「center marks」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Further, positioning marks 12b are formed in the housing 12 and the positioning marks 12b are also formed in point symmetry with respect to the center point A.例文帳に追加

また、ハウジング部１２には、位置合わせ用マーク１２ｂが形成され、この位置合わせ用マーク１２ｂも、中心点Ａに対して点対称位置に形成されている。 - 特許庁

At an initial stage, the marks 1, 2, 5 and 6 are previously disposed so that centers of both the marks coincide and the center of the mark 6 is offset from that of the mark 5.例文帳に追加

初期段階では、両アライメントマーク１，２の中心が一致し、アライメントマーク６の中心がアライメントマーク５の中心に対してオフセットとなる様に、各アライメントマーク１，２，５，６を予め配置する。 - 特許庁

The dotted mark (M), most superior in visibility in the group of the non-epitaxially grown dotted marks (M), is extracted from the group of the non-epitaxially grown dotted marks (M) and the orientation of the crystal axis of the wafer W is specified from this dotted mark (M) and the center of the wafer (W).例文帳に追加

前記非エピ成長ドットマーク(M) の群にあって最も視認性に優れたドットマーク(M) を抽出し、このドットマーク(M) とウェハ中心とから結晶軸の方位を特定する。 - 特許庁

A focus monitor mark is composed of a transparent film 801 at the periphery, a light shied film 802 in the center, and first monitor marks 101 and second monitor marks 102 that serve as openings.例文帳に追加

フォーカスモニタマークは、周辺部分の半透明膜部８０１、中央部分の遮光膜部８０２、そして開口部である第１のモニタマーク１０１及び第２のモニタマーク１０２から構成されている。 - 特許庁

The marks 5 disposed before and after the axial direction of the piece 4 of the plurality of the marks 5 formed on the piece 4 are formed at positions deviated at 180° in a rotating direction of the piece 4 at its axis as a center.例文帳に追加

この工作物４に形成された複数の条痕５のうち工作物４の軸方向において前後して配置される条痕５は、工作物４の軸を中心とした回転方向において１８０度ずれた位置に形成されている。 - 特許庁

Exposure holes 142 are previously provided at parts corresponding to the cut marks 123 of the center of the green sheet 12 at the green sheet 14.例文帳に追加

また、グリーンシート１４において、グリーンシート１２の中央のカットマーク１２３に対応した部分に予め露出穴１４２が設けられている。 - 特許庁

Fold marks 3 of swollen shape are put to the center parts of both edges 2 of the long sides of the towel 1.例文帳に追加

タオル（１）の長い方の両へり（２）の中央に、盛り上がった形状の折り目マーク（３）を取り付ける。 - 特許庁

The hub 9 is constructed so as to tilt in the direction of arrow marks C_1, C_2 (back and forth direction) with a vertically extending axis J as a center.例文帳に追加

また、ハブ９は、上下方向に延びる軸Ｊを中心として矢印Ｃ__1，Ｃ_2方向（前後方向）に傾動可能な構成となっている。 - 特許庁

To quickly display logo marks of surrounding facilities even when the center position of a displayed map moves by a scroll operation or the like while the map is displayed.例文帳に追加

地図表示中に、スクロール操作などにより地図表示の中心位置が移動した場合でも、迅速に周辺の施設のロゴマークを表示する。 - 特許庁

The scale marks 12 has half-areas 12A, 12B displayed in separate colors using the center in the width direction of the scale mark as a boundary.例文帳に追加

目盛線１２は、その線の幅方向中央を境界として半分領域１２Ａ、１２Ｂが区別された色で表示されている。 - 特許庁

Registration marks are formed at the front, center, and rear of a transfer belt, and they are detected by a displacement detector, (step S1, S2).例文帳に追加

転写ベルトの手前側、中央部、奥側にレジストマークを形成し、これらを位置ずれ検出器で検出する（ステップＳ１、Ｓ２）。 - 特許庁

The alignment of the divided exposure with marks for simultaneous exposure is made possible by moving the 'alignment center' in the manner described above.例文帳に追加

このように、「合わせ中心」を移動することによって、一括露光用のマークで分割露光の位置合わせが可能になる。 - 特許庁

After the test, the material testing machine calculates the distance from the detection arm 52 to the measurement position of the center between the pair of gauge marks.例文帳に追加

試験終了後、検出腕５２から一対の標点間中央の計測位置までの距離を演算する。 - 特許庁

To raise the mounting accuracy by eliminating the measured gravity center position error due to photographing of alignment marks provided on an electrical circuit board or components mounted thereon.例文帳に追加

電気回路基板やその実装部品に設けるアライメントマークの撮像による測定重心位置の誤差をなくし、実装精度を高める。 - 特許庁

The distance between the center positions of the first strip marks 12 and the second belt-like marks 13 is 0 in the center registering mark assembly 11a, and is sequentially increased toward the lateral registering mark assemblies.例文帳に追加

第１帯状マーク１２の中心位置と第２帯状マーク１３の中心位置との間の距離は、中央の見当合せマーク集合体１１ａにおいて０となっており、左右の見当合せマーク集合体に向って順次大きくなっている。 - 特許庁

The plurality of measurement marks 6 are arranged on the top of regular polygon formed therearound, with the rotation center of the encoder disk 4 as the center of rotation.例文帳に追加

複数の計測マーク６は、エンコーダディスク４の回転中心を中心としてその周りに形成される正多角形の頂点に配置されていることを特徴とする。 - 特許庁

A second rotation center position specifying part 64 specifies a second rotation center position corresponding to the first point in a second imaging coordinate system on the basis of respective second reference marks included in respective second images.例文帳に追加

第２回転中心位置特定部６４がそれぞれの第２画像に含まれるそれぞれの第２基準目印に基づいて、第２撮像座標系における第１点に対応する第２回転中心位置を特定する。 - 特許庁

A first rotation center position specifying part 62 specifies a first rotation center position corresponding to a first point in a first imaging coordinate system on the basis of respective first reference marks included in respective first images.例文帳に追加

第１回転中心位置特定部６２がそれぞれの第１画像に含まれるそれぞれの第１基準目印に基づいて、第１撮像座標系における第１点に対応する第１回転中心位置を特定する。 - 特許庁

A mounting part 41 for mounting a matrix 23, of the positioning tool 4 is formed with a plurality of grooves 414 which are circular marks having the same center axis as the center axis of the recessed parts 222 to be formed.例文帳に追加

位置決め治具４の母型２３を取り付ける装着部４１には、形成される凹部２２２の中心軸と同一の中心軸を有する円形のマークである溝４１４が複数形成されている。 - 特許庁

The respective center positions of the rotating angle calculation marks 15 are existent within a range 13 mm to 17 mm apart from the center mark 13.例文帳に追加

回転角度算出マーク１５のそれぞれの中心位置は、中心マーク１３の中心位置から１３ｍｍ以上１７ｍｍ以下の領域内に存在している。 - 特許庁

A conversion coefficient for converting a displacement on the photographed image into a displacement in an actual space is calculated from the distance between each center on the photographed image of the pair of circular marks 81 and a distance between each center in the actual space.例文帳に追加

一対の円形標示８１の撮影画像上の中心間距離と実空間の中心間距離から、撮影画像上の変位量を実空間の変位量に換算する換算係数を算出する。 - 特許庁

A groove whose cross section is V-shaped for fixing a writing tool is provided on a conventional measuring tape body, a hole for a center point is provided on a tape with scale marks, and the circle or the arc is drawn with it as the center point.例文帳に追加

従来の巻尺本体に筆記用具固定用の断面Ｖ字溝が設けられており、目盛付きテープに中心点用の孔が設けられ、ここを中心点として円形又は弧形を描図する。 - 特許庁

A plurality of annular positioning marks 114 of concentric circles with the rotational center of the chuck table 102 set as the center of the circles are arranged on a placing surface of the chuck table 102.例文帳に追加

さらに，チャックテーブル１０２の載置面に，チャックテーブル１０２の回転中心を円の中心とした同心円の複数の環状位置決めマーク１１４を配置する。 - 特許庁

Actual marks on a pavement are selected on the image photographed by the first camera 1, the direction of the second camera 2 is determined when these marks are photographed in the center of the image by the second camera 2, and then the position of the first camera 1 is calculated.例文帳に追加

即ち、実際の路面上の目印を第１のカメラ１で撮影した画像上で選択し、第２のカメラ２でこれらの目印を画像の中心で撮影した時の、第２のカメラ２の方向を求め、第１のカメラ１の位置を算出する。 - 特許庁

When alignment marks 159 of two printed wiring boards 10 arranged adjacent to each other are simultaneously imaged by using the recognition camera to recognize the two alignment marks respectively, a position of the recognition camera is adjusted such that each of the alignment marks is positioned equidistant from the center of an imaging region of the recognition camera.例文帳に追加

隣接して配置された２枚のプリント配線板１０のアライメントマーク１５９を認識用カメラで同時に撮像することで、２個のアライメントマークをそれぞれ認識する際に、各アライメントマークが認識用カメラの撮像領域の中心から等間隔に位置するように認識用カメラの位置を調整する。 - 特許庁

A method for automatically registering the print comprises the steps of detecting straight lines of two colors of central cross-shaped register marks, having the cross-shaped register marks of the colors at the center and the cross-shaped register marks at four corners of a printing sheet by using a Hough transformation; and automatically register correction controlling the crossing points of the two lines as the color register mark positions.例文帳に追加

中央に各色の十字レジスターマーク、四隅に各色の十字レジスターマークが設けられている印刷用紙の、前記中央の十字レジスターマークをハフ変換を用いて、各色２本の直線を検出し、この２本の直線の交点を各色レジスターマーク位置として自動見当補正制御を行うことを特徴とする印刷自動見当合わせ方法を提供する。 - 特許庁

Distance data from the intersection point of each radial axis 312 extended radially from a center located at an optional point with respect to marks appearing on the surface of the human body and the marks, are acquired for every radial axis 312, and the data are recorded as a point 310 from the recording center 330 in a recording radial axis 332 corresponding to the radial axis 312.例文帳に追加

人体の表面に現れる紋の任意の地点に中心を置き前記中心から放射状に伸ばした放射軸３１２と、前記紋との交点の、前記中心からの距離のデータを前記放射軸３１２ごとにとり、記録面においた記録中心３３０から前記データを前記放射軸３１２に対応した記録放射軸３３２に点３１０として記録する。 - 特許庁

In the optical data storage medium, clock tracking marks for obtaining clock signals are provided at a prescribed interval in a track center, and a pair of wobble tracking marks for obtaining tracking error signals are arranged with a prescribed deviation in distance from the track center and with a prescribed deviation in distance in the direction of the track.例文帳に追加

情報を記録する光記録媒体において、トラックセンタにクロック信号を得るためのクロックトラッキングマークが所定距離毎に複数個設け、またトラッキングエラー信号を得るための１対のウォーブルトラッキングマークが前記トラックセンタに対して互いに所定長ずらし、かつトラック方向に所定距離ずらして設ける。 - 特許庁

The alliance marks the first time that realtime recommendation technology will be available in conjunction with CRM contact-center software. 例文帳に追加

この協定によって初めてリアルタイム・リコメンデーション技術がCRM(顧客関係管理)のコンタクトセンタ・ソフトウェアと連携して得られるようになるだろう。 - コンピューター用語辞典

The XY coordinates of alignment marks 1a-1c of an exposure mask 1A for the surface are read out by CCD cameras 4a-4c and the center coordinates and inclination of the exposure mask 1A are found out from the read XY coordinates.例文帳に追加

表面用露光マスク１Ａの位置合わせマーク１ａ〜１ｃのＸ、Ｙ座標をＣＣＤカメラ４ａ〜４ｃで読み取り，それらのＸ、Ｙ座標から露光マスク１Ａの中心座標と傾きを求める。 - 特許庁

The positions of minor strut position marks 61 on the sides of each subfield 42 on a reticle 10 are measured, to roughly know the errors in the subfield center position.例文帳に追加

レチクル１０の、各サブフィールド４２横のマイナーストラットポジションマーク６１の位置を計測し、サブフィールド中心位置の誤差を大まかに把握する。 - 特許庁

A server 31 installed on a monitoring center puts marks of machines and maintenance persons on the map of the designated area displays them on a terminal device of an operator using a machine database 43a, a maintenance person database 43b and a map database 43c.例文帳に追加

監視センタに設置されたサーバ３１は、物件データベース４３ａ、保守員データベース４３ｂ、地図データベース４３ｃを用いて、指定地域の地図に物件と保守員のマークを付してオペレータの端末装置に表示する。 - 特許庁

Data for check marks 20 and 21 of different sizes are added to each pattern gerber data 10 and 11 in addition to the pattern data such that center coordinates are the same.例文帳に追加

各ガーバーデータ１０，１１には、中心座標が同じとなるようにパターンデータの他に大きさの異なるチェックマーク２０、２１のデータが付加される。 - 特許庁

Similarly the XY coordinates of three corners 3a-3c of the substrate 3 corresponding to the alignment marks 1a-1c are read out by the CCD cameras 4a-4c and the center coordinates and inclination of the substrate 3 are found out.例文帳に追加

同様にして位置合わせマーク１ａ〜１ｃと対応した基板３の３つの角隅３ａ〜３ｃのＸ，Ｙ座標をＣＣＤカメラ４ａ〜４ｃで読み取って，基板３の中心座標と傾きを求める。 - 特許庁

Consequently, even if the registration marks 200Y, 200M and 200C are widened, diffuse reflection light is suppressed near the center, and a satisfactory waveform as shown in (B) is obtained.例文帳に追加

このため、各レジストレーションマーク２００Ｙ，２００Ｍ，２００Ｃの幅を広くしても、その中心近傍で拡散反射光が抑制され、（Ｂ）のような良好な波形が得られる。 - 特許庁

The laser marks 101a and 102a intersect on the main face 10a at the region 11 of being nearly center in the y direction and slightly deviated from a central portion in the z direction to the direction of a sealed lid 20.例文帳に追加

そして、各レーザ痕１０１ａ、１０２ａは、主面１０ａにおけるｙ方向略中央部、ｚ方向中央部から封口蓋２０側にやや偏った領域１１で交差している。 - 特許庁

First, a wafer stage is moved so that design positions of respective alignment marks may be on the center of a visual field of an optical microscope, and the positions are measured in this status.例文帳に追加

初めに、各アライメントマークについて、その設計上の位置が光学顕微鏡の視野中心にくるようにウエハステージを移動させてその状態で測定を行う。 - 特許庁

Terminals at three both-end and center positions among external circuit connection terminals 601 formed on a TFT array substrate 10 are formed as marks 610 for alignment which each has an opening part 610a.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板１０上に形成された外部回路接続端子６０１のうち、両端及び中央の３箇所の端子を、開口部６１０ａを有するアライメント用マーク６１０として形成する。 - 特許庁

At least one of recognizing marks 35 of a measuring tool sucked in a mounting head is imaged in the vicinity of the center of a visual field 40 from the lower side, and the position of the recognizing mark 35 is recognized.例文帳に追加

搭載ヘッドにおいて吸着された測定用冶具の認識用マーク３５の少なくとも１つを、下方から視野４０の中央付近で撮像し、該認識用マーク３５の位置認識を行う。 - 特許庁

To provide a wafer washing and drying method which does not leave waterdrop inclusive of the center of a wafer thereby suppressing the occurrence of water marks, in a leaf spinning method.例文帳に追加

枚葉スピン方式において、ウェハ中心付近も含めて水滴を残留させない、ウォータマークの発生を抑制するウェハ洗浄乾燥方法を提供する。 - 特許庁

The marks 3 are provided with a plurality of mark parts 3a formed to contours L1 of a rectangular shape in a state of free length so as to exist at the center in the transverse direction of the bandage cloth 2 apart suitable intervals spaced in the longitudinal direction of the bandage cloth 2.例文帳に追加

前記マーク３は、自由長の状態で矩形状の輪郭Ｌ１に形成されたマーク部３ａが、包帯布２の幅方向の中央に位置して、包帯布２の長手方向に適宜間隔をあけて複数個設けられている。 - 特許庁

Easy-to-see marks 31 are provided in a plurality of positions continuous at size intervals equivalent to a required insertion size m inherent to a joint to be used from respective end parts 30a of both ends of the tube 30 toward a center of length.例文帳に追加

チューブ３０の両端のそれぞれの端部３０ａから、長さの中心に向け、使用するジョイント固有の所要挿入寸法ｍに相当する寸法間隔で連続する複数の位置に目視容易なマーク３１を付した。 - 特許庁

Behind the respective encoder marks 5 in the conveying direction, respective notch cuttings 3C in a protruded dog-leg shape as shown in Fig are detachably formed in nearly the center between the respective cut-positions 3B.例文帳に追加

また、各エンコーダマーク５の搬送方向後ろ側には、各切断位置３Ｂ間のほぼ中央位置に搬送方向後ろ側に凸のくの字形の各切込部３Ｃが形成され切離可能となっている。 - 特許庁

To align a wafer and an exposure mask with high accuracy by providing the center position and another position of the mask base body with marks for alignment with a semiconductor substrate.例文帳に追加

露光用マスクとウェハとの露光位置合わせを高精度に行うことができる露光用マスク、位置合わせ基準ウェハおよび露光位置合わせ方法を提供する。 - 特許庁

Alignment mark is formed at a specified position of the substrate 90, and the gravity center of the alignment marks is detected by the image recognition process by CCDs 106, 107.例文帳に追加

基板９０上の所定位置にはアライメントマークが形成されており、ＣＣＤ１０６，１０７は、画像認識処理によって、アライメントマークの重心検出を行う。 - 特許庁