「Probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(75ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for evaluating a semiconductor light-emitting device capable of conducting an evaluation having high reliability even when an element having abnormal element resistance is contained, improving workability by reducing the number of probes for a probe card, and reducing cost.例文帳に追加

素子抵抗に異常がある素子が含まれていても信頼性の高い評価を行うことができ、またプローブカードのプローブ数を低減できることにより、操作性が向上し、且つコストを抑えることを可能とする半導体発光素子の評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wide area server selection and reception control system, method and program capable of reducing installation cost, and installation and operation by securing service quality in wide area server selection control and reducing load to a network by a probe packet.例文帳に追加

広域サーバ選択制御におけるサービス品質を確保し、プローブパケットによるネットワークへの負荷を軽減させ、設置コストと設置稼動を軽減させることが可能な広域サーバ選択受付制御システムおよび方法ならびにそのためのプログラムを提供すること。 - 特許庁

The method and device for scanning a sample with a scanning probe microscope includes a step for scanning the surface of the sample according to at least one scanning parameter to obtain data corresponding to the surface, and a step for substantially automatically identifying a transition part on the surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡でサンプルを走査する方法および装置は、少なくとも一つの走査パラメータに応じてサンプルの表面を走査して表面に対応するデータを取得するステップと、表面における変移部を略自動的に識別するステップとを有する。 - 特許庁

In this method, a single-stranded DNA into which deletion is introduced for the purpose of forming a single-stranded loop from a midway of a double-stranded DNA is added to a reaction liquid after completion of PCR reaction as a hybridization probe and subjected once to thermal melting, annealing, and polymerase extension reaction.例文帳に追加

二重鎖ＤＮＡの中途から１本鎖のループを形成させるために欠失を導入した１本鎖ＤＮＡをＰＣＲ反応終了後の反応液にハイブリダイゼーション・プローブとして添加し、熱融解、アニール、ポリメラーゼ伸長反応を１回実施する。 - 特許庁

To provide a method and device for ultrasonic flaw detection which enables a large reduction of the undetected flaw regions of both end parts of a pipe when a plurality of pipes subjected to End-to-End feed are continuously detected by a probe rotary type flaw detector.例文帳に追加

Ｅｎｄ ｔｏ Ｅｎｄ搬送される複数の管を探触子回転型の超音波探傷機で連続的に探傷する際に、管の両端部の未探傷領域を大きく低減することが可能な超音波探傷方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In the method of correcting a photomask defect, after making an electrical continuity in an isolated pattern by a metal deposition film 7 by use of an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source, the defect 3 is corrected; and after the correction, the metal deposition film 7 is physically removed by an AFM (atomic force microscope) scratch working probe 9.例文帳に追加

電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた金属デポジション膜7で孤立したパターンに導通を作ってから欠陥3を修正し、修正後金属デポジション膜7をAFMスクラッチ加工探針9で物理的に除去する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a DNA chip capable of manufacturing inexpensively by a simple process, and having little loss of probe DNA and sample DNA in a washing process or the like, to thereby utilize effectively a DNA sample.例文帳に追加

簡単な工程で安価に製造でき、しかも水洗い工程等においてプロ−ブＤＮＡ、サンプルＤＮＡの損失が少なく、ＤＮＡサンプルを有効に活用できるＤＮＡチップの製造方法、およびこの方法により製造されたＤＮＡチップを提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic test method and ultrasonic test equipment, capable of detecting flaws in a fillet part in a crank shaft in which the surface of the fillet part has a large curvature so that a probe cannot be arranged on the surface of the fillet part.例文帳に追加

フィレット部の表面の曲率が大きく当該フィレット部の表面に探触子を配置できないクランク軸において、フィレット部内のきずを検出することが可能な超音波探傷方法、及び超音波探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for attaching a probe 6 to an exhaust gas treating device 1 which is particularly characterized by the fact that its production is simplified and narrower tolerance can be achieved and a better alignment in a receptacle opening can be achieved.例文帳に追加

本発明は、排気ガス処理装置（１）へのプローブ（６）の取付方法に関し、特に、その製造が簡便化され、より狭い誤差が達成されることができ、開口レセプタクル内部でのよりよい整列が達成される、プローブ取付方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

In this sample physical property measuring method, a probe 3 of a cantilever 2 protruding from a base 1 is abutted to the sample 6, for detecting the torsioal natural vibration amplitude of the cantilever 2, and on the basis of this torsional natural vibration amplitude, the physical properties of the sample 6 are measured.例文帳に追加

試料の物性測定方法において、ベース１から突出するカンチレバー２の探針３を試料６に押し当ててそのカンチレバー２の捩れ固有振動振幅を検出し、この捩れ固有振動振幅に基づいて前記試料６の物性を測定する。 - 特許庁

To provide a method of amplifying specific fragments of DNA or RNA by a real time polymerase chain reaction, capable of simplifying the amplification method, shortening the time and reducing the cost, so as to improve defects of RT-PCR (which are insertion colorant characterized by complex structure and very low specificity, or hybridization probe of complex primer construction).例文帳に追加

ＲＴ−ＰＣＲの欠点（である複雑な構造又は非常に低い特異性が特徴である挿入色素または複雑なプライマー構築のハイブリダイゼーションプローブ）を改善するために、該増幅方法の単純化、時間短縮及びコスト低減が可能なリアルタイムポリメラーゼ連鎖反応によるＤＮＡはＲＮＡの特定のフラグメントの増幅方法を提供する。 - 特許庁

In the method in which the corrosion of the composite steel structure such as a root-winding concrete steel bridge pier 100 is inspected, an ultrasonic probe 1 is scanned on the pier 100, and a corrosion part 104 existing in the interface between the pier 100 and a root-winding concrete part 102 is inspected quantitatively by the high-output ultrasonic angle flaw detection method.例文帳に追加

根巻きコンクリート鋼製橋脚１００のごとき複合鋼構造物の腐食を検査する方法において、超音波探触子１を鋼製橋脚１００上にて走査し、該鋼製橋脚１００と根巻きコンクリート部１０２との界面に存在する腐食部１０４を高出力超音波斜角探傷法により定量的に検査する。 - 特許庁

This method for detecting the conjunctivitis-related pathogen comprises treating genes (nucleic acids) originated from the conjunctivitis-related pathogen by a multiplex nucleic acid amplification method in the presence of a DNA obtained from a specimen or a cDNA synthesized from RNA obtained from the specimen as a template and then detecting the hybridization of the amplified gene with a probe for detection.例文帳に追加

本発明者らは鋭意研究を重ねた結果、検体から得られるDNA又は検体から得られるRNAから合成されたcDNAを鋳型とし、結膜炎関連病原体に起因する複数種の遺伝子（核酸）をマルチプレックス核酸増幅方法により処理し、該増幅した遺伝子を検出用プローブを用いてハイブリダイゼーションし、検出する。 - 特許庁

To provide a carbon nano structure called CNT, CNF and GNF having superior durability, allowing high measuring accuracy and inexpensively and nonvariably manufacturable in a short time; its manufacturing method; its cutting method; a probe for STM and AFM having this structure or an electric field electron emitting source such as FED, an X-ray device, SEM and TEM.例文帳に追加

優れた耐久性を備え、高い測定精度を可能とし、短時間・低コストでばらつき無く作製できるＣＮＴ、ＣＮＦ、ＧＮＦという炭素ナノ構造体、その製造方法、その切断方法、それを有するＳＴＭやＡＦＭ用の探針あるいはＦＥＤ、Ｘ線装置、ＳＥＭ、ＴＥＭ等の電界電子放出源を提供する。 - 特許庁

A method for assaying a gene as a template by PCR using a pair of PCR primers and a probe that hybridizes to a site between the primers on a template and is bound to a reporter and a quencher, wherein the method permits assaying a gene, particularly an mRNA, encoding eotaxin, RANTES or β-defensin-2 and a kit therefor are provided.例文帳に追加

１対のPCR プライマーと、鋳型上の該プライマーに挟まれた位置にハイブリダイズする、レポーターとクエンチャーを結合したプローブを用いて、PCR 法により鋳型としての遺伝子を測定する方法において、特定のプライマーと特定のプローブとを用いて、エオタキシン、RANTES又はβ−ディフェンシン−２をコードする遺伝子特にmRNAを測定する方法、並びにそのためのキットを提供する。 - 特許庁

Specifically, the method for recognizing the base of a prescribed position on a gene is a method to use a direct sequence of a base sequence containing the base, a probe containing the base or a primer amplifying the region containing the base, and the variation shown in the specific sequence can be detected by PCR-RFLP method to use an isoschizomer recognizing restriction enzyme HphI or a sequence same as the enzyme.例文帳に追加

遺伝子の所定の位置の塩基を認識するための方法としては、、当該塩基を含む塩基配列のダイレクトシークエンス、当該塩基を含むプローブ又は当該塩基を含む領域を増幅するプライマーを用いる方法、特定な配列に示す変異は、制限酵素ＨｐｈＩまたはそれと同じ配列を認識するイソシゾマーを用いたＰＣＲ−ＲＦＬＰ法により検出することができる。 - 特許庁

To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加

ＳＴＭやＡＦＭ用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁

A surface of the copper tube 1 has a film composed of a carbon compound having carbon content at the surface calculated on the basis of the intensity of C-Kα ray, of 1% or more in wavelength analysis of C-Kα ray by an Electron Probe Micro Analyzer method.例文帳に追加

銅管１の表面には、Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏ Ａｎａｌｙｚｅｒ分析法のＣ−Ｋα線の波長分析において、Ｃ−Ｋα線の強度より算出した表面のカーボン量が、１％以上である炭素化合物からなる皮膜が形成されている。 - 特許庁

To accurately align the position of a converging point of a propagating beam on a measurement surface of a sample on measuring a wide range with propagating light, and to always obtain the highest resolution by devising a method and a means to control the distance between a light probe and a sample.例文帳に追加

光プローブと試料間距離を制御する方法や手段について工夫することにより、伝搬光による広範囲測定において、伝搬光束の集光点を試料の被測定面に対して正確に位置調整して、常に最も高い分解能を実現すること。 - 特許庁

Hybridizing is performed with a fluorescent label probe, specifically combined with respect to telomere and centromere using a tissue FISH method, relative fluorescent amount ratio (T/CR) of the both is determined, and normal tissue and cancerous tissue are discriminated, by comparing and analyzing the T/CR of the normal tissue and cancerous tissue.例文帳に追加

組織ＦＩＳＨ法を用いて、テロメアとセントロメアに対し特異的に結合する蛍光標識プローブでハイブリダイズし、両者の相対的な蛍光量比（Ｔ／ＣＲ）を求め、正常組織と癌組織のＴ／ＣＲを比較解析することにより正常組織と癌組織を鑑別する。 - 特許庁

To materialize tuning adjustment of resonance characteristics without lowering a high Q-value essentially possessed by an antenna coil of small resistance loss, and to provide a circuit structure for a probe antenna with the number of turns increased and its mounting method, as to a nuclear magnetic resonance (NMR) measuring instrument.例文帳に追加

核磁気共鳴（ＮＭＲ）計測装置において、抵抗損失の小さいアンテナコイルが本来有する高いＱ値を低下させることなく、共振特性の同調整合を実現すること、および、ターン数を増大できるプローブアンテナの回路構成および実装方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a board-inspecting apparatus and a board inspection method whereby electronic circuit boards can be inspected with a high reliability by surely bringing probe pins in contact with inspection pads even when the inspection pad formed to the electronic circuit board to be inspected has a considerably small area.例文帳に追加

検査対象となる電子回路基板に形成された検査用パッドがきわめて小面積であるような場合にも、プローブピンを検査用パッドに確実に接触させて信頼性の高い基板検査を行うことが可能な基板検査装置及び基板検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device capable of accurately measuring a hole passage even with an angular velocity meter of large bias by canceling the bias specific to the angular velocity meter by subtracting an angular velocity bias value obtained by averaging angular velocity signals of a probe in a rest time from subsequent angular velocity signals.例文帳に追加

本発明は、プローブの静止時間の角速度信号を平均化して得た角速度バイアス値を以降の角速度信号から差し引くことにより、角速度計固有のバイアスをキャンセルし、バイアスの大きい角速度計でも高精度の孔路計測を行うことを目的とする。 - 特許庁

The method for analyzing gene expression data comprises, in calculating an expression error on a gene expression amount and analyzing the same gene expression amount on a plurality of related oligonucleotide arrays, detecting a probe outlier so as not to cause inconsistency of the expression amount and reanalyzing the expression amount having higher precision.例文帳に追加

遺伝子発現量に対して発現エラーを算出し、さらに、関連する複数のオリゴヌクレオチドアレイに対して同一の遺伝子の発現量解析を行なう場合、発現量の矛盾を引き起こさないようにプローブアウトライアーを検出し、より精度の高い発現量を再解析する。 - 特許庁

To provide a concentration determination apparatus, a probe, a concentration determination method and a program attaining the miniaturization of the apparatus and considerable reduction in measuring time while securing accuracy in determining glucose concentration in a living body by accurately acquiring the resting state, active state, etc., of the living body.例文帳に追加

生体の安静状態や活動状態等を正確に把握し、生体中のグルコース濃度を定量する精度を確保しつつ、装置の小型化、測定時間の大幅短縮が可能な濃度定量装置とプローブ及び濃度定量方法並びにプログラムを提供する。 - 特許庁

To precisely measure the temperature characteristics of electronic components, by preventing to the utmost, occurrence of heat movement from the electronic component via an inspection probe abutting against the electronic component to be inspected, and to provide an inspection apparatus and an inspection method capable of performing quick and accurate inspection.例文帳に追加

検査対象となる電子部品に当接される検査プローブを介して、電子部品から熱の移動が起こることを極力防止して、電子部品の温度特性を精密に計測できるようにし、正確な検査を迅速に行うことができる検査装置と検査方法を提供する。 - 特許庁

This chip/analyzer/method is provided with a plurality of working electrodes 141 fixed respectively to the same nucleic acid probe having a nucleic acid complementary to a target nucleic acid, and having sensor areas different respectively each other, and a normalization circuit for normalizing detection signals obtained by the working electrodes 141 as to the respective sensor areas.例文帳に追加

標的核酸と相補的な核酸を有する同一の核酸プローブが各々に固定化され、かつ各々が異なるセンサ面積を有する複数の作用極１４１と、作用極１４１で得られた検出信号を各々のセンサ面積について正規化する正規化回路とを備える。 - 特許庁

The method for analyzing nucleic acids comprises hybridizing a probe containing a signal-generating substance with a target nucleic acid, acting an endonuclease and an exonuclease or a protein having an activity of the exonuclease on it an releasing the signal-generating substance for detecting the gene mutation, the restriction enzyme-recognizing sequence and specific sequence in a high sensitivity.例文帳に追加

標的核酸にシグナル発生物質を含有するプローブをハイブリダイゼーションし、エンドヌクレアーゼおよびエキソヌクレアーゼ、またはエキソヌクレアーゼ活性を有するタンパク質を作用させ、シグナル発生物質を遊離させることにより、遺伝子変異、制限酵素認識配列、特定配列を高感度に検出する。 - 特許庁

In this production method of a sensor probe for substrate inspection, an electrode layer consisting of a multitude of sensor electrodes 40, a lead wire layer consisting of a multitude of lead wires 50 for transmitting signal outward and a bridge layer 41 connecting the electrode layer and the lead wire layer are piled on a silicon plate base 30.例文帳に追加

珪素の平板ベース（３０）上に、多数のセンサ電極（４０）からなる電極層と、外部に信号を伝搬するために多数のリード線（５０）からなるリード線層と、前記電極層とリード線層との間を繋ぐブリッジ層（４１）とが成層化された基板検査用センサプローブの製造方法。 - 特許庁

In the method for detection, a wild-type probe having a sequence complementary to a wild-type sequence of a target nucleic acid at the ratio of 1:2 or more of Tm values of the sequences on both sides of a site having the insertion mutation which may be present on the target nucleic acid and placed between the sequences is used.例文帳に追加

本発明の検出方法では、前記標的核酸の野生型の配列と相補的な配列を有し、前記標的核酸上に挿入変異が存在しうる部位を挟んで両側の配列が1：2以上の比率のＴｍ値比を有することを特徴とする野性型プローブを用いる。 - 特許庁

The manufacturing method includes: segmenting a comb-like portion 16 from a metal thin plate 15 with a thickness of 30 μm or less using a convergent ion beam processing technique; and mounting and integrating the comb-like portion with the probe supporting part 12 of a mechanism capable of manipulation within a vacuum device, using a gas deposition function.例文帳に追加

その製造方法は、３０μｍ厚み以下の金属薄板１５から櫛形状部位１６を集束イオンビーム加工技術により切り出し、真空装置内でマニピュレート操作できる機構のプローブ支持部１２に、ガスデポジション機能を用いて取り付けて一体化する。 - 特許庁

A method for inspecting the printed circuit board makes the printed circuit board for mounting the semiconductor integrated circuit coping with boundary scanning, pass through a thermal impact chamber 2 to give thermal impact so as to push a probe 37 for a wiring pattern in the printed circuit board connected to an input terminal and an output terminal of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バウンダリスキャン対応の半導体集積回路が実装されたプリント基板を熱衝撃室２を通過させて熱衝撃を与え、半導体集積回路の入力端子及び出力端子に接続されるプリント基板内配線パターンに対してプローブ３７を押し当てる。 - 特許庁

In a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device, a plurality of test element areas are arranged with different pitches near chip areas on a wafer, and in a probe test, they are electrically measured, so that local process variations are monitored.例文帳に追加

本願の一つの発明は、半導体集積回路装置の製造方法において、ウエハ上のチップ領域の近傍に複数のテスト素子領域を異なるピッチで配列し、プローブテストにおいて、それらを電気的に計測することにより、プロセスの局所的ばらつきをモニタするものである。 - 特許庁

To provide a molecular recognition probe for obtaining a signal-on type detection method in which electrochemical signals are increased following recognition of an object material, without requiring labeling on the object material and addition of a marker into measuring solution, and to provide a molecular recognition sensor.例文帳に追加

目的物質へのラベル化および測定溶液へのマーカーの添加を必要とせず、かつ目的物質の認識に伴い電気化学信号が増加するｓｉｇｎａｌ−ｏｎ型の検出法を実現するための分子認識プローブおよび分子認識センサを提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a piezoelectric, a piezoelectric, an ultrasonic probe, ultrasonic diagnostic device and nondestructive inspection equipment with which highly reliable ultrasonic diagnosis is realized using a plurality of piezoelectrics of an identical shape having thickness distribution produced with high accuracy.例文帳に追加

厚み分布を有する同一形状の圧電体を精度よく複数作製し、この圧電体を用いて信頼性の高い超音波診断などを実現するための圧電体の製造方法、圧電体、超音波探触子、超音波診断装置および非破壊検査装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain an inspection method of a semiconductor device employing a movable stage to which a semiconductor device can be secured, and a stage for cleaning a probe pin in which electrical inspection of a semiconductor device can be performed with high precision.例文帳に追加

本発明は、半導体装置を固定すると共に、移動可能な構成とされた半導体装置用ステージと、プローブピンをクリーニングするクリーニングステージとを備えた検査装置を用いた半導体装置の検査方法に関し、半導体装置の電気的検査を精度良く行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a method in which a probe can approach so as to accurately and softly come into contact with a minute sample only by operating a manipulator while performing microscope observation without requiring special detection means, and to provide a device for executing the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、特別な検出手段を要せず顕微鏡観察しながらマニピュレータを操作するだけで微小な試料へプローブが確実に且つソフトに接触するようにアプローチ出来る手法を提示すると共に、それを実行する装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a sheetlike probe which has surface electrodes each having a small diameter and a large projection height from an insulating film and enables sure attainment of a stable state of electric connection even for electrodes to be checked which are formed with small pitches, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

径が小さく、絶縁膜からの突出高さが高い表面電極を有し、小さいピッチで電極が形成された被検査電極に対しても安定な電気的接続状態を確実に達成することができるシート状プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe needle capable of maintaining measurement accuracy by reducing a contact resistance value between itself and an electrode by piercing an insulating film formed on the electrode surface without generating a great damage or deformation on the electrode of a measuring object, and its manufacturing method.例文帳に追加

被測定体の電極に大きな傷を付けたり変形を生じさせたりすることなく、電極表面に形成される絶縁膜を突き破り、電極との間の接触抵抗値を低下させて測定精度を維持することができるプローブ針及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To exactly perform correlation computation processing even between pieces of X-ray image data which are acquired by different sequences and in which displacement exists regarding an X-ray image data processing method and device in an EPMA (electronic probe microanalyzer).例文帳に追加

本発明はＥＰＭＡ(電子プローブマイクロアナライザ)におけるＸ線像データ処理方法及び装置に関し、異なるシーケンスで取得し位置ずれが存在しているＸ線像データ同士であっても、相関演算処理を正確に行なうことができるようにすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a near-field light probe capable of demonstrating an avalanche effect, improving photodetection sensitivity, improving the efficiency of detecting scattered light or the like generated by near-field light and lowering the noise of photodetection, and its manufacturing method.例文帳に追加

本発明は、アバランシェ効果を発揮し、光検出感度を高めることができ、近接場光により発生した散乱光等の検出効率を高めることができると共に光検出の低雑音化を図れる近接場光プローブ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The semiconductive belt includes an elastic layer made of a semiconductive rubber and a surface layer, wherein the surface layer is composed of a resin layer, containing a polytetrafluoroethylene resin fine powder, and a hardness-corresponding peak voltage value of the surface layer measured by an SPM (scanning probe microscope) method is ≤-6.35 V.例文帳に追加

半導電性ゴムからなる弾性層と表面層からなり，表面層はポリ四フッ化エチレン樹脂微粉末を含有する樹脂層からなり，表面層のＳＰＭ法（走査型プローブ顕微鏡）で測定した硬度対応ピーク電圧値が−６．３５Ｖ以下である半導電性ベルトとする。 - 特許庁

To provide a profile measuring machine and a profile measuring method which enable the implementation of implementing roundness correction processing of probe tip balls without having to use a reference sphere or being affected by profile irregularities of a reference sphere even in the case of using one and highly accurately and easily measuring the shape of works.例文帳に追加

基準球を用いなくても、または基準球を用いた場合でも、その面精度に影響されないプローブ先端球の真球度補正処理を実現し、より高精度かつ容易にワークの形状を測定することができる形状測定機および形状測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a measuring device and method attaining appropriate measurement to each measuring object to shorten a measuring time by suitably controlling a measuring mode based on determination of the presence/absence of the measuring object held by a shape maintaining member in a scanning region of a probe.例文帳に追加

探触子の走査領域において形状維持部材で保持された測定対象の有無の判定に基づき適宜に測定態様の制御を行い、各測定対象に対して適切な測定を可能として測定時間の短縮を可能とした測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).例文帳に追加

これにより得られたＴｉ−Ａｌ系合金ターゲットは、Ａｌを４５〜６５原子％含有し、Ｘ線回折で分析したときにＴｉ_３Ａｌ，ＴｉＡｌ，ＴｉＡｌ_２，ＴｉＡｌ_３の少なくとも２種以上の相を含み、ＥＰＭＡ分析をしたときに単体の金属Ｔｉ及び金属Ａｌが残存していない。 - 特許庁