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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Particle Systemの意味・解説 > Particle Systemに関連した英語例文

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Particle Systemの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1233



例文

A particle image processor 1 of this particle image analytical system 100 includes an image processing substrate 1b for generating a partial image containing a particle image extracted from the picked-up whole image, and image information containing positional information of the partial image, and a USB interface 62 for transmitting the partial image and the image information.例文帳に追加

この粒子画像分析システム100の粒子画像処理装置1は、撮像された全体画像から抽出した粒子画像を含む部分画像と、部分画像の位置情報を含む画像情報とを生成する画像処理基板1bと、部分画像と画像情報とを画像データ分析装置2に送信するためのUSBインタフェース62とを含む。 - 特許庁

The membrane water purification system 1 comprises a fine particle counter 9 for counting the number of fine particles having a specific particle diameter in fine particles of suspended solid in raw water, and a control part 15 for switching the filtration method of the raw water carried out by the filtration membrane 3a between dead end filtration and cross flow filtration based on the number of the counted fine particles having the specific particle diameter.例文帳に追加

膜浄水設備1は、原水中の懸濁物質の微粒子のうち特定の粒径を有する微粒子の数を計数する微粒子カウンタ9と、計数された特定の粒径を有する微粒子の数に基づいて、濾過膜3aで行われる原水の濾過方式をデッドエンド濾過とクロスフロー濾過との間で切り替える制御部15と、を備えている。 - 特許庁

Correction dose is determined to correct a deviation of dose between a first time point t1 at which a charged particle beam is regarded to get to a reference current density by a controlling unit configured to control the shot period of the particle beam drawing system, and a second time point t2 at which the charged particle beam really gets to the reference current density on a target substrate.例文帳に追加

粒子ビーム描画装置のショット期間を制御するように構成された制御ユニットが荷電粒子ビームが基準電流密度に到達したと見なす第1時点t1と、前記荷電粒子ビームが実際にターゲット基板にて基準電流密度に到達する第2時点t2との間の線量偏差を補正する補正線量が決定される。 - 特許庁

The fault supervisory system of a plasma processing apparatus is characterized in comprising a particle measuring means for measuring the amount of particle generated by the plasma process at the area near the plasma processing portion, and a fault detecting means for detecting the occurrence of the fault in the plasma process on the basis of the result of measurement by the particle measuring means.例文帳に追加

プラズマ処理装置の異常監視システムであって、プラズマ処理部近傍において、プラズマ処理により発生するパーティクル量を計測するパーティクル計測手段と、前記パーティクル計測手段による計測結果に基づいて、プラズマ処理における異常発生を検出する異常検出手段とを備えていることを特徴とするシステム。 - 特許庁

例文

The analysis system analyzing charged particle beams (2) includes: a divider (16) dividing the charged particle beams (2) into low-energy beams (18) and highenergy beams (19) in correspondence with their particle energy; a front detector (17) to detect the high-energy beams (19); and at least one back detector (15) to detect the low-energy beams (18).例文帳に追加

荷電粒子のビーム(2)を分析する分析システムは、荷電粒子のビーム(2)をその粒子のエネルギーに応じて低エネルギービーム(18)と高エネルギービーム(19)に分割するためのディバイダ(16)と、高エネルギービーム(19)を検出するための前方検出器(17)と、低エネルギービーム(18)を検出するための少なくとも一つの後方検出器(15)とを有する。 - 特許庁


例文

To provide a fuel cell system capable of surely removing moisture and impurities flying in a particle state in a gas circulation system and improving the performance and the life of a fuel cell.例文帳に追加

ガス循環系内において粒子状態で飛んでいる水分や不純物を確実に除去することが可能であり、燃料電池の性能及び寿命を向上させることができる燃料電池システムを提供する。 - 特許庁

This aligner is provided with an illuminating optical system which illuminates a mask 51 having a pattern to be transferred on a wafer 91, and a projection optical system which projects a charged particle beam which has passed the mask 51 on the wafer 91.例文帳に追加

本露光装置は、ウエハ91上に転写すべきパターンを有するマスク51を照明する照明光学系と、マスク51を通過した荷電粒子線をウエハ91上に投影する投影光学系を備える。 - 特許庁

To provide a process for producing an inorganic-particle-containing polyester markedly reduced in a content of coarse particles by improving the dispersedness of inorganic particles in the reaction system after a slurry of the inorganic particles is added to the reaction system for the polyester.例文帳に追加

無機粒子のスラリーをポリエステルの反応系内に添加した後の反応系中の無機粒子の分散性を改良し、粗大粒子の極めて少ない無機粒子含有ポリエステルを製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a projection optical system of charged particle beam capable of obtaining good image formation performance, by optimizing a deflection orbit even in the case that an image rotation angle is other than a non-rotated inverted image in a deflection optical system.例文帳に追加

偏向光学系において、像の回転角が無回転倒立像以外の場合でも偏向軌道を最適化し、良好な結像性能を得ることの可能な荷電粒子線投影光学系を提供する。 - 特許庁

例文

A new patterning method is employed, which is characterized in that at least a substrate and a dispersion system are used, a distribution of particle concentration is produced in a layer of the dispersion system formed on the substrate by a distribution of heat quantity given to the dispersion system, and then subjected to a curing process.例文帳に追加

少なくとも基板と、分散系を用い、該分散系に与えられた熱量の分布により、基板上に形成した該分散系層内に濃度分布を形成し、しかる後に硬化処理を行うことを特徴とする、新規のパターニング方法を採用する。 - 特許庁

例文

To automatically supply a dispersing medium to the dispersion bath of a sample liquid circulation system or regulate the concentration of a sample liquid without requiring the piping work to the body casing of a particle size distribution measuring device having the sample liquid circulation system and a measuring system.例文帳に追加

試料液循環系および測定系を設けた粒度分布測定装置の本体筐体に対して、配管作業を要することなく、試料液循環系の分散バスへの分散媒の供給や試料液の濃度調整を自動的に行えるようにする。 - 特許庁

A charged particle beam device includes a particle source to release a charged particle beam having an emitter accommodated in an emitter chamber 19 and is equipped with a column 3 surrounded by a jacket and having a particle-optical element accelerating and converging the beam, wherein the emitter is supported so as not to be influenced by vibrations by coupling the emitter chamber 19 to the column 3, through a ring-shaped electrode system.例文帳に追加

帯電粒子ビームを放出する帯電粒子源と、カラムジャケットによって包囲されると共に帯電粒子ビームを加速及び集束させる粒子−光学素子を有するカラム3と、エミッタ室19内に収納したエミッタを有する帯電粒子源とを具える帯電粒子ビーム装置において、エミッタ室を環状電極系を介してカラムに連結することによりエミッタを振動の影響を受けないように支持する。 - 特許庁

To provide a resin particle including a desired magnetic particle that is easy to handle, has a large surface area, is hard to precipitate even when used in an aqueous dispersion system and bears a functional group such as a carboxy group on the minute resin surface.例文帳に追加

所望の磁性粒子を包含した樹脂粒子において取り扱いが容易で表面積が大きく、水分散系で使用しても沈降しづらく、かつ緻密な樹脂表面にカルボキシル基等の官能基を有する磁性微小球体を提供すること。 - 特許庁

This coating contains a synthetic resin emulsion, porous powdery granules having20 μm particle diameter and ≤0.6 g/cc bulk density, a chemical adsorbing agent of a volatile organic compound and siliceous-system inorganic powder having50 (ml/100 g) oil absorption and 0.5-10 μm particle diameter.例文帳に追加

合成樹脂エマルション、粒子径20μm以下、かさ密度0.6g/cc以下の多孔質粉粒体、揮発性有機化合物の化学吸着性吸着剤、吸油量50(ml/100g)以下、粒子径0.5〜10μmの珪酸質系無機粉体を含有する。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle beam system, wherein a primary charged particle beam is radiated to an insulating material or a semiconductor sample and a signal obtained from the specimen is detected, by which an electrification phenomenon of the sample is markedly reduced.例文帳に追加

絶縁物、あるいは、半導体試料に一次荷電粒子ビームを照射して試料から得られる信号を検出する走査荷電粒子ビーム装置において、試料の帯電現象を著しく少なくすることができる走査荷電粒子ビーム装置を実現する。 - 特許庁

To provide a particle beam radiation system and its control method, which are capable of accurately detecting and evaluating actual exposure dose in a therapy using charged particle beams by appropriately executing a beam emission in abnormal conditions during spot irradiation.例文帳に追加

スポット照射中における異常発生時のビーム出射処理を適切に行うことにより、荷電粒子ビームを用いた治療における実照射線量の検出および評価を正確に行うことができる粒子線照システムおよびその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a positioning method and a device for minute particles, capable of acquiring position information of the minute particle floating and moving in a micro-space by an observation system from one direction, concerning the positioning method and the device of the minute particle.例文帳に追加

本発明は微小粒子の位置決め方法及び装置に関し、微細空間を浮遊、移動する微小粒子の位置情報を1方向からの観察系で得ることができる微小粒子の位置決め方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a composite apparatus which is an integral system of a probe microscope and a charged particle beam device, such as an FIB or the like, and has a means, capable of easily and stably processing a probe head section being worn or damaged, by using own charged particle beam device.例文帳に追加

FIB等の荷電粒子ビーム装置とプローブ顕微鏡が一体システムとなった複合装置において、プローブ先端部の摩耗や欠損に対して自前の荷電粒子ビーム装置を用いて容易に安定して加工が施せる手段を備えた装置を提供する。 - 特許庁

In the image forming method using a photoreceptor whose surface layer is made of amorphous carbon and adopting a contact electrifying system with electrified particles, the electrified particles have a particle diameter in a region (aggregation wear region) in which abrasion loss of the amorphous carbon surface layer of the electrophotographic photoreceptor during image formation has no substantial correlation with a volume average particle diameter of the electrified particles.例文帳に追加

帯電粒子として、電子写真感光体のアモルファスカーボンからなる表面層の画像形成時の摩耗量が該帯電粒子の体積平均粒径と実質的に相関を持たない領域(凝着摩耗領域)にある粒径のものを用いる。 - 特許庁

To provide an inexpensive and highly-accurate fine particle measuring system for performing grade display of the degree of contamination by classifying numerically by the particle size, fine particles included in liquid or in gas, as a pollutant collected on a filter for impurity filtration.例文帳に追加

液体あるいは気体中に含まれる微粒子について、不純物濾過用のフィルター上に捕集した汚染物(コンタミネーション)として、その粒子径により数量分類して汚染度を等級表示するための高精度で安価な微粒子計測方式を提供する。 - 特許庁

To provide a chemical loop combustion method power generation plant system without polluting the surroundings which can remove a metal oxide and the minute particle of a reduced form of the metal oxide from a gas and reduce the amount of the minute particle discharged to the atmosphere along with an exhaust gas.例文帳に追加

金属酸化物と金属酸化物の還元体の微粒子を、ガスから除去し、もって排ガスとともに大気中に放出される微粒子の量を減少させて、環境を汚染することのない化学ループ燃焼方式発電プラントシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide a charged particle beam lithography system capable of drawing a chip pattern while varying shot conditions of a specific pattern included in one piece of lithographic data of the chip pattern.例文帳に追加

チップパターンの一つの描画データに含まれる特定のパターンのショット条件を変えながら、チップパターンを描画可能な荷電粒子ビーム描画システムを提供する。 - 特許庁

To provide a processing system to process an object using a reaction gas activated by a particle beam which uses a small gas supply device, inspects the object during the processing to monitor and control the processing state.例文帳に追加

粒子ビームによって活性化された反応ガスを用いて物体を加工する加工システムであって、小型のガス供給装置を用いた加工システムを提供する。 - 特許庁

The wafer 6 is rotated through operation of the actuator 7 in this way and displacement in rotation is controlled within the range where displacement in rotation rotation can be compensated by a charged particle beam optical system.例文帳に追加

このようにして、アクチュエータ7の動作によりウェハ6を回転し、荷電粒子線光学系で回転のずれを補償できる範囲内に回転のずれを制御する。 - 特許庁

To provide a sample inclination observing method in a scanning charged particle beam system, allowing image observation by eliminating dislocation of an observation position during sample inclination.例文帳に追加

試料傾斜時の観察位置のずれをなくして、画像観察を行うことができる走査型荷電粒子ビーム装置における試料傾斜観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a system of sieving a particle dispersion capable of stably maintaining its treatment capacity by preventing the plugging of the sieve, and of improving product recovery rate.例文帳に追加

篩いの目詰まりの発生を抑制して処理能力を安定的に維持し、製品の回収率を向上させる粒子分散液篩分システムを提供する。 - 特許庁

To improve processing speed by quickly transferring data between computers, in a system for a large-scale analysis such as calculation of particle behavior.例文帳に追加

粒子の挙動計算のような大規模解析を行うシステムにおいて、コンピュータ間のデータの受け渡しを高速に行うことで、処理の実行速度を向上させる。 - 特許庁

To provide a particle beam therapy system that can rapidly change beam energy without increasing the size of a deflection electromagnet even in the case where the number of required beam-energy changes is large.例文帳に追加

必要なビームエネルギー変更回数が多い場合でも、偏向電磁石を大きくすることなく、高速にビームエネルギーを変更できる粒子線治療装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam exposure system which can prevent thermal deformation of a reticle mark to the utmost and a mark part on a reticle stage and form a more accurate pattern.例文帳に追加

レチクルマークやレチクルステージ上のマーク部の熱変形を極力防止し、より高精度なパターン形成を行うことができる荷電粒子ビーム露光装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for producing solid particle dispersion by mixing two or more fluids and immediately supplying the dispersion to a large quantity of stabilizer solution and a method therefor.例文帳に追加

2種類以上の流体を混合して固体粒子の分散を形成した後、直ちに大量安定剤溶液中に供給するシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a electrophoretic display deice having enhanced long term stability of a particle dispersion system by suppressing the aggregation and the adhesion of charged migration particles to the surface of an electrode.例文帳に追加

電極表面への帯電泳動粒子の凝集、付着を抑制して、粒子分散系の長期安定性を向上した電気泳動表示装置を提供する。 - 特許庁

Based on the schedule, control sections (stage control sections 11a and 24a, a coil power source control section 16a, etc.), respectively control the stages 11 and 24 and the charged particle beam optical system.例文帳に追加

該スケジュールに基づいて制御部(ステージ制御部11a、24a及びコイル電源制御部16a等)がステージ11、24及び荷電粒子線光学系を制御する。 - 特許庁

To provide a floating particle measuring system preventing the lowering of the measuring probability of concentration by the effect of the change in attenuation coefficient caused by the change of an ambient environment.例文帳に追加

周囲環境の変化に起因した減衰係数の変化の影響で濃度測定の確度が低下することのない浮遊粒子測定システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for detecting a fluorescent mono particle, detecting a substance to be detected in a short period of time and with high sensitivity, and having excellent controllability.例文帳に追加

検出対象物質を短時間に高感度で検出するとともに制御性に優れた蛍光一粒子検出方法および検出システムを提供する。 - 特許庁

To provide an annular accelerator capable of switching ON/OFF of taking out of beams at high speed, and to provide a particle beam therapy system capable of performing soft radiation with the accelerator.例文帳に追加

ビーム取り出しの高速ON/OFFが可能な環状加速器、ならびにそれを用いた、柔軟な照射に対応可能な粒子線治療システムを提供する。 - 特許庁

To provide a particle detection method that enables detection sensitivity to be enhanced in a laser scattering system, even if the particles adhered to a workpiece are organic particles.例文帳に追加

被検査物に付着した粒子が有機系粒子であっても、レーザ散乱方式における検出感度を向上させることができる粒子検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a particle-spraying device to observe the stream current surrounding a model ship when the model ship is towed in a water tank, and a flow field observation system using the device.例文帳に追加

水槽で模型船を曳航する際に、その模型船周りの水流を観測するため粒子散布装置及びこれを用いた流場観測装置を提供する。 - 特許庁

To provide an acoustic measurement method and system provided with calibration processing which accurately calculates sound pressure and/or acoustic particle speed by using a directional microphone.例文帳に追加

指向性マイクロホンを用いて音圧及び/又は音響粒子速度を正確に算出できるような校正処理を備えた音響測定方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a treatment table positioning device for a particle radiotherapy system which automatically focuses on an isocenter of the positioning device from CT image photography.例文帳に追加

この発明は、CT画像撮影から自動的に位置決め装置のアイソセンタに合わせることのできる粒子線治療システムの治療台位置決め装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

A photocatalytic material comprises tungsten trioxide fine particles having an average particle diameter of 0.5 μm or smaller and a crystal structure of a monoclinic crystal system as a main component.例文帳に追加

平均粒径が0.5μm以下であり、結晶構造が単斜晶系である三酸化タングステン微粒子を主成分としたことを特徴とする光触媒材料。 - 特許庁

To provide a correction method, by which correction for adjusting the magnification and rotation of a projected sub-field can be performed rapidly, in a particle beam projection system.例文帳に追加

粒子線投影システムにおいて、投影されたサブフィールドの倍率および回転を調整する較正工程を素早く行うことができる較正方法を提供する。 - 特許庁

In the auxiliary recording layer, for example, a Co system alloy including silver (Ag) which is non-solid soluble to cobalt (Co) as a non-solid solution substance is used as a body of the magnetic particle.例文帳に追加

この補助記録層には、例えば、コバルト(Co)に対して非固溶である銀(Ag)を非固溶物質として含むCo系合金が磁性粒子の主体として用いられる。 - 特許庁

To provide a cleaning blade which comes into contact with a photoreceptor drum surface of an image forming device in a counter system and surely removes fine particle toner in an image forming region.例文帳に追加

画像形成装置の感光体ドラム面にカウンター方式で接触し、画像形成領域内の微粒子トナーを確実に除去するクリーニングブレードを提供する。 - 特許庁

The charged-particle optical system 100, such as an electron microscope, has a vacuum chamber 102 with a space 104 for storing a specific one from among numerous specimens in operational use.例文帳に追加

たとえば電子顕微鏡のような荷電粒子光学系(100)は、操作用に多数の試料のうちの特別な1つを収容するための空間(104)を備えた真空チャンバ(102)を有する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus in which a spherical toner shaped in particles in a water system can be thoroughly removed by cleaning even in the case of a small particle diameter, and to provide toner for use in the image forming apparatus.例文帳に追加

水系で造粒された球形トナーで、小粒径であっても、十分にクリーニング可能な画像形成装置及び該画像形成装置に用いるトナーを提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam lithographic system that not only achieves high accuracy detection of substrate displacement, but also obtains degree of degeneration that causes substrate displacement.例文帳に追加

高精度で基板ずれを検出し、基板ずれの原因となる装置の劣化の程度を把握することが可能な荷電粒子ビーム描画装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To reliably perform good image formation over a prolonged period of time by preventing faulty image formation due to filming even with a FEED system developing roller using a small particle diameter toner.例文帳に追加

小粒径トナーを用いたFEED式の現像ローラであってもフィルミングによる画像形成不良を防止して、良好な画像形成を長期的にかつ確実に行う。 - 特許庁

To provide a system for recycling tea leaves or the like in which reusable green-color liquid or reusable fine particle from extracted residue produced after use for a plastic bottled tea beverage.例文帳に追加

本発明は、ペットボトル入り茶飲料に用いた抽出残滓をもとに再利用可能な緑色の液体や微細粉体を得る茶殻等リサイクルシステムに関する。 - 特許庁

To provide a treating-gas feed mechanism in an ALCVD system capable of switching the treating gas at a high speed without particle pollution of a substrate.例文帳に追加

被処理基板のパーティクル汚染を伴うことなく、処理ガスの切替えを高速に行うことが可能なALCVDシステムにおける処理ガス供給機構を提供する。 - 特許庁

例文

A particle-optical illumination/imaging system simply comprises a single sight condenser-objective lens (5), and two condensers (3, 4).例文帳に追加

本発明は、集束−対物−単一視野レンズ(5)と、2つの集束レンズ(3,4)だけを有している簡単な照射システムとを備えた粒子光学的照射・結像システムに関する。 - 特許庁




  
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