「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(139ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a recipe preparation apparatus and method for preparing a recipe for highly accurately measuring the dimension of an oblique or elongate pattern without using a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、斜めや細長いパターンを高精度に寸法測定するレシピを、走査型電子顕微鏡を使用しないで作成するレシピ作成装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a wave front evaluation method applicable to various optical systems easily with a simple system, to evaluate quantitatively the flatness of a wave front, and to correct aberration in a microscope easily and surely.例文帳に追加

簡単なシステムで、容易に様々な光学系に適用することができ、波面の平坦度を定量的に評価して、容易かつ確実に顕微鏡における収差の補正を行う。 - 特許庁

This scanning probe system 100 is provided with a connection member 1 attachable to the revolver of the exiting optical microscope, and the scanning probe unit attached detachably to the connection member 1.例文帳に追加

走査型プローブ装置１００は、既存の光学顕微鏡の対物レボルバに装着可能な接続部材１と、接続部材１に着脱される走査型プローブユニット２０とを備えている。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of easily grasping parameters such as energy widths or resolution without measuring these parameters each time beam conditions change.例文帳に追加

本発明は、ビーム条件が変化するごとにエネルギー幅や分解能等を測定することなく、これらのパラメータを容易に把握することが可能な電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope observation sample forming method for a magnetic material which minimizes magnetic field turbulence, accompanying the sample shape and allowing observation and analysis with high precision.例文帳に追加

試料形状に伴う磁場の乱れを最小限にし、より高い精度で観察や分析が可能な、磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法の提供。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope in which an image focused over the whole sample image is obtained, and in which the two-dimensional image can be acquired without blurring all over the image.例文帳に追加

本発明の目的は、試料像の全体に亘って焦点が合った像を得ることにあり、全体に亘ってぼけのない２次元像を獲得できる走査電子顕微鏡の提供にある。 - 特許庁

To provide an aberration correction device of a scanning transmission electron microscope, which can correct defocus and astigmatism during observation and can obtain atomic resolution; and to provide an aberration correction method thereof.例文帳に追加

デフォーカス及び非点収差を観察中に補正可能で、且つ原子分解能が得られる走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法を提供する。 - 特許庁

The photodetector 174 constitutes a probe displacement detection system for detecting optically the displacement in the Z-direction of the probe 162 together with the light source in the scanning optical microscope.例文帳に追加

光検出器１７４は、走査型光学顕微鏡内の光源と共に、プローブ１６２のＺ方向の変位を光学的に検出するプローブ変位検出系を構成している。 - 特許庁

As the scanning microscope, a device for axially displacing the images of at least one illumination ray and rotating point within the pupil (28) of the objective lens (30) is provided.例文帳に追加

走査顕微鏡としては、対物レンズ（３０）のひとみ（２８）内に少なくとも１つの照明光線・回転点の像を軸方向変位させるための装置が設けられていること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which efficiently performs the distance measurement on a plurality of measurement items at once, and which easily registers, verifies, and changes the parameters for the automatic distance measurement.例文帳に追加

本発明は、一度に複数の測定項目の測長測定を効率よく行え、自動測長用のパラメータの登録、確認、変更を容易にできる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope imaging apparatus which repeatedly obtains images at a desired photographing interval, which is capable of saving power as the whole system including a computer.例文帳に追加

所望の撮影間隔で繰り返し画像を取得する顕微鏡撮像装置であって、計算機を含むシステム全体で省電力化できる顕微鏡撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device enabling operation and observation of a gas under a vacuum or low pressure environment forming an environment for observing the gas, without changing the original design of an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の本来の設計を変えずに、気体観察の環境を形成する真空または低圧環境下で気体の操作及び観察を可能にする装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of carrying out observation with respect to an arbitrary sample (including a raw biological sample such as a living cell) in an atmospheric-pressure condition without needing pretreatment at all.例文帳に追加

任意の試料（生細胞など生の生物試料を含む）に対して、前処理を全く必要とせず、大気圧の状態で観察を行うことができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A strain layer 100 formed of microcracks of a thickness of 0.2 μm or less observed by a transmission electron microscope is formed in the rear W2 of the semiconductor device W with a memory function.例文帳に追加

メモリー機能を有する半導体デバイスＷの裏面Ｗ２に、透過型電子顕微鏡による観察で０．２μｍ以下の厚さのマイクロクラックからなる歪み層１００を形成する。 - 特許庁

To operate a scanning electron microscope with high precision and high speed by curtailing a process for inspection position setting or an input operation or the like.例文帳に追加

本発明は、検査位置合わせに関する処理、或いは入力作業等を削減することで、高精度かつ高速に走査電子顕微鏡を稼動せしめることを目的とするものである。 - 特許庁

To obtain a precise result in observation and analysis of a sample, even when not having expert knowledge and ability, in an electron microscope provided with an X-ray analyzer.例文帳に追加

Ｘ線分析装置を備える電子顕微鏡において専門的な知識や能力がなくても試料の観察および分析において精度の高い結果を得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide an abnormality detection method in a physicochemical apparatus, such as a scanning electron microscope capable of detecting the abnormality of a device and of immediately taking appropriate measures according to the abnormality.例文帳に追加

装置の異常を検知し、その異常に応じて適切な対応を速やかに取ることを可能とする走査電子顕微鏡等の理化学機器における異常検知方式を実現する。 - 特許庁

To provide a mechanism allowing observation while maintaining eccentricity even for a sample with a dimension larger than a standard sample thickness (height) in a sample stage for a scanning electron microscope car the like.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等用の試料ステージにおいて、標準の試料厚さ（高さ）よりも大きな寸法の試料でも、ユーセントリシティを保ちながら観察できる機構を提供すること。 - 特許庁

To automatically adjust brightness of an image against the change of brightness of the image, which is caused by switching of the objective lens and the observation optical system, in a scanning optical microscope.例文帳に追加

走査型光学顕微鏡において、対物レンズおよび観察光学系の切り替えに伴って生じる画像の明るさの変化に対して、画像の明るさ調整を自動的に行う。 - 特許庁

A cantilever for the scanning probe microscope or a sensor is manufactured by a method for molding integrally a beam, a chip and a pedestal from an arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor.例文帳に追加

砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体でビーム+チップ+台座を一体成型する方法で走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

To provide a microscope system for performing black balance correction in accordance with a differential between luminance values at a high-luminance displacement point and a low-luminance displacement point in luminance distribution of an observation image.例文帳に追加

本発明では、観察画像の輝度分布における高輝度変位点と低輝度変位点との輝度値の差分に応じて、ブラックバランス補正を行う顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of securing high holding accuracy and provided with a holding mechanism in which a probe is removable with good reproducibility without using optical system alignment.例文帳に追加

高精度の保持精度が確保でき、光学系でのアライメントを必要とすることなく再現性良くプローブを着脱できる保持機構を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an infrared microscope capable of performing both of observation by means of visible light and measurement by means of infrared light without using a movable mirror.例文帳に追加

本発明は、可動ミラーを使用せず、かつ、可視光による観察と赤外光による測定を同時に実行することが可能な赤外顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

One part of the data is transferred to a stage shift control part 9 in a scanning electron microscope unit 1 through the network line 24, and the other is output as data for a display 31.例文帳に追加

一方のデータは、ネットワーク回線２４を経由して、走査電子顕微鏡ユニット１内のステージ移動制御部９に転送し、もう一方をディスプレイ３１のデータとして出力する。 - 特許庁

To provide a sample support for a high accumulation biochip capable of arranging biomolecules, DNA or the like in a high accumulation degree to observe and analyze the same using a transmission electron microscope.例文帳に追加

生体分子、ＤＮＡ等を高集積度で配列し、透過電子顕微鏡を用いて観察、解析できる高集積度バイオチップ用試料支持体およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

PHOTOSENSITIZING TYPE COMPOSITE MATERIAL AND THREE-DIMENSIONAL MEMORY MATERIAL AND RECORDING MEDIUM, OPTICAL CONTROL MATERIAL AND ELEMENT, PHOTOCURING MATERIAL AND OPTICAL MODELING SYSTEM, FLUORESCENCE MATERIAL FOR MULTIPHOTON FLUORESCENCE MICROSCOPE, AND DEVICE例文帳に追加

光増感型複合材料及び三次元メモリ材料と記録媒体、光制限材料と素子、光硬化材料と光造形システム、多光子蛍光顕微鏡用蛍光材料と装置 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a resin composition comprising a polymer having alicyclic ring conformation in which a molded article having few foreign substances observed by a fluorescence microscope can be obtained.例文帳に追加

蛍光顕微鏡で観察される異物量が少ない成形体が得られる、脂環構造含有重合体を含有する樹脂組成物の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope prevented from unnecessarily restricting the flexibility in a set magnification of an image focused by an electron beam spectrally diffracted by an electron spectrometer.例文帳に追加

電子分光器により分光された電子ビームにより結像される像の設定倍率の自由度に不必要な制限が加わらない透過型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The sulfurized metal particle has a particle diameter of 100 nm-1 μm and a coefficient of variation showing the particle diameter distribution of ≤10%, which are measured by a scanning electron microscope.例文帳に追加

硫化金属粒子において、走査電子顕微鏡による実測で粒径が１００ｎｍ以上１μm以下であり、粒径分布の度合いを示す変動係数が１０％以下である。 - 特許庁

By irradiating the defect appearing in the synthesized image M3 with a laser beam, even a minute defect D undetectable through the optical microscope can be corrected with accuracy.例文帳に追加

合成画像Ｍ３中に現れた欠陥ＤにレーザビームＬを照射すれば、光学顕微鏡では捉えることができない微細な欠陥Ｄも、高精度に修正することができる。 - 特許庁

To automatically execute adjustment of an electron beam entering into a monochromator and adjustment of an operating condition of the monochromator, in a scanning electron microscope equipped with the monochromator.例文帳に追加

モノクロメータを備えた走査電子顕微鏡において、モノクロメータに入射する電子ビームの調整及びモノクロメータの動作条件の調整を自動的に行うことを可能にする。 - 特許庁

A ronchigram signal is obtained from the TV camera in this condition, and the signal is supplied to a computer 44 through a TV power source 40 and an interface 43 of a transmission electron microscope image.例文帳に追加

この状態で、ロンチグラム信号がＴＶカメラから得られ、その信号は透過電子顕微鏡像のＴＶ電源４０、インターフェイス４３を介してコンピュータ４４に供給される。 - 特許庁

To provide an automatic preparation exchanging apparatus capable of automatically and efficiently performing a supply/exchange work of many preparations with pathologic tissue samples or the like to a microscope.例文帳に追加

病理組織等の試料の入った多数のプレパラートの顕微鏡への供給・交換作業を自動的に効率良く行うことのできるプレパラート自動交換装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with an automatic focusing device capable of easily positioning a focal position adjusting lens for adjusting the focal position of illuminating light for autofocus at a desired position on a sample.例文帳に追加

オートフォーカス用の照明光の焦点位置を調整する焦点位置調整レンズを標本の所望の位置に容易に合わせることができるオートフォーカス装置を備えた顕微鏡。 - 特許庁

The micromirror apparatus is relatively inexpensive and makes a relatively large divergence angle obtainable and therefore the laser microscope of the compact structure which is low in the manufacturing cost can be realized.例文帳に追加

マイクロミラー装置は、コストが比較的安価であると共に比較的大きな発散角が得られるので、製造コストが安価でコンパクトな構造のレーザ顕微鏡を実現することができる。 - 特許庁

And a brightness contrast signal from a signal processing circuit 9 and an average brightness signal per frame from an output circuit are input to a microscope control circuit 16.例文帳に追加

また、信号処理回路９からの輝度コントラスト信号と出力回路１０からの１フレーム当たりの平均輝度信号がそれぞれ顕微鏡制御回路１６に入力される。 - 特許庁

To measure a concentration of an optional element in a sample containing a plurality of elements while maintaining high spatial resolution in an electron energy spectroscope (energy-filter)-transmission electron microscope.例文帳に追加

電子線エネルギー分光器(Energy−Filter)−透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy)において高い空間分解能を維持しながら複数の元素を含む試料中の任意の元素濃度を測定する。 - 特許庁

To provide a new probe for a scanning tunneling microscope and a method of fabrication having high conductivity and high optical transmission, and capable of obtaining high plasmon luminous efficiency.例文帳に追加

高導電性および高光透過性を有するとともに、高いプラズモン発光効率を得ることのできる、新しい走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide means for surely sampling a minute article in a sampling device (typically an electron microscope) having an observation system using a charged particles.例文帳に追加

電子顕微鏡に代表される荷電粒子を利用する観察系を有するサンプリング装置において、微小物体を確実にサンプリングする手段を提供することを目的とする。 - 特許庁

A projection aligner 10 is provided with an atomic force microscope(AFM) for measuring a latent image formed on a wafer W with a surface-reaction type resist subjected to silylation as a photosensitive layer.例文帳に追加

露光装置１０に、表面反応型のシリル化レジストを感光層としたウエハＷに形成される潜像を計測するため、原子間力顕微鏡ＡＦＭを備える構成とした。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens for correcting various aberrations over a wide wavelength range from a visible ray region to an infrared ray region, having a high opening number, and for securing a sufficient operation distance.例文帳に追加

可視域から近赤外域までの広い波長範囲で諸収差が補正され、高い開口数を持ち、十分な作動距離が確保された顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

Therefore, the electron beam microscope comprises an interruption means for interrupting the electron beam irradiated to the test piece and an electron beam detector set on the interruption means.例文帳に追加

そのための構成として、本発明の電子顕微鏡は、試料への電子線を遮断する電子線遮断手段と、電子線遮断手段に設けられた電子線検出器を有する。 - 特許庁

To provide a total reflection biochip for a fluorescence microscope mass-producible at low cost, reusable and allowing various sample arrangement means to be applied thereto.例文帳に追加

低コストで大量生産することができ、再利用が可能であり、さらには種々の標本配設手段を適用することができる蛍光顕微鏡用全反射バイオチップを提供する。 - 特許庁

To provide a cantilever control device preventing the stop of the self-oscillation of a cantilever and the contact of the probe of the cantilever with a measuring target in an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡において、カンチレバーの自励振動の停止を防止でき、カンチレバーの探針が測定対象物と接触することを防止できるカンチレバー制御装置の提供。 - 特許庁

To provide a method and a device for manufacturing a probe for a scanning probe microscope that can easily create the probe with a tip projection with a size of nanometer in a vacuum.例文帳に追加

ナノメートルサイズの先端突起を有する探針を真空下で簡便に作り出すことができる走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁