「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(405ページ目) - Weblio英語例文検索

The compound shows low intracerebral migration, even when orally administered to a mouse and subjected to an intracerebral receptor binding test, so the compound has preferred properties in terms of alleviating adverse effects on the central nervous system, e.g. drowsiness.例文帳に追加

さらに本発明化合物は、マウスに経口投与した脳内受容体結合試験においても低い脳内移行性を示すことから、眠気等の中枢性副作用の軽減という点で好ましい特性を有する。 - 特許庁

To provide a vehicular air-conditioner in compliance with the dielectric test specified in JIS Unit Cooler for Electric Car E6602 by reducing the length in the rail direction of the vehicular air-conditioner.例文帳に追加

車両用空気調和装置のレール方向長さを小さくし、ＪＩＳ規格の電車用ユニットクーラーＥ６６０２に定められている耐電圧試験に合格可能な車両用空気調和装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

When the front end part in the transfer direction of the test tube is a base end part, its front end part is butted against the tube port detecting plate 31 without passing through the determining opening formed in the tube port detecting plate 31, and moves its plate.例文帳に追加

試験管の移送方向前端部分が基端部であれば、その前端部分が管口検出板３１に形成された判定開口を通過できずに管口検出板３１に突き当たり、それを運動させる。 - 特許庁

To provide an acceleration meter which allows a user to visually, quantitatively recognize acceleration in a vehicle running test, enables adjustment of a mounting angle, and enables use at night by a backlight mechanism.例文帳に追加

車両走行試験中に、使用者が目視で加速度を定量的に確認することができ、取り付け角度が調整可能であり、バックライト機構により、夜間の使用を可能とする加速度メーターを提供する。 - 特許庁

To provide a well reproducible method for manufacturing a hollow metal tube for a cracking test where metal crystals in a cracked part are virtually the same as those of parent metals before cracking is induced.例文帳に追加

き裂の部分の金属結晶が、き裂を導入する前の母相金属の金属結晶と実質的に同一であるき裂試験用中空金属管を、再現性良く製造することができる製造方法を提供すること。 - 特許庁

The receiver 40 receives the test result data transmitted by the transmitter 30, displays its contents on a display 45, and issues an alarm at the presence of anomalies by optical display or by speech, when there are anomalies.例文帳に追加

受信機４０は、送信機３０が送信した試験結果データを受信し、その内容を表示器４５で表示するとともに異常があった場合にはその旨の警告を光学的な表示あるいは音声で行う。 - 特許庁

A detecting coil 5 is arranged so that its normal axis is perpendicular to an inspection surface (flat surface) of a test body 6, and an exciting coil 4 is arranged on it so that normal axis is horizontal to the inspection surface using a permanent magnet 3 as a core.例文帳に追加

検出コイル５は法線軸が試験体６の検査面（平面）に垂直となるように配置し、その上に、励磁コイル４は永久磁石３をコアとして法線軸が検査面に水平となるように配置する。 - 特許庁

To give artificial weather change to each thermostat with an atmosphere and a cycle according to a test condition, by centralizing the heat source for feeding to the plural thermostats to one spot, and executing separately cold switching control of each thermostat.例文帳に追加

複数の恒温槽に供給する熱源を一カ所にし、それぞれを個別に冷熱切替制御することにより、それぞれの恒温槽を試験条件に応じた雰囲気、サイクルで人工気象変動させる。 - 特許庁

The probes to be used for detecting an objective substance of test are trapped on fine particles 3 in advance, and the fine particles 3 are fixed in every section 2 formed in a lattice state on a substrate 1 by using a surface-chemical patterning method.例文帳に追加

検査対象物質の検出に用いるプローブを予め微粒子３に捕捉し，微粒子を基板１の上に表面化学的なパターニング方法を用いて格子状に形成される各区画２に固定する。 - 特許庁

When used in an IC tester for measuring voltage by rapidly changing over multiple terminals, the voltage can be correctly measured, and it is not necessary to wait for the temperature of the package to be set constant, whereby a test time can be reduced.例文帳に追加

高速で多数の端子を切り替えて電圧を測定するＩＣテスタに用いると正確に電圧を測定でき、またパッケージの温度が一定になるのを待つ必要がないので、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

A test unit 1 provided with a laser light source 3 and a reflection measurement module 4 incorporating a laser light source and a light receiver are connected with an optical switch 5 is connected with an incident side optical fiber 6a of an optical fiber device 6.例文帳に追加

レーザ光源３と、レーザ光源と受光器を内蔵した反射測定用モジュール４とが、光学スイッチ５に接続された構成の検査ユニット１を、光ファイバデバイス６の入射側光ファイバ６ａに接続する。 - 特許庁

After executing at least full-wave rectification and a peak hold treatment, a reference reception signal Fc1 is subtracted from an inspection reception signal Fc2, to thereby discriminate a signal generated from the abnormal part of the test object pipe.例文帳に追加

少なくとも全波整流及びピークホールド処理をした後に検査受信信号Ｆｃ２から基準受信信号Ｆｃ１を減じることにより検査対象管の異常部から生じる信号を識別する。 - 特許庁

When a computer device 10 is connected to the kiosk terminal 20, a user support center terminal 30 transmits a starting up file to the computer device 10 for starting it up, acquires a model number of the device, and transmits a corresponding operation test file.例文帳に追加

ユーザサポートセンタ端末３０は、コンピュータ装置１０がキヨスク端末２０に接続されると起動ファイルを送信してコンピュータ装置１０を起動させ、装置型番を取得して対応する動作テストファイルを送信する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..例文帳に追加

半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁

The cogeneration system 1 is formed to continuously conduct test runs for a heat recovery part 4 of the heat recovery device 3, an auxiliary heat source 6, and a power generating device 2.例文帳に追加

コージェネレーションシステム１は、上記したように熱回収装置３の熱回収部４および補助熱源部６の試運転と発電装置２の試運転を連続的に行う連続試運転を実施可能な構成とされている。 - 特許庁

By sticking the fiber 102 as a glass reinforcing material to four peripheries, both sides and the back of the glass 101, the average strength obtained under a rigidity test can be increased by 50% or more.例文帳に追加

繊維１０２をガラスの強化材とし、繊維１０２をガラス１０１の四つの周辺、両辺、背面に貼り付けることにより、剛性試験の下で得た平均強度を５０%以上増加させることが可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, having a test pad control circuit for so performing a breakdown voltage that relaxes the control so that the interference due to high voltage will not occur, by checking the state of high voltage when it is selected and when it is non-selected.例文帳に追加

選択時及び非選択時の高電圧状態をチェックし、高電圧による障害が発生しないよう耐圧緩和制御を行うテストパッド制御回路を有する半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device, a method and a test piece capable of preventing deformations or cracks caused by a local high-gradient temperature distribution, even if it is subjected to high-frequency induction heating, and properly evaluating thermal fatigue strength.例文帳に追加

高周波誘導加熱されても、局所的な急勾配の温度分布による変形や亀裂を防止することができ、適正に熱疲労強度評価できる試験装置、方法およびテストピースを提供する。 - 特許庁

A transmitter 14 transmits test packets 16a-16c through a network 11 to a receiver 15 prior to communication or as necessary during communication, and tests the communication quality (for example, communication delay time) of the network 11.例文帳に追加

送信者１４は、通信に先立ち、または通信中随時に、試験パケット１６ａ〜１６ｃを受信者１５へ、ネットワーク１１を介して送信し、ネットワーク１１の通信品質（例えば、通信遅延時間）を試験する。 - 特許庁

An LSI 4 under test contains switches SW1-SW3 between a plurality of power electrodes PD1-PD3 and a power line 10 and a switch SWT between the power line and a ground line 11.例文帳に追加

被検査ＬＳＩ４内部の複数の電源端子ＰＤ１〜ＰＤ３と電源線１０との間にスイッチＳＷ１〜ＳＷ３を、被検査ＬＳＩ内部の電源線と接地線１１間にスイッチＳＷＴを設ける。 - 特許庁

To provide a method for producing a model animal of abdominal pressure urinary incontinence, a method for screening a test specimen using the model animal and a more excellent method for detecting an abdominal pressure urinary incontinence in a subject animal.例文帳に追加

腹圧性尿失禁症モデル動物の作製方法、前記モデル動物を用いて被検物質をスクリーニングする方法、および被検動物における腹圧性尿失禁症状のより良い検定方法を提供する。 - 特許庁

The interface apparatus according to this invention is characterized in that it is equipped with an interface device comprising multiple pins connected to a test terminal and a substrate terminal, and it has a mode-switch terminal for switching the connection destination of an inner loopback.例文帳に追加

本発明のインターフェース装置は、試験端子及び基板端子に接続された複数のピンを有するインターフェースデバイスを備え、内部ループバックの接続先を切り替えるモード切替端子を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a wafer-inspecting apparatus and a wafer-inspecting method that perform quality decision tests for deciding the acceptance and rejection of semiconductor chips, and a characteristic measurement test for checking more detailed electrical characteristics in the same wafer inspection apparatus.例文帳に追加

同一ウエハ検査装置で、半導体チップの合否判定を行う合否判定テストと、より詳細な電気的特性をチェックする特性測定テストとを実施するウエハ検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

An inspection objective system 2, in which an interface circuit of an IEEE1394 specification is mounted, is connected to an emulator 10 included in the inspection device 1, and inspection processing is started when a test program on the system 2 side is started.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格のインターフェース回路を搭載した検査対象のシステム２と、検査装置１に含まれるエミュレータ１０とを接続して、システム２側のテストプログラムの起動により検査処理が開始される。 - 特許庁

The temperature difference is applied to temperature control meters 601-604 constituting the control means 300 to correct the measured temperatures of the test substrate measuring optical fiber type radiation thermometers 401-404 deviated from the actual values.例文帳に追加

この温度差を制御手段３００を構成する温度調節計６０１〜６０４に加えて、実際値とずれた被処理基板測定用光ファイバ式放射温度計４０１〜４０４の測定温度を補正する。 - 特許庁

To provide a method for measuring the elastic modulus in tension of a film-like test piece, which can effectively and accurately measure even thin films having relatively high elastic moduli in tension.例文帳に追加

比較的高い引張り弾性率有する薄いフィルムについても、効率的に高精度な測定が可能であるという優れた特徴を有するフィルム状試験片の引張り弾性率測定方法を提供する。 - 特許庁

Next, a backfilling layer composed of a water-barrier material is formed inside the pumping well up to the water impermeable layer positioned just above the lowest water permeable layer, and the pumping test is performed again above the formed backfilling layer.例文帳に追加

次に、最下の透水層の直上に位置する不透水層まで、遮水性材料からなる埋め戻し層を揚水井戸の内部に形成し、形成した埋め戻し層の上方で、再び、揚水試験を行う。 - 特許庁

A probe device is arranged at an upper part of a test object with an electrode, and includes: a probe device body; a cleaning device coupled to the probe device body; and a coupling device coupling the cleaning device to the probe device.例文帳に追加

プローブ装置は、電極を備える被検査体の上方に配置されて、またプローブ装置本体と、該プローブ装置本体に結合された清掃装置と、該清掃装置を前記プローブ装置に結合する結合装置とを含む。 - 特許庁

A controller 80 is connected with the thermistor 60 and selects one parameter of optimization object from parameters related to recording on the disk 10, and records optional data on a test track to acquire first bit error rate.例文帳に追加

コントローラ８０は、サーミスタ６０と結合されてディスク１０上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択し、テストトラックに任意のデータを記録して第１ビットエラー率を獲得する。 - 特許庁

To provide a biological data processing apparatus enhancing the reliability, efficiency and safety of an ischemic heart disease by an exercise tolerance test, a biological data processing method and a biological data processing program.例文帳に追加

運動負荷試験による虚血性心疾患の信頼性や効率性、安全性を向上させることができる生体情報処理装置、生体情報処理方法及び生体情報処理プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a living body adhesive mucous-membrane treating system with sustained release including at least one active ingredient exhibiting over 70% active ingredient solubility test for eight hours and a process for production of the same.例文帳に追加

８時間に亘る７０％超の活性成分溶解性試験を具備する、少なくとも一種の活性成分を含む持続放出性の生体粘着性粘膜治療システム及びその製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of displaying temperature in a material test without preparing a reference voltage power supply and without performing complicated adjustment, and a measured temperature display method in the material testing machine.例文帳に追加

基準電圧電源を準備したり煩雑な調整を行うことなく、材料試験時の温度を表示することが可能な材料試験機および材料試験機における測定温度表示方法を提供する。 - 特許庁

In the above environmental assessment, the living indicator organism and the living natural enemy organism are enclosed in the test specimen for the environmental assessment and the environment is assessed from the environmental response of the indicator organism after exposure to the environment assessed.例文帳に追加

また、本発明に係る環境評価法は、上記環境評価用試験片に指標生物を封じ込み、環境曝露後の指標生物の環境応答からその環境を計測するものである。 - 特許庁

A liquid culture liquid for a lactobacillus culture test is obtained by dissolving the following ingredients in 1 liter of pure water, adjusting the solution to pH 6.5 with caustic soda, and then sterilizing the adjusted solution in an autoclave at 120 degrees for 30 min.例文帳に追加

糖乳酸菌培養試験向けに液体培養液として、下記成分を使用し1リッターの純水に溶解し、pＨを６.５に苛性ソーダにて調整したものをオートクレーブにかけて、１２０度で３０分間滅菌した。 - 特許庁

The two-layer separating temperature measuring device is, as well as the measuring technique thereof, presented which includes a test tube consisting of a single crystal sapphire tube containing samples such as lube oil and refrigerant and a controlling means for the sample temperature concerned.例文帳に追加

潤滑油及び冷媒を含む試料を収容する単結晶サファイア管からなる試験管及び該試料温度の制御手段を有する二層分離温度測定装置及びその測定方法である。 - 特許庁

A semiconductor device tester e7 which can perform burn-in test of a wafer 401 not yet diced into chip size comprises a circuit substrate 303, a film 305, a positioning plate 307, and a retaining plate 309.例文帳に追加

チップサイズに分割される前のウェハ４０１をバーンイン試験することが可能な半導体デバイス試験装置ｅ７は，回路基板３０３，フィルム３０５，位置決め板３０７，押さえ板３０９を含む構成を有する。 - 特許庁

In front of the image I2 in the sheet transfer direction in the test pattern TPa, a header image Ia is formed by using the toner carried on the developing roller before it turns to form the image I2.例文帳に追加

シート搬送方向においてテストパターンＴＰａのうち画像部Ｉ2の前方には、該画像部Ｉ2を形成する周回よりも１周前の周回で現像ローラに担持されたトナーを用いたヘッダ画像部Ｉａを形成する。 - 特許庁

To facilitate wafer inspection, and shorten an inspection time, without damaging solder bumps of a semiconductor element formed on a test wafer.例文帳に追加

被検査ウェハ上に形成された半導体素子の半田バンプにダメージを与えないで、ウェハ検査を容易に、しかも、検査時間を短縮することが可能なウェハ検査用補助プローブカード及びウェハ検査方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, after the completion of the inspection by the test set, the printed circuit board can be operated in the remote communication switch system assigned to a manufacturer's site or an installation site.例文帳に追加

これにより、プリント回路基板は、テストセット上での検査が終了した後、製造業者現場または現地での設置のいずれかにおいてその割り当てられた遠隔通信交換システム内で動作できるようになる。 - 特許庁

To test at least either a brake system or an auxiliary starter system of cable transport equipment for driving at least one vehicle where the cable is driven by a pulley cooperated with a main motor means.例文帳に追加

ケーブルが主モータ手段と協動する滑車により駆動される、少なくとも１つの車両を駆動するケーブル輸送設備のブレーキシステム及び補助起動システムのうちの少なくとも１つを試験することを目的とする。 - 特許庁

To provide a crystal oscillator which, in order to suppress frequency aging, predicts long-term aging in a short period of time by a temperature acceleration test and compensates for the predicted aging optimally using an external circuit.例文帳に追加

周波数経時変化を抑制するため、温度加速試験により短時間で長期経時変化を予測し、予測された経時変化を外部回路にて最適に補償する水晶発振器等を提供すること。 - 特許庁

Since the comparison circuit and the data register are controlled by the built-in CPU and trimmed in a self completion manner, trimming parallel to the plurality of LSIs is facilitated and a test time can be shortened as a whole.例文帳に追加

上記の比較回路やデータレジスタを内蔵ＣＰＵで制御し、トリミングを自己完結で行うため、複数のＬＳＩに対する並列的なトリミングが容易であり、全体としてのテスト時間を短縮できる。 - 特許庁

When the heating face scratch determining mode is specified through a control panel 108, a control part 110 transfers toner images of four test images on a recording material P secondarily and feeds them into fixing devices 9A, 9B in a fixing part 9.例文帳に追加

制御パネル１０８を通じて加熱面キズ判別モードを指定すると、制御部１１０は、記録材Ｐに４つの試験画像のトナー像を二次転写して定着部９の定着装置９Ａ、９Ｂに送り込む。 - 特許庁

A measuring object is hung upward, mainly at the most apex part of a drop test platform, by a grasping device and a piezoelectric sensing platform is installed separately downward, while a CCD camera is installed outside the piezoelectric sensing platform.例文帳に追加

主に落下試験プラットフォームの最頂点において挟持装置により被測定物を上方に吊下げ、下方には別に圧電感知プラットフォームを設置し、かつ該圧電感知プラットフォーム外にはＣＣＤカメラを設置する。 - 特許庁

To provide a chromatography quantitative measurement device capable of accurately placing an immune chromatography test specimen to the chromatography quantitative measurement device without using a casing and preventing a sample from adhering to a measuring device.例文帳に追加

ケーシングを用いることなしに、クロマトグラフィー定量測定装置に免疫クロマトグラフィー試験片を精度良く取り付け可能で、かつ、測定器への試料の付着を防止可能な測定装置を提供するものである。 - 特許庁