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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > expansion testの意味・解説 > expansion testに関連した英語例文

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expansion testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 72



例文

ADAPTOR FOR PRESSURE-RESISTANT EXPANSION TEST OF COMPACT HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER, AND PRESSURE-RESISTANT EXPANSION TEST METHOD例文帳に追加

小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法 - 特許庁

EXPANSION OF MEASUREMENT RANGE IN CHROMATOGRAPHY RAPID TEST例文帳に追加

クロマトグラフ迅速試験の測定範囲の拡張 - 特許庁

NON-WATER TANK PRESSURE EXPANSION TEST METHOD FOR HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER例文帳に追加

高圧ガス容器の非水槽式耐圧膨張試験方法 - 特許庁

GAS INJECTION DEVICE FOR AIR BAG EXPANSION TEST例文帳に追加

エアバッグ膨張試験用ガス噴出装置 - 特許庁

例文

WATER-POURING NOZZLE FOR PRESSURE EXPANSION TEST ON HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER AND PRESSURE EXPANSION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

高圧ガス容器の耐圧膨張試験用注水ノズル及び同耐圧膨張試験用注水ノズルを用いた耐圧膨張試験装置 - 特許庁


例文

To provide an ultrahigh temperature thermal expansion testing device capable of simultaneously measuring a thermal expansion test by a contact method using a bar-shaped test piece and a thermal expansion test by a non-contact method.例文帳に追加

棒状試験片を用いた接触法による熱膨張試験と非接触法による熱膨張試験とを同時に計測できる超高温熱膨張試験装置を提供する。 - 特許庁

(A) Amount of expansion in accordance with the immersion and expansion test of steel slag specified in an Appendix 2 of JIS-A5015-1992 is 1.5% or less.例文帳に追加

(イ)JIS−A5015−1992の附属書2に規定する鉄鋼スラグの水浸膨張試験による膨張量が1.5%以下である。 - 特許庁

To provide a testing device for enhancing precision of a test, by making an operation direction of expansion movement in a vibration controller consistent with an operation direction of expansion drive in the testing device.例文帳に追加

防振器の伸縮動と試験装置の伸縮駆動との動作方向を一致させて、試験の精度を向上させる試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a low thermal-expansion double-sided circuit board which can meet a moisture absorption reflow test and is high in reliability and low in thermal expansion coefficient.例文帳に追加

吸湿リフロー試験を満足することができ、信頼性が高く、熱膨張率が低い低熱膨張性両面回路基板を提供する。 - 特許庁

例文

A thermal fatigue test piece 1 having an evaluating part 10 of small cross-sectional area, and two sheets of holder 2 made of a low expansion material having a thermal expansion coefficient lower than that of the thermal fatigue test piece 1 in the test temperature range where a temperature singular point at which the thermal expansion coefficient varies abruptly does not exist are prepared.例文帳に追加

断面積が小さな評価部分10を有する熱疲労試験片1と,試験温度範囲において熱疲労試験片1より熱膨張係数が小さく,かつ熱膨張係数が急激に変化する温度特異点が存在しない低膨張材料からなる2枚のホルダ2とを用意する。 - 特許庁

例文

Do not select nontransparent mode test if SBus cards are installed in the SBus Expansion slots. 例文帳に追加

SBusカードがSBus拡張スロットに実装されている場合は、非透過モードテストを選択しないこと。 - コンピューター用語辞典

In this case, atmosphere of the test environment may be air, introduced gas, or expansion ultracold gas.例文帳に追加

なお、前記試験環境の雰囲気は、空気、導入ガス、または膨張極低温ガスであり得る。 - 特許庁

The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.例文帳に追加

試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁

When residual of the test region becomes less, a region touching internally to an outer peripheral test region (a part of or whole outer peripheral guard region) is made newly an expansion test region, a region touching internally to the expansion test region is made newly the outer peripheral guard region.例文帳に追加

テスト領域の残量が少なくなった時、外周テスト領域に内接する領域(外周ガード領域の一部、あるいは全部)を新たに拡張テスト領域とし、拡張テスト領域に内接する領域を新たに外周ガード領域とする。 - 特許庁

The tool for loading stress is made of a material having a smaller thermal coefficient of expansion than that of the minute test piece, and loads the minute test piece with compressive stress only by high-temperature heating, by utilizing the difference in the thermal coefficients of expansion between materials of different kind.例文帳に追加

応力負荷用治具は微小試験片よりも熱膨張率が小さな材料からなり、異種材料の熱膨張率の差を利用して、高温加熱のみで微小試験片に圧縮応力が負荷されるように構成する。 - 特許庁

Based on given output instruction data, a test information generating unit 11 generates first test information and second test information in the case of carrying out drawing expansion of the first test information in an actual-image output device 3, and a target image output device 2 outputs the first and second test information.例文帳に追加

与えられた出力指示データに基づいて、第1の試験情報と、第1の試験情報を実画像出力装置3で描画展開した場合の第2の試験情報を試験情報生成部11で生成して目標画像出力装置2に出力させる。 - 特許庁

In the electronic instrument provided with an MPU 1, an expansion memory slot 14 and an operation section 9, a test module 15 as a memory with a test program stored therein is mounted in the expansion memory slot 14, and with the MPU 1, the test program is executed to inspect the electronic instrument.例文帳に追加

MPU1と、増設メモリスロット14と、操作部9とを備えた電子機器において、テストプログラムを格納したメモリとしてのテストモジュール15を増設メモリスロット14に装着し、MPU1にテストプログラムを実行させ、電子機器の検査を行う。 - 特許庁

To facilitate the removal of a test piece by preventing a test piece gripped taper bush from being stuck in a chucking rod due to thermal expansion, baking, etc., in a high-temperature high-speed rotary bend fatigue test at medium/high temperatures.例文帳に追加

中・高温の高温高速回転曲げ疲れ試験において、熱膨張、焼き付けなどにより試験片を把持したテーパーブッシュがチャッキングロッドから外れなくなることを防止して試験片の取り外しを容易にする。 - 特許庁

A step of a top module necessary for generating hardware logic simulation includes a step for converting an original unit test into an expansion unit test, and a step for generating an input pattern file by performing a unit test to the wrapper class by the expansion unit test.例文帳に追加

さらにハードウエアロジックシュミレーション発生に必要とするトップモジュールのステップは、オリジナルユニットテストを拡充ユニットテストに転換するステップ、拡充ユニットテストはラッパークラス(wrapper class)に対してユニットテストを行い入力パターンファイルを発生するステップを含む。 - 特許庁

To correctly perform error analysis, a test or the like in a system where data are transmitted over a plurality of lanes and error expansion processing is performed.例文帳に追加

複数レーンでデータを伝送し、エラー展開処理が実行されるシステムにおいて、エラー解析や試験などを正しく行う。 - 特許庁

To reduce expansion of a chip occupancy area in a test signal generating circuit which calibrates both secondary characteristics and I/Q mismatching.例文帳に追加

2次特性とI/Qミスマッチとの両校正動作を行うテスト信号発生回路のチップ占有面積の増大を軽減する。 - 特許庁

In the test operation, an opening of an outdoor expansion valve 26 is determined to allow the refrigerant flowing into a gas-liquid separator 25 to have a pressure lower than the critical pressure.例文帳に追加

試運転では、気液分離器(25)に流入する冷媒が臨界圧力以下となるように室外膨張弁(26)の開度を設定する。 - 特許庁

Load test equipment 1 is used for apprehending a phenomenon on a surface of reinforced concrete caused by expansion of a reinforcing bar.例文帳に追加

鉄筋の膨張が鉄筋コンクリートの表面に生じさせる現象を捉えるための載荷試験装置1である。 - 特許庁

TEMPERATURE COMPENSATION METHOD FOR INSPECTION DATA ERROR CAUSED BY OUTSIDE AIR TEMPERATURE GENERATED AT PRESSURE EXPANSION TEST TIME FOR COMPRESSED-GAS CYLINDER REINSPECTION例文帳に追加

高圧ガス容器再検査の耐圧膨張試験時に生ずる、外気温に起因する検査データ誤差の温度補償方法 - 特許庁

A closed curve 7 formed by conductive material is secured on a surface of a non-conductive sheet 1, and the sheet 1 is adhered to a surface of the test piece 6 measured for expansion distortion so as to make an area of a range surrounded by the closed curve 7 change according to the expansion distortion of the test piece 6.例文帳に追加

非導電性のシート1の面上に導電性材料で形成した閉曲線7を固定し、伸縮ひずみを測定する試供体6の表面に前記シート1を貼り付け、試供体6の伸縮ひずみに応じて前記閉曲線7で囲まれた領域の面積が変化するようにした。 - 特許庁

To provide an adaptor for pressure-resistant expansion test of a compact high- pressure gas container and a pressure-resistant expansion test method for automating a testing device by achieving continuous inspection without any restrictions to the outer diameter and height of the high-pressure gas container.例文帳に追加

高圧ガス容器の外径と高さに制約条件が付加されずに連続検査を可能とし、試験装置の自動化をはかることができる小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To eliminate effect of the errors, generated both from the difference of expansion rate, when measurement of absorbance is implemented by expanding test solutions and from the situation after completion of expansion, due to the absorbance value not being stabilized.例文帳に追加

被検査溶液を展開させて吸光度測定を行なう際に、展開速度の相違により測定値に誤差が含まれ、展開完了後においては、吸光度値が安定しないことによる誤差が含まれる。 - 特許庁

Thus, an image is confirmed by performing addressing in conformity to the configuration of the mounted expansion memory, writing internally generated test pattern data to all the areas of the expansion memory, further reading all pieces of the written data in the expansion memory and printing them on paper.例文帳に追加

このように、装着した増設メモリ構成にあわせたアドレッシングを行って、増設メモリの全ての領域に対して内部生成テストパターンデータを書き込み、さらに増設メモリへの書き込みデータを全て読み出して、紙に印刷することにより画像確認を行う。 - 特許庁

Binarization data wherein projection data are divided in a test subject area and an air area (S21), and expansion operation is executed to pixels of the test subject area adjacent to the air area (S22).例文帳に追加

投影データを被検体領域と空気領域とで分割される2値化データを作成し(S21)、空気領域と隣接する被検体領域の画素に対して膨張操作を行う(S22)。 - 特許庁

To provide a test disk by which it can be verified whether an HDDVD drive can properly recognize the newest RMD (Recording Management Data), expansion of a drive test zone and a border.例文帳に追加

HDDVDドライブが、最新のRMDを適正に認識できるか、ドライブテストゾーンが拡張されているか、および、ボーダの認識を適正に行えるかを円滑に検証できるテストディスクを提供する。 - 特許庁

Generated test pattern data is stored in a standard memory, repeatedly written in all the areas of the mounted expansion memory and written test pattern data is printed out.例文帳に追加

発生したテストパターンデータを標準メモリに記憶し、装着した増設メモリの全ての領域に対して繰り返し書き込み、書き込み済みのテストパターンデータをプリントアウトする。 - 特許庁

A material to be evaluated is sieved by a sieve with a sieve opening of 4.75 mm or smaller and a material smaller than the sieve is molded to obtain a test object which is in the water of 40°C or lower, preferably 20-30°C to perform a water immersing expansion test.例文帳に追加

評価すべき材料を篩目の開きが4.75mm以下の篩で篩い分けし、篩下の材料を成型して試験体としたものを40℃以下、好ましくは20〜30℃の水に保持して水浸膨張試験を行う。 - 特許庁

To provide a test device for semiconductor parts which has high speed signal transmitting function, that structure is simplified and expansion in the direction of pin is superior by limiting a function for generating a test pattern by ALPG.例文帳に追加

ALPGによる試験パターンの発生機能を限定することにより、構造を簡略化しかつ高速の信号伝送機能を有し、またピン方向への拡張性に優れた半導体部品の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which expansion of a test pattern can be performed without changing design of BIST by enabling an operation test in which an address signal supplied from the outside is taken in, in addition to an operation test by BIST.例文帳に追加

BISTによる動作試験に加えて、外部から供給されるアドレス信号を取り込んだ動作試験を可能とすることにより、BISTを設計変更することなく試験パターンの拡充を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

This device is provided with a test pattern generating section generating a test pattern consisting of plural steps, a test pattern applying section, a test deciding section, an address conversion section, and plural expansion fail memory section storing pass/fail map information consisting of plural steps converted by the address conversion section distributing for each step.例文帳に追加

本発明は、複数のステップからなるテストパターンを生成するテストパターン生成部と、テストパターン印加部と、テスト判定部と、アドレス変換部と、該アドレス変換部で変換された複数のステップからなるパス/フェイルマップ情報をステップ毎に振り分けて記憶する複数の拡張フェイルメモリ部とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

When not performing substring expansion, bash tests for a parameter that is unset or null; omitting the colon results in a test only for a parameter that is unset. 例文帳に追加

部分文字列展開以外の場合、bash はパラメータが設定されているか、空ではないかを調べます。 コロンを省略した場合には設定されているかどうかのみを調べます。 - JM

The expansible aggregate can effectively be used as a coarse aggregate for confirming an expansion pressure consistent with the alkali-aggregate reaction in the test for verifying that reaction of a concrete structure.例文帳に追加

当該膨張性骨材は、コンクリート構造物のアルカリ骨材反応を検証する試験において、アルカリ骨材反応に見合った膨張圧を確認する粗骨材として有効に使用できる。 - 特許庁

To attain suppression of expansion of circuit scale, reduction of a test time, and reduction of the number of pin terminals when testing the propriety of a connection between semiconductor chips including through-electrodes.例文帳に追加

貫通電極を備える半導体チップ間の接続の良否をテストするにあたり、回路規模の拡大の抑制、テスト時間の短縮、および、ピン端子数の削減を図る。 - 特許庁

To provide an address control circuit in which expansion of the circuit scale is prevented and the circuit delay time is less when an IC memory operated at a high speed is tested in a semiconductor test device.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体試験装置において、高速に動作するメモリICの検査を行う際に、回路規模の拡大を防ぎ、回路遅延時間の少ないアドレス制御回路を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester that can stabilize a test by suppressing expansion and contraction of probe needles after contact between the probe needles and a sample and setting an appropriate pressure of contact between the probe needles and the sample.例文帳に追加

プローブ針と試料との接触後におけるプローブ針の伸縮を抑制してプローブ針と試料との接触の圧力を好適に設定し、安定した試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

After an RC structure (weight) 2 is transported on a vibration test base (foundation) 5 by an air roller, it is positioned between the air rollers by expansion upward, and a supporting rubber-made air jack 19 is interposed.例文帳に追加

震動試験台(基礎)5上にRC構造物(重量物)2をエアーローラ3で運搬した後、エアーローラ間に、膨張によりRC構造物を上方に位置させて支持するゴム製のエアージャッキ19を介設する。 - 特許庁

Thus, the lever type displacement measuring apparatus 200 can be adjusted in vertical position over a wide range, and responds to target movement resulting from the thermal expansion in the test preparation period.例文帳に追加

これによって、レバー式変位計測装置200は、広範囲に渡って上下位置調節可能となり、試験準備期間中の熱膨張に起因した標点移動に対応する。 - 特許庁

To provide a video signal processing circuit and an imaging apparatus capable of flexibly dealing with a configuration change and preventing the expansion of circuit scale, development period and development costs by reducing redundant circuits required for a test design.例文帳に追加

構成変更に柔軟に対応でき、テスト設計に要する冗長な回路を削減し、回路規模、開発期間および開発コストの増大を防止できる映像信号処理回路および撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a swelling testing device and a swelling test method capable of measuring accurately an expansion coefficient even to a sample which is not only expandable but also deformable by moisture absorption.例文帳に追加

吸湿すると膨張するだけでなく変形し得る試料に対しても正確に膨張率を測定できる膨潤試験装置及び膨潤試験方法を提供する。 - 特許庁

In a first forming mask which forms a charged particle beam, a rectangular opening for test with smaller auxiliary holes for monitoring the expansion of irradiating angle distribution is formed outside an opening having the same rectangular shape as an the ordinary rectangular opening different from the ordinary rectangular shape.例文帳に追加

荷電粒子線を成形する第1の成形マスクに通常矩形開口とは別に、同一矩形開口の外側に放射角分布の拡がりをモニタする小さ目の補助孔付きのテスト用矩形開口を併設する。 - 特許庁

To provide an optical head in which misalignment of an optical axis and peeling of junction member are not caused even when expansion and contraction of the junction member are repeated due to a reliability test, elapsed time after mounting, and variation of ambient environment.例文帳に追加

信頼性試験や実装後の時間経過、周囲環境の変化により、接合部材が膨張及び収縮を繰り返した場合でも、光軸ずれや接合部材の剥離が生じない光ヘッドを提供する。 - 特許庁

To smoothly perform the analysis and test of a testing object device by realizing the expansion of a testing case and facility of use by a higher harmonic generator with expanded versatility.例文帳に追加

汎用性を拡大させた高調波発生器により、試験ケースの拡大、使用方法の容易さを実現し、円滑に被試験装置の解析及び試験を実施することができる。 - 特許庁

To provide a multilayer ceramics substrate that enhances reliability by preventing the occurrence of cracks, even if thermal stress is applied to a ceramic substrate according to the differences of thermal expansion coefficient among the mounted substrates, in heat cycle test and the like.例文帳に追加

温度サイクル試験等において、実装基板との熱膨張係数の差によりセラミックス基板に熱応力が加わっても、クラックの発生を防止し、信頼性を高めることができる積層セラミックス基板を提供する。 - 特許庁

In a heat resistance test or the like, the lid 7 suppresses the deformation of the adhesive filling window 3b caused by thermal expansion of the adhesive 5, suppresses distortion of the ferrule 2, and further prevents optical loss from increasing during connection of the connector.例文帳に追加

耐熱試験等において蓋7が接着剤5の熱膨張による接着剤充填窓3bの変形を抑制し、フェルール2の歪みを抑制し、ひいてはコネクタ接続時の光損失増大を防止する。 - 特許庁

例文

To obtain acrylic resins suitably used for adhesives and adhesive films having heat resistance, electric corrosion resistance, moisture resistance required when installing semiconductor chips having large differences in heat expansion coefficients to various high density print circuit boards such as glass epoxy substrates, flexible substrates and the likes and especially little degradation when carrying out a moisture resistance test under a severe condition such as pressure cooker test(PCT) or the like.例文帳に追加

ガラスエポキシ基板やフレキシブル基板等の各種の高密度プリント配線板に熱膨張係数の差が大きい半導体チップを実装する場合に必要な耐熱性、耐電食性、耐湿性を有し、特に、PCT処理等厳しい条件下での耐湿性試験を行った場合の劣化が小さい接着剤及び接着フィルムに好適に用いられるアクリル樹脂を提供する。 - 特許庁

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