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Probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
To provide a link travel time measuring method for easily measuring a link travel time by monitoring the change of a link while a probe car is running and to provide a link travel time measuring instrument, and a navigation system thereof.例文帳に追加
プローブカーの走行中におけるリンクの変化を監視することで、リンク旅行時間を簡単に計測するようにしたリンク旅行時間計測方法、リンク旅行時間計測装置及びナビゲーションシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a friction stir welding device and a friction stir welding method in which any breakage and any changes in the length of a probe are automatically determined, and the reliability and the productivity of a product can be improved.例文帳に追加
プローブの破損や長さの変化量を自動的に判断することができ、製品の信頼性および生産性を向上することが可能な摩擦撹拌接合装置および摩擦撹拌接合方法の提供。 - 特許庁
To provide a method and device for the recording of the movement of a device, for example of a probe, on the surface of a specimen, which works nondestructively and has an improved accuracy compared with the previously known methods and devices.例文帳に追加
本発明は、試料表面において非破壊で動作可能であり、従来の方法や装置と比較して精度が向上した、例えば探針などの機器の移動を検出する方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide ceramics which combine high strength and excellent workability required for fine working of high precision and a thermal expansion coefficient close to that of silicon, to provide a production method thereof, and to provide probe guiding parts produced thereof.例文帳に追加
高精度な微細加工に必要な高強度と優れた加工性、そしてシリコンに近い熱膨張係数とを兼ね備えたセラミックスとその製造方法、さらにそれより製作したプローブ案内部品を提供する。 - 特許庁
To provide a probe type tube inner face coating film component measuring instrument for measuring a property of a tube inner face in a state of the tube being mounted on an actual equipment, and also to provide a method of measuring the property of the tube inner face using the instrument.例文帳に追加
管内面の性状を、実機に装着した状態測定できるプローブ型管内面皮膜成分測定装置、及びそれを用いた管内面性状の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a new reagent for detecting a duplex nucleic acid and a method using this reagent for detecting the duplex nucleic acid formed by hybridization with a probe without labeling any target nucleic acid.例文帳に追加
二本鎖核酸を検出する新規試薬と、それを用いて、ターゲット核酸に対して一切のラベル化を施すことなくプローブとのハイブリダイゼーションにより形成される二本鎖核酸を検出する方法を提供する。 - 特許庁
In this way, as the connection method to the access point is automatically set up by way of reception of the probe request in the printer, loads upon the user regarding the setup of the wireless LAN can be reduced considerably.例文帳に追加
このようにして、プリンタにおいては、プローブ要求の受信を経て、アクセスポイントへの接続方法が自動的に設定されるため、無線LANの設定に対するユーザへの負荷を大幅に軽減することができる。 - 特許庁
The method and a system for controlling, monitoring, optimizing and manufacturing a device and its components and related base members on a semiconductor in an in-situ process includes a light irradiation system and an electric probe circuit.例文帳に追加
半導体上でデバイス及び構成要素、並びに関連する基材をin−situのプロセスで制御、モニター、最適化、及び製造する方法及びシステムは、光照射システム及び電気プローブ回路を含む。 - 特許庁
To provide a probe for surface enhanced vibration spectroscopic analysis having excellent detection sensitivity even to laser light having the intensity to the degree of not damaging a sample, and having a long lifetime, and its manufacturing method.例文帳に追加
試料に損傷を与えない程度の強さのレーザー光に対しても優れた検出感度を有し、かつ長寿命である表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a probe unit and a continuity test method capable of raising contact pressure with electrodes of a specimen and accurately positioning the electrodes of the specimen to contact parts of conductors to be brought in contact with the electrodes.例文帳に追加
検体の電極との接触圧を大きくすることができ、検体の電極とその電極に接触する導線の接触部とを正確に位置合わせすることができるプローブユニット及び導通試験方法を提供する。 - 特許庁
The method also includes calculating a function for associating the positions of the probe with the indications, and applying the function to identify end-expirium points of the respiration based on subsequent indications associated with the impedances.例文帳に追加
この方法はまた、プローブの位置を指標に関連付ける関数を計算することと、その関数を適用して、インピーダンスに関連付けられる、続く指標に基づいて呼吸の終末呼気の点を識別することとを含む。 - 特許庁
To provide a chimera oligonucleotide useful as a primer or a probe useable for an unpurified or low-purity biological sample and to provide a method for amplifying and/or detecting a target nucleic acid by using the oligonucleotide.例文帳に追加
未精製あるいは低純度の生体試料に対して使用可能なプライマーまたはプローブとして有用なキメラオリゴヌクレオチド、該オリゴヌクレオチドを用いた標的核酸の増幅及び/又は検出方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for detecting a phenol and TCE decomposing bacterium in a specimen by detecting a phenol hydroxylase gene which the phenol and TCE decomposing bacterium has and to obtain a probe and a primer therefor.例文帳に追加
フェノール及びTCE分解菌が有するフェノールヒドロキシラーゼ遺伝子を検出することにより試料中のフェノール及びTCE分解菌を検出する方法、並びにそのためのプローブ及びプライマーを提供する。 - 特許庁
The position of the probe 10 or the atom 50 on the plane is controlled so that a frequency component in the direction parallel to the plane of the detected change amount of the frequency becomes zero (a second method : Figure 1(b)).例文帳に追加
そして、検出した周波数の変化量の平面と平行な方向の周波数成分がゼロとなるように探針10又は原子50の平面における位置を制御する(第2の方法:図1(b))。 - 特許庁
To provide a method and composition comprising a new signaling probe for analyzing or isolating cells or generating cell lines expressing one or more RNAs.例文帳に追加
1つ以上のRNAを発現する細胞を分析し、もしくは単離し、または1つ以上のRNAを発現する細胞株を作製するための新規なシグナリングプローブを含む方法および組成物を提供すること。 - 特許庁
To reduce an amount of water to be supplied between an ultrasonic probe and the surface of an inspection object and to prevent interference of air bubbles which becomes an obstacle in an inspection of the inspection object in ultrasonic measurement by a local water immersion method.例文帳に追加
局部水浸法による超音波測定において超音波探触子と被検査体の表面との間に供給する水の量を減らすと共に被検査体の検査時に障害となる気泡の干渉を防ぐ。 - 特許庁
To provide a manufacturing method for an optical fiber probe capable of using various metal materials as a light shielding coating layer, and capable of forming an optical opening for aiming surely only a tip micro-area in a sharp part of an optical fiber, without conducting masking and polishing.例文帳に追加
遮光性被覆層として種々の金属材料が使用可能で、また、マスキングや研磨を行わずに、光ファイバの先鋭部の先端微小領域のみに確実に目的とする光学的開口を形成する。 - 特許庁
To obtain a near-field optical probe with which a near-field light of large intensity can be radiated or/and detected and which can capture an optical image with a large S/N ratio, and to obtain its manufacturing method and a near-field optical apparatus.例文帳に追加
強度の大きな近視野光を照射または/および検出することができ、S/N比の大きな光学像を取得することができる近視野光プローブ、および、その製造方法や近視野光装置を得ること。 - 特許庁
To specify an accurate contact position in a short time with only a single continuous one-time approach action, and enable an approach method for setting up a proper probe load value at scanning.例文帳に追加
連続した1回のアプローチ動作だけで、正確なコンタクト位置を短時間に特定すると同時に、走査時の適正な探針荷重値を設定することが可能な走査型プローブ顕微鏡のアプローチ方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electrooptical device enabling precise inspection of presence/absence of defective wiring pattern formation by using a probe, and also to provide a manufacturing method of the electrooptical device, and an electronic device equipped with such an electrooptical device.例文帳に追加
プローブを用いて、配線パターンの形成不良の有無を正確に検査することができる電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及びそのような電気光学装置を備えた電子機器を提供する。 - 特許庁
To obtain a nucleic acid sequence, to obtain a protein encoded by the same, to provide a probe derived from the nucleic acid sequence, to obtain an antibody against the protein, to provide a diagnostic method for detecting a cancer cell, especially, a colon cancer cell.例文帳に追加
核酸配列およびそれによってコードされる蛋白質、並びに該核酸配列に由来するプローブ、該蛋白質に対する抗体、並びに癌細胞、特に結腸癌細胞を検出する診断方法を提供する。 - 特許庁
To provide a dispensing device, an automatic analyzing apparatus, and a dispensing failure confirming method, capable of avoiding erroneous analysis by confirming the empty suction caused by the erroneous detection of a liquid level or the dispensing failure caused by the clogging of a probe.例文帳に追加
液面誤検知による空吸引やプローブ目詰まりによる分注不良を確認して、誤分析を回避しうる分注装置、自動分析装置および分注不良確認方法を提供する。 - 特許庁
To provide a very compact magnetic sensor capable of detecting highly sensitively a magnetic particle concentration with high precision not affected by a probe shape, and a manufacturing method for the magnetic sensor, and the manufacturing method capable of manufacturing easily the compact magnetic sensor of high strength.例文帳に追加
非常に小型であり、高感度かつプルーブ形状の影響のない高精度の磁性粒子濃度検出が行える磁気センサ及び磁気センサの製造方法を提供する、小型かつ高い強度を有する磁気センサを容易に製造できる磁気センサの製造方法を提供する。 - 特許庁
To enable not only detection of flaw of the whole of a target region to be inspected but also measurement of the dimension of the whole of the target region to be inspected at a high speed with high accuracy, by electronic scanning different from flaw detection using a conventional TOFD method, an once-reflection method or an array type ultrasonic probe of pair constitution and requiring no mechanical scanning.例文帳に追加
従来のTOFD法や1回反射法、ペア構成のアレイ型超音波探触子などによる探傷と異なり、機械走査が不要な電子走査により、被検査対象部位の全体の欠陥検出、寸法測定を高速、かつ高精度で行えるようにする。 - 特許庁
To provide a method for recovering performance for recovering reduced receiving sensitivity of an organic piezoelectric element by being used for an ultrasonic probe, an ultrasonograph for obtaining highly fine ultrasonic images by recovering the receiving sensitivity, and a jig used for the method for recovering performance.例文帳に追加
超音波探触子に使用され低下した有機圧電素子の受信感度を回復させる性能回復方法、受信感度を回復させることで高精細な超音波画像を得ることができる超音波診断装置、および該性能回復方法に用いる治具を提供する。 - 特許庁
To provide an ultrasonic probe, an ultrasonic propagation velocity measuring method, and an inner ring raceway surface inspection method, for simply, inexpensively, and safely, inspecting a surface layer part of a metallic member, without undergoing restrictions on a place for inspecting the surface layer part of the metallic member or without performing destructive inspection on the metallic member.例文帳に追加
金属部材の表層部の検査を行う場所が限定されず、かつ、金属部材の破壊検査をせずに金属部材の表層部を簡単安価かつ安全に検査できる超音波探触子および超音波伝播速度測定方法および内輪軌道面の検査方法を提供すること。 - 特許庁
To facilitate a focusing operation for an optical microscope or the like onto a sample surface or a backface of a cantilever, to allow automatic focusing by a simple method, and to make a focusing method suitable for automatic measurement, in a scanning type probe microscope compounded with the optical microscope.例文帳に追加
光学顕微鏡等が複合された走査型プローブ顕微鏡で、試料表面やカンチレバーの背面への光学顕微鏡等の焦点合せ操作を容易に行え、簡易な方法で自動的な焦点合せを可能とし、測定の自動化に適した焦点合せ方法を提供する。 - 特許庁
To provide a primer, probe, microarray for detecting mutation of c.4957-4958InsA, a novel genetic mutation of a gene EYS responsible for retinitis pigmentosa (RP), a test kit having the same, a test method for genetic mutation responsible for RP, and a test method for genetic sensitivity to RP.例文帳に追加
網膜色素変性原因遺伝子EYSの新規遺伝子変異であるc.4957_4958InsA変異を検出するためのプライマー、プローブ、マイクロアレイ、及び、これらを備える検出キット、並びに、RP原因遺伝子変異の検査方法、RPへの遺伝的感受性の検査方法を提供する。 - 特許庁
The method and the composition used in the method involve the use of TNA-specific probe nucleic acids, the production of nucleic acid binding regions and the use of nucleic acid target binding assemblies(TBA) to detect and locate a specific TNA, wherein TBA comprise nucleic acid recognition sequences having specific base sequences.例文帳に追加
TNAを検出および配置するために、TNAに特異的なプローブ核酸の使用、核酸結合領域の産生、および核酸標的結合集合体(TBA)の使用を含み、TBAは特定の塩基配列を持つ核酸認識配列からなる組成物及び方法。 - 特許庁
To provide a method for analyzing a nucleic acid wherein a non- specific linkage which can be formed between a specimen nucleic acid and a nucleic acid probe is diminished, especially such a method using a chip for nucleic acid detection, and to provide such a chip which is highly versatile and can be produced at low cost.例文帳に追加
検体核酸と核酸プローブとの間に生じ得る非特異的な結合が低減された核酸解析方法、特に、核酸検出用チップを用いた核酸解析方法と、そこにおいて使用され得る汎用性が高く且つ低経費で製造される核酸検出用チップを提供する。 - 特許庁
To provide a nucleic-acid-fragment fixed electrode in which a probe nucleic-acid fragment is fixed onto an electrode stably and by controlling its amount, to provide a method of manufacturing the nucleic-acid-fragment fixed electrode and to provide an electrochemical detection method for a target nucleic acid using the nucleic-acid-fragment fixed electrode.例文帳に追加
電極上にプローブ核酸断片が安定にかつ量をコントロールして固定されている核酸断片固定電極、該核酸断片固定電極の製造法、並びに該核酸断片固定電極を用いるターゲット核酸の電気化学的検出方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for selecting a specific gene region which is useful in the field of genetic engineering and reduced in cross hybridization and to provide a nucleic acid probe and a material in which the nucleic acid is immobilized comprising utilizing a base sequence of the region and to provide a method for detecting a target nucleic acid in high sensitivity and high specificity by using the nucleic acid.例文帳に追加
遺伝子工学の分野で有用なクロスハイブリの低減された特異的遺伝子領域の選択方法及び、該領域の塩基配列を利用した核酸プローブ及び核酸固定化物、該核酸を用いた高感度、高特異的な標的核酸の検出方法を提供すること。 - 特許庁
In this detection method, a porous sheet and a stimulable phosphor sheet having a plurality of stimulable phosphor layers arranged independently of each other in the positions matching respective probe molecule fixing positions in an array sheet are prepared, and using them, a radiological image storage/reproduction method is carried out.例文帳に追加
多孔性多孔性シートと、そのアレイシートの各プローブ分子固定位置のそれぞれに対応する位置に互いに独立して設けられた複数の蓄積性蛍光体層を有する蓄積性蛍光体シートを用意し、これらを利用して放射線像記録・再生方法を実施する。 - 特許庁
This hybridization method includes a step for bringing a target oligonucleotide into contact with an oligonucleotide probe-bound silicic optical microarray together with an organic silicone-based super humectant, an organic sulfate surfactant, an organic polyalkoxylate and the like, and a kit for the method.例文帳に追加
標的とするオリゴヌクレオチドを、有機シリコーン系の超湿潤剤、有機硫酸塩界面活性剤、有機ポリアルコキシレート等を含む水性混合物(緩衝液)と共に、オリゴヌクレオチドプローブを結合したケイ質光学マイクロアレイに接触させるステップを含む、ハイブリダイゼーション法とそのためのキット。 - 特許庁
The ultrasonic flaw detection method performs ultrasonic flaw detection of defects, such as cracks that are generated at the fillet-welding section by applying ultrasonic waves that are generated by a transmission probe via welding beads at one side and receiving ultrasonic waves that are reflected by such defect as cracks, using a reception probe via welding beads at the opposite side.例文帳に追加
本発明の請求項1に係る超音波探傷方法は、隅肉溶接部に発生するき裂等の欠陥検出を、送信探触子より発した超音波を片側の溶接ビードを介して入射し、き裂等の欠陥で反射した超音波をその反対側の溶接ビードを介して受信探触子により受信することにより超音波探傷を行うものである。 - 特許庁
The method for analyzing the activation degree of a transcription factor in a specimen comprises a step to add probes respectively labeled with different labeling substances to each specimen, a step to recover exclusively the probe bonded with the transcription factor, and a step to hybridize the recovered probe on a single plate and detect the labeling substance.例文帳に追加
検体中の転写因子の活性化の程度を解析するための方法であって、検体ごとに異なる標識物質によって標識されたプローブを各検体に添加する工程、転写因子と結合したプローブのみを回収する工程、前記回収されたプローブを、単一のプレート上でハイブリダイゼーションした後に、前記各標識物質を検出する工程を含む、前記方法。 - 特許庁
After the surface of the sample for microscope observation, cut out from a substrate sample, is processed by FIB, the vicinity of the surface of the sample is scanned with a probe 4 of a probe microscope and ground by a mechanical method, electrochemical reaction, or an optical technique, such as oxidization or annealing, to conduct processing of removing ionic elements implanted by ion irradiation.例文帳に追加
基板サンプルより切り出された顕微鏡観察用試料の表面をFIBによって加工処理した後、試料の表面近傍をプローブ顕微鏡探針4を走査して機械的方法、電気化学的反応、あるいは酸化、アニーリングといった光学的手法によって研磨することによりイオン照射によって打ち込まれたイオン元素を除去する加工を行うものである。 - 特許庁
The method for analyzing the nucleic acid sequence comprises reacting a nucleic acid in a sample with a first probe containing a first target site and a first sequence and a second probe containing a sequence shorter than the first sequence by one base and homologous except the one base of a second target site corresponding to the position of the first target site under conditions for initiating suitable hybridization.例文帳に追加
第1の標的部位と第1の配列を含む第1のプローブと、第1の配列よりも1塩基だけ短く、第1の標的部位の位置に対応する第2の標的部位の1塩基を除いて相同な配列を含む第2のプローブとに対して、試料中の核酸を適切なハイブリダイゼーションの生じる条件下で反応させることを具備する核酸配列の解析方法。 - 特許庁
The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.例文帳に追加
半導体試料の主面上に電極10を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極10に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ14で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁
This probe pin manufacturing method for manufacturing the probe pin for supplying a signal to an electronic device is provided with a mask layer formation process for forming a mask layer having a predetermined pattern on a substrate, a groove part formation process for forming a groove part on the substrate by etching the substrate, and an accumulation process for accumulating a metal material in the groove part by using the mask layer as a mask.例文帳に追加
電子デバイスに信号を供給するためのプローブピンを製造するプローブピン製造方法であって、基板に所定のパターンを有するマスク層を形成するマスク層形成工程と、マスク層をマスクとして、基板をエッチングし、前記基板に溝部を形成する溝部形成工程と、マスク層をマスクとして、溝部に金属材料を堆積する堆積工程とを備える。 - 特許庁
In this near-field light detection method and the device thereof, by vibrating an electroconductive probe applied with a voltage wherein a DC and an AC are superimposed, and detecting and conrolling an electrostatic force between electric potential of the probe and electric potential of a dielectric surface, the near-field light generated when irradiating the dielectric surface with an electromagnetic wave is detected.例文帳に追加
本発明による近接場光検出方法およびその装置は、直流と交流の重畳する電圧が印加された導電性探針を振動させ、該探針電位と誘電体表面電位の間の静電気力を検知・制御することにより、誘電体表面に電磁波を照射したときに発生する近接場光を検出することを特徴とする。 - 特許庁
In the method of estimating the type of clinker of the cement used for the cement hardened body using an electron probe micro-analyzer, non-hydration calcium silicate phase remaining in the cement hardened body is selected, composition analysis of a minute part of this non-hydration calcium silicate phase is performed using the electron probe micro-analyzer, and the type of clinker of the cement is estimated based on the result of the composition analysis.例文帳に追加
セメント硬化体に用いられたセメントのクリンカ品種を電子プローブマイクロアナライザを用いて推定する方法であって、セメント硬化体中に残存している未水和カルシウムシリケート相を選択し、この未水和カルシウムシリケート相の微小部分の組成分析を電子プローブマイクロアナライザを用いて行い、この組成分析の結果に基づきセメントのクリンカ品種を推定する。 - 特許庁
Alternatively, in the method for inspecting the thin plate using the electromagnetic ultrasonic probe equipped with the magnet body for generating the magnetic field on the surface of the thin plate and the coil arranged in the magnetic field, an electromagnetic ultrasonic probe for transmitting plate waves is arranged at the central part of the thin plate and electromagnetic ultrasonic probes for receiving plate waves arranged at both edge parts of the thin prate.例文帳に追加
或いは、薄板表面に磁界を発生させる磁石体と、前記磁界に配置されたコイルとを具備する電磁超音波探触子を使用して薄板を検査する方法であって、板波送信用の電磁超音波探触子を薄板中央部に配置し、板波受信用の電磁超音波探触子を薄板両エッジ部に配置することを特徴とする。 - 特許庁
To provide a contact probe pin that forms a carbon coating having electric conductivity and durability on a substrate whose tip is divided and that is capable of reducing Sn deposition as much as possible even under conditions where temperature is high in usage environment and keeping electric contact stable over a long period of time, and a useful inspection method with the contact probe pin.例文帳に追加
導電性と耐久性を兼ね備えた炭素皮膜を、先端が分割された基材に対して形成するようなコンタクトプローブピンにおいて、使用環境が高温になる様な状況下においても、Sn付着を極力低減し、長期間に亘って安定な電気的接触を保つことのできるコンタクトプローブピン、およびコンタクトプローブピンを用いた有用な検査方法を提供する。 - 特許庁
For this investigation method, a soil gas collecting hole 4 is bored, and the soil as is collected from a soil gas collecting probe 10 through a pipe 12 into a soil gas collecting vessel 14 in a vacuum state, at the position with plural measuring depths of each constant depth interval (d).例文帳に追加
土壌ガス採取孔4を穿孔し、一定深さ間隔dごとの複数の測定深さ位置にて、土壌ガス採取プローブ10から配管12を通して減圧下の土壌ガス採取容器14内に土壌ガスを採取する。 - 特許庁
To provide liquid crystal display(LCD) panel inspection equipment and method using a comparatively inexpensive probe and capable of reducing the influence of noise also to a large sized and high definition LCD panel and carrying out highly reliable inspection.例文帳に追加
比較的安価なプローブを使用し、大型且つ高精細の液晶表示パネルに対しても、ノイズの影響が少なく、信頼性の高い検査を行うことができる液晶表示パネルの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide both a displacement gage with a contact-type probe capable of performing simple and highly accurate displacement measurement on a micro object to be measured and an object to be measured such as a section in the back of a complicated structure and its manufacturing method.例文帳に追加
微小な被測定対象や複雑な構造物の奥まった部分のような被測定対象に対して簡便で高精度な変位測定が可能な接触式プローブを有する変位計と製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a congestion path sorting method, as well as, a management device and a program, capable of detecting congestion occurring in a short time, without transmitting/receiving a probe packet, about a wide area network, to sort paths commonly experiencing the congestion.例文帳に追加
広域エリアネットワークについて、プローブパケットを送受信することなく、短時間に発生する輻輳を検出し、その輻輳を共通に経験するパスを分類する輻輳パス分類方法、管理装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a measuring device and a probe for the measuring device capable of improving operability by enabling a measuring position to be easily changed, and a measuring method of the solute concentration and/or the flow rate of liquid in a passage.例文帳に追加
測定位置を容易に変更することを可能にして、操作性を向上させることができる測定装置及び該測定装置用プローブ、並びに流路内液体の溶質濃度又は/及び流速の測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus of electrical inspection for a pattern wiring board, whereby whether a probe and a terminal of the pattern wiring board are connected with a low contact resistance value is confirmed and contact properties can be improved.例文帳に追加
プローブとパターン配線基板の端子の間が低い接触抵抗値をもって接触しているか否かを確認し、かつ接触性を改善することが可能なパターン配線基板用電気検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
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