「height test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A distance between the upper and lower holders is adjusted so that the counter value of the height counter 38 equals to an initial height of a springy test piece TP to set the test piece TP between the upper and lower holders 21 and 22.例文帳に追加

ばね高さカウンタ３８のカウンタ値がばね供試体ＴＰの初期高さとなるように上下保持具間の距離を調節し、上保持具２１と下保持具２２間にばね供試体ＴＰをセットする。 - 特許庁

A body fat percentage calculation part 19 calculates the body fat percentage of a body M under test from biologic electric impedance, weight, height and the like of the body M under test.例文帳に追加

体脂肪率算出部１９は、被検体Ｍの生体電気インピーダンス、体重、身長などから被検体Ｍの体脂肪率を算出する。 - 特許庁

To provide a detection method of a test tube for accurately detecting separation positions in a blood specimen, the air-including height, serum accommodating height and the silicon separating agent accommodating height as separation ranges.例文帳に追加

血液検体の各分離位置と分離範囲としての空気封入高さ、血清収容高さ、シリコン分離剤収容高さ等を高精度に検出できる試験管の検知方法を提供することにある。 - 特許庁

An HDD1 performs the defect test of the magnetic disk 11 by utilizing a TFC (Thermal Fly-height Control).例文帳に追加

本発明の一形態にかかるＨＤＤ１は、ＴＦＣを利用して磁気ディスク１１の欠陥テストを行う。 - 特許庁

To provide a method and apparatus capable of measuring a height of a test piece in a thermostatic tank.例文帳に追加

恒温槽内で試験片の高さを測定できる試験片の高さ測定方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁

A height position of a probe is controlled to position so that a lower end of the probe at the termination of discharging becomes a height corresponding to a height of a liquid surface at the termination of discharging in a cuvette, in discharging the test reagent or the specimen into the cuvette by the probe.例文帳に追加

プローブがキュベット内に試薬あるいは検体を吐出するにあたり、吐出終了時のプローブの下端がキュベット内の吐出終了時の液面高さに応じた高さとなるようにプローブの高さ位置を制御する。 - 特許庁

To provide a socket which can be adapted to parts under test having different height and in which the installation property of the parts is improved.例文帳に追加

高さが異なる被検査部品に対応可能であると共に、被検査部品の装着性を向上させたソケットを提供する。 - 特許庁

Preferably, the ratio of the height of the protrusion to the depth of the lateral groove is 0.1-0.5 in the test method.例文帳に追加

好ましくは、この試験方法では、上記凸条の高さの、上記横溝の深さに対する比は、０．１以上０．５以下である。 - 特許庁

Then, the mixture is poured into a frame mold having a bottom of 250 mm×250 mm and the height of 500 mm and dried and cured for about 8 hr to obtain test pieces.例文帳に追加

これを底２５０ｍｍ四方、高さ５００ｍｍの型枠に入れ、約８時間乾燥養生させ試験片を得た。 - 特許庁

Thereby the bottom face height of the contact structure 5 can be wholly flattened to perform a stable wafer burn-in test.例文帳に追加

これにより、上記コンタクト構造体５の底面高さを全体として平坦化でき、安定したウェハ・バーンインテストを行うことができる。 - 特許庁

To ensure good electrical contact at all times between each solder ball and test pad, even if the solder balls under a BGA differ in height.例文帳に追加

ＢＧＡの下部のはんだボールの高さが異なっても各はんだボールと試験パッドとの間の良好な電気接触を常に保証する。 - 特許庁

A conveyor mechanism (102) includes a means for cyclically dropping a load object with a predetermined mass from a predetermined height onto the test specimen (106).例文帳に追加

コンベア機構（１０２）には、所定質量の荷重体を所定高さから試験片（１０６）上に周期的に落下させる手段を含む。 - 特許庁

To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.例文帳に追加

検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁

A control circuit that is instructed to perform a height determination mode performs a test punch on a test workpiece with the punch needle and photographs a punched trace of the workpiece with the camera module 59.例文帳に追加

制御回路は、高さ判定モードの実行が指示されると、テスト用の被加工物に対する打刻針によるテスト打刻動作を実行させ、被加工物の打刻痕を、カメラモジュール５９により撮影させる。 - 特許庁

To provide a charged particle beam lithography method and a charged particle beam lithography apparatus, capable of performing lithography in a desired position of a test piece, by a method which performs height measurement of the surface of the test piece with high precision reducing the effect of an offset voltage of a light receiving element, and by performing the height measurement of the surface of the test piece with high precision.例文帳に追加

受光素子のオフセット電圧の影響を低減して、高精度で試料表面の高さ測定を行うことのできる方法と、高精度で試料表面の高さ測定を行うことにより、試料の所望の位置に描画することのできる荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which makes the position of a reel in an automatic handler be at a constant height irrespective of the size of a test head, the footprint of the automatic handler constant, and the position where a cable connected to the test head be drawn out be arbitrarily set.例文帳に追加

テストヘッドの大きさにかかわらずオートハンドラにおけるリールの位置を一定の高さにするとともにオートハンドラの設置面積も一定にでき、テストヘッドに接続されるケーブルの引き出し位置を任意に設定できる半導体テスト装置を提供すること。 - 特許庁

Preferably, the door panel or pillar has impact strength which is not destroyed in a 535 g steel ball drop test (temperature: -30°C, drop height: 60 cm).例文帳に追加

好ましくは、さらに（Ｃ）５３５ｇ鋼球落下試験（温度：−３０℃、落下高さ：６０ｃｍ）において破壊しない衝撃強さを有する。 - 特許庁

As the defect echo length, 22 mm can be obtained from a reference value 25% of the defect echo height determined beforehand by a test piece or the like.例文帳に追加

予めテストピースなどによって定める欠陥エコー高さの基準値２５％から、欠陥エコー長さとして２２ｍｍを得ることができる。 - 特許庁

A conduct tube (104) includes a means for freely dropping the load object onto the test specimen (106) until the peel defect occurs from the height.例文帳に追加

導管（１０４）には、荷重体を上記高さから試験片（１０６）に、剥離不良が発生するまで自由落下可能にする手段を含む。 - 特許庁

To provide a probe card and a test method of a device to be inspected, wherein bumps which do not join a package substrate during a reflow time are not generated, even when each height of an electrode group of a device has a difference, and to provide a test method for a device to be inspected.例文帳に追加

デバイスの電極群の高さに差が生じている場合であっても、リフロー時にパッケージ基板と接合しないバンプが発生することのない、プローブカード及び被検査装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a composition for applying to a fitness test that supplies an accurate film thickness so as to find out a high-precision occlusal surface height in preparing a dental prosthesis and can be quickly removed after the test.例文帳に追加

歯科用補綴物作製時において精度の高い咬合面高さを得るために正確な皮膜厚さを提供することが可能であり、試適後には速やかに取り除くことが可能な適合試適用組成物を提供する。 - 特許庁

The height of the surface of a test piece is measured by a noncontact distance sensor, and a stage is moved to have the same position, according to a change in the position of the test piece, thus making the irradiation positions with electromagnetic waves identical, even if stress is applied to the test piece during measurement.例文帳に追加

試験片の表面の高さを非接触式の距離センサで計測し、試験片位置の変化に応じて同じ位置になるようにステージを移動することで、測定中に試験片に応力を印加するなどしても電磁波の照射位置が同じになるようにする。 - 特許庁

By providing a mechanism for measuring the surface height of the test piece during irradiation with electromagnetic waves, a mechanism for moving a test piece height position to the initial position, and a mechanism for measuring the diffraction angle of diffraction electromagnetic waves to correct the position irradiated with electromagnetic waves to the same position as the surface of the test piece, measurement errors due to changes in the surface position are avoided and the diffraction angle becomes possible to be accurately measured.例文帳に追加

電磁波照射中に試験片の表面高さを測定する機構と、試験片高さ位置を最初と同じ位置に移動する機構、回折電磁波の回折角を測定する機構を備え、電磁波照射位置を試験片表面の同一位置となるように補正できることから、表面位置変化による測定誤差を回避し、正確な回折角測定が可能となる。 - 特許庁

The pressing apparatus has a test material placing pedestal capable of moving in a vertical direction and rotating in a horizontal direction; a pair of pressing means having a pressing mechanism for pressing the test material placed on the test material placing pedestal, and capable of independently adjusting a height direction pressing position for the test material with respect to the pressing mechanism.例文帳に追加

垂直方向に昇降可能でかつ水平方向に回転可能な試験材載置台と、該試験材載置台に載置された試験材に対し側方から圧下を加える圧下機構を備えてなる前記圧下機構を試験材に対する高さ方向圧下位置を独立に調整可能な一対の圧下手段を有するものとすることができる。 - 特許庁

To more enhance the reproducibility of a test by effectively eliminating an unstable element like friction resistance when dropping a holding part for holding a test object while corresponding even to a test large in dropping height without bringing about the scaling-up of a tester, in a drop tester for performing a drop impact test by dropping the test object on a landing surface in a free fall state.例文帳に追加

試験対象物を自由落下状態で落下させて着地面に衝突させることで落下衝撃試験を行う落下試験装置について、試験対象物を保持した保持部の落下時における摩擦抵抗のような不安定要素を有効に解消して試験の再現性をより高めることを可能とし、また装置の大型化を招かずに落下高さの高い試験にも対応することを可能とする。 - 特許庁

A weight body 13 is held by a holding device 4B of the pile driver body 1, a load mounting test is performed to a testing pile 5 by making it fall after it has been moved to a position with a predetermined height.例文帳に追加

前記杭打ち機本体１の把持装置４Ｂに錘体１３を把持させ、所定の高さ位置に移動後落下させて試験用杭５に載荷試験を行う。 - 特許庁

There are provided an improved integrity test, priming sequence control and bag height detection tests, apparatuses and methods, for a medical fluid delivery system.例文帳に追加

医療用流体の送達システムのための、改善された一体性試験、プライミング逐次制御およびバッグの高さの検出試験、装置および方法が、提供される。 - 特許庁

To provide an automatic hot water filling device capable of normally performing test hot water filling operation and the hot water filling operation even under bad constructing conditions such as a low water supply pressure and high guard frame height.例文帳に追加

低給水圧や高鳥居高さという悪施工条件においても、試運転湯張りおよび湯張り運転が正常にできる自動湯張り装置を提供する。 - 特許庁

To provide a glide head capable of realizing a stable glide height test even in a magnetic disk whose surface is ultra smooth, being not easily attracted with the disk and accurately measuring a floating amount.例文帳に追加

表面が超平滑の磁気ディスクにおいても安定的なグライドハイトテストを実現でき、ディスクと吸着し難く、浮上量が正確に測定できるグライドヘッドを得る。 - 特許庁

To provide an inexpensively manufacturable radioactive substance housing vessel and its bottom part structure capable of securing the height for performing a radioactive ray test in a welding part with a cylindrical body.例文帳に追加

筒体との溶接部で放射線試験を実施するための高さを確保でき、しかも安価に製造できる放射性物質収納容器とその底部構造を提供する。 - 特許庁

To obtain a lead storage battery capable of satisfying height of a charge-accepting property, a large initial capacity, as well as a small specific gravity difference of electrolyte solution at a life test.例文帳に追加

充電受入れ性の高さ、初期容量の大きさ、そして寿命試験時の電解液比重差の小ささを共に満足させることができる鉛蓄電池を得る。 - 特許庁

The docking position and height of the test head are automatically controlled by the plurality of the position limit switches and one down limit switche operated by engaging and disengaging sensitive projections provided on the test head and sensitive holes formed in a probe card.例文帳に追加

テストヘッドに設けられた感知突起とプローブカードに形成された感知ホールが相互に着脱されることによって作動する複数個のポジションリミットスイッチと一つのダウンリミットスイッチでテストヘッドのドッキング位置および高さを自動的に制御する。 - 特許庁

To provide ultrasonic flaw detection device and method for obtaining the width of a scratch, even if the height of the slit-like scratch opened at the bottom surface of a test piece is equal to smaller than the wavelength, and accurately estimate the height of the scratch and obtain the properties of the scratch.例文帳に追加

試験体底面に開口したスリット状の傷の高さが波長と同等あるいは同等以下である場合にも傷の幅を求め、傷の高さを推定し、高精度に傷の性状を求めることができる超音波探傷装置および方法を提供する。 - 特許庁

A second MR element 22 of a plurality of test patterns TEG is provided with the same material, film thickness and track width Tw as those of a first MR element in a thin film magnetic head with the height h formed differently depending on each test pattern TEG.例文帳に追加

複数のテストパターンＴＥＧの第２ＭＲ素子２２は、薄膜磁気ヘッド１０における第１ＭＲ素子３と同一の材料、同一の膜厚及び同一のトラック幅Ｔｗであって、それぞれのテストパターンＴＥＧによってハイトｈが異なるように形成される。 - 特許庁

After having the special test piece 100 conveyed and placed on a stage by a transfer robot, light is directed to the special test piece 100 surface from a projection of a height measuring device for scanning light irradiation spots SP in directions orthogonal to the marks 101, 102.例文帳に追加

搬送ロボットにより専用試料１００をステージ上に搬送して載置した後、高さ測定器の投光部からの光を専用試料１００の表面に照射して、光の照射スポットＳＰを各マーク部１０１、１０２に交差するように走査する。 - 特許庁

To provide an adaptor for pressure-resistant expansion test of a compact high- pressure gas container and a pressure-resistant expansion test method for automating a testing device by achieving continuous inspection without any restrictions to the outer diameter and height of the high-pressure gas container.例文帳に追加

高圧ガス容器の外径と高さに制約条件が付加されずに連続検査を可能とし、試験装置の自動化をはかることができる小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A surface 138 under test (SUT) is illuminated at equally spaced three points on a straight line to measure a difference in height between neighboring two points by a pair of phase meters 132 and 134.例文帳に追加

テスト表面（ＳＵＴ）１３８は、一直線上の等距離にある３点で照射され、隣接する２点間の高さの差を１対の位相計１３２，１３４で計測する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a shock nearly equivalent to that of a fall test to a specimen with high reproducibility without increasing the height of the device.例文帳に追加

装置の高さを大きくすることなく、落下試験と略等価といえる衝撃を高い再現性をもって供試体に加えることが可能な衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

A case body and a door of a ground relay 14 are formed corresponding to projection height H in a complete connection state of a connector cap 31 to a test connector 23.例文帳に追加

地絡継電器１４のケース本体１８及び扉１９を、コネクタキャップ３１の試験用コネクタ２３に対する完全接続状態における突出高さＨに対応して形成した。 - 特許庁

To provide an automatic lathe wherein machining accuracy of a work is improved, an entire device is simplified, center height correcting time duration is shortened, and waste of the work by test cut is also eliminated.例文帳に追加

ワークの加工精度の向上、装置全体の簡素化、芯高補正時間の短縮を可能とするとともに、テストカットによるワークの無駄をなくすことができる自動旋盤を提供する。 - 特許庁

A detection value of a load cell 19 and that of a pulse encoder 18 are collected while imposing a load on the test piece TP by a servo motor 16 in between a state in which the counter value of the height counter 38 designates an initial spring height and a state in which it designates a predetermined maximum spring deformation amount.例文帳に追加

ばね高さカウンタ３８のカウント値が初期ばね高さを示す状態と予め定めた最大ばね変形量を示す状態との間で、ばね供試体ＴＰにサーボモータ１６で負荷を与えながら、ロードセル１９とパルスエンコーダ１８の検出値を採取する。 - 特許庁

To provide a test socket for semiconductor device having excellent maintainability in which good electrical contact with a probe is ensured regardless of variation in the height of external connection terminals and a test can be carried out continuously even if solder chips of the external connection terminals are deposited through repeated use.例文帳に追加

外部接続端子に高さばらつきがあっても、プローブとの良好な電気的接触が得られ、繰り返し使用により外部接続端子のハンダ屑が付着堆積しても継続的にテストが行なえ、メンテナンス性の良い半導体装置のテスト用ソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.例文帳に追加

一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

A conveyor (102) further includes a means for receiving a load object, a means for releasing the load object from the predetermined height to freely dropping onto the test specimen (106), and recovering the load object.例文帳に追加

コンベア機構（１０２）には、荷重体を受容する手段と、荷重体を所定高さから解放して、試験片（１０６）上に自由落下させる手段と、荷重体を回収する手段とを更に含む。 - 特許庁

The spray bottle 2 has a physical strength such that it is not injured in a drop test from a height of 0.8 m or more under conditions of 5°C, and a haze value showing a degree of transparency is 30-85%.例文帳に追加

このスプレー瓶２は、５℃に保たれた状態において、０．８ｍ以上の高さからの落下試験で損傷が見られない物理的強度を有し、透明度を示すヘーズ値が３０〜８５％である。 - 特許庁