「Z test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The pollution rate (1-a) of the test window 21-1 is calculated based on the equation [1-a=1-(XY/Z)^1/2].例文帳に追加

そして、式［１−ａ＝１−（ＸＹ／Ｚ）^１／２］に基づき、試験窓２１−１の汚損率（１−ａ）を算出する。 - 特許庁

Test data set so that the total values are X, Y and Z are stored in the addresses with a, b and c added to the head addresses respectively.例文帳に追加

先頭番地にａ、ｂ、ｃ、ｄをプラスした番地には、それぞれ合計した値がＸ、Ｙ、Ｚとなるように設定されたテストデータが記憶されている。 - 特許庁

In the austenitic stainless steel foil as a stainless steel strip for a spring of JIS Z 4313 SUS301-CPS, a yield point is exhibited in a stress-strain diagram on a tensile test based on JIS Z 2241.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｚ ４３１３ ＳＵＳ３０１−ＣＰＳのばね用ステンレス鋼帯であるオーステナイト系ステンレス鋼箔において、ＪＩＳ Ｚ ２２４１に基づいて引張試験をしたときの応力—歪み線図に降伏点を発現させる。 - 特許庁

It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加

通常ユーザーが使用時にはＨｉ−Ｚになり得ない端子が、検査時にＨｉ−ＺであることをＬＳＩ内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁

In the analysis regarding the comparison of electroencephalogram frequency components in the group 2, by using the Z value which has been obtained by the analysis of the individual data as the sample to be used for the Mann-Whitney test (U test), the statistic index value (Z value) is introduced, and the quantitative evaluation is made possible.例文帳に追加

２群における脳波周波数成分の比較に関する解析では、個人データの解析で得られたＺ値をマンフォイトニー検定（Ｕ検定）に用いるためのサンプルとして用いることで、統計指標値（Ｚ値）を導入し、定量評価を可能とする。 - 特許庁

The substrate supporting member is a test table in which X, Y and Z axes are movable, while the prober positioning assembly is movable to the test table.例文帳に追加

基板支持部はＸ、Ｙ及びＺ軸の移動が可能なテストテーブルであり、プローバ位置決めアセンブリはテストテーブルに対して移動可能である。 - 特許庁

To provide a triaxial linear motion stage and a test piece inspection device using it holding a predetermined test piece and comprising X-axis, Y-axis and Z-axis stages precisely moving the test piece in the X-axis, Y-axis and Y-axis linear directions of a rectangular coordinate system independently of one another.例文帳に追加

本発明は、所定の試片を支持し、その試片を直角座標系のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸直線方向へ互いに独立的で、精密に移動させるＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸ステージなどを含む３軸直線運動ステージ及びそれを用いた試片検査装置に関する。 - 特許庁

It is described in the example with the result of the pharmacological test that the blood level of hormone Y secreted by the pituitary gland changes by administration of compound A to the particular site Z in the human brain, and that as a result ovary cancer diminishes more compared to the conventional treatment by intravenous administration. 例文帳に追加

実施例において、化合物 Aをヒトの脳内の特定部位 Zに投与することにより、脳下垂体から分泌されるホルモン Yの血中濃度が変化すること、及び、その結果、従来の静脈投与による治療に比して、卵巣癌がより縮小することを示す薬理試験結果が記載されている。 - 特許庁

In addition, a T-test is conducted for two groups of the patients having benign disease of pancreas and cholepathia and the patients suffering from pancreatic cancer to show significant difference (p<0.05) and specify two saccharide chains including 3031 m/z and 2362 m/z as the saccharide chains indicating twice or more difference in expression amount.例文帳に追加

さらに、膵胆道良性疾患と膵臓癌との２群間に対してＴ−ｔｅｓｔを行い、有意差（ｐ＜０．０５）を示し、且つ、発現量の差が２倍以上を示す糖鎖として、３０３１ｍ／ｚ及び２３６２ｍ／ｚの２つの糖鎖を特定した。 - 特許庁

In this semiconductor tester, a manipulator 4 supporting a performance board 5 and a test head 2 is capable of independently moving rectilinearly in the horizontal forward and backward direction (the X-axis direction), horizontal left and right direction (the Y-axis direction), and vertical up and down direction (the Z-axis direction).例文帳に追加

パフォーマンスボード5及びテストヘッド2を支持するマニピュレータ4を、水平前後方向(X軸方向)及び水平左右方向(Y軸方向)ならびに垂直上下方向(Z軸方向)に、それぞれ独立して直線的に移動可能に形成して半導体試験装置を構成した。 - 特許庁

Also, a voltage is applied between the displacement electrode 25 and the fixed electrode 15 for operating Coulomb force, and the output of the detection means is monitored to test the operation of the direction of Z axis while the operation part 321 is forcibly displaced in the direction of Z axis.例文帳に追加

また、変位電極２５と固定電極１５との間に電圧を印加してクーロン力を作用させ、作用部３２１をＺ軸方向に強制変位させた状態において、検出手段の出力をモニタしＺ軸方向の動作試験を行う。 - 特許庁

After color balance adjustment, color pixels 8a to 8d formed at four corners of a display area Z of a display unit 2, out of a plurality of color pixels 8 formed in the display area Z are caused to emit light with high luminance for a set test time, and average emission luminance of the color pixels 8a to 8d immediately after the set test time is measured.例文帳に追加

色バランス調整を行った後に、表示ユニット２の表示エリアＺに形成された複数のカラー画素８のうち、該表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８ａ〜８ｄを設定検査時間、高輝度で発光させて、設定検査時間直後のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度を測定した。 - 特許庁

Further, the pressure-sensitive adhesive sheet preferably has ≥1.0 N/10 mm pressure-sensitive adhesion measured according to JIS Z 0237 in -15°C circumstance by using a polypropylene plate as the adherend and/or ≤10 mm peeled distance of the test piece end part in the curved surface adhesion test.例文帳に追加

また、上記粘着シートは−１５℃の環境下、ポリプロピレン板を被着体としてＪＩＳ Ｚ ０２３７に準じて測定される粘着力が１．０Ｎ／１０ｍｍ以上、及び／又は曲面接着性試験において試験片端部の剥がれた距離が１０ｍｍ以下であることが好ましい。 - 特許庁

To realize a test device having a loop antenna of which the size can be easily changed corresponding to the change of the size of a tested device, with respect to the test device having the plurality of loop antennas mounted in X, Y and Z axial directions so as to surround the tested device placed on a pedestal.例文帳に追加

台座上に置かれた被試験装置の周囲をかこむようにＸ、Ｙ、Ｚ軸方向に設けられた複数のループアンテナを有する試験装置において、被試験装置の大きさの変化に対し容易に大きさを変えられるループアンテナを有する試験装置を実現する。 - 特許庁

A Z operation part 9 determines respective measured output values of the vector ratio measuring device 8, and calculates the test impedance from the ratio between the output values.例文帳に追加

Ｚ演算部９では、測定されたベクトル比測定器８のそれぞれの出力値を求め、これら出力値の比から供試インピーダンスを算出する。 - 特許庁

The resin coating film is formed in such a manner that the antibacterial activity measured in conformity to JIS Z 2801 "Antimicrobial Test" is ≥50% based on the antibacterial member before forming the resin coating film.例文帳に追加

樹脂塗膜は、ＪＩＳ Ｚ ２８０１の抗菌性試験法による抗菌活性値が、これを形成する前の抗菌部材の５０％以上となるように形成されていることが好ましい。 - 特許庁

To prepare a criteria for function evaluation by using conversion using a primary function without using a function and a table for Z conversion which cannot be expressed by primary function in the case of preparing the criteria of the function evaluation of a plurality of test samples.例文帳に追加

複数のテストサンプルの官能評価の尺度を作成する際、初等関数で表されないＺ変換の関数や数表を用いることなく、初等関数を用いた変換を用いて官能評価の尺度を作成する。 - 特許庁

It is preferable further to have a relation in the all combinations that the ratio of the fluidity (sec/g) of the granular fertilizer measured using a funnel type orifice tube having 12 mmϕ diameter based on the fluidity test method (JIS Z 2502) is 0.8-1.3.例文帳に追加

日本工業規格による流動度試験方法（ＪＩＳ Ｚ ２５０２）に基づいて オリフィス径12mmφの漏斗状オリフィス管を用いて測定される、 粒状肥料の流動度（秒／ｇ）の比が、０．８〜１．３。 - 特許庁

The test data so set as to have the values which reach X, Y and Z respectively in total is stored at the head addresses plus a, b, c or d.例文帳に追加

先頭番地にａ、ｂ、ｃ、ｄをプラスした番地には、それぞれ合計した値がＸ、Ｙ、Ｚとなるように設定されたテストデータが記憶されている。 - 特許庁

The force sensor 10 is also arranged so as to detect at least one of the forces acting in the height direction (z) of the test vehicle, force acting in the width direction (y) and force acting in the longitudinal direction (x).例文帳に追加

また、該力センサ１０を、前記テスト車両の高さ方向ｚに作用する力、同幅方向ｙに作用する力及び同前後方向ｘに作用する力のうち少なくともいずれかを検出するよう設定した。 - 特許庁

To provide an image generation system capable of making a pseudo LESS judgment by using the GREATER judgment of a Z test or vice versa, a program and an information storage medium.例文帳に追加

ＺテストのＧＲＥＡＴＥＲ判定を用いて擬似的にＬＥＳＳ判定を行うことまたはその逆が可能な画像生成システム、プログラム及び情報記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

In this method, mass and a Z position of the mass which are required to add to the system to statically balance and dynamically balance the system are determined in trial run and test operation.例文帳に追加

試運転及び試験運転により、システムの静的バランス及び動的バランスを取るために該システムに追加する必要のある質量及び該質量のＺ位置が決定される。 - 特許庁

The microscope instrument includes a Z stage 15 for moving an objective lens 11 vertically, a focus point detection system 30 for irradiating a test substance 21 with measuring light for focusing detection, a signal processing part 41 for controlling the Z stage 15 based on the focusing detection result, and a measuring part 42 for measuring the amount of movement of the objective lens 11.例文帳に追加

顕微鏡装置は、対物レンズ１１を上下移動させるＺステージ１５と、被検体２１に測定光を照射して合焦検出する焦点検出系３０と、合焦検出結果に基づいてＺステージ１５を制御する信号処理部４１と、対物レンズ１１の移動量を測定する測定部４２とを有する。 - 特許庁

The movement amount (Geometric-Offset value) of a cutter moved from the origin of a NC table toward the axis of a test material 66 and an inclination angle θ (namely, the virtual data on the virtual moving path of a tip 26A relative to a long workpiece) are set in X- and Z-directions.例文帳に追加

Ｘ方向およびＺ方向について、ＮＣテーブル原点からテスト材６６の軸心へ向かって移動する移動量（Ｇｅｏｍｅｔｒｉｃ−Ｏｆｆｓｅｔ値）及び傾き角度θ（即ち、長尺ワークに対するチップ２６Ａの仮想移動軌跡の仮想データ）を設定する。 - 特許庁

In a certifying test device, separately from magnetic head 4, a certifying zone batch magnetic field application means 10-1 and a uniaxial stage 41 for moving this means 10-1 in an up-and-down Z direction to serve as an AC demagnetization device 01.例文帳に追加

サーティファイ試験装置に磁気ヘッド４とは別に、サーティファイ帯一括磁界印加手段１０−１と、この手段１０−１を上下のＺ方向に移動させる一軸ステージ４１とを設けて交流消磁装置０１を兼ねさせる。 - 特許庁

When the result of the addition of the test data read out from the positions where the data storage media 124-1 to 3 should be placed do not give the values obtained at the respective head addresses and yet give any of X, Y or Z, it is judged that the data storage media at the positions involved are wrong in placement.例文帳に追加

各データ記憶媒体１２４−１〜３を搭載すべき位置から読み出したテストデータの加算結果がその先頭番地の値とはならないが、Ｘ、Ｙ、Ｚのいずれかとなった場合には、当該位置に搭載されたデータ記憶媒体が間違っていると判断される。 - 特許庁

If a fault occurs in any unit with transmission and reception of the fault test signal, the monitoring following stage unit cuts off the fault unit from the loop according to a reverse portion bypass instruction signal B-x-y-z, thereby realizing lessening the load on the host unit and reducing the fault recovery time.例文帳に追加

この障害テスト信号の送受信により、ある装置で障害が発生した場合は、監視している後段の装置が障害装置を逆ポートバイパス指示信号Ｂ＿ｘ＿ｙ＿ｚにてループ上から切り離すことで、ホスト装置の負担軽減、障害回復時間の短縮を実現する。 - 特許庁

A plurality of primitives are sorted, based on data stored in a primitive buffer 21 about a plurality of primitives, into first primitives to be displayed on a display 41 and second primitives not to be displayed, which is accomplished by an XYZ clip section 23, a Z-test section 25, and a stencil test section 27.例文帳に追加

複数のプリミティブを、プリミティブバッファ２１に格納されている複数のプリミティブについてのデータに基づいて、ＸＹＺクリップ部２３、Ｚテスト部２５、ステンシルテスト部２７により、ディスプレイ４１に表示される第１のプリミティブと表示されない第２のプリミティブとに選別する。 - 特許庁

The hold voltage Vhold is applied to an upper electrode 14, while the grounding voltage Vss is applied to a lower electrode 15, and subsequently the voltage BE on the lower electrode 15 is used as the test voltage Vtest to separate the hold voltage Vhold on the upper electrode 14 so that the voltage TE on the upper electrode 14 may be placed in a high impedance state (hi-Z).例文帳に追加

上部電極１４にはホールド電圧Ｖｈｏｌｄを、下部電極１５には接地電圧Ｖｓｓを印加し、その後、下部電極１５の電圧ＢＥを試験電圧Ｖｔｅｓｔとしてから上部電極１４のホールド電圧Ｖｈｏｌｄを切り離して上部電極１４の電圧ＴＥを高インピーダンス状態（ｈｉ−Ｚ）とする。 - 特許庁

The number of polygons consisting of the polygon groups arranged in a second direction is decided so that image data corresponding to the polygons positioned at the border sections to the object blocks among polygons consisting of a just before block that is a just before block of the object blocks is stored in a z data cache 126 when a depth test is performed by using image data corresponding to the polygons consisting of the object blocks.例文帳に追加

ポリゴン群を構成するポリゴンの第１の方向に並ぶ数は、対象ブロックを構成するポリゴンに対応する画素データを用いてデプステストが行われるときに、その対象ブロックの直前の対象ブロックである直前ブロックを構成するポリゴンのうち、対象ブロックとの境界部分に位置するポリゴンに対応する画素データを、ｚデータキャッシュ１２６が記憶しているように、決定される。 - 特許庁