit and the data register by the built-in CPU, parallel trimming to the plurality of semiconductor integrated circuits is facilitated, and the whole test time can be reduced.例文帳に追加

上記の比較回路やデータレジスタを内蔵ＣＰＵで制御し、トリミングを自己完結で行うため、複数の半導体集積回路に対する並列的なトリミングが容易であり、全体としてのテスト時間を短縮できる。 - 特許庁

To realize an access timing desired by an operator by varying the timing of access to a file device by a device driver, in a testing device for file device and a test method in the file device testing device.例文帳に追加

本発明はファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法に関し、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現する。 - 特許庁

To provide a new mold characteristics evaluation method simultaneously evaluating the hot pressure resistance (thermal resistance) and deformability of molds, and also to provide a test piece for mold characteristics evaluation used for the evaluation method.例文帳に追加

鋳型の熱間抗圧力（耐熱性）となりより性を同時に評価することができる新規な鋳型特性の評価方法と、その評価方法に用いられる鋳型特性評価用テストピースを提供すること。 - 特許庁

To suppress deterioration of an access speed to a memory cell in a normal access mode in adding a forced access mode for a redundant cell test to a data line shift circuit in a semiconductor memory having a data line shift redundant circuit system.例文帳に追加

データ線シフト冗長回路方式を有する半導体メモリにおいて、データ線シフト回路に冗長セルテスト用の強制アクセスモードを付加する際、通常アクセスモード時のメモリセルへのアクセス速度の劣化を抑制する。 - 特許庁

In addition, the display part 12 is driven by the lowest driving level and a driving level for measurement, test charts with different gradation are displayed and the luminance of the display part 12 is measured by every gradation under darkroom environment.例文帳に追加

また、暗室環境下にて、最低駆動レベル及び測定用駆動レベルにより表示部１２を駆動させ、階調の異なるテストチャートを表示させて、各階調毎に表示部１２の輝度を測定させる。 - 特許庁

Further, since the compound shows a low intracerebral transferability even in an intracerebral receptor binding test by orally administering to mouse, it has a preferable character in the point of reducing central adverse effects such as sleepiness, etc.例文帳に追加

さらに本発明化合物は、マウスに経口投与した脳内受容体結合試験においても低い脳内移行性を示すことから、眠気等の中枢性副作用の軽減という点で好ましい特性を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip in which completely sufficient test is enabled easily without applying a load to circuit constitution of a main body, a semiconductor device mounting the chip, and a method for manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

本体の回路構成に負担をかけず、徹底して十分なテストを容易に行うことができる半導体チップ、そのチップを実装した半導体装置およびその半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor conveyance fixture in which external connection terminals can accurately be brought into contact with a contact pin of a pre-test socket even in application to a semiconductor having narrow-pitch external connection terminals.例文帳に追加

狭ピッチの外部接続端子を有する半導体に適用した場合でも外部接続端子と事前試験用ソケットのコンタクトピンとを正確に接触させることが可能な半導体搬送治具を提供する。 - 特許庁

To provide a torsional fatigue testing machine which loads even a test target low in torsional rigidity with torque to be applied, achieves space saving and the reduction of noise, has excellent maintainabilities and achieves cost reduction.例文帳に追加

捩り剛性の低いものであっても負荷すべきトルクを負荷でき、また省スペース化および低騒音化等が図れ、さらにはメンテナンス性に優れるととともに、低コスト化も達成できる捩り疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To limit detailed design conditions more and to shorten a development period by avoiding the repetition of designing and an actual machine test by roughly designing hardware and software and simulating them before they are designed in detail.例文帳に追加

ハードウエア及びソフトウエアを詳細設計する前にこれらを概略設計しそのシミュレーションを行うことにより、詳細設計条件をより限定して、設計と実試験の繰り返しを避け開発期間を短縮する。 - 特許庁